專利名稱：載波檢測(cè)電路及使用它的紅外線通信裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及適合作為包含載波的信號(hào)的解調(diào)器來(lái)實(shí)施的載波檢測(cè)電路及搭載它形成用于接收的紅外線通信裝置。
背景技術(shù)：
以往廣泛使用著例如紅外線遙控的接收機(jī)等能夠接收紅外線的紅外線通信裝置。在該紅外線通信裝置中，接收到的紅外線的發(fā)送代碼信號(hào)例如由光電二極管等變換為電信號(hào)后進(jìn)行放大。進(jìn)而，在上述紅外線通信裝置中，帶通濾波器從放大過(guò)的信號(hào)中，提取預(yù)定的載頻分量；載波檢測(cè)電路根據(jù)該帶通濾波器的輸出信號(hào)，來(lái)判定有無(wú)載波，輸出判定結(jié)果。
圖12是載波檢測(cè)電路120的一結(jié)構(gòu)例的等效電路圖。該載波檢測(cè)電路120包括檢波電路121，根據(jù)上述帶通濾波器的輸出信號(hào)Sig(參照?qǐng)D13)來(lái)生成載波檢測(cè)電平Det；積分電路109，根據(jù)該檢波電路121的輸出Det，對(duì)有載波的時(shí)間進(jìn)行積分；以及遲滯比較器110，通過(guò)將該積分電路的積分輸出Int與閾值電平Vt進(jìn)行比較，從而判定有無(wú)載波。
該檢波電路121由檢波器122及積分器123構(gòu)成，大致進(jìn)行以下動(dòng)作。即，檢波器122根據(jù)上述帶通濾波器的輸出Sig，來(lái)生成表示其基帶分量(10kHz以下)的波形的信號(hào)Dett(以下，簡(jiǎn)稱基帶分量Dett)。進(jìn)而，積分器123比較上述基帶分量Dett和基準(zhǔn)電壓Vf，對(duì)積分電容C102進(jìn)行充放電。由此，作為積分電容C102的兩端電壓，生成上述載波檢測(cè)電平Det。上述載波檢測(cè)電平Det在上述積分電路109中與上述帶通濾波器的輸出Sig進(jìn)行比較。其中，該檢波電路121如(日本)特開(kāi)2002-51093號(hào)公報(bào)(
公開(kāi)日2002年2月15日)及US-2002-0098818-A1所示。
在該載波檢測(cè)電路120的檢波電路121中，檢波器122按組來(lái)檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖，積分器123對(duì)該脈沖組存在的時(shí)間進(jìn)行積分，將積分出的輸出Int作為上述載波檢測(cè)電平Det。即，上述檢波器122不是直接形成整個(gè)接收系統(tǒng)的載波檢測(cè)電平Det，而是為了被用于生成該載波檢測(cè)電平Det。
上述檢波器122包括高速放大器124，足以響應(yīng)載頻地高速放大上述輸出Sig和上述載波檢測(cè)電平Det的差分，以電壓來(lái)輸出放大結(jié)果；二極管D101，對(duì)該高速放大器124的輸出進(jìn)行整流；電容C101，經(jīng)上述二極管D101用上述高速放大器124的輸出電壓來(lái)充電；以及恒流源125，使上述電容C101以恒流I100來(lái)放電。
此外，上述積分器123包括放大器126，輸出與上述電容C101的充電電壓(即，上述檢波器122的輸出Dett)和來(lái)自未圖示的基準(zhǔn)電壓源的預(yù)定的上述基準(zhǔn)電壓Vf之差對(duì)應(yīng)的電流；和上述積分電容C102，用該放大器126的輸出電流來(lái)充電，將其充電電壓作為上述載波檢測(cè)電平Det來(lái)輸出。
圖13是如上所述構(gòu)成的載波檢測(cè)電路120的波形圖。高速放大器124放大圖13中標(biāo)號(hào)β1所示的帶通濾波器的輸出Sig、和標(biāo)號(hào)β2所示的載波檢測(cè)電平Det的差分后，如圖13中β11(Dett)及β12(Vf)所示，通過(guò)二極管D101的作用，在檢測(cè)出載頻的脈沖的期間W1內(nèi)，電容C101被充電，載頻的脈沖組的檢測(cè)電平—上述輸出Dett升高。而在到達(dá)未檢測(cè)出脈沖的期間W2后，通過(guò)上述恒流源125的電流I101的放電，上述輸出Dett持續(xù)降低。這樣，期間W1為如上所述應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖組存在的時(shí)間，積分器123對(duì)該期間W1進(jìn)行積分。由此，積分輸出為上述圖13中標(biāo)號(hào)β2所示的載波檢測(cè)電平Det。
此外，在圖13中，標(biāo)號(hào)α11是后級(jí)的積分電路109的積分輸出Int，標(biāo)號(hào)α12是遲滯比較器110的閾值電平。此外，在圖13中，Dout是上述遲滯比較器110解調(diào)出的基帶分量構(gòu)成的數(shù)字輸出的輸出信號(hào)。
這里，紅外線遙控的發(fā)送信號(hào)是用30～60kHz的載波調(diào)制過(guò)的ASK信號(hào)，1個(gè)發(fā)送代碼是50～150msec左右。此外，在該載波檢測(cè)電路120中，檢波器122按組來(lái)檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻(上述30～60kHz)的脈沖，積分器123對(duì)該脈沖組存在的時(shí)間W1進(jìn)行積分，將積分出的輸出Int作為上述載波檢測(cè)電平Det。
因此，要求檢波器122足以響應(yīng)載頻地高速工作。其結(jié)果是，可以使電容C101的電容比較小。相反，在積分器123中，放大器126需要具備上述基帶分量以上的響應(yīng)速度(10kHz以下)。因此，為了根據(jù)上述基帶分量來(lái)生成載波檢測(cè)電平Det，需要長(zhǎng)100msec左右的時(shí)間常數(shù)，要求上述積分電容C102有比較大的電容。
一般，用微小電流難以確保高響應(yīng)性，但是近年來(lái)，作為上述載波檢測(cè)電路120的積分器123，出現(xiàn)了能夠以高響應(yīng)性、和可集成的電容值(100pF左右)來(lái)確保上述100msec左右的時(shí)間常數(shù)的芯片。
另一方面，目前正在將上述紅外線遙控的接收機(jī)等紅外線通信裝置搭載到便攜信息終端等上，強(qiáng)烈希望削減成本。因此，以往作為外置片狀電容器(0.1μF左右)的載波檢測(cè)電路的積分電容器現(xiàn)在也如上所述內(nèi)置到集成電路中(上述100pF左右)，這已成為常識(shí)。
然而，即使如上所述能夠內(nèi)置，在集成電路內(nèi)，電容器所占的比例也很大(10～15pF/100μm×100μ左右)，縮小電容器就是縮小芯片尺寸，對(duì)進(jìn)一步削減成本非常有效。因此，在內(nèi)置了積分電容器的載波檢測(cè)電路中，需要有效地進(jìn)行SN(信號(hào)、噪聲)分離。
圖14是作為上述積分器123來(lái)使用的典型的現(xiàn)有技術(shù)的積分器131的具體結(jié)構(gòu)的電路圖。該積分器131如上述特開(kāi)2002-51093號(hào)公報(bào)所示，大致包括上述積分電容C102、充電電路132、以及放電電路133。
充電電路132包括晶體管qn101、qn102，構(gòu)成差分對(duì)；恒流源f101；基準(zhǔn)電壓源134；晶體管qn103、qp101，取出來(lái)自上述差分對(duì)的輸出；晶體管qp103、qp104，構(gòu)成電流鏡電路，映出來(lái)自上述晶體管qp101的輸出電流；晶體管qp102，將來(lái)自晶體管qp104的輸出電流注入到上述積分電容C102中；以及晶體管qp105、qp106，構(gòu)成例如與(日本)特開(kāi)平3-262153號(hào)公報(bào)(
公開(kāi)日1991年11月21日)所示的同樣的光漏泄電流補(bǔ)償電路。
另一方面，放電電路133包括晶體管qn104、qn105，構(gòu)成差分對(duì)；恒流源f102、f103；晶體管qp107、qp108，構(gòu)成電流鏡電路，映出來(lái)自上述晶體管qn104的輸出電流；晶體管qn106，將來(lái)自上述晶體管qp108、qn105的輸出作為上述載波檢測(cè)電平Det來(lái)輸出；以及光漏泄電流補(bǔ)償用的晶體管qp109、qp110。
在如上所述構(gòu)成的積分器131中，在上述電容C101的充電電壓、即上述檢波器122的輸出Dett低于來(lái)自上述基準(zhǔn)電壓源134的上述基準(zhǔn)電壓Vf的情況下，晶體管qn102導(dǎo)通。因此，晶體管qn103、qp101、qp103、qp104、qp102導(dǎo)通，上述積分電容C102用充電電流Icj來(lái)充電。其中，上述積分電容C102用放電電路133的放電電流Icf來(lái)放電，所以上述充電電流Icj是從晶體管qp102的充電電流中減去放電電路133的放電電流Icf所得的電流。
這里，設(shè)恒流源f101從晶體管qn101、qn102的發(fā)射極引出的恒流為i101，同樣設(shè)恒流源f102從晶體管qn104、qn105的發(fā)射極引出的恒流為i102，設(shè)晶體管qn103、qn104的電流放大倍數(shù)為hfe(qn103)、hfe(qn104)，則Icj＝i101/hef(qn103)-i102/hfe(qn104)...(1)。
相反，在上述輸出Dett高于上述基準(zhǔn)電壓Vf的情況下，晶體管qn102截止，晶體管qn103、qp101、qp103、qp104、qp102也截止。因此，沒(méi)有來(lái)自晶體管qp102的充電，只用上述放電電流Icf對(duì)上述積分電容C102進(jìn)行放電。因此，有Icf＝i102/hfe(qn104)...(2)作為一般值，設(shè)i101＝30nA、i102＝30nA、hfe(qn)＝150、C102＝100pF，則Icj＝100pA、Icf＝100pA；根據(jù)t＝CV/I，充放電時(shí)間常數(shù)為100msec/0.1V。此時(shí)，充放電電流比(Icj/Icf)為1，能夠接收發(fā)送代碼的占空比最大為50％的信號(hào)。
然而，如果為了上述進(jìn)一步削減成本，而想削減積分電容C102，則需要使差分對(duì)的工作電流i101、i102都減少，確保同等程度的時(shí)間常數(shù)。
而如果上述工作電流i101、i102為10nA以下的低電流，則充放電電路的晶體管的阻抗提高，發(fā)生有可能不能正常工作的問(wèn)題。此外，也發(fā)生工藝偏差或溫度依賴性的影響也增大的問(wèn)題。
即，單個(gè)晶體管的輸入輸出電阻在集電極電流Ic減小時(shí)增大，用輸入電阻rπ＝hfe*Vt/Ic ...(3)輸出電阻ro＝Va/Ic ...(4)來(lái)表示。其中，Vt＝k*T/q(k玻耳茲曼常數(shù)，T絕對(duì)溫度，q電子的基本電荷)，Va＝厄雷電壓。
因此，如果想使上述積分電容C102為50pF的1/2，則需要減少到i101＝15nA、i102＝15nA，特別是在放電電路133中，需要使晶體管qn104、qn105的集電極電流為i102/2＝7.5nA。其結(jié)果是，發(fā)生上述問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種載波檢測(cè)電路及搭載它的紅外線通信裝置，不會(huì)發(fā)生積分器的充電電路或放電電路的工作電流減少造成的問(wèn)題，能夠削減積分電容。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的載波檢測(cè)電路根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平，用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波，其中，用進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器的充電電路和放電電路的差分電流來(lái)進(jìn)行積分電容的充放電。
在紅外線遙控接收機(jī)等上搭載的載波檢測(cè)電路中，在積分器根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平、用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波的結(jié)構(gòu)中，例如通過(guò)用上述載波檢測(cè)電平來(lái)鑒別上述接收信號(hào)的電平而除去載波上疊加的噪聲后，對(duì)其鑒別結(jié)果進(jìn)行積分，來(lái)形成上述載波檢測(cè)電平。
這里，通常，在形成載波檢測(cè)電平時(shí)，積分電容的充放電是只進(jìn)行與上述鑒別結(jié)果對(duì)應(yīng)的充電或放電中的一個(gè)，或者是在始終進(jìn)行恒定電平的放電的狀態(tài)下，進(jìn)行與上述鑒別結(jié)果對(duì)應(yīng)的充電。
相反，在本發(fā)明中，始終進(jìn)行充電和放電這兩者，對(duì)應(yīng)于上述鑒別結(jié)果來(lái)改變其電平。
這里，在縮小上述積分電容來(lái)縮小集成電路的芯片面積時(shí)，為了確保期望的時(shí)間常數(shù)，需要減小上述充放電電流。在此情況下，如果跟隨充放電電流的削減來(lái)減小充電電路的晶體管中流過(guò)的工作電流、及放電電路的晶體管中流過(guò)的工作電流，則有可能發(fā)生流過(guò)各晶體管的電流減小造成的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題。
相反，在上述結(jié)構(gòu)中，用充電電路和放電電路的差分電流來(lái)進(jìn)行積分電容的充放電。因此，即使在削減上述充放電電流的情況下，也無(wú)需跟隨它來(lái)過(guò)度減小流過(guò)上述充電電路及放電電路的工作電流。由此，不會(huì)產(chǎn)生減小流過(guò)晶體管的電流而發(fā)生的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題，能夠有效地縮小上述芯片面積。
此外，為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的載波檢測(cè)電路根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平，用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波，其中，進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器具有充電電路和放電電路；上述放電電路以與上述載波檢測(cè)電平對(duì)應(yīng)的電流來(lái)始終進(jìn)行放電；根據(jù)構(gòu)成上述充電電路及放電電路的晶體管的發(fā)射極面積比，來(lái)設(shè)定充電電流和放電電流的電流值。
在紅外線遙控接收機(jī)等上搭載的載波檢測(cè)電路中，在積分器根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平、用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波的結(jié)構(gòu)中，例如通過(guò)用上述載波檢測(cè)電平來(lái)鑒別上述接收信號(hào)的電平而除去載波上疊加的噪聲后，對(duì)其鑒別結(jié)果進(jìn)行積分，來(lái)形成上述載波檢測(cè)電平。
這里，在形成載波檢測(cè)電平時(shí)，放電電路對(duì)積分電容以與上述載波檢測(cè)電平對(duì)應(yīng)的電流始終進(jìn)行放電，充電電路進(jìn)行與上述鑒別結(jié)果對(duì)應(yīng)的充電。而且在本發(fā)明中，根據(jù)構(gòu)成上述充電電路及放電電路的晶體管的發(fā)射極面積比來(lái)設(shè)定這些充電電流和放電電流的電流值。
這里，在縮小積分器的積分電容來(lái)縮小集成電路的芯片面積時(shí)，為了確保期望的時(shí)間常數(shù)，需要減小上述充放電電流。在此情況下，如果跟隨充放電電流的削減來(lái)減小充電電路的晶體管中流過(guò)的工作電流、及放電電路的晶體管中流過(guò)的工作電流，則有可能發(fā)生流過(guò)各晶體管的電流減小造成的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題。
相反，在上述結(jié)構(gòu)中，根據(jù)構(gòu)成上述充電電路及放電電路的晶體管的發(fā)射極面積比來(lái)設(shè)定充電電流和放電電流的電流值。因此，即使在削減上述充放電電流的情況下，也無(wú)需跟隨它來(lái)過(guò)度減小流過(guò)上述充電電路及放電電路的工作電流。由此，不會(huì)產(chǎn)生減小流過(guò)晶體管的電流而發(fā)生的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題，能夠有效地縮小上述芯片面積。
本發(fā)明的其他目的、特征、及優(yōu)點(diǎn)通過(guò)以下所示的記載將會(huì)十分清楚。此外，本發(fā)明的好處通過(guò)參照附圖進(jìn)行的下述說(shuō)明將會(huì)變得很明白。


圖1是本發(fā)明一實(shí)施方式的載波檢測(cè)電路中的積分器的具體結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖2是橫向PNP晶體管的構(gòu)造的示意圖。
圖3是圖2的等效電路圖。
圖4是本發(fā)明另一實(shí)施方式的載波檢測(cè)電路中的積分器的具體結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖5是本發(fā)明另一實(shí)施方式的載波檢測(cè)電路的一結(jié)構(gòu)例的等效電路圖。
圖6(a)示出比較例，是將間歇工作的電源用作圖11的載波檢測(cè)電路的電源的情況下的工作的波形圖。
圖6(b)將間歇工作的電源用作圖5所示的載波檢測(cè)電路的電源的情況下的工作的波形圖。
圖7是本發(fā)明另一實(shí)施方式的紅外線遙控的接收機(jī)的電結(jié)構(gòu)的方框圖。
圖8(a)用于說(shuō)明在圖7所示的接收機(jī)中AGC用的檢波電路的充放電時(shí)間常數(shù)不同時(shí)的工作，是上述AGC用的檢波電路的充放電時(shí)間常數(shù)小于接收信號(hào)用的檢波電路的充放電時(shí)間常數(shù)的情況下的波形圖。
圖8(b)用于說(shuō)明在圖7所示的接收機(jī)中AGC用的檢波電路的充放電時(shí)間常數(shù)不同時(shí)的工作，是上述AGC用的檢波電路的充放電時(shí)間常數(shù)大于接收信號(hào)用的檢波電路的充放電時(shí)間常數(shù)的情況下的波形圖。
圖9是包含上述各實(shí)施方式的載波檢測(cè)電路的紅外線遙控的接收機(jī)的一結(jié)構(gòu)例的方框圖。
圖10是圖9所示的接收機(jī)的各部的波形圖。
圖11示出本發(fā)明的實(shí)施方式，是載波檢測(cè)電路的一結(jié)構(gòu)例的等效電路圖。
圖12示出現(xiàn)有技術(shù)，是載波檢測(cè)電路的一結(jié)構(gòu)例的等效電路圖。
圖13是用于說(shuō)明圖12所示的載波檢測(cè)電路的工作的波形圖。
圖14是作為上述圖12所示的載波檢測(cè)電路的積分器來(lái)使用的典型的現(xiàn)有技術(shù)的積分器的具體結(jié)構(gòu)的電路圖。
具體實(shí)施例方式
以下，根據(jù)圖1～圖3、圖9～圖11來(lái)說(shuō)明本發(fā)明一實(shí)施方式。
首先，簡(jiǎn)單說(shuō)明包含本實(shí)施方式的載波檢測(cè)電路的接收機(jī)的結(jié)構(gòu)。圖9是紅外線通信裝置之一—紅外線遙控的接收機(jī)1的結(jié)構(gòu)例的方框圖，圖10是該接收機(jī)1的各部的波形圖。在該接收機(jī)1中，如圖10所示，外置的二極管2將紅外線的發(fā)送代碼信號(hào)變換為光電流信號(hào)Iin，將變換后的光電流信號(hào)Iin輸入到接收芯片3中。進(jìn)而，集成電路化的該接收芯片3對(duì)輸入的變換后的光電流信號(hào)Iin進(jìn)行解調(diào)，將數(shù)字信號(hào)Dout輸出到控制電子設(shè)備的微型計(jì)算機(jī)等。上述紅外線信號(hào)是用30～60kHz左右的預(yù)定頻率的載波調(diào)制過(guò)的ASK(Amplitude Shift Keying，幅移鍵控)信號(hào)。
在上述接收芯片3內(nèi)，上述光電流信號(hào)Iin在初級(jí)放大器(HA)4、第2級(jí)放大器(2ndAMP)5及第3級(jí)放大器(3rdAMP)6中依次被放大，適合載頻的帶通濾波器(BPF)7從第3級(jí)放大器6的輸出信號(hào)中如圖10中標(biāo)號(hào)α1所示提取載波分量的輸出Sig。然后，下一級(jí)的檢波電路8用標(biāo)號(hào)α2所示的后述載波檢測(cè)電平Det對(duì)上述輸出Sig進(jìn)行檢波，如后詳述，根據(jù)檢波結(jié)果，來(lái)生成載波檢測(cè)電平Det。進(jìn)而，積分電路9如圖10中標(biāo)號(hào)α11所示，對(duì)有載波的時(shí)間進(jìn)行積分，遲滯比較器10通過(guò)將積分電路9的積分輸出Int、和標(biāo)號(hào)α12所示的預(yù)定的閾值電平進(jìn)行比較，來(lái)判別有無(wú)載波，將判別結(jié)果作為上述輸出信號(hào)Dout來(lái)數(shù)字輸出。
在上述初級(jí)放大器4的輸出端，設(shè)有低通濾波器11，該低通濾波器11從上述初級(jí)放大器4的輸出中，檢測(cè)熒光燈或太陽(yáng)光的直流電平。而下一級(jí)的第2級(jí)放大器5從初級(jí)放大器4的直接輸出中，除去上述低通濾波器11檢測(cè)出的直流電平部分并放大。由此，從第2級(jí)放大器5的輸出中，除去了上述熒光燈或太陽(yáng)光的影響。
此外，與上述初級(jí)放大器4關(guān)聯(lián)而設(shè)有ABCC電路12，該ABCC電路12按照上述低通濾波器11的輸出來(lái)控制初級(jí)放大器4的直流偏置。再者，與帶通濾波器7關(guān)聯(lián)而設(shè)有fo微調(diào)電路13，該fo微調(diào)電路13通過(guò)微調(diào)從未圖示的分壓電阻的連接點(diǎn)引出的端子TRM1～TRM5間的未圖示的齊納二極管，來(lái)調(diào)整該帶通濾波器7的中心頻率fo。
本實(shí)施方式的載波檢測(cè)電路20包括上述檢波電路8、積分電路9、以及遲滯比較器10。更詳細(xì)地說(shuō)，上述檢波電路8由檢波器22及積分器23構(gòu)成，大致進(jìn)行以下工作。即，檢波器22根據(jù)上述帶通濾波器的輸出Sig，來(lái)生成表示其基帶分量(10kHz以下)的波形的信號(hào)Dett(以下，簡(jiǎn)稱基帶分量Dett)。進(jìn)而，積分器23比較上述基帶分量Dett和基準(zhǔn)電壓Vf，對(duì)積分電容C2進(jìn)行充放電。由此，作為積分電容C2的兩端電壓，生成上述載波檢測(cè)電平Det。上述載波檢測(cè)電平Det在上述積分電路9中與上述帶通濾波器5的輸出Sig進(jìn)行比較。
在上述檢波電路8中，檢波器22按組來(lái)檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖，積分器23對(duì)該脈沖組存在的時(shí)間進(jìn)行積分，將積分出的輸出Int作為上述載波檢測(cè)電平Det。即，上述檢波器22不是直接形成整個(gè)接收系統(tǒng)的載波檢測(cè)電平Det，而是為了被用于生成該載波檢測(cè)電平Det。
上述檢波器22包括高速放大器24，足以響應(yīng)載頻地高速放大上述輸出Sig和上述載波檢測(cè)電平Det的差分，以電壓來(lái)輸出放大結(jié)果；二極管D1，對(duì)該高速放大器24的輸出進(jìn)行整流；電容C1，經(jīng)上述二極管D1用上述高速放大器24的輸出電壓來(lái)充電；以及恒流源25，使上述電容C1以恒流IO來(lái)放電。
此外，上述積分器23包括放大器26，輸出與上述電容C1的充電電壓(即，上述檢波器22的輸出Dett)和來(lái)自未圖示的基準(zhǔn)電壓源的預(yù)定的上述基準(zhǔn)電壓Vf之差對(duì)應(yīng)的電流；和上述積分電容C2，用該放大器26的輸出電流來(lái)充電，將其充電電壓作為上述載波檢測(cè)電平Det來(lái)輸出。
這里，本實(shí)施方式的檢波電路8使用以下結(jié)構(gòu)的積分器41作為上述積分器23。即，圖1是本發(fā)明一實(shí)施方式的積分器41的具體結(jié)構(gòu)的電路圖。該積分器41大致包括上述積分電容C2、充電電路42、以及放電電路43。其中，圖1記載的電路中除基準(zhǔn)電壓源44(后述)外的充電電路42、和放電電路43構(gòu)成圖11的放大器26。
充電電路42包括晶體管QN1、QN2，構(gòu)成輸入差分對(duì)；恒流源F1；基準(zhǔn)電壓源44；晶體管QN3、QP1，取出來(lái)自上述差分對(duì)的輸出；晶體管QP3、QP4，構(gòu)成電流鏡電路，映出來(lái)自上述晶體管QP1的輸出電流；晶體管QP2，將來(lái)自晶體管QP4的輸出電流注入到上述積分電容C2中；以及晶體管QP5、QP6，構(gòu)成光漏泄電流補(bǔ)償電路。再者，在本實(shí)施方式的充電電路42中，在上述結(jié)構(gòu)之上，還設(shè)有恒流源F4。
更詳細(xì)地說(shuō)，構(gòu)成上述輸入差分對(duì)的晶體管QN1、QN2的發(fā)射極相互連接在一起，兩個(gè)晶體管QN1、QN2的發(fā)射極經(jīng)恒流源F1接地。此外，向上述晶體管QN1的基極施加了上述檢波器22的輸出Dett，上述基準(zhǔn)電壓源44向上述晶體管QN2的基極施加了恒壓Vf。此外，經(jīng)電源線LVcc向上述晶體管QN1的集電極施加了電源電壓Vcc。此外，晶體管QN2的集電極經(jīng)晶體管QN3連接在上述電源線LVcc上。此外，晶體管QN2的集電極經(jīng)恒流源F4接地。
此外，上述晶體管QN3的基極被連接在晶體管QP1的基極上。該晶體管QP1的集電極接地，發(fā)射極被連接在上述電流鏡電路上。
構(gòu)成上述電流鏡電路的晶體管QP3、QP4的基極被相互連接，并且被連接在上述晶體管QP3的集電極及上述晶體管QP1的發(fā)射極上。其中，上述兩個(gè)晶體管QP3、QP4的發(fā)射極被連接在上述電源線LVcc上。
再者，上述晶體管QP4的集電極經(jīng)上述晶體管QP2接地。此外，上述晶體管QP2的基極作為充電電路42的輸出端子被連接在上述積分電容C2上。
此外，構(gòu)成上述光漏泄電流補(bǔ)償電路的晶體管QP5、QP6的基極被相互連接，并且被連接在晶體管QP5的集電極上。另一方面，晶體管QP6的集電極被連接在上述晶體管QP3、QP4的基極上，以便補(bǔ)償光漏泄電流。其中，兩個(gè)晶體管QP5、QP6的發(fā)射極被連接在上述電源線LVcc上。
另一方面，放電電路43包括晶體管QN4、QN5，構(gòu)成差分對(duì)；恒流源F2、F3；晶體管QP7、QP8，構(gòu)成電流鏡電路，映出來(lái)自上述晶體管QN4的輸出電流；晶體管QN6，將來(lái)自上述晶體管QP8、QN5的輸出作為上述載波檢測(cè)電平Det來(lái)輸出；以及光漏泄電流補(bǔ)償用的晶體管QP9、QP10。
更詳細(xì)地說(shuō)，上述晶體管QN4、QN5的發(fā)射極被相互連接，并且經(jīng)上述恒流源F2接地。此外，晶體管QN4的基極作為輸入放電電流的端子，被連接在上述積分電容C2上。另一方面，晶體管QN5的基極被連接在輸出載波檢測(cè)電平Det的端子上。此外，該端子經(jīng)上述恒流源F3接地。再者，從上述電源線LVcc經(jīng)上述晶體管QN6向該端子施加電源電壓Vcc。此外，晶體管QN6的基極被連接在上述晶體管QN5的集電極上。
另一方面，構(gòu)成上述電流鏡電路的晶體管QP7、QP8的基極被相互連接，并且被連接在上述晶體管QP7的集電極及晶體管QN4的集電極上。此外，上述晶體管QP8的集電極被連接在上述晶體管QN5的集電極上。
再者，構(gòu)成上述光漏泄電流補(bǔ)償電路的晶體管QP9、QP10的基極被相互連接，并且被連接在晶體管QP9的集電極上。另一方面，晶體管QP10的集電極被連接在上述晶體管QP7、QP8的基極上，以便補(bǔ)償光漏泄電流。其中，兩個(gè)晶體管QP9、QP10的發(fā)射極被連接在上述電源線LVcc上。
在如上所述構(gòu)成的積分器41中，應(yīng)該注意的是，“對(duì)輸入差分對(duì)設(shè)有作為旁路電流源的恒流源F4，對(duì)恒流源F1、F2向上述差分對(duì)提供的工作電流I1、I2，縮小給積分電容C2的充放電電流Icj、Icf”。即，通常，積分電容C2的充放電是只進(jìn)行與上述檢波器22的輸出Dett對(duì)應(yīng)的充電或放電中的一個(gè)，或者是在放電電路始終進(jìn)行恒定電平的放電的狀態(tài)下，充電電路進(jìn)行與上述輸出Dett對(duì)應(yīng)的充電。相反，本實(shí)施方式的積分器41用上述輸入差分對(duì)的工作電流I1及流過(guò)上述旁路電流源的電流I4之和、和上述差分對(duì)的工作電流I2之差來(lái)設(shè)定上述充放電電流Icj、Icf。
因此，在上述電容C1的充電電壓、即上述檢波器22的輸出Dett低于低于來(lái)自上述基準(zhǔn)電壓源44的上述基準(zhǔn)電壓Vf的情況下，晶體管QN2導(dǎo)通。其結(jié)果是，晶體管QN3、QP1、QP3、QP4、QP2導(dǎo)通，與上述工作電流I1、和始終流動(dòng)的上述恒流源F4的旁路電流I4之和成正比的電流作為晶體管QP2的基極電流而流入到上述積分電容C2中。另一方面，與始終流動(dòng)的上述恒流源F2的工作電流I2對(duì)應(yīng)的電流作為晶體管QN4的基極電流而從積分電容C2流出。因此，積分電容C2用從充電電路42流入的電流、和向放電電路43流出的電流的差分電流來(lái)充電，設(shè)晶體管QN3、QN4的電流放大倍數(shù)為hfe(QN3)、hfe(QN4)，則其充電電流Icj為Icj＝(I1+I4)/hfe(QN3)-I2/hfe(QN4) ...(5)。
相反，在上述輸出Dett高于上述基準(zhǔn)電壓Vf的情況下，晶體管QN2截止，但是恒流源F4的旁路電流I4流動(dòng)。因此，晶體管QN3、QP1、QP3、QP4、QP2導(dǎo)通，與上述旁路電流I4成正比的電流作為上述晶體管QP2的基極電流而從充電電路42輸出。其結(jié)果是，上述積分電容C2的放電電流Icf為向放電電路43流出的電流、和從上述充電電路42流入的電流的差分電流。因此，Icf＝I4/hfe(QN3)+I2/hfe(QN4) ...(6)。
因此，即使將工作電流I2設(shè)為比上述工作電流i102有余量的70nA，設(shè)I1＝15nA、hfe(QN)＝150，通過(guò)設(shè)I4＝27.5nA，也能夠使Icj＝50pA、Icf＝50pA。其結(jié)果是，盡管將工作電流I2設(shè)為比上述工作電流i102有余量的70nA，設(shè)定為比積分器131小的值C2＝50pF，也能夠確保充放電時(shí)間常數(shù)為與上述積分器131相同的值100msec/0.1V。
這里，在縮小上述積分電容C2來(lái)縮小集成電路的芯片面積時(shí)，為了確保期望的時(shí)間常數(shù)，需要減小上述充放電電流Icj、Icf。在此情況下，在現(xiàn)有技術(shù)的電路結(jié)構(gòu)中，如果想減小流過(guò)構(gòu)成差分對(duì)的晶體管qn101、qn102；qn104、qn105的工作電流i101、i102來(lái)減小上述充放電電流Icj、Icf，則有可能發(fā)生流過(guò)各晶體管的電流減小造成的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題。
相反，在本實(shí)施方式的積分器41上，設(shè)有旁路電流源F4，所以即使在為了確保上述期望的時(shí)間常數(shù)而減小上述充放電電流Icj、Icf的情況下，由于旁路電流源F4的作用，也無(wú)需跟隨充放電電流Icj、Icf的削減來(lái)過(guò)度減小流過(guò)構(gòu)成差分對(duì)的晶體管QN1、QN2；QN4；QN5的電流。由此，能夠防止減小流過(guò)晶體管QN1、QN2；QN4；QN5的電流而發(fā)生的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題的發(fā)生，能夠有效地縮小上述芯片面積。
其中，上述積分電容C2的電容值也可以根據(jù)I1、I2、I4的值比上述50pF削減。
此外，本實(shí)施方式的檢波電路8如下輸出上述載波檢測(cè)電平Det。具體地說(shuō)，上述檢波器22通過(guò)用上述載波檢測(cè)電平Det來(lái)鑒別接收信號(hào)Sig的電平，來(lái)檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖。此外，上述積分器41通過(guò)對(duì)來(lái)自上述檢波器22的輸出在預(yù)定的積分基準(zhǔn)值Vf以上的時(shí)間進(jìn)行積分來(lái)按組檢測(cè)上述載頻的脈沖，將其積分輸出作為上述載波檢測(cè)電平Det來(lái)輸出。
因此，檢波器22高速地響應(yīng)載波上疊加的噪聲，使積分器41形成的載波檢測(cè)電平Det上升。另一方面，在上升積分器41中，對(duì)應(yīng)于有無(wú)上述載波來(lái)對(duì)輸出載波檢測(cè)電平Det的上升積分電容C2進(jìn)行充放電的上述充電電路42及放電電路43的晶體管不是對(duì)載頻，而是對(duì)基帶分量的頻率有響應(yīng)性即可。因此，能夠在對(duì)該晶體管的響應(yīng)確保余量的同時(shí)，將給上述積分電容C2的充放電電流Icj、Icf設(shè)為更加微小的電流。
此外，在如上所述用來(lái)自充電電路42的電流和來(lái)自放電電路43的電流的差分來(lái)進(jìn)行充放電時(shí)，在本實(shí)施方式的充電電路42上，對(duì)被提供了來(lái)自上述檢波器22的輸出Dett的輸入差分對(duì)，設(shè)有始終產(chǎn)生恒定電平的充電電流的旁路電流源F4。由此，即使將用于驅(qū)動(dòng)以上述接收信號(hào)Sig的頻率來(lái)工作的該輸入差分對(duì)的電流值I1維持在比較小的值，也能夠通過(guò)旁路電流源F4產(chǎn)生要加上的恒定電平的充電電流I4，來(lái)確保比較大的充電電流。另一方面，通過(guò)在上述充電電路42上設(shè)旁路電流源F4，在以基帶頻率來(lái)工作的上述放電電路43中，能夠?qū)F(xiàn)有電路的電流值設(shè)定為應(yīng)從上述積分電容C2放電的電流值加上上述旁路電流源F4的電流值I4所得的大值。
因此，能夠具體地實(shí)現(xiàn)上述始終充放電，并且能夠?qū)⒈仨毟咚俟ぷ鞯某潆婋娐?2的輸入差分對(duì)仍舊設(shè)為比較小的電流值I1。其結(jié)果是，也能夠以低功耗來(lái)實(shí)現(xiàn)積分器41。
此外，在上述積分器41上，與晶體管QP3、QP4；QP7、QP8組成的PNP電流鏡電路相鄰，設(shè)有晶體管QP5、QP6；QP9、QP10組成的光漏泄電流補(bǔ)償電路。其中，補(bǔ)償光漏泄電流的PNP電流鏡電路(QP3、QP4；QP7；QP8)、和作為光漏泄電流補(bǔ)償電路的PNP電流鏡電路(QP5、QP6；QP9、QP10)相鄰，具有同樣的電路結(jié)構(gòu)。
這里，圖2示意性地示出橫向PNP晶體管51的構(gòu)造，圖3示出其等效電路圖。在P型襯底層52上疊層N型外延層53，該N型外延層53由溝槽54分離為各元件區(qū)域。然后，在集成電路的構(gòu)造上，在作為基極擴(kuò)散區(qū)域的上述N型外延層53和襯底層52之間產(chǎn)生寄生光電二極管55，該寄生光電二極管55被連接在PNP晶體管51的基極端子和襯底層52(接地)之間。
因此，由于光入射而如圖3所示從N型外延層向襯底層52產(chǎn)生光電流Ipd后，該光電流Ipd起PNP晶體管51的基極電流Ib的作用，對(duì)電路的特性影響很大。該光電流Ipd對(duì)應(yīng)于入射光量來(lái)增加，所以在與上述光電二極管2接近來(lái)布置的情況下很大。此外，上述光電流Ipd對(duì)應(yīng)于N型外延層53的面積來(lái)增加，所以該P(yáng)NP晶體管51的電流容量越大，則其越大。
因此，在由特別容易受光影響的PNP晶體管組成的電流鏡電路中，在以低電流方式使用的情況下，通過(guò)在相鄰位置上設(shè)由同樣的PNP電流鏡電路組成的光漏泄電流補(bǔ)償電路，能夠形成精確的充放電電流。其中，該手法被詳細(xì)記載于例如特開(kāi)平3-262153號(hào)公報(bào)等中。
此外，在上述積分器41中，將充放電時(shí)間常數(shù)設(shè)計(jì)為100msec/0.1V。這里，各公司的遙控發(fā)送代碼互不相同，但是如前所述一般是50～150msec左右。因此，通過(guò)如上所述設(shè)計(jì)充放電時(shí)間常數(shù)，能夠?qū)ι鲜鲞b控發(fā)送代碼進(jìn)行最佳的載波檢測(cè)。
以下，根據(jù)圖4來(lái)說(shuō)明本發(fā)明另一實(shí)施方式。
圖4是作為上述積分器23來(lái)使用的本發(fā)明另一實(shí)施方式的積分器61的具體結(jié)構(gòu)的電路圖。該積分器61類似于前述積分器41，對(duì)于對(duì)應(yīng)的部分附以相同標(biāo)號(hào)，省略其說(shuō)明。其中，圖4記載的電路中除基準(zhǔn)電壓源44(后述)外的充電電路62、和放電電路63構(gòu)成圖11的放大器26。
在該積分器61中，從前述積分器41中刪除了恒流源F4。不僅如此，還應(yīng)注意的是，一部分晶體管的發(fā)射極面積不同。對(duì)該面積不同的晶體管，在圖1的標(biāo)號(hào)上附以尾標(biāo)a來(lái)表示。
即，在充電電路62中，構(gòu)成電流鏡電路的晶體管QP3a、QP4a的發(fā)射極面積比被做成m∶1。此外，在放電電路63中，構(gòu)成差分對(duì)的晶體管QN4a、QN5a的發(fā)射極面積比被做成1∶n，并且構(gòu)成電流鏡電路的晶體管QP7a、QP8a的發(fā)射極面積比也被做成1∶n。
因此，在上述檢波器22的輸出Dett低于上述基準(zhǔn)電壓Vf的情況下，給積分電容C2的充電電流Icj為Icj＝I1/m/hfe(QN3)-I2/(n+1)/hfe(QN4)...(7)。
相反，在上述輸出Dett高于上述基準(zhǔn)電壓Vf的情況下，上述積分電容C2的放電電流Icf為Icf＝I2/(n+1)/hef(QN4) ...(8)。
因此，作為一般值，設(shè)I1＝45nA、I2＝45nA、hfe(QN)＝150、C2＝50pf、m＝3、n＝5，則Icj＝50pA、Icf＝50pA，充放電時(shí)間常數(shù)為100sec/0.1V。此時(shí)，充放電電流比(Icj/Icf)為1，能夠接收發(fā)送代碼的占空比最大為50％的信號(hào)。
在此情況下，I2＝45nA、n＝5，所以晶體管QN4a的集電極電流為7.5nA，為上述10nA以下的低電流，但是在整個(gè)積分器中，電流值很大，所以整個(gè)放電電路63的阻抗的上升小，不成問(wèn)題。
其中，上述積分電容C2的電容值也可以根據(jù)I1、I2、m、n的值比上述50pF削減。
即使這樣，在縮小上述積分電容C2來(lái)縮小集成電路的芯片面積時(shí)，也不會(huì)發(fā)生減小流過(guò)晶體管的電流造成的問(wèn)題。
以下，根據(jù)圖5、圖6(a)及圖6(b)來(lái)說(shuō)明本發(fā)明另一實(shí)施方式。
圖5是本發(fā)明另一實(shí)施方式的載波檢測(cè)電路70的一結(jié)構(gòu)例的等效電路圖。該載波檢測(cè)電路70類似于前述圖9所示的載波檢測(cè)電路，對(duì)于對(duì)應(yīng)的部分附以同一標(biāo)號(hào)，省略其說(shuō)明。該載波檢測(cè)電路70由取代檢波電路8而設(shè)的檢波電路71、和上述積分電路9及遲滯比較器10構(gòu)成。如圖5所示，上述檢波電路71包括與上述圖11同一結(jié)構(gòu)的檢波器22、和取代圖11所示的積分器23而設(shè)的積分器73。
上述積分器73具有與積分器23大致相同的結(jié)構(gòu)，但是應(yīng)注意的是，在該載波檢測(cè)電路70中，在積分器73的上述積分電容C2中與提供上述充放電電流的端子相反一側(cè)的端子上，設(shè)有施加預(yù)定的恒壓V1的偏壓源74。
這里，圖6(a)及圖6(b)示出將間歇工作的電源用作載波檢測(cè)電路的電源的情況下、即在紅外線遙控的接收機(jī)中為了降低功耗而進(jìn)行間歇接收的情況下的工作波形。圖6(a)是包括圖11所示的檢波電路8的載波檢測(cè)電路20產(chǎn)生的波形，圖6(b)是包括圖5所示的檢波電路71的載波檢測(cè)電路70產(chǎn)生的波形。
如圖6(a)所示，在上述載波檢測(cè)電路20中，如果由于切斷電源而放掉了積分電容C2的電荷，則在接通電源后，在該大電容被充電到規(guī)定的載波檢測(cè)電平Det之前的期間(100～300msec)內(nèi)，不能正常工作。因此，如果這樣為電路的穩(wěn)定而浪費(fèi)時(shí)間，則在上述間歇接收的接收期間內(nèi)，實(shí)際接收遙控代碼的時(shí)間很短，有可能不能正常進(jìn)行接收。
相反，如圖6(b)所示，在本實(shí)施方式的載波檢測(cè)電路70中，即使由于切斷電源而放掉了積分電容C2的電荷，上述載波檢測(cè)電平Det也能夠通過(guò)上述偏壓V1迅速上升到規(guī)定的電平，在間歇接收的接收期間內(nèi)，使用許多時(shí)間來(lái)接收遙控代碼。因此，該載波檢測(cè)電路70在用間歇工作電源來(lái)使用的情況下很有效。
這里，近年來(lái)，強(qiáng)烈希望節(jié)省能源，有時(shí)以間歇工作來(lái)使用遙控的待機(jī)電源。在此情況下，如果如前述圖6(a)所示，載波檢測(cè)電路的充放電時(shí)間常數(shù)大，則接通電源后電路達(dá)到穩(wěn)定要花費(fèi)時(shí)間，此前不能正常進(jìn)行接收。另一方面，如果減少上述充放電時(shí)間常數(shù)，則載波檢測(cè)電平Det不能維持對(duì)遙控發(fā)送代碼穩(wěn)定地進(jìn)行載波檢測(cè)所需的穩(wěn)定性。在此情況下，載波檢測(cè)電平Det急劇變化，載波檢測(cè)電路不能穩(wěn)定地檢測(cè)載波。
相反，在本實(shí)施方式的上述載波檢測(cè)電路70中，在積分器73的上述積分電容C2中與提供上述充放電電流的端子相反一側(cè)的端子上，設(shè)有施加預(yù)定的恒壓V1的偏壓源74。
因此，通過(guò)使用該載波檢測(cè)電路70，能夠在確保足以穩(wěn)定地進(jìn)行載波檢測(cè)的充放電時(shí)間常數(shù)的同時(shí)，如前述圖6(b)所示，接通電源后迅速提高上述載波檢測(cè)電平Det，能夠正常進(jìn)行接收。
作為一例，在本實(shí)施方式的載波檢測(cè)電路70中，作為足以穩(wěn)定地進(jìn)行載波檢測(cè)的充放電時(shí)間常數(shù)，將上述充放電時(shí)間常數(shù)設(shè)為100msec以上。由此，載波檢測(cè)電平Det穩(wěn)定在能對(duì)遙控發(fā)送代碼穩(wěn)定地進(jìn)行載波檢測(cè)的程度，載波檢測(cè)電路70能夠穩(wěn)定地檢測(cè)載波。
此外，上述偏壓V1最好設(shè)定得接近或等于上述帶通濾波器5的輸出Sig(接收信號(hào))的電平。通過(guò)這樣進(jìn)行設(shè)定，能夠使接通電源后達(dá)到電路穩(wěn)定的時(shí)間最短。
以下，根據(jù)圖7、圖8(a)及圖8(b)來(lái)說(shuō)明本發(fā)明另一實(shí)施方式。
圖7是本發(fā)明另一實(shí)施方式的紅外線遙控接收機(jī)81的電結(jié)構(gòu)的方框圖。該接收機(jī)81類似于前述圖9所示的接收機(jī)1，對(duì)于對(duì)應(yīng)的部分附以同一標(biāo)號(hào)，省略其說(shuō)明。
應(yīng)注意的是，在該接收機(jī)81中，與構(gòu)成包含上述積分器41、61的載波檢測(cè)電路20或上述載波檢測(cè)電路70的接收信號(hào)用的上述檢波電路8或71一起，包括AGC (Auto Gain Control，自動(dòng)增益控制)用的檢波電路82，在該檢波電路82上，搭載了上述積分器41、61或73。上述檢波電路82檢測(cè)上述帶通濾波器5的輸出Sig的噪聲峰值，AGC電路83響應(yīng)其檢測(cè)結(jié)果，來(lái)控制上述第2級(jí)放大器5及第3級(jí)放大器6的增益。
家庭用的逆變器熒光燈放射的光包含上述30～60kHz的上述紅外線遙控的載波分量。因此，如果在接收機(jī)的周圍存在逆變器熒光燈，則有下述問(wèn)題接收機(jī)檢測(cè)該逆變器熒光燈的噪聲分量，進(jìn)行誤操作，或者在最壞的情況下，不能正確接收發(fā)送信號(hào)。因此，通過(guò)設(shè)上述AGC用的檢波電路82，用AGC電路83來(lái)進(jìn)行增益控制，能夠提高抗熒光燈干擾噪聲的特性。
然而，在用AGC電路83來(lái)進(jìn)行增益控制的情況下，需要如上所述設(shè)與信號(hào)檢測(cè)用的載波檢測(cè)電路不同的AGC用的載波檢測(cè)電路。這里，再添加1級(jí)包括100pF之大的電容的電路，將導(dǎo)致芯片尺寸增大，成本增大。因此，通過(guò)在AGC用的檢波電路82上，也與接收信號(hào)用的上述檢波電路8同樣設(shè)積分器41、61，能夠在抑制芯片面積來(lái)抑制成本的同時(shí)，兼顧抗熒光燈干擾的特性。
這樣，本實(shí)施方式的紅外線通信裝置不僅包括包含上述積分器41、61的載波檢測(cè)電路20或上述載波檢測(cè)電路70，還包括根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)生成用于AGC控制的AGC電壓的AGC用的檢波電路82，而且在該檢波電路82上也搭載了上述積分器41、61或73。
具體地說(shuō)，用AGC用的檢波電路82來(lái)進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器41(73)具有充電電路42和放電電路43，用該充電電路42和放電電路43的差分電流來(lái)進(jìn)行積分電容C2的充放電。
或者，用AGC用的檢波電路82來(lái)進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器61(73)具有充電電路62和放電電路63。此外，上述AGC用的檢波電路82的上述放電電路63始終以與上述AGC用的檢波電路的輸出電平對(duì)應(yīng)的電流來(lái)進(jìn)行放電，根據(jù)構(gòu)成上述AGC用的檢波電路82的上述充電電路62及放電電路63的晶體管的發(fā)射極面積比，來(lái)設(shè)定上述AGC用的檢波電路82的充電電流和放電電流的電流值。
在該結(jié)構(gòu)中，AGC用的檢波電路82的積分器采用上述積分器41、61或73。因此，能夠在抑制芯片面積來(lái)抑制成本的同時(shí)，兼顧抗熒光燈干擾的特性。
此外，上述AGC用的檢波電路82中的載波檢測(cè)電路最好比接收信號(hào)用的上述檢波電路8(71)的載波檢測(cè)電路增大充放電時(shí)間常數(shù)。用圖8(a)及圖8(b)對(duì)此進(jìn)行說(shuō)明。
圖8(a)示出AGC用的檢波電路82的充放電時(shí)間常數(shù)小于接收信號(hào)用的檢波電路8(71)的充放電時(shí)間常數(shù)的情況下的波形，而圖8(b)示出如上所述AGC用的檢波電路82的充放電時(shí)間常數(shù)大于接收信號(hào)用的檢波電路8(71)的充放電時(shí)間常數(shù)的情況下的波形。
一般，對(duì)上述載波檢測(cè)電平Det，上述檢波電路8(71)的載波檢測(cè)電路為了提高抗熒光燈干擾的特性，包括快速充電電路。因此，標(biāo)號(hào)γ12、γ22所示的該載波檢測(cè)電平Det跟隨標(biāo)號(hào)γ11、γ21所示的上述帶通濾波器5的輸出Sig而迅速上升。用該載波檢測(cè)電平Det來(lái)鑒別上述輸出Sig的電平，用上述積分電路9及遲滯比較器10進(jìn)行波形整形后，能夠得到按組來(lái)檢測(cè)上述鑒別結(jié)果的脈沖所得的標(biāo)號(hào)γ13、γ23所示的基帶信號(hào)(輸出信號(hào)Dout)。
另一方面，在AGC用的檢波電路82的充放電時(shí)間常數(shù)小于圖8(a)所示的接收信號(hào)用的檢波電路8(71)的充放電時(shí)間常數(shù)的情況下，如標(biāo)號(hào)γ14所示，該AGC電壓跟隨上述標(biāo)號(hào)γ11所示的帶通濾波器5的輸出Sig而迅速上升。進(jìn)而，用該AGC電壓來(lái)抑制上述第2級(jí)放大器5及第3級(jí)放大器6的增益，如標(biāo)號(hào)γ3所示，上述輸出Sig的振幅電平也急速減小。因此，即使用上述載波檢測(cè)電平Det來(lái)鑒別上述輸出Sig的電平也不能檢測(cè)出脈沖。其結(jié)果是，用遲滯比較器10進(jìn)行波形整形后，上述基帶信號(hào)發(fā)生脈沖遺失。
相反，在AGC用的檢波電路82的充放電時(shí)間常數(shù)大于圖8(b)所示的接收信號(hào)用的檢波電路8(71)的充放電時(shí)間常數(shù)的情況下，如標(biāo)號(hào)γ24所示，該AGC電壓跟隨上述標(biāo)號(hào)γ21所示的帶通濾波器5的輸出Sig而緩慢上升。進(jìn)而，用該AGC電壓將上述第2級(jí)放大器5及第3級(jí)放大器6的增益維持得比較高，上述輸出Sig的振幅電平維持在足夠的電平上。因此，如果用上述載波檢測(cè)電平Det來(lái)鑒別上述輸出Sig的電平，則能持續(xù)檢測(cè)出脈沖。其結(jié)果是，通過(guò)遲滯比較器10對(duì)積分電路9的輸出Int進(jìn)行波形整形，能夠得到連續(xù)的基帶信號(hào)。這樣，能夠避免AGC工作的不穩(wěn)定造成的脈沖遺失。
如上所述，本發(fā)明的載波檢測(cè)電路(20/70)根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平，用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波，其中，用進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器(23；41)的充電電路(42)和放電電路(43)的差分電流來(lái)進(jìn)行積分電容(C2)的充放電。
此外，本發(fā)明的載波檢測(cè)電路(20·70)包括檢波器(22)，根據(jù)接收信號(hào)來(lái)按組檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖；積分器(23；41)，根據(jù)上述檢波器的輸出信號(hào)，對(duì)上述脈沖組存在的時(shí)間進(jìn)行積分，輸出作為積分結(jié)果的載波檢測(cè)電平；積分電路(9)，根據(jù)上述載波檢測(cè)電平及上述接收信號(hào)，對(duì)有載波的時(shí)間進(jìn)行積分；以及判定電路(遲滯比較器10)，根據(jù)上述積分電路(9)的輸出，來(lái)判定有無(wú)載波；上述積分器包括積分電容(C2)；充電電路(42)，向該積分電容始終進(jìn)行充電；以及放電電路(43)，從該積分電容始終進(jìn)行放電；根據(jù)上述檢波器的輸出信號(hào)來(lái)變更上述充電電路的充電電流的電平及放電電路的放電電流的電平中的至少一方。
在紅外線遙控接收機(jī)等上搭載的載波檢測(cè)電路中，在積分器根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平、用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波的結(jié)構(gòu)中，例如通過(guò)用上述載波檢測(cè)電平來(lái)鑒別上述接收信號(hào)的電平而除去載波上疊加的噪聲后，對(duì)其鑒別結(jié)果進(jìn)行積分，來(lái)形成上述載波檢測(cè)電平。
這里，通常，在形成載波檢測(cè)電平時(shí)，積分電容的充放電是只進(jìn)行與上述鑒別結(jié)果對(duì)應(yīng)的充電或放電中的一個(gè)，或者是在始終進(jìn)行恒定電平的放電的狀態(tài)下，進(jìn)行與上述鑒別結(jié)果對(duì)應(yīng)的充電。
相反，在本發(fā)明中，始終進(jìn)行充電和放電這兩者，對(duì)應(yīng)于上述鑒別結(jié)果來(lái)改變其電平。
這里，在縮小上述積分電容來(lái)縮小集成電路的芯片面積時(shí)，為了確保期望的時(shí)間常數(shù)，需要減小上述充放電電流。在此情況下，如果跟隨充放電電流的削減來(lái)減小充電電路的晶體管中流過(guò)的工作電流、及放電電路的晶體管中流過(guò)的工作電流，則有可能發(fā)生流過(guò)各晶體管的電流減小造成的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題。
相反，在上述結(jié)構(gòu)中，用充電電路和放電電路的差分電流來(lái)進(jìn)行積分電容的充放電。因此，即使在削減上述充放電電流的情況下，也無(wú)需跟隨它來(lái)過(guò)度減小流過(guò)上述充電電路及放電電路的工作電流。由此，不會(huì)產(chǎn)生減小流過(guò)晶體管的電流而發(fā)生的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題，能夠有效地縮小上述芯片面積。
此外，在上述結(jié)構(gòu)之上，也可以包括檢波器(22)，通過(guò)用上述載波檢測(cè)電平鑒別上述接收信號(hào)的電平，來(lái)檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖；上述積分器(23；41)通過(guò)對(duì)來(lái)自上述檢波器的輸出在預(yù)定的積分基準(zhǔn)值以上的時(shí)間進(jìn)行積分來(lái)按組檢測(cè)上述載頻的脈沖，將其積分輸出作為上述載波檢測(cè)電平來(lái)輸出。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，檢波器高速地響應(yīng)載波上疊加的噪聲，使積分器形成的載波檢測(cè)電平上升。另一方面，在上升積分器中，對(duì)應(yīng)于有無(wú)上述載波來(lái)對(duì)輸出載波檢測(cè)電平的上升積分電容進(jìn)行充放電的上述充電電路及放電電路的晶體管不是對(duì)載頻，而是對(duì)基帶分量的頻率有響應(yīng)性即可。因此，能夠在對(duì)該晶體管的響應(yīng)確保余量的同時(shí)，將給上述積分電容的充放電電流設(shè)為更加微小的電流。
此外，在上述結(jié)構(gòu)之上，上述充電電路也可以對(duì)被提供了來(lái)自上述檢波器的輸出的輸入差分對(duì)(QN1·QN2)包括旁路電流源(F4)，用該旁路電流源來(lái)始終產(chǎn)生恒定電平的充電電流；以基帶頻率來(lái)工作的上述放電電路具有應(yīng)從上述積分電容放電的電流值加上上述旁路電流源的電流值所得的載流量。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，充電電路的輸入差分對(duì)被提供了來(lái)自上述檢波器的輸出，以上述接收信號(hào)的頻率來(lái)工作，對(duì)該輸入差分對(duì)所設(shè)的旁路電流源仍舊以比較小的電流值來(lái)產(chǎn)生要加上的恒定電平的充電電流。另一方面，在工作頻率為基帶頻率的放電電路中，通過(guò)增大現(xiàn)有電路的電流值，也產(chǎn)生上述旁路電流源要加上的電流。
因此，能夠具體地實(shí)現(xiàn)上述始終充放電，并且能夠?qū)⒈仨毟咚俟ぷ鞯某潆婋娐返妮斎氩罘謱?duì)仍舊設(shè)為比較小的電流值。其結(jié)果是，也能夠?qū)崿F(xiàn)低功耗的載波檢測(cè)電路。
此外，本發(fā)明的載波檢測(cè)電路(20·70)根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平，用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波，其中，進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器(23；61)具有充電電路(62)和放電電路(63)；上述放電電路以與上述載波檢測(cè)電平對(duì)應(yīng)的電流來(lái)始終進(jìn)行放電；根據(jù)構(gòu)成上述充電電路(62)及放電電路(63)的晶體管(QP3a、QP4a、QP7a、QP8a)的發(fā)射極面積比，來(lái)設(shè)定充電電流和放電電流的電流值。
此外，本發(fā)明的載波檢測(cè)電路包括檢波器(22)，根據(jù)接收信號(hào)來(lái)按組檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖；積分器(23；61)，根據(jù)上述檢波器的輸出信號(hào)，對(duì)上述脈沖組存在的時(shí)間進(jìn)行積分，輸出作為積分結(jié)果的載波檢測(cè)電平；積分電路(9)，根據(jù)上述載波檢測(cè)電平及上述接收信號(hào)，對(duì)有載波的時(shí)間進(jìn)行積分；以及判定電路(遲滯比較器10)，根據(jù)上述積分電路的輸出，來(lái)判定有無(wú)載波；上述積分器包括充電電路(62)，具有積分電容(C2)、和用于生成用于向上述積分電容進(jìn)行充電的電流的充電用電流鏡電路(QP3a、QP4a)，向上述積分電容進(jìn)行充電；和放電電路(63)，具有用于生成用于從上述積分電容進(jìn)行放電的電流的放電用電流鏡電路(QP7a、QP8a)，從上述積分電容進(jìn)行放電；上述充電用電流鏡電路的發(fā)射極面積比、和上述放電用電流鏡電路的發(fā)射極面積比被設(shè)定為互不相同的比率。
在紅外線遙控接收機(jī)等上搭載的載波檢測(cè)電路中，在積分器根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平、用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波的結(jié)構(gòu)中，例如通過(guò)用上述載波檢測(cè)電平來(lái)鑒別上述接收信號(hào)的電平而除去載波上疊加的噪聲后，對(duì)其鑒別結(jié)果進(jìn)行積分，來(lái)形成上述載波檢測(cè)電平。
這里，在形成載波檢測(cè)電平時(shí)，放電電路對(duì)積分電容以與上述載波檢測(cè)電平對(duì)應(yīng)的電流始終進(jìn)行放電，充電電路進(jìn)行與上述鑒別結(jié)果對(duì)應(yīng)的充電。而且在本發(fā)明中，根據(jù)構(gòu)成上述充電電路及放電電路的晶體管的發(fā)射極面積比來(lái)設(shè)定這些充電電流和放電電流的電流值。
這里，在縮小積分器的積分電容(C2)來(lái)縮小集成電路的芯片面積時(shí)，為了確保期望的時(shí)間常數(shù)，需要減小上述充放電電流。在此情況下，如果跟隨充放電電流的削減來(lái)減小充電電路的晶體管中流過(guò)的工作電流、及放電電路的晶體管中流過(guò)的工作電流，則有可能發(fā)生流過(guò)各晶體管的電流減小造成的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題。
相反，在上述結(jié)構(gòu)中，根據(jù)構(gòu)成上述充電電路及放電電路的晶體管的發(fā)射極面積比來(lái)設(shè)定充電電流和放電電流的電流值。因此，即使在削減上述充放電電流的情況下，也無(wú)需跟隨它來(lái)過(guò)度減小流過(guò)上述充電電路及放電電路的工作電流。由此，不會(huì)產(chǎn)生減小流過(guò)晶體管的電流而發(fā)生的問(wèn)題，例如晶體管的阻抗上升造成的誤操作、工藝偏差或溫度依賴性的影響增大等問(wèn)題，能夠有效地縮小上述芯片面積。
此外，在上述結(jié)構(gòu)之上，也可以設(shè)有光漏泄電流補(bǔ)償電路(QP5、QP6、QP9、QP10)，與上述積分器中的PNP電流鏡電路(QP3a、QP4a、QP7a、QP8a)相鄰，由同樣的PNP電流鏡電路組成。
這里，在根據(jù)上述紅外線等光信號(hào)來(lái)檢測(cè)載波的情況下，來(lái)自外部的光有可能入射到搭載該載波檢測(cè)電路的光信號(hào)接收電路芯片中。特別是PNP晶體管產(chǎn)生的寄生光電二極管容易受上述光的影響。
然而，在上述結(jié)構(gòu)中，對(duì)由PNP晶體管組成的電流鏡電路，在相鄰位置上，設(shè)有由同樣的PNP電流鏡電路組成的光漏泄電流補(bǔ)償電路。因此，能夠補(bǔ)償PNP電流鏡電路的光漏泄電流的影響，形成精確的充放電電流。
此外，在上述結(jié)構(gòu)之上，也可以在上述積分電容(C2)中與提供上述充放電電流的端子相反一側(cè)的端子上，設(shè)有施加預(yù)定的恒壓的偏壓源(74)。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，通過(guò)向與進(jìn)行積分電容的充放電的一側(cè)相反一側(cè)的端子施加偏壓，能夠降低接通電源后所需的電荷量。其結(jié)果是，能夠縮短達(dá)到電路穩(wěn)定的時(shí)間。
因此，在按間歇工作電源方式使用該載波檢測(cè)電路的情況下很有效。
此外，在上述結(jié)構(gòu)之上，也可以將上述偏壓源的偏壓設(shè)定得接近或等于上述接收信號(hào)電平。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，能夠使接通電源后達(dá)到電路穩(wěn)定的時(shí)間最短。
此外，本發(fā)明的紅外線通信裝置使用上述載波檢測(cè)電路。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，能夠?qū)崿F(xiàn)可縮小芯片面積、削減成本的紅外線通信裝置。
此外，在上述結(jié)構(gòu)之上，也可以將上述積分器的充放電時(shí)間常數(shù)設(shè)定為大約100msec/0.1V。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，在作為紅外線遙控接收機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)的紅外線通信裝置中，能夠?qū)b控發(fā)送代碼進(jìn)行最佳的載波檢測(cè)。
此外，在上述結(jié)構(gòu)之上，也可以使用信號(hào)檢測(cè)用(82)和AGC用(8、71)這2個(gè)上述載波檢測(cè)電路。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，通過(guò)將上述載波檢測(cè)電路不僅用于信號(hào)檢測(cè)，而且用于AGC，提高抗熒光燈干擾的特性的AGC電路也能夠縮小芯片面積，削減成本。
此外，在上述結(jié)構(gòu)之上，也可以使上述AGC用檢波電路的充放電時(shí)間常數(shù)大于上述信號(hào)檢測(cè)用的載波檢測(cè)電路的充放電時(shí)間常數(shù)。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，能夠避免AGC工作的不穩(wěn)定造成的脈沖遺失。
具體實(shí)施方式
部分給出的具體實(shí)施方式
或?qū)嵤├淦淞渴怯糜谡f(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，不應(yīng)只限定于這種具體例來(lái)狹義地進(jìn)行解釋，在本發(fā)明的精神和所附權(quán)利要求書(shū)的范圍內(nèi)，可以進(jìn)行各種變更來(lái)實(shí)施。
權(quán)利要求
1.一種載波檢測(cè)電路(20·70)，根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平，用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波，其特征在于，用進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器(23；41)的充電電路(42)和放電電路(43)的差分電流來(lái)進(jìn)行積分電容(C2)的充放電。
2.如權(quán)利要求1所述的載波檢測(cè)電路(20·70)，其中，包括檢波器(22)，該檢波器通過(guò)用上述載波檢測(cè)電平鑒別上述接收信號(hào)的電平，來(lái)檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖；上述積分器(23；41)通過(guò)對(duì)來(lái)自上述檢波器(22)的輸出為預(yù)定的積分基準(zhǔn)值以上的時(shí)間進(jìn)行積分來(lái)按組檢測(cè)上述載頻的脈沖，將其積分輸出作為上述載波檢測(cè)電平輸出。
3.如權(quán)利要求2所述的載波檢測(cè)電路(20·70)，其中，上述充電電路(42)對(duì)被提供了來(lái)自上述檢波器(22)的輸出的輸入差分對(duì)(QN1·QN2)包括旁路電流源(F4)，由該旁路電流源(F4)始終產(chǎn)生恒定電平的充電電流；以基帶頻率而動(dòng)作的上述放電電路(43)具有應(yīng)從上述積分電容(C2)放電的電流值加上上述旁路電流源(F4)的電流值所得的載流量。
4.一種載波檢測(cè)電路(20·70)，包括檢波器(22)，從接收信號(hào)中按組檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖；積分器(23；41)，根據(jù)上述檢波器(22)的輸出信號(hào)，對(duì)上述脈沖組存在的時(shí)間進(jìn)行積分，輸出作為積分結(jié)果的載波檢測(cè)電平；積分電路(9)，根據(jù)上述載波檢測(cè)電平及上述接收信號(hào)，對(duì)有載波的時(shí)間進(jìn)行積分；以及判定電路(10)，根據(jù)上述積分電路(9)的輸出，來(lái)判定有無(wú)載波；其中，上述積分器(23；41)包括積分電容(C2)；充電電路(42)，向該積分電容始終進(jìn)行充電；以及放電電路(43)，從該積分電容(C2)始終進(jìn)行放電；根據(jù)上述檢波器(22)的輸出信號(hào)來(lái)變更上述充電電路(42)的充電電流的電平及放電電路(43)的放電電流的電平中的至少一方。
5.一種載波檢測(cè)電路(20·70)，根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平，用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波，其特征在于，進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器(23；61)具有充電電路(62)和放電電路(63)；上述放電電路(63)以與上述載波檢測(cè)電平對(duì)應(yīng)的電流來(lái)始終進(jìn)行放電；根據(jù)構(gòu)成上述充電電路(62)及放電電路(63)的晶體管(QP3a、QP4a、QP7a、QP8a)的發(fā)射極面積比，來(lái)設(shè)定充電電流和放電電流的電流值。
6.一種載波檢測(cè)電路，包括檢波器(22)，從接收信號(hào)中按組檢測(cè)應(yīng)檢測(cè)的載頻的脈沖；積分器(23；61)，根據(jù)上述檢波器(22)的輸出信號(hào)，對(duì)上述脈沖組存在的時(shí)間進(jìn)行積分，輸出作為積分結(jié)果的載波檢測(cè)電平；積分電路(9)，根據(jù)上述載波檢測(cè)電平及上述接收信號(hào)，對(duì)有載波的時(shí)間進(jìn)行積分；以及判定電路(10)，根據(jù)上述積分電路(9)的輸出，來(lái)判定有無(wú)載波；其中，上述積分器(61)包括積分電容(C2)；充電電路(62)，具有用于生成用于向上述積分電容(C2)進(jìn)行充電的電流的充電用電流鏡電路(QP3a、QP4a)，向上述積分電容(C2)進(jìn)行充電；和放電電路(63)，具有用于生成用于從上述積分電容(C2)進(jìn)行放電的電流的放電用電流鏡電路(QP7a、QP8a)，從上述積分電容(C2)進(jìn)行放電；上述充電用電流鏡電路(QP3a、QP4a)的發(fā)射極面積比、和上述放電用電流鏡電路(QP7a、QP8a)的發(fā)射極面積比被設(shè)定為互不相同的比率。
7.如權(quán)利要求1或5所述的載波檢測(cè)電路(20·70)，其中，設(shè)有光漏泄電流補(bǔ)償電路，與上述積分器(23；41；61)中的PNP電流鏡電路(QP3、QP4、QP7、QP8；QP3a、QP4a、QP7a、QP8a)相鄰，由同樣的PNP電流鏡電路(QP5·QP6·QP9·QP10)組成。
8.如權(quán)利要求1或5所述的載波檢測(cè)電路(20·70)，其中，在上述積分電容(C2)中與提供上述充放電電流的端子相反一側(cè)的端子上，設(shè)有施加預(yù)定的恒壓的偏壓源(74)。
9.如權(quán)利要求8所述的載波檢測(cè)電路(20·70)，其中，將上述偏壓源(74)的偏壓設(shè)定得接近或等于上述接收信號(hào)電平。
10.一種紅外線通信裝置，具有如權(quán)利要求1～6中任一項(xiàng)所述的載波檢測(cè)電路(20·70)。
11.如權(quán)利要求10所述的紅外線通信裝置，其中，將上述積分器(23；41；61)的充放電時(shí)間常數(shù)設(shè)定為大約100msec/0.1V。
12.如權(quán)利要求10所述的紅外線通信裝置，其中，還包括AGC用檢波電路(82)，根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)生成用于AGC控制的AGC電壓，并且用進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器(23；41)的充電電路(42)和放電電路(43)的差分電流來(lái)進(jìn)行積分電容(C2)的充放電。
13.如權(quán)利要求10所述的紅外線通信裝置，其中，還包括AGC用檢波電路(82)，該電路根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)生成用于AGC控制的AGC電壓；用上述AGC用檢波電路(82)進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器(23；61)具有充電電路(62)和放電電路(63)；上述AGC用檢波電路(82)的上述放電電路(63)以與上述AGC用檢波電路(82)的輸出電平對(duì)應(yīng)的電流來(lái)始終進(jìn)行放電；根據(jù)構(gòu)成上述AGC用檢波電路(82)的上述充電電路(62)及放電電路(63)的晶體管(QP3a、QP4a、QP7a、QP8a)的發(fā)射極面積比，來(lái)設(shè)定上述AGC用檢波電路(82)的充電電流和放電電流的電流值。
14.如權(quán)利要求12所述的紅外線通信裝置，其中，使上述AGC用檢波電路(82)的充放電時(shí)間常數(shù)大于上述信號(hào)檢測(cè)用的載波檢測(cè)電路(20；70)的充放電時(shí)間常數(shù)。
15.如權(quán)利要求13所述的紅外線通信裝置，其中，使上述AGC用檢波電路(82)的充放電時(shí)間常數(shù)大于上述信號(hào)檢測(cè)用的載波檢測(cè)電路(20；70)的充放電時(shí)間常數(shù)。
全文摘要
以往，載波檢測(cè)電路根據(jù)接收信號(hào)進(jìn)行積分動(dòng)作來(lái)形成載波檢測(cè)電平，用該載波檢測(cè)電平來(lái)檢測(cè)有無(wú)載波，在對(duì)進(jìn)行上述積分動(dòng)作的積分器中的積分電容進(jìn)行充放電時(shí)，進(jìn)行以下其中一種。即，對(duì)應(yīng)于用上述載波檢測(cè)電平鑒別上述接收信號(hào)的電平的結(jié)果只進(jìn)行充電或放電中的一個(gè)，或者在始終進(jìn)行恒定電平的放電的狀態(tài)下進(jìn)行與上述鑒別結(jié)果對(duì)應(yīng)的充電。相反，本發(fā)明提供一種載波檢測(cè)電路，始終對(duì)上述積分電容進(jìn)行充電和放電這兩者，對(duì)應(yīng)于上述鑒別結(jié)果來(lái)改變其電平。即，用充電電路的充電電流和放電電路的放電電流的差分電流，來(lái)進(jìn)行積分電容的充放電。由此，不會(huì)產(chǎn)生減小流過(guò)晶體管的電流而發(fā)生的問(wèn)題，能夠縮小芯片面積。
文檔編號(hào)H04L27/06GK1578115SQ20041006172
公開(kāi)日2005年2月9日 申請(qǐng)日期2004年7月1日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月4日
發(fā)明者井上高廣, 竹內(nèi)升 申請(qǐng)人:夏普株式會(huì)社