專利名稱：測量通信線路電性質(zhì)的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明與一種用于測量通信線路的電性質(zhì)，例如，電阻，的方法與裝置有關(guān)。特別是，本發(fā)明與用于測量包含一塞尖(tip)線路與一塞環(huán)(ring)線路的通信線路，像是普通老式電話業(yè)務(wù)(Plain OldTelephone Service，POTS)的通信線路，的電阻的一種測量方法有關(guān)。
背景技術(shù)：
在POTS或其它通信系統(tǒng)中，對例如，從一中央機(jī)房端到終端用戶運作的一通信線路執(zhí)行一經(jīng)常性的線路測試是常被建議的。藉由這樣的低個經(jīng)常性的測試，通信線路上的衰落或錯誤可以很快速地偵測出來進(jìn)而可以相應(yīng)的執(zhí)行一需要的修復(fù)。在這樣的一個線路測試操作中，特別是通信線路的電性，例如電阻經(jīng)常需要被測量。
圖9表示一種用來做線路測試的傳統(tǒng)電路設(shè)置。一線卡38具有多個POTS電路39，亦即用以驅(qū)動多個通信線路對的個別的POTS芯片，每一對包含一塞尖線路41與一塞環(huán)線路42。一后平面連結(jié)49用來作為連結(jié)POTS電路39與另一電路以進(jìn)行數(shù)據(jù)的處理。
與每一POTS電路39相關(guān)聯(lián)的是一測試?yán)^電器40，用來做作為選擇性地連接一對通信線路41、42到一測試總線43。這個測試總線通常通往包含模擬電路45、一數(shù)字信號處理器46、一隨機(jī)訪問存儲器(RAM)47以及一只讀存儲器(ROM)48得一測試板44。設(shè)置在所述的測試板44上的這些組件作為用來執(zhí)行不同的測試，像是在分別經(jīng)由各別的測試?yán)^電器40而連接到所述的測試總線43的通信線路41、42上的電阻測量。
這個方法在每一個POTS線路39，也就是每一個用戶線路上需要一測試?yán)^電器40，以及一各別的測試板44。對于每一個在正常情況下只會在一已知的系統(tǒng)中出現(xiàn)一次的測試板44，只有一個用戶線路可以同時被測試。
另一個可替代的方法則如圖10所示。在圖中，一線卡51包含多個組合的POTS電路/數(shù)字信號處理器(DSP)50，每一個用來驅(qū)動包含一塞尖線路41與一塞環(huán)線路42的一用戶線路。同樣的，所述的POTS線路透過一背平面連結(jié)49而連接到另一個電路。在這個情況中，所述的測試功能則是整合于POTS電路中，例如在一各別的用戶線路接口電路(SLIC)或是在一各別的編碼/譯碼器(CODEC)中。在這類型的已知線卡中，只有有限的測量可以實施于用戶線路上，因為，例如無論是所述的塞尖線路41或者是所述的塞環(huán)線路42，沒有額外的電路而單獨的接地是不可能的，因此額外的芯片面積是需要的，因而造成額外的成本花費。而這里所使用的方法是藉由施加一已知電壓到所述的用戶線路上并且測量所引起的電流。藉由這樣的方式，只有所述的用戶線路上的整個電阻可以被測量。
基于前面所述，本發(fā)明的一目的在于提供一種用于測量通信線路上的電性質(zhì)的方法與裝置，其中在不需要額外的測試?yán)^電器或測試板的情況下，也可以實施特定的電性質(zhì)的測量。
而這個目的可以藉由本案所述的方法以及所述的裝置來達(dá)成。而其它的附屬權(quán)利要求則分別是所述的方法與裝置的較佳具體實施方式
或有利定義。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種用來測量通信線路的電性質(zhì)的方法，其中所述的通信線路包含一第一線路與一第二線路，其中所述的第一線路連接到一第一線路驅(qū)動器而所述的第二線路則是連接到一第二線路驅(qū)動器。用以決定所述的通信線路的所述性質(zhì)的至少一測量以所述的第一線路驅(qū)動器或所述的一第二線路驅(qū)動器設(shè)定成一高阻抗的狀態(tài)下來實施。在這一部份，一高阻抗的狀態(tài)表示所述的線路驅(qū)動器處于實際上沒有電流流過所述的線路驅(qū)動器的狀態(tài)下。所述的高阻抗的狀態(tài)可以藉由關(guān)閉各別的線路驅(qū)動器而達(dá)成。
在測量的目的上，將一線卡設(shè)定到一高阻抗的狀態(tài)基本上是表示所述的各別第一線路或第二線路為解除連結(jié)的情況。因此，各別的電性質(zhì)，像是各別的電阻值可以容易的判定出來。
特別是，所述的高阻抗?fàn)顟B(tài)為一種在一電壓范圍高達(dá)150V時，經(jīng)由各別線路驅(qū)動器的漏電流仍低于150μA的狀態(tài)，而且對應(yīng)到一高于1MΩ的電阻。習(xí)慣上，常見的漏電流值為30μA。
在一較佳的具體實施例中，所述的第一線路為一普通老式電話業(yè)務(wù)(POTS)連結(jié)的一塞尖線路而所述的第二線路則為一普通老式電話業(yè)務(wù)(POTS)連結(jié)的一塞環(huán)線路。所述的至少一測量可以，例如包含經(jīng)由沒有設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)的第一與第二線路驅(qū)動器輸出一已知的電壓并且在其線路上測量所述的電壓以及/或是所述的電流。
而包含所述的至少一測量的多個測量也可能會實施。特別是，使兩個線路驅(qū)動器都處在主動狀態(tài)的一第一組測量、以第一線路驅(qū)動器處在高阻抗?fàn)顟B(tài)的一第二測量以及以第二線路驅(qū)動器處在高阻抗?fàn)顟B(tài)的第三測量都可以實施，因而使得，例如在第一線路與第二線路之間的電阻、在第一線路與接地線路之間的電阻以及在第二線路與接地線路之間的電阻的一方程式系統(tǒng)可以被決定。
執(zhí)行本發(fā)明方法所需要的功能已多為現(xiàn)今的POTS芯片所使用，因此并不需要額外的電路。尤其是，所述的第一線路驅(qū)動器與所述的第二線路驅(qū)動器可能包含于一用戶線路接口電路(SLIC)而提供執(zhí)行所提供的電壓測量的功能以及作為一編碼/譯碼器(CODEC)的一集成電路也可能被使用。


接下來，本發(fā)明的較佳具體實施方式
得藉由下列所附加的圖標(biāo)詳細(xì)說明。這些附加的圖標(biāo)簡單說明如下圖1表示所用來測試的通信線路的一等效電路；圖2表示根據(jù)本發(fā)明的一較佳具體實施例的圖標(biāo)電路圖；圖3表示用以測量如圖1所述的通信線路的電性質(zhì)的第一組測量的流程圖；圖4表示實施第二組測量狀態(tài)的一等效電路圖；圖5表示實施第二組測量的流程圖；圖6表示用以執(zhí)行一第三組測量的一等效電路圖；圖7表示第三組兩側(cè)的一流程圖；圖8表示當(dāng)兩線路的電阻值高時，在一線路與一接地線路之間的一電阻值計算的一流程圖；
圖9表示傳統(tǒng)用于線路測試的一種裝置；以及圖10表示傳統(tǒng)用于線路測試傳統(tǒng)的另一種裝置。
具體實施例方式
圖1表示根據(jù)本發(fā)明所提出的一種用以測量或測試的通信線路的裝置的一等效電路的圖標(biāo)說明表示。
一線卡1包含一普通老是電話業(yè)務(wù)(POTS)芯片組2，一方面用于通信的目的，而另一方面，則是根據(jù)本發(fā)明的構(gòu)想用于執(zhí)行通信線路的電性質(zhì)的測量。在本實施例中，所述的通信線路由連接到所述的線卡1的一端頭連結(jié)點3的一塞尖線路6以及連接到所述的線卡1的一塞環(huán)連結(jié)點4的一塞環(huán)線路7所組成。所述的通信線路的電性質(zhì)包含在塞尖線路6與塞環(huán)線路7之間的一電阻Rtr，在所述的塞尖線路6與接地線路8之間的一電阻Rtg，在所述的塞環(huán)線路7與接電線路8之間的一電阻Rrg，在塞尖線路6與塞環(huán)線路7之間的一電容阻Ctr，在所述的塞尖線路6與接地線路8之間的一電容值Ctg，以及在所述的塞環(huán)線路7與接電線路8之間的一電容值Crg。除此之外，在一連接的狀態(tài)下，在所述的通信線路的遠(yuǎn)程，出現(xiàn)有一用戶裝置5，在圖中以串聯(lián)連結(jié)的一電阻Re與一電容Ce來表示。所述的電阻Rtr、Rtg、Rrg基本上是可泄漏的電阻，也就是說在通信線路沒有發(fā)生錯誤的狀態(tài)下，這些電阻值是很高的。因此，進(jìn)行這些電阻值的測量對于可能發(fā)生的錯誤可以提供一可貴的信息。
值得注意的是，通常一線卡1可能包含連接到多個電話客戶端的多個POTS電路或芯片組2，每一個電話用戶線路包含一塞尖線路與一塞環(huán)線路。為了簡化說明，本說明書中將只以一個POTS電路來表示。
在圖2中，所述的POTS芯片組以及該芯片組的連結(jié)以更詳細(xì)的圖說來說明。所述的POTS芯片主要包含一用戶線路接口電路(SLIC)9以及另一個POTS集成電路，芯片或芯片組10，所述的芯片組10可能提供，例如編碼/譯碼器(CODEC)或其它信號處理的功能。SLIC 9以及集成電路10共同形成所述的POTS芯片組并且在一正常的通信模式下共同運作。因此，在SLIC與集成電路10之間的額外連結(jié)以及與通信裝置的其它部分連結(jié)的一背平面連結(jié)都會出現(xiàn)，但并沒有表示于圖2中，因為這些連接并不需要用來執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明所述的測量。
SLIC 9包含一第一線路驅(qū)動器9A以及一第二線路驅(qū)動器9B，所述的第一線路驅(qū)動器透過電阻R1與R3而連結(jié)到端頭連結(jié)點3，以驅(qū)動圖1中的塞尖線路6，而所述的第二線路驅(qū)動器透過電阻R2與R4而連結(jié)到端頭連結(jié)點4，以驅(qū)動圖1中的塞環(huán)線路7。除此之外，在這個連結(jié)線路中，如圖2所示，電容器C1與C2連接到接電線路8。R1與R3常見的電阻值為30Ω，而R2與R4常見的電阻值則為20Ω。
所述的第第一線路驅(qū)動器9A以及所述的第二線路驅(qū)動器9B可以是驅(qū)動或未驅(qū)動的狀態(tài)；在未驅(qū)動的狀態(tài)下，它們處于一高阻抗的狀態(tài)，亦即沒有或者是非常少量的電流可以流經(jīng)各別的線路驅(qū)動器。典型的數(shù)值在電壓高達(dá)150V的情況下，漏電流值將小于±30μA，然而在未驅(qū)動或高阻抗的狀態(tài)下，對應(yīng)1MΩ的電阻值將會有高達(dá)150μA的漏電流。
所述的SLIC 9更具有能夠測量從端頭連結(jié)點3流到塞環(huán)連結(jié)點4的電流。這樣的功能在商業(yè)用途上的SLICs通常是能夠提供的，因為在正常的通信下這也是需要的。
所述的集成電路10為一個能夠測量電壓值的電路。這個能力通常也出現(xiàn)于某些商業(yè)用途上所使用的POTS芯片組的某些芯片上，例如用以測量電池電壓。根據(jù)本發(fā)明的構(gòu)想，這個功能則是用于線路測試的目的。
集成電路10分別經(jīng)由各別的電壓除法器(包含電阻R5與R6的一第一電壓除法器，以及包含電阻R7與R8的一第二電壓除法器)而連接到端頭連結(jié)點3以及塞環(huán)連結(jié)點。在圖2中，圖標(biāo)標(biāo)號11表示一參考電壓，例如一正常模式下的電壓或接地，在圖中兩個參考電壓11分別連接所述的兩個電壓除法器。然而，也可以使用其它不同的參考電壓而連接于所述的兩個電壓除法器上。電阻R5與R7的典型數(shù)值為10MΩ，而電阻R6與R8的典型數(shù)值則為47KΩ。因為電阻R5與R7具有高電阻，流至或流出所述的端頭連結(jié)點3與塞環(huán)連結(jié)點4的電流不會受到干擾，尤其是不在正常操作的狀態(tài)下。
集成電路10包含一內(nèi)建的測量控制10A，用以控制經(jīng)由SLIC 9與集成電路10所執(zhí)行的根據(jù)本發(fā)明的測量。然而，通常是藉由軟件所執(zhí)行的測量也可能在SLIC 9或者，在正常的通信操作期間，也負(fù)責(zé)用來控制SLIC 9與集成電路10操作的芯片組上其它沒有出現(xiàn)在圖中組件來完成。
接下來將說明如圖2所示的電路同如何根據(jù)本發(fā)明的構(gòu)想來決定圖1中的Rtg、Rtr以及Rrg的電阻值。
為了達(dá)成這個目的，在本發(fā)明的一較佳的具體實施例中，三組各具特色的測量方式將一一實施。在實施第一組測量的期間，兩組線路驅(qū)動器9A與9B都是處于驅(qū)動狀態(tài)而且分別用來施加一電壓到所述的塞尖線路與所述的塞環(huán)線路上。
在圖3的步驟12中，開始實施第一組的測量方式。在步驟13中，一所謂的橫向電壓施加到包含塞尖線路6與塞環(huán)線路7的用戶線路，也就是說對應(yīng)施加在所述的端頭連結(jié)點3與塞環(huán)連接點4的一差動電壓的塞尖線路6與塞環(huán)線路7之間的一電壓。這個步驟利用所述的第一線路驅(qū)動器9A以及第二線路驅(qū)動器9B來完成，其中第一第一線路驅(qū)動器9A所施加的電壓遠(yuǎn)大于所述的第二線路驅(qū)動器9B所施加的電壓。
接下來，在步驟14中，在所述的端頭連結(jié)點3的一電壓Vt1與在塞環(huán)連結(jié)點4的一電壓Vr1利用集成電路10來測量，而一電壓差ΔV1由測量控制器10A根據(jù)ΔV1＝Vt1-Vr1來計算。然而，這個計算以及接下來的其它計算可能由線卡1上所提供的任何適當(dāng)?shù)挠嬎氵壿媮韺嵤?br> 在步驟15，流經(jīng)端頭連結(jié)點3與塞環(huán)連結(jié)點4之間的一電流It1由SLIC 9所測量。當(dāng)然，步驟14與步驟15可以同時實施或以相反的順序來進(jìn)行。
在步驟16中，與于步驟13中所施加的橫向電壓具有相反符號的另一橫向電壓施加于所述的用戶線路上，亦即由第一線路驅(qū)動器9A所施加的電壓現(xiàn)在小于第案線路驅(qū)動器9B所提供的電壓值。而在步驟13所施加的電壓量值與在步驟16所施加的電壓量值可以是相同的或者是幾乎相同的量值。
在步驟17中，進(jìn)一步測量在端頭連結(jié)點3的另一電壓Vt2以及在塞環(huán)連結(jié)點4的另一電壓Vr2，而它們的差值ΔV2＝Vt2-Vr2類似于步驟14所執(zhí)行的測量方式來計算。在步驟18中，相對應(yīng)的電流It2以類似于步驟15測量電流It1的方式來進(jìn)行測量。
最后，在步驟19中，一電阻值Ra，也稱作為主動電阻值，可以根據(jù)下列方程式來計算Ra=ΔV1-ΔV24(It1-It2)=ΔVt4·ΔIt---(1)]]>在步驟20中，所述的第一組測量便完成。
所述的電阻Ra可以利用電阻值Rtg、Rtr以及Rrg，以基爾霍夫定律(Kirchhoff’s Rule)來計算，而產(chǎn)生Ra=14Rtr+1Rtg+1Rrg---(2)]]>而在第二組的測量中，圖2中的線路驅(qū)動器9A處于未驅(qū)動的狀態(tài)，也就是如前面所述的設(shè)定于一高阻抗的狀態(tài)。所得到的等效電路以如圖4所示的簡化電路圖來表示。在圖4中，區(qū)塊21表示SLIC 9以及用以連結(jié)所述的SLIC 9到所述的端頭連結(jié)點3與塞環(huán)連結(jié)點4的電阻R1-R4與電容C1與C2。此外，在圖4中省略集成電路10的連結(jié)電路，因為這部分和圖2所示的電路一樣。除此之外，只有所要說明的電阻Rtg、Rtr以及Rrg表示于這個圖中。
如同圖上所示，未驅(qū)動的線路驅(qū)動器9A實際上造成與端頭連結(jié)點3的解除連結(jié)的狀態(tài)。
在這個狀態(tài)下，根據(jù)如圖5所示的流程圖實施所述的第二組測量。由步驟22開始進(jìn)行所述的第二組測量。在步驟23中，線路驅(qū)動器9A被解除驅(qū)動，也就是設(shè)定為高阻抗的狀態(tài)以建立如圖4所示的狀態(tài)，并且利用例如線路去動器9B施加一電壓到塞環(huán)連結(jié)點4。接下來，透過集成電路10，測量在端頭連結(jié)點3相對于接地線路Vtg1與塞環(huán)連結(jié)點4相對于接地線路Vrg1的電壓。這個步驟是可行的，因為端頭連結(jié)點3實際上是解除連結(jié)的，尤其是將接地電壓作為如圖2所述的參考電壓11。在步驟25中，與在步驟23中所施加的第一電壓不同的第二電壓施加于所述的塞環(huán)連結(jié)點4上。在步驟26中，同樣的去測量所述的端頭連結(jié)點3與塞環(huán)連結(jié)點相較于接地線路的電壓，這些電壓分別以Vtg2與Vrg2來表示。在步驟18中，所述的電壓差根據(jù)ΔV3＝Vtg1-Vtg2以及ΔV4＝Vrg1-Vrg2而計算。最后在步驟19中，計算一比例kht＝ΔV3/ΔV4。這些計算式同樣的由測量控制器10A或其它適當(dāng)?shù)挠嬎闫鱽韴?zhí)行。在步驟20中，完成所述的第二組測量。
同樣的，透過基爾霍夫定律，可以獲得kht=RtgRtr+Rtg---(3)]]>最后，對于第三組測量，所述的第二線路驅(qū)動器9B設(shè)定為高阻抗的狀態(tài)，因而形成如圖6所示的等效電路圖。相較于圖4所示的等效電路圖，兩個的情況是剛好相反的，也就是說，所述的塞尖線路是連結(jié)的狀態(tài)而所述的塞環(huán)線路則是實際上解除連結(jié)的狀態(tài)。
基本上，根據(jù)如圖7所示的流程圖來實施第三組測量是對應(yīng)如圖5所示的第二組測量方式。在步驟30中，第三組測量開始實施。在步驟31，一第一電壓經(jīng)由所述的第一線路驅(qū)動器9A施加于所述的端頭連結(jié)點3，而第二線路驅(qū)動器9B則是未驅(qū)動的狀態(tài)。在步驟32時，集成電路，如圖5的步驟24一樣，用來測量在所述的端頭連結(jié)點3與接地線路之間的一電壓Vtg3，以及在所述的塞環(huán)連結(jié)點4與接地線路之間的一電壓Vrg3。
接下來，在步驟33中，一第二電壓施加于所述的端頭連結(jié)點3，而第二線路驅(qū)動器9B則是持續(xù)為持未驅(qū)動的狀態(tài)，也就是高阻抗的狀態(tài)。在步驟34，進(jìn)行如步驟32的相同電壓測量步驟，而得到電壓Vtg4與Vrg4。
在步驟35，根據(jù)ΔV5＝Vtg3-Vtg4以及ΔV6＝Vrg3-Vrg4計算電壓差。最后，在步驟36計算比例kht＝ΔV5/ΔV6，而且在步驟37中，終止所述的第三組測量。如同前面所述，這些計算可以由測量控制器10A來進(jìn)行。
同樣的，透過基爾霍夫定律，可以獲得khr=RrgRtr+Rrg---(4)]]>
到目前為止，所述的Ra、kht已經(jīng)可以決定，并導(dǎo)入三個變量Rrg、Rtr與Rtg的三個方程式(2)(3)與(4)中。藉由解出這些方程式組，這些變量便可以得到。為了達(dá)成這個目的，在一第一步驟中，方程式(3)與(4)可以代入方程式(2)中而得出Rrg=Rtr×khr1-khr---(5)]]>以及Rtg=Rtr×kht1-kht---(6)]]>同樣的再將方程式(5)與(6)代入方程式(2)中可進(jìn)一步得出下列Rtr的結(jié)果Rtr=2×Ra+Rakhr+Rakht---(7)]]>在Rtr根據(jù)方程式(7)的結(jié)果計算得出后，Rrg與Rtg也可以利用這個結(jié)果以及分別利用方程式(5)與(6)來計算。因此，這些所計算的結(jié)果將以非常高的準(zhǔn)確度來表示實際的線路狀況。
所得到結(jié)果可能會發(fā)現(xiàn)Rtr相對于分別表示塞尖線路與接地線路之間的泄漏電阻Rtg以及塞環(huán)線路與接地線路之間的泄漏電阻的Rrg高出許多。在一更極端的情況下，塞尖線路與塞環(huán)線路之間可能不會有連結(jié)產(chǎn)生，因而造成Rtr變得無線大。在這樣的情況下，如同方程式(5)與(6)中所示，前面所述的用以計算Rtg與Rrg的方法并不恰當(dāng)。而接下來將要介紹這個情況下的一種用來決定Rtg與Rrg值的簡單方法。
在圖8中，一種用于當(dāng)Rtr很高或甚至無線大的情況下，決定Rrg與Rtg的一組測量方式的一流程圖。在步驟52中，開始計算Rrg的測量。在步驟53中，一電壓藉由，例如線路驅(qū)動器9B施加于塞環(huán)連結(jié)點4，而線路驅(qū)動器9A則是設(shè)定在高阻抗的狀態(tài)，也就是如圖4所示的一個狀態(tài)。在步驟54中，在塞環(huán)連結(jié)點4與接地線路之間的一電壓Vrg5藉由集成電路10所測量出來，而在端頭連結(jié)點3死塞環(huán)連結(jié)點4之間的電流It3由SLIC所測量出來。雖然所述的線路驅(qū)動器9A設(shè)定為高阻抗的狀態(tài)，某些電流還是可以因為泄漏而由電阻Rrg與Rtg而流到接地電路。
在步驟55中，與步驟53中所施加的電壓不同的第二電壓藉由線路驅(qū)動器9B施加于塞環(huán)連結(jié)點4，而線路驅(qū)動器9A則依然維持在高阻抗的狀態(tài)。在步驟56中，再一次實施與步驟54中相同的電壓與電流的測量方法，而得到Vrg6與It4。在步驟57中，計算ΔV7＝Vrg5-Vrg6以及ΔIt3＝It3-It4。最后，在步驟58中，計算Rht＝ΔV7/(2×ΔIt3)，如同前面所述，這些計算可以由測量控制器10A來進(jìn)行，接著完成測量步驟。
接下來，根據(jù)前面所提到的情況，Rtr值相對很高或者甚至無限大，Rht對應(yīng)到Rrg。得到下列方程式Rht=11Rrg+1Rtr+Rtg---(8)]]>針對Rtr具有一較大值的情況，方程式(8)可以簡化為Rht≈11Rrg=Rrg---(9)]]>也就是說，在這個例子中，Rht對應(yīng)Rrg。
以一相同的方式，針對的Rtg計算，也可利用將端頭連結(jié)點3與塞環(huán)連結(jié)點4以及個別的第一與第二線路驅(qū)動器相互調(diào)換后，以執(zhí)行如圖8的用以計算Rrg的步驟來計算。這隨后使得Rhr可以由下列方程式來決定Rhr=11Rtg+1Rtr+Rrg≈Rtg---(10)]]>結(jié)果可以看出，根據(jù)本發(fā)明的構(gòu)想，所述的Rrg與Rtg在Rtr很高甚至無限大的情況下也可以容易的決定。
當(dāng)然，前面所述的測量與計算作為一具體實施例。利用基爾霍夫定律，很多其它可能的測量組可以實施以為了決定電阻值Rrg、Rtr以及Rtg。例如，如圖1與圖2所示的施加于所述的端頭連結(jié)點3與塞環(huán)連結(jié)點4的電壓的其它組合也可以被使用，并結(jié)合個別的電壓與電流的測量，以獲得一不同的方程式組以分別計算出Rrg、Rtr以及Rtg的電阻值。然而，根據(jù)所選擇的測量，這些方程式可能會較前面所述的方程式具有更復(fù)雜的型式而且更難以解出。
原則上，藉由類似前面所述的一種方法，其它除了Rrg、Rtr以及Rtg的電阻值以外的電性質(zhì)也可以被決定。此外，假如只有一種通信線路上是有興趣的，那么所需要執(zhí)行的測量數(shù)目可以只根據(jù)所要的性質(zhì)來加以縮減。
圖標(biāo)符號1，38，51 線卡2 芯片組3，4連結(jié)點 5 用戶裝置6，7，41，42線路8 接電線路9 用戶線路接口電路9A，9B驅(qū)動器10 集成電路10A 測量控制器11 參考電壓21區(qū)塊39 POTS電路40繼電器43 測試總線44測試板45 模擬電路46信號處理器47 隨機(jī)訪問存儲器 48只讀存儲器49 背平面連結(jié) 50數(shù)字信號處理器
權(quán)利要求
1.一種用以測量通信線路的電性質(zhì)的方法，其中所述的通信線路包含一第一線路以及一第二線路，其中所述的第一線路連接到一第一線路驅(qū)動器，而所述的第二線路則連接到一第二線路驅(qū)動器，其中用以決定所述的通信線路的電性質(zhì)的至少一測量是在所述的第一線路驅(qū)動器或第二線路驅(qū)動器設(shè)定為高阻抗的狀態(tài)下實施。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的高阻抗?fàn)顟B(tài)為所述的第一線路驅(qū)動器或第二線路驅(qū)動器為關(guān)閉的狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的高阻抗?fàn)顟B(tài)為分別流經(jīng)所述的第一線路驅(qū)動器或第二線路驅(qū)動器的一漏電流在所施加的電壓高達(dá)150V時，仍低于150μA的狀態(tài)。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中所述的漏電流低于30μA。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述的第一線路驅(qū)動器或第二線路驅(qū)動器的高阻抗?fàn)顟B(tài)為各自的第一線路驅(qū)動器或第二線路驅(qū)動器的阻抗至少為1MΩ的狀態(tài)。
6.如權(quán)利要1所述的方法，其中所述的電性質(zhì)包含由在所述的第一線路與接地線路間的電阻值、在所述的第二線路與接地線路間的電阻值以及所述的第一線路與所述的第二線路間的電阻值所組成的阻群的至少其一。
7.如權(quán)利要1所述的方法，其中所述的至少一測量包含施加一電壓到設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)下而沒有與所述的線路驅(qū)動器連結(jié)的第一線路或第二線路，并且測量流經(jīng)所述的第一線路或第二線路的電流以及/或是測量在所述的第一線路以及/或是第二線路上的一電壓。
8.如權(quán)利要1所述的方法，其中所述的至少一測量包含施加兩個不同的電壓到設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)下而沒有與所述的線路驅(qū)動器連結(jié)的第一線路或第二線路，并且針對兩個不同電壓的每一電壓，測量流經(jīng)所述的第一線路或第二線路的一電流以及/或是測量在所述的第一線路以及/或是第二線路上的一電壓，以及所述的電性質(zhì)是利用在兩個所施加的不同的電壓間的一差值以及在所測量的電流間以及/或是所測量的電壓間的一差值來計算。
9.如權(quán)利要1所述的方法，其中針對測量所述的電性質(zhì)，乃執(zhí)行至少包含所述的測量的多個測量，以及藉由所述的多個測量得到的一方程式系統(tǒng)乃經(jīng)由解析而用來決定所述的電性質(zhì)。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中所述的多個測量包含一第一組測量，其中第一線路與第二線路都不設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)，一第二組測量，其中只有第一線路驅(qū)動器設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)，以及一第三組測量，其中只有第二線路驅(qū)動器設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)。
11.如權(quán)利要求9所述的方法，其中所述的多個測量包含施加一電壓到所述的第一線路以及/或是第二線路，測量在所述的第一線路以及/或是第二線路的電壓，以及/或是測量流經(jīng)所述的第一線路以及/或是第二線路的電流。
12.如權(quán)利要求9所述的方法，其中所述的多個測量包含在不同的初始條件下執(zhí)行的兩個相等的測量，以及其中所述的電性質(zhì)是利用所述的兩個測量的測量結(jié)果的差值來計算。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中所述的不同初始條件為不同的電壓施加于所述的第一線路以及/或是第二線路上的條件，以及其中所述的電性質(zhì)利用在兩個不同初始條件所施加的電壓的差值來計算。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的第一線路驅(qū)動器與所述的第二線路驅(qū)動器整合于一集成電路上。
15.如前面所述的權(quán)利要求1所述的方法，其中一集成電路用來測量在所述的第一線路以及/或是第二線路上的電壓。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其中所述的所述的第一線路驅(qū)動器與所述的第二線路驅(qū)動器整合于一集成電路上，以及其中包含所述的第一線路驅(qū)動器與第二線路驅(qū)動器的集成電路與用以測量在所述的第一線路以及/或是第二線路上的電壓的集成電路為透過通信線路以影響通信的電路。
17.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的通信線路為一普通老式電話系統(tǒng)線路，所述的第一線路為一塞尖線路，而所述的第二線路為一塞環(huán)線路。
18.一種用以測量通信線路的電性質(zhì)的裝置，其中所述的通信線路包含一第一線路與一第二線路，所述的裝置包含連接到所述的第一線路的一第一線路驅(qū)動器以及連接到所述的第二線路的一第二線路驅(qū)動器，所述的裝置更包含一控制單元，用以控制所述的電性質(zhì)的測量，其中所述的控制單元設(shè)計成使得所述的第一線路驅(qū)動器或所述的第二線路驅(qū)動器在至少一測量中設(shè)定為一高阻抗的狀態(tài)，以決定所述的通信線路的電性質(zhì)。
19.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中所述的高阻抗?fàn)顟B(tài)為所述的第一線路驅(qū)動器或第二線路驅(qū)動器為關(guān)閉的狀態(tài)。
20.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中所述的高阻抗?fàn)顟B(tài)為分別流經(jīng)所述的第一線路驅(qū)動器或第二線路驅(qū)動器的一漏電流在所施加的電壓高達(dá)150V時，仍低于150μA的狀態(tài)。
21.如權(quán)利要求20所述的裝置，其中所述的漏電流低于30μA。
22.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中所述的第一線路驅(qū)動器或第二線路驅(qū)動器的高阻抗?fàn)顟B(tài)為各自的第一線路驅(qū)動器或第二線路驅(qū)動器的阻抗至少為1MΩ的狀態(tài)。
23.如權(quán)利要18所述的裝置，其中所述的電性質(zhì)包含由在所述的第一線路與接地線路間的電阻值、在所述的第二線路與接地線路間的電阻值以及所述的第一線路與所述的第二線路間的電阻值所組成的阻群的至少其一。
24.如權(quán)利要18所述的裝置，其中所述的至少一測量包含施加一電壓到設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)下而沒有與所述的線路驅(qū)動器連結(jié)的第一線路或第二線路，并且測量流經(jīng)所述的第一線路或第二線路的電流以及/或是測量在所述的第一線路以及/或是第二線路上的一電壓。
25.如權(quán)利要18所述的裝置，其中所述的至少一測量包含施加兩個不同的電壓到設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)下而沒有與所述的線路驅(qū)動器連結(jié)的第一線路或第二線路，并且針對兩個不同電壓的每一電壓，測量流經(jīng)所述的第一線路或第二線路的一電流以及/或是測量在所述的第一線路以及/或是第二線路上的一電壓，以及其中所述的控制單元用以利用在兩個所施加的不同的電壓間的一差值以及在所測量的電流間以及/或是所測量的電壓間的一差值來計算所述的電性質(zhì)。
26.如權(quán)利要18所述的裝置，其中針對測量所述的電性質(zhì)，乃執(zhí)行至少包含所述的測量的多個測量，以及其中所述的控制單元用來解析藉由所述的多個測量所得到的一方程式系統(tǒng)，以決定所述的電性質(zhì)。
27.如權(quán)利要求26所述的裝置，其中所述的多個測量包含一第一組測量，其中第一線路與第二線路都不設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)，一第二組測量，其中只有第一線路驅(qū)動器設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)，以及一第三組測量，其中只有第二線路驅(qū)動器設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)。
28.如權(quán)利要求26所述的裝置，其中所述的多個測量包含施加一電壓到所述的第一線路以及/或是第二線路，測量在所述的第一線路以及/或是第二線路的電壓，以及/或是測量流經(jīng)所述的第一線路以及/或是第二線路的電流。
29.如權(quán)利要求26所述的裝置，其中所述的多個測量包含在不同的初始條件下執(zhí)行的兩個相等的測量，以及其中所述的電性質(zhì)是利用所述的兩個測量的測量結(jié)果的差值來計算。
30.如權(quán)利要求29所述的裝置，其中所述的不同初始條件為不同的電壓施加于所述的第一線路以及/或是第二線路上的條件，以及其中所述的電性質(zhì)利用在兩個不同初始條件所施加的電壓的差值來計算。
31.如權(quán)利要求18所述的裝置，其包含一集成電路，而所述的第一線路驅(qū)動器與所述的第二線路上乃整合其上。
32.如權(quán)利要求18所述的裝置，其包含一集成電路，用以測量在所述的第一線路驅(qū)動器與所述的第二線路上的電壓。
33.如權(quán)利要求32所述的裝置，其包含一集成電路，其中所述的第一線路驅(qū)動器與所述的第二線路驅(qū)動器乃整合于所述的集成電路上，以及其中所述的包含第一線路驅(qū)動器與第二線路驅(qū)動器的集成電路與所述的用以測量在第一線路以及/或是第二線路上的電壓的集成電路為透過通信線路以影響通信的電路。
34.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中所述的通信線路為一普通老式電話系統(tǒng)線路，所述的第一線路為一塞尖線路，而所述的第二線路為一塞環(huán)線路。
35.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中所述的裝置乃整合于一線卡上。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用以測量通信線路的電性質(zhì)的方法及裝置，其中所述的通信線路包含一第一線路與一第二線路，其中所述的第一線路連接到一第一線路驅(qū)動器而所述的第二線路則連接到一第二線路驅(qū)動器。用以決定所述的通信線路的電性質(zhì)的至少一測量在所述的第一線路驅(qū)動器或所述的第二線路驅(qū)動器設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)的情況下實施。藉由這樣的方式與裝置，詳細(xì)的線路測試可以在不需要額外加入通信電路組件的情況下實施。
文檔編號H04M3/22GK1691711SQ200510068460
公開日2005年11月2日 申請日期2005年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2004年4月28日
發(fā)明者K·布雷奇施米特, M·肖恩伯格, G·維皮奇, T·林德爾, C·斯普霖蓋特 申請人:因芬尼昂技術(shù)股份公司, 馬科尼通訊有限公司