專利名稱：射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于射頻自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及，一種射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法。
現(xiàn)有技術(shù)在目前的通信制造行業(yè)，現(xiàn)有射頻器件的測(cè)試方法通常采用手工操作的測(cè)試儀器，對(duì)各項(xiàng)指標(biāo)的合格情況進(jìn)行人工判斷，這種測(cè)試方法存在以下的不足(1)射頻器件的測(cè)試指標(biāo)多，測(cè)量每一項(xiàng)指標(biāo)都需要人工選擇測(cè)試通道，需要接入大量接頭，人工干預(yù)多，測(cè)試速度慢；(2)對(duì)測(cè)試人員的要求高，需要熟練掌握各種儀器的操作方法和各項(xiàng)目的測(cè)試方法，操作容易出錯(cuò)。
本發(fā)明的目的是，針對(duì)上述人工測(cè)試的不足，利用GPIB總線技術(shù)控制射頻開關(guān)陣列和相應(yīng)測(cè)試儀器，通過(guò)IEEE488.2標(biāo)準(zhǔn)命令控制射頻開關(guān)陣列快速切換射頻通道、控制相應(yīng)的測(cè)試儀器，并讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。從而實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)端控制和處理，提高測(cè)試效率和精度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的一種射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法，所述方法包括以下步驟1〕讀取用戶設(shè)定的待測(cè)指標(biāo)；2〕根據(jù)用戶設(shè)定的待測(cè)指標(biāo)控制測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試；3〕將測(cè)試得到的原始數(shù)據(jù)讀入計(jì)算機(jī)，從所述原始數(shù)據(jù)中挑選與所述被測(cè)指標(biāo)相關(guān)的數(shù)據(jù)，并對(duì)所述數(shù)據(jù)進(jìn)一步處理、計(jì)算、分析得出結(jié)論，生成測(cè)試報(bào)表。
射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法在一定程度上解決了射頻器件的測(cè)試指標(biāo)多、需要接入大量接頭、人工干預(yù)多、測(cè)量每一項(xiàng)指標(biāo)都需要人工選擇測(cè)試通道、測(cè)試速度慢等方面的缺點(diǎn)，它利用計(jì)算機(jī)控制射頻開關(guān)在不同測(cè)試對(duì)象之間或同一測(cè)試對(duì)象的不同測(cè)試項(xiàng)目之間進(jìn)行切換的方法，代替人工選擇測(cè)試通道，而射頻開關(guān)的切換可以通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的IEEE488.2命令來(lái)實(shí)現(xiàn)，也就是說(shuō)開關(guān)的切換可以通過(guò)軟件的遠(yuǎn)端控制來(lái)實(shí)現(xiàn)，這樣可以把測(cè)試各項(xiàng)射頻指標(biāo)過(guò)程中需要的對(duì)儀器的遠(yuǎn)端控制、對(duì)開關(guān)陣列的遠(yuǎn)端控制和其他對(duì)數(shù)據(jù)的處理過(guò)程集成在一起，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。這種方法大大提高了測(cè)試效率和準(zhǔn)確度。另外通過(guò)開關(guān)陣列很容易實(shí)現(xiàn)批量測(cè)試，對(duì)生產(chǎn)型的測(cè)試很有好處。


下面，參照附圖，對(duì)于熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的人員而言，從對(duì)本發(fā)明方法的詳細(xì)描述中，本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將顯而易見。
圖1為本發(fā)明方法的示意框圖；圖2是在功放自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中采用本發(fā)明的硬件連接圖；圖3是在圖2所示的功放自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)的流程圖；圖4是CDU(合分路單元)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件連接示意圖。
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參見圖1，所示為本測(cè)試方法的總體結(jié)構(gòu)框圖，由計(jì)算機(jī)11(包括GPIB卡和相應(yīng)的測(cè)試處理程序)、專用專用測(cè)試設(shè)備12、射頻開關(guān)陣列13、被測(cè)對(duì)象14四部分組成。專用測(cè)試設(shè)備12通過(guò)射頻開關(guān)陣列13的選通與被測(cè)對(duì)象14連接，而對(duì)專用測(cè)試設(shè)備12和射頻開關(guān)陣列13的控制都是計(jì)算機(jī)通過(guò)GPIB接口進(jìn)行的。計(jì)算機(jī)11和專用測(cè)試設(shè)備12之間的數(shù)據(jù)流是雙向的，一方面計(jì)算機(jī)11輸出標(biāo)準(zhǔn)的IEEE488.2命令控制測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，另一方面計(jì)算機(jī)11讀取專用測(cè)試設(shè)備12的測(cè)試數(shù)據(jù)，計(jì)算機(jī)11還將進(jìn)行數(shù)據(jù)的計(jì)算、分析，處理和存儲(chǔ)，形成測(cè)試報(bào)表。
功放單板測(cè)試是基站系統(tǒng)BTS單板測(cè)試的一部分。長(zhǎng)期以來(lái)這部分都是通過(guò)人工進(jìn)行，人工測(cè)試過(guò)程中始終存在著以下問(wèn)題(1)功放單板測(cè)試數(shù)量多，每塊單板在測(cè)試前需要不斷電烤機(jī)15分鐘，故單板測(cè)試的工作量大、時(shí)間長(zhǎng)；(2)測(cè)試數(shù)據(jù)數(shù)量多，需要手工記錄、計(jì)算、分析。
功放自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)利用本射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法，結(jié)合現(xiàn)有的測(cè)試機(jī)框結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)了1～6塊功放單板的同時(shí)烤機(jī)、一次性連續(xù)測(cè)試。
圖3是本發(fā)明的射頻批量測(cè)試方法在功放自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中一個(gè)較佳實(shí)施例。圖中專用測(cè)試設(shè)備20采用的是ANRITSU MS4622B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀208和衰減器207，射頻開關(guān)陣列22是兩個(gè)1×6的射頻開關(guān)組，被測(cè)對(duì)象23是1～6塊待測(cè)功放單板。計(jì)算機(jī)21通過(guò)GPIB接口調(diào)用自動(dòng)測(cè)試程序，一方面通過(guò)GPIB控制線210控制射頻開關(guān)陣列22對(duì)被測(cè)對(duì)象23(功放組)進(jìn)行選通，即選定一塊待測(cè)功放單板；另一方面通過(guò)GPIB控制線211控制專用測(cè)試設(shè)備20進(jìn)行測(cè)試。圖中計(jì)算機(jī)21通過(guò)GPIB控制線210控制射頻開關(guān)22中的射頻開關(guān)224(Keithley System 40-K001)進(jìn)行開關(guān)切換選通，首先選通第一路2241，此時(shí)適量網(wǎng)絡(luò)分析儀208(ANRITSU MS4622B)的功率輸出端2081通過(guò)射頻開關(guān)22中的第一路2241連接到被測(cè)功放組的第一塊功放輸入端2311，再由此塊功放的輸出端2312連接到射頻開關(guān)22，接著通過(guò)射頻開關(guān)225(Keithley System 40-K001)選通第一塊待測(cè)功放單板231的輸出2251通過(guò)衰減器207連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀208的功率輸入端2082，此時(shí)被測(cè)功放組的第一塊功放單板231通過(guò)射頻開關(guān)22的選通和相關(guān)的測(cè)試儀器形成了一個(gè)測(cè)試回路。同時(shí)計(jì)算機(jī)21通過(guò)GPIB控制線211調(diào)用自動(dòng)測(cè)試程序，控制專用測(cè)試設(shè)備20中的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀208進(jìn)行各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)試，并進(jìn)行數(shù)據(jù)的計(jì)算、分析，處理和存儲(chǔ)，至此完成一塊功放單板的測(cè)試。此后，計(jì)算機(jī)21通過(guò)GPIB線210選通射頻開關(guān)22中的第2～6路待測(cè)功放單板，逐一完成整個(gè)6路的測(cè)試工作。這里計(jì)算機(jī)所調(diào)用的自動(dòng)測(cè)試程序分如下幾步進(jìn)行首先通過(guò)用戶交互的界面讀取測(cè)試人員設(shè)置的參數(shù)，如一次測(cè)試的單板數(shù)量n(n＜＝6)、生產(chǎn)性測(cè)試中單板的批號(hào)、編號(hào)等(以便自動(dòng)形成測(cè)試報(bào)表)，然后通過(guò)IEEE488.2的標(biāo)準(zhǔn)指令控制專用測(cè)試設(shè)備20對(duì)被測(cè)對(duì)象23進(jìn)行測(cè)試，接著同樣通過(guò)IEEE488.2命令控制儀器將測(cè)試結(jié)果傳送到計(jì)算機(jī)21，最后用計(jì)算機(jī)21將得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行提取并進(jìn)行數(shù)據(jù)的計(jì)算、分析，處理和存儲(chǔ)，形成測(cè)試報(bào)表，完成整個(gè)測(cè)試過(guò)程。
下面結(jié)合圖4給出的流程圖，對(duì)本實(shí)施例中的計(jì)算機(jī)21通過(guò)GPIB接口調(diào)用的自動(dòng)測(cè)試軟件進(jìn)行簡(jiǎn)要的說(shuō)明。第一步(S41)是讀取用戶設(shè)定的信息，包括在測(cè)試前是否復(fù)位測(cè)試儀器、一次測(cè)試的功放單板的數(shù)量、測(cè)試人員的工號(hào)等；第二步(S42)根據(jù)用戶設(shè)定的信息控制儀器進(jìn)行測(cè)試，根據(jù)功放單板的測(cè)試項(xiàng)目要求，自動(dòng)測(cè)試程序IEEE488.2標(biāo)準(zhǔn)命令控制矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀實(shí)現(xiàn)功放單板在多頻點(diǎn)下1dB增益壓縮點(diǎn)的輸入和輸出功率，并根據(jù)用戶設(shè)定的一次測(cè)試功放單板數(shù)量，用IEEE488.2命令依次選通各路射頻開關(guān)對(duì)各塊功放單板進(jìn)行測(cè)試；第三步(S43)，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的IEEE488.2命令將測(cè)試所得的原始數(shù)據(jù)讀入計(jì)算機(jī)，此時(shí)原始數(shù)據(jù)是包括測(cè)試的原始結(jié)果和一些儀器輸出數(shù)據(jù)的附加格式的字符串；第四步(S44)，將字符串中的有用數(shù)據(jù)提取出來(lái)，并進(jìn)行數(shù)據(jù)格式的轉(zhuǎn)換，為進(jìn)一步的處理計(jì)算做準(zhǔn)備；第五步(S45)，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步的處理，通過(guò)格式轉(zhuǎn)換過(guò)的原始數(shù)據(jù)，計(jì)算出功放單板在各個(gè)頻點(diǎn)上1dB功率增益壓縮點(diǎn)上的功率增益及其最小值，各個(gè)頻點(diǎn)上的線性范圍內(nèi)的輸出功率最小值，該單板在所設(shè)置的各個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)上功率增益波動(dòng)值，將這些計(jì)算值和功放單板的測(cè)試指標(biāo)相比較、判斷得出測(cè)試結(jié)果；最后步驟(S46)，根據(jù)報(bào)表的格式，將測(cè)試數(shù)據(jù)填寫入電子表格，完成了整個(gè)測(cè)試過(guò)程。
圖2是上述較佳實(shí)施例的一個(gè)測(cè)試流程圖。作為測(cè)試系統(tǒng)，圖2所示的測(cè)試環(huán)境除射頻開關(guān)陣列22和被測(cè)對(duì)象23之間需要手工連線之外，其它部分的連接都是固定的。下面結(jié)合圖3對(duì)圖2給出的流程進(jìn)行說(shuō)明。首先進(jìn)入步驟S1，將射頻開關(guān)陣列22和被測(cè)功放單板的輸入端和輸出端用射頻線纜進(jìn)行連接，對(duì)待測(cè)功放單板231～236進(jìn)行上電，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)231～236功放板進(jìn)行同時(shí)烤機(jī)，即步驟S2，在對(duì)每塊功放單板測(cè)試之前，首先通過(guò)步驟S3判斷一次性上電的6塊單板是否已經(jīng)全部測(cè)試完畢(在測(cè)試一開始時(shí)單板數(shù)已經(jīng)通過(guò)自動(dòng)測(cè)試程序的用戶面板由用戶設(shè)定)，若已全部測(cè)完則進(jìn)入步驟S5，若未全部測(cè)完則進(jìn)入步驟S4，步驟S4為自動(dòng)測(cè)試程序通過(guò)GPIB命令控制射頻開關(guān)22選通一對(duì)輸入和輸出通路，從而選擇了一塊待測(cè)單板，而后同樣通過(guò)自動(dòng)測(cè)試程序的控制，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀208對(duì)被選通功放待測(cè)板的各項(xiàng)待測(cè)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試，即步驟S5，全部單板測(cè)試完畢后，自動(dòng)測(cè)試程序控制計(jì)算機(jī)21讀取測(cè)試得到的原始數(shù)據(jù)，進(jìn)行數(shù)據(jù)的計(jì)算、分析、處理和存儲(chǔ)，形成報(bào)表，完成整個(gè)測(cè)試的過(guò)程。測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)GPIB接口用IEEE488.2標(biāo)準(zhǔn)命令控制射頻開關(guān)依次選擇各塊功放單板，調(diào)用自動(dòng)測(cè)試程序控制測(cè)試設(shè)備矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行測(cè)試，效率在原有的基礎(chǔ)上提高了5～6倍。
圖5所示的CDU單板測(cè)試是基站系統(tǒng)BTS單板測(cè)試的一部分。CDU有大量的輸入輸出端口，且測(cè)試項(xiàng)目較多，需要測(cè)量的數(shù)據(jù)幾十個(gè)之多。每一個(gè)數(shù)據(jù)的測(cè)量都必須經(jīng)過(guò)連接測(cè)試電纜、操作儀器、記錄數(shù)據(jù)、拆除測(cè)試電纜這樣一個(gè)過(guò)程。CDU模塊測(cè)試的工作量十分龐大，需要一種省時(shí)省力的方法來(lái)提高測(cè)試的效率。
射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法能夠很好地解決這個(gè)問(wèn)題。測(cè)試系統(tǒng)由計(jì)算機(jī)41、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42、開關(guān)陣列43、GPIB接口及電纜組成。計(jì)算機(jī)41和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42、計(jì)算機(jī)41和開關(guān)陣列43之間用GPIB電纜連接。開關(guān)陣列43將被測(cè)器件44(CDU)的輸入輸出連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42的對(duì)應(yīng)端口由于實(shí)際的CDU非常復(fù)雜，這里用一個(gè)簡(jiǎn)化的模型44加以說(shuō)明。圖中CDU模塊的ATN端口是一個(gè)雙向端口，來(lái)自TX1端的信號(hào)可以通過(guò)它發(fā)送出去，同時(shí)來(lái)自外界的信號(hào)也可以通過(guò)ATN端口傳送到RX1和RX2端。現(xiàn)在我們需要測(cè)量的是TX1和ATN端口之間的插損和駐波，ATN到RX1、RX2的增益和噪聲系數(shù)。
先測(cè)TX到ATN的插損，如果采用手工測(cè)試的方法則必須先用測(cè)試電纜將TX1連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42的PORT1端，ATN連接到PORT2端。然后對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42進(jìn)行操作，測(cè)得插損，再讀取數(shù)據(jù)、記錄數(shù)據(jù)，接下來(lái)修改矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42的設(shè)置，測(cè)量駐波，讀數(shù)、記錄。再測(cè)ATN到RX1的增益和噪聲系數(shù)，拆除剛才連接的測(cè)試電纜，將ATN連接到PORT1，RX1連接到PORT2，將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42切換到測(cè)量噪聲系數(shù)的模式，讀數(shù)、記錄。拆除連接RX1的電纜，將RX2連接到PORT2，測(cè)出噪聲系數(shù)和增益。最后拆除電纜，這樣才能完成這一個(gè)模塊的測(cè)試。
如果使用本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試方法就需要引入開關(guān)陣列43。這里的開關(guān)陣列43由三個(gè)開關(guān)A、B、C組成。A和C是兩個(gè)二選一的開關(guān)，B是一個(gè)三選一的開關(guān)。
首先，將所有端口連接到開關(guān)陣列43的對(duì)應(yīng)端口(即如圖所示，CDU的TX1連接到開關(guān)陣列的TX1，CDU的ATN連接到開關(guān)陣列的ATN，以此類推)。啟動(dòng)自動(dòng)測(cè)試流程，這一流程由軟件進(jìn)行說(shuō)明。計(jì)算機(jī)41通過(guò)GPIB總線向開關(guān)陣列43發(fā)出占領(lǐng)閉合開關(guān)A1(閉合開關(guān)A1的意思就是讓開關(guān)A的1端與COMMON端接通，下同)、B1、C2。這時(shí)網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀42的端口PORT1發(fā)出的信號(hào)就可以通過(guò)開關(guān)陣列43傳送到TX1，從ATN返回的信號(hào)也可也通過(guò)開關(guān)陣列43回到端口PORT2，這就等效于將TX1和ATN連接到端口PORT1和PORT2。計(jì)算機(jī)41再通過(guò)GPIB總線向矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42發(fā)出測(cè)試插損和讀數(shù)的指令，接收并存儲(chǔ)返回的數(shù)據(jù)。下一步測(cè)試駐波，同樣通過(guò)GPIB總線向矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42發(fā)出測(cè)試駐波和讀數(shù)的指令，接收并存儲(chǔ)返回的數(shù)據(jù)。打開開關(guān)A1(打開開關(guān)A1的意思就是讓開關(guān)A的1端與COMMON端斷開，下同)、B1、C2，閉合開關(guān)A2、B2、C1。向矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42發(fā)出測(cè)試噪聲系數(shù)和增益的指令，讀數(shù)并存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。打開開關(guān)B2，閉合B3，再次發(fā)出測(cè)試噪聲系數(shù)和增益的指令，完成ATN到RX2這條通道的測(cè)試。打開所有開關(guān)，拆除測(cè)試電纜，測(cè)試完成。
從上面的流程可以看出與手工測(cè)試相比，自動(dòng)測(cè)試除了開始的連接測(cè)試電纜，最后的拆除電纜外均由計(jì)算機(jī)控制開關(guān)陣列43和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀42進(jìn)行，測(cè)試可以連續(xù)高速地進(jìn)行下去。且拆裝電纜是在開始和結(jié)束時(shí)集中進(jìn)行的，亦可節(jié)約不少時(shí)間。
上面介紹的僅僅是一個(gè)簡(jiǎn)單的四端口的模型，實(shí)際的CDU則擁有兩位數(shù)的端口，使用自動(dòng)測(cè)試方法，效果將更加顯著，大約可以將測(cè)試速度提高十倍。
前面提供了對(duì)較佳實(shí)施例的描述，以使本領(lǐng)域內(nèi)的任何技術(shù)人員可使用或利用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的各種修改對(duì)本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員是顯而易見的，可把這里所述的總的原理應(yīng)用到其他實(shí)施例而不使用創(chuàng)造性。因而，本發(fā)明將不限于這里所示的實(shí)施例，而應(yīng)依據(jù)符合這里所揭示的原理和新特征的最寬范圍。
權(quán)利要求
1.一種射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法，所述方法包括以下步驟1〕將多個(gè)被測(cè)元件與開關(guān)陣列相連接；2〕讀取用戶設(shè)定的待測(cè)指標(biāo)；2〕根據(jù)用戶設(shè)定的待測(cè)指標(biāo)控制測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試；3〕將測(cè)試得到的原始數(shù)據(jù)讀入計(jì)算機(jī)，從所述原始數(shù)據(jù)中挑選與所述被測(cè)指標(biāo)相關(guān)的數(shù)據(jù)，并對(duì)所述數(shù)據(jù)進(jìn)一步處理、計(jì)算、分析得出結(jié)論，生成測(cè)試報(bào)表。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟2〕進(jìn)一步包括控制所述專用設(shè)備在被測(cè)對(duì)象之間進(jìn)行批量切換。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟2)進(jìn)一步包括控制所述專用設(shè)備在被測(cè)對(duì)象的各個(gè)待測(cè)指標(biāo)之間進(jìn)行批量切換。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步驟3〕中進(jìn)一步包括根據(jù)測(cè)試報(bào)表要求對(duì)所述數(shù)據(jù)形式進(jìn)行轉(zhuǎn)換。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法，其特征在于，計(jì)算機(jī)通過(guò)GPIB接口用IEEE488.2標(biāo)準(zhǔn)命令控制射頻開關(guān)陣列進(jìn)行切換。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的射頻自動(dòng)批量切換測(cè)試方法，其特征在于，計(jì)算機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)的IEEE488.2命令控制測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試和數(shù)據(jù)采集。
全文摘要
一種射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法，所述方法包括以下步驟讀取用戶設(shè)定的待測(cè)指標(biāo)；根據(jù)用戶設(shè)定的待測(cè)指標(biāo)控制測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試；將測(cè)試得到的原始數(shù)據(jù)讀入計(jì)算機(jī)，從所述原始數(shù)據(jù)中挑選與所述被測(cè)指標(biāo)相關(guān)的數(shù)據(jù)，并對(duì)所述數(shù)據(jù)進(jìn)一步處理、計(jì)算、分析得出結(jié)論，生成測(cè)試報(bào)表。射頻自動(dòng)切換批量測(cè)試方法在一定程度上解決了射頻器件的測(cè)試指標(biāo)多、需要接入大量接頭、人工干預(yù)多、測(cè)量每一項(xiàng)指標(biāo)都需要人工選擇測(cè)試通道、測(cè)試速度慢等方面的缺點(diǎn)。
文檔編號(hào)H04B17/00GK1399138SQ0112629
公開日2003年2月26日 申請(qǐng)日期2001年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2001年7月20日
發(fā)明者王莉, 陳國(guó)煒, 馬骎, 沈立軍 申請(qǐng)人:上海大唐移動(dòng)通信設(shè)備有限公司