專利名稱：包括耦合到放大器級(jí)輸出端的負(fù)載線的設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種含有耦合到放大器級(jí)輸出端的負(fù)載線的設(shè)備，還 涉及一種受控匹配級(jí)， 一種另一受控匹配級(jí)， 一種方法和一種處理器 程序產(chǎn)品。
所述設(shè)備的例子可以是手機(jī)，無線接口，還可以是發(fā)射機(jī)和/或接 收機(jī)。
背景技術(shù)：
一種現(xiàn)有技術(shù)的設(shè)備可從WO02/063782A2中獲知，在其圖2中公 開了一種蜂窩電話(設(shè)備)，包括通過開關(guān)耦合到天線的功率放大器(放 大器級(jí))。功率放大器輸出端和開關(guān)之間的耦合被稱為負(fù)載線。 WO02/063782A2在其圖6-8中公開了可變匹配網(wǎng)絡(luò)(受控匹配級(jí))。這
些可變匹配網(wǎng)絡(luò)使天線與開關(guān)匹配或與功率放大器匹配。
所述已有設(shè)備存在缺點(diǎn)，原因是其可變匹配網(wǎng)絡(luò)僅僅對(duì)天線失配 進(jìn)行補(bǔ)償。所述現(xiàn)有設(shè)備也對(duì)不同于天線失配的其它失配進(jìn)行補(bǔ)償， 但是程度相對(duì)要低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種設(shè)備，該設(shè)備能夠?qū)εc天線失配不 同的其它失配進(jìn)行更高程度的補(bǔ)償。
本發(fā)明的其他目的是提供一種受控匹配級(jí)、一種另一受控匹配級(jí)、 一種方法和一種處理器程序產(chǎn)品，其能夠?qū)εc天線失配不同的其它失 配進(jìn)行更高程度的補(bǔ)償。
根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備包括耦合到放大器級(jí)輸出端的負(fù)載線，還包括 用于把負(fù)載線與放大器級(jí)進(jìn)行匹配的受控匹配級(jí)。
通過引入用于把負(fù)載線與放大器級(jí)進(jìn)行匹配的受控匹配級(jí)，根據(jù) 本發(fā)明的設(shè)備能夠?qū)哂胸?fù)載線與放大器級(jí)輸出端之間的失配的形式 的其他失配進(jìn)行更高程度的補(bǔ)償。
根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的其他優(yōu)點(diǎn)在于，受控匹配級(jí)可以改善放大器 級(jí)的線性和效率，可以放寬能夠與其他尺寸和/或成本的減小進(jìn)行折衷 的可靠性要求，而且該設(shè)備發(fā)熱較以前少，這可以改善其用戶友好度。
應(yīng)當(dāng)注意的是，文章"Automatic Antenna Tuning for RF Transmitter IC Applying High Q Antenna", by Attila Z61omy， Ferenc Memyei, Jdnos Erd61yi， Matthijs Pardoen+禾卩Gdbor T6th， Integration Hungary Ltd. ， hony u. 7.1031 Budapest, Hungary,十Integration Associates Inc., 110 Pioneer Way, Unit L， Mountain View, California 94041 USA, 0-7803-8333-8/04/$20.00(C)2004 IEEE在其圖3公開了一種用于補(bǔ)償 天線失配的天線調(diào)諧電路(受控匹配級(jí))。但是所述文章沒有示出用于 把負(fù)載線與放大器級(jí)進(jìn)行匹配的受控匹配級(jí)。
還應(yīng)注意的是，根據(jù)設(shè)備的模式和/或設(shè)備的輸出功率、使用放大 器級(jí)輸出端處的受控阻抗網(wǎng)絡(luò)對(duì)放大器級(jí)輸出端的阻抗進(jìn)行調(diào)整是公 知常識(shí)。更高(更低)的輸出功率優(yōu)先選擇負(fù)載線的更低(更高)的 阻抗，更高(更低)的供給電壓優(yōu)先選擇(prefer)負(fù)載線的更高(更 低)的阻抗。這與使負(fù)載線與放大器級(jí)達(dá)到最佳匹配的自動(dòng)控制是完 全不同的。根據(jù)本發(fā)明，對(duì)負(fù)載線與放大器級(jí)匹配的控制可以依賴于 模式，但是也可以在同一模式中完成，例如根據(jù)輸出功率或供給電壓。
受控匹配級(jí)是(自動(dòng))受控的匹配級(jí)，例如通過開環(huán)(前向控制) 或是閉環(huán)(后向控制)的環(huán)來控制。
根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的實(shí)施例被進(jìn)一步限定為包括用于匹配天線級(jí) 的另一受控匹配級(jí)，其耦合到所述受控匹配級(jí)。所述另一受控匹配級(jí) 用于補(bǔ)償天線失配。例如，所述天線級(jí)包括天線和/或天線連接。
據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的實(shí)施例被另一受控匹配級(jí)所限定，所述另一受 控匹配級(jí)通過開關(guān)級(jí)耦合到所述受控匹配級(jí)。例如，所述開關(guān)級(jí)包括 輸入端，所述輸入端通過所述受控匹配級(jí)耦合到所述放大器級(jí)的輸出 端(和負(fù)載線一起形成用于把放大器級(jí)的輸出端耦合到所述開關(guān)級(jí)的
受控匹配級(jí)的一部分)，還包括耦合到接收機(jī)級(jí)的輸出端，而且包括通 過所述另一受控匹配級(jí)耦合到所述天線級(jí)的輸入/輸出端。
根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的實(shí)施例由包括如下內(nèi)容的受控匹配級(jí)來限
定
-導(dǎo)出裝置，用于從負(fù)載線中導(dǎo)出信號(hào)； -檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)信號(hào)的信號(hào)參數(shù)；以及
-控制裝置，用于響應(yīng)對(duì)所述匹配的所述檢測(cè)而控制可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)。
通過控制可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)，負(fù)載線與放大器級(jí)實(shí)現(xiàn)匹配。 根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的實(shí)施例由以下來限定導(dǎo)出裝置，包括第一 元件和第二元件；檢測(cè)裝置，包括耦合到第一元件的第一檢測(cè)器系統(tǒng) 和耦合到第二元件的第二檢測(cè)器系統(tǒng)；以及可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)，包括第 一可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)，其響應(yīng)第一檢測(cè)器系統(tǒng)所執(zhí)行的第一檢測(cè)而被控 制，還包括第二可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)，其響應(yīng)第二檢測(cè)器系統(tǒng)所執(zhí)行的第 二檢測(cè)而被控制。這個(gè)受控匹配級(jí)包括兩個(gè)或者更多個(gè)子級(jí)。
根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的實(shí)施例由包括如下內(nèi)容的另一受控匹配級(jí)來 限定
-導(dǎo)出裝置，用于從負(fù)載線中導(dǎo)出信號(hào)； -檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)信號(hào)的信號(hào)參數(shù)；以及
-控制裝置，用于響應(yīng)對(duì)所述匹配的所述檢測(cè)而控制可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)。
通過控制可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)，天線級(jí)與放大器級(jí)實(shí)現(xiàn)匹配。 根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的實(shí)施例由以下來限定導(dǎo)出裝置，包括第一 元件和第二元件；檢測(cè)裝置，包括耦合到第一元件的第一檢測(cè)器系統(tǒng) 和耦合到第二元件的第二檢測(cè)器系統(tǒng)；以及可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)，包括第 一可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)，其響應(yīng)第一檢測(cè)器系統(tǒng)執(zhí)行的第一檢測(cè)而被控制， 還包括第二可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)，其根據(jù)第二檢測(cè)器系統(tǒng)執(zhí)行的第二檢測(cè) 而被控制。這個(gè)另一受控匹配級(jí)包括兩個(gè)或者更多個(gè)子級(jí)。
根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的實(shí)施例由以下來限定至少一個(gè)檢測(cè)器系統(tǒng)， 包括用于檢測(cè)與一個(gè)信號(hào)有關(guān)的峰值信息的第一峰值檢測(cè)器，用于檢
測(cè)與另一個(gè)信號(hào)有關(guān)的峰值信息的第二峰值檢測(cè)器，以及用于檢測(cè)與 信號(hào)有關(guān)的相位信息的相位檢測(cè)器。例如，第一檢測(cè)器系統(tǒng)檢測(cè)信號(hào) 之間的相位差。例如，第二檢測(cè)器系統(tǒng)檢測(cè)每一信號(hào)的峰值以及信號(hào) 之間的相位差的正弦和余弦。每個(gè)相位檢測(cè)器可以是線性相位檢測(cè)器 或者非線性相位檢測(cè)器。
根據(jù)本發(fā)明的受控匹配級(jí)、另一受控匹配級(jí)、方法和處理器程序 產(chǎn)品的實(shí)施例與根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的實(shí)施例相符。
本發(fā)明基于一種洞察力，即設(shè)備中可能出現(xiàn)與天線失配不同的其 他失配，本發(fā)明還基于一種基本想法，即需要對(duì)這個(gè)失配進(jìn)行補(bǔ)償。
本發(fā)明解決了該問題，提供了一種可以對(duì)與天線失配不同的其它 失配進(jìn)行更高程度補(bǔ)償?shù)脑O(shè)備，并且具有優(yōu)點(diǎn)，即受控匹配級(jí)可以改 善放大器級(jí)的線性和效率，可以放寬能夠與其他尺寸和/或成本的減小 進(jìn)行折衷的可靠性要求，而且該設(shè)備發(fā)熱較以前少，這可以改善其用 戶友好度。
參考下文描述的實(shí)施例，本發(fā)明的這些和其他方面將會(huì)變得明顯 并得以說明。


附圖中
圖l示出了根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備，包括放大器級(jí)、根據(jù)本發(fā)明的受控 匹配級(jí)、根據(jù)本發(fā)明的另一受控匹配級(jí)和天線級(jí)；
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備，包括放大器級(jí)、根據(jù)本發(fā)明的受控 匹配級(jí)、開關(guān)級(jí)、根據(jù)本發(fā)明的另一受控匹配級(jí)和天線級(jí)；
圖3更加詳細(xì)地示出了用在根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備中的根據(jù)本發(fā)明的 (另一)受控匹配級(jí)；
圖4更加詳細(xì)地示出了圖3中的(另一)受控匹配級(jí)中的導(dǎo)出裝置 的第一 (第二)部分；
圖5更加詳細(xì)地示出了用在圖3中的(另一)受控匹配級(jí)中的檢測(cè) 裝置的第一 (第二)檢測(cè)器系統(tǒng)；
圖6更加詳細(xì)地示出了圖3中的(另一)受控匹配級(jí)中的控制裝置
的第一部分(A)和第二部分(B);
圖7更加詳細(xì)地示出了用在根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備中的根據(jù)本發(fā)明的
另一受控匹配級(jí)；
圖8示出了圖3中的(另一)受控匹配級(jí)的史密斯圖；以及 圖9示出了圖7中的另一受控匹配級(jí)的史密斯圖。
具體實(shí)施例方式
根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備5如圖1所示，其包括放大器級(jí)l、根據(jù)本發(fā)明的 受控匹配級(jí)IO、根據(jù)本發(fā)明的另一受控匹配級(jí)11和天線級(jí)2。放大器級(jí) 1的輸出端耦合到受控匹配級(jí)10的輸入端，而受控匹配級(jí)10的輸出端耦 合到另一受控匹配級(jí)ll的輸入端。另一受控匹配級(jí)ll的輸出端耦合到 天線級(jí)2的輸入端。實(shí)際中，放大器級(jí)1的輸出端通過負(fù)載線3耦合到天 線級(jí)2的輸入端，而受控匹配級(jí)IO、 11都對(duì)這個(gè)負(fù)載線3產(chǎn)生干擾。例 如，放大器級(jí)l包括功率晶體管，天線級(jí)2包括天線和/或天線連接。
根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備5如圖2所示，其包括放大器級(jí)l、根據(jù)本發(fā)明的 受控匹配級(jí)IO、開關(guān)級(jí)4、接收機(jī)級(jí)5、根據(jù)本發(fā)明的另一受控匹配級(jí) 11和天線級(jí)2。放大器級(jí)1的輸出端耦合到受控匹配級(jí)10的輸入端，而 受控匹配級(jí)10的輸出端耦合到開關(guān)級(jí)4的輸入端。開關(guān)級(jí)4的輸入/輸出 端通過另一受控匹配級(jí)ll耦合到天線級(jí)2的輸入/輸出端。實(shí)際中，放 大器級(jí)l的輸出端通過負(fù)載線3耦合到天線級(jí)2的輸入/輸入端，而受控 匹配級(jí)IO、 11和開關(guān)級(jí)4都對(duì)負(fù)載線3產(chǎn)生干擾。開關(guān)級(jí)4的輸出端耦合 到接收機(jī)級(jí)5的輸入端。
根據(jù)本發(fā)明的(另一)受控匹配級(jí)IO (11)如圖3所示，其包括用 于從負(fù)載線3中導(dǎo)出信號(hào)的導(dǎo)出裝置20、 30，用于檢測(cè)信號(hào)的信號(hào)參數(shù) 的檢測(cè)裝置40、 50，和用于根據(jù)對(duì)所述匹配的檢測(cè)而控制可調(diào)整阻抗 網(wǎng)絡(luò)14、 15的控制裝置60、 70。由電感13和可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)14 (可調(diào) 整電容庫)組成的串聯(lián)電路耦合到導(dǎo)出裝置20的第一部分的輸出端， 并中斷負(fù)載線3，而且該串聯(lián)電路耦合到導(dǎo)出裝置30的第二部分的輸入 端，而導(dǎo)出裝置30的輸出端通過可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)15 (可調(diào)整電容庫) 耦合到地。
導(dǎo)出裝置20 (30)的第一 (第二)部分如圖4所示，其包括第一 (第 二)元件21 (31)，例如電阻器。元件21 (31)的輸入端通過由電容器 22 (32)和電容器23 (33)組成的串聯(lián)電路耦合到地，這個(gè)串聯(lián)電路 的公共點(diǎn)耦合到放大器24 (34)的第一輸入端，同時(shí)所述放大器的第 二輸入端耦合到地。元件21 (31)的輸入端還通過由電容器25 (35) 和電容器26 (36)組成的串聯(lián)電路耦合到地，這個(gè)串聯(lián)電路的公共點(diǎn) 耦合到放大器27 (37)的第一輸入端。元件21 (31)的輸出端通過由 電容器28 (38)和電容器29 (39)組成的串聯(lián)電路耦合到地，這個(gè)串 聯(lián)電路的公共點(diǎn)耦合到放大器27 (37)的第二輸入端。放大器24、 27
(34、 37)都產(chǎn)生從負(fù)載線3導(dǎo)出的信號(hào)。這些信號(hào)被提供給檢測(cè)裝置 40 (50)的第一 (第二)部分?？梢允褂闷渌泶鏌o源元件21
(31)，例如電感器、電容器、甚至是(部分)有源元件，因此不排除 這些元件的使用。
第一 (第二)檢測(cè)器系統(tǒng)40 (50)如圖5所示，其包括第一峰值檢 測(cè)器41 (51)，例如二極管，用于接收來自放大器24 (34)的導(dǎo)出信號(hào)； 還包括第二峰值檢測(cè)器42 (52)，例如二極管，用于接收來自放大器27
(37)的導(dǎo)出信號(hào)。第一峰值檢測(cè)器41 (51)的輸入端耦合到第一混 頻器43 (53)的第一輸入端，第二峰值檢測(cè)器42 (52)的輸入端通過 移相器44 (54)耦合到第一混頻器43 (53)的第二輸入端。第一峰值 檢測(cè)器41 (51)的輸入端耦合到第二混頻器45 (55)的第一輸入端， 第二峰值檢測(cè)器41 (52)的輸入端耦合到第二混頻器45 (55)的第二 輸入端。例如，第一峰值檢測(cè)器41 (51)產(chǎn)生檢測(cè)裝置40 (50)的第 一 (第二)部分處的負(fù)載線3上呈現(xiàn)的電壓的幅值，第二峰值檢測(cè)器42
(52)產(chǎn)生流過檢測(cè)裝置40 (50)的第一 (第二)部分處的負(fù)載線3 的電流的幅值，第一混頻器43 (53)產(chǎn)生兩個(gè)幅值與檢測(cè)的相位值的 正弦之積，并除以二 (以下稱為正弦積)，而第二混頻器45 (55)產(chǎn)生 兩個(gè)幅值與檢測(cè)的相位值的余弦之積，并除以二 (以下稱為余弦積)。 控制裝置60的第一部分如圖6A所示，包括計(jì)算器61，用于從第一 混頻器43接收正弦積，并將這個(gè)正弦積提供給加法器62的負(fù)輸入端。 這個(gè)加法器62包括用于接收參考相位信號(hào)的正輸入端，參考相位信 息例如可以是來自未示出的基帶控制的O度；以及輸出端，用于將差信
號(hào)通過限制器63提供給例如計(jì)數(shù)器的控制器64。控制器64從未示出的 基帶控制接收使能信號(hào)，并控制可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)14。例如，所述使能 信號(hào)包括脈沖，該脈沖的上升沿用于將上行/下行值加載到計(jì)數(shù)器，而 該脈沖的下降沿用于執(zhí)行上行/下行計(jì)數(shù)。
控制裝置70的第二部分如圖6B所示，包括計(jì)算器71，用于從第一 混頻器53接收正弦積，從第二混頻器55接收余弦積，還從第二峰值檢 測(cè)器52接收電流幅值。計(jì)算器71把余弦積除以電流幅度的平方，并將 所產(chǎn)生的信號(hào)提供給加法器72的負(fù)輸入端。這個(gè)加法器包括耦合到乘 法器75的輸出端的正輸入端。乘法器75從計(jì)算器71接收正弦積的符號(hào)， 還從未示出的基帶控制接收標(biāo)稱電阻值。加法器72通過限制器73把差 信號(hào)提供給例如計(jì)數(shù)器的控制器74?？刂破?4從未示出的基帶控制接 收使能信號(hào)，并控制可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)15。例如，使能信號(hào)包括脈沖， 該脈沖的上升沿用于將上行/下行值加載到計(jì)數(shù)器，而該脈沖的下降沿 用于執(zhí)行上行/下行計(jì)數(shù)。所述標(biāo)稱電阻值是要在導(dǎo)出裝置20的第一部 分的輸入端處的負(fù)載線3處獲得的電阻值。
根據(jù)本發(fā)明的另一受控匹配級(jí)11如圖7所示，其與圖3所示受控匹 配級(jí)唯一不同點(diǎn)在于，在導(dǎo)出裝置20的第一部分的輸入端處的負(fù)載線3 處，把電感器16以串聯(lián)方式耦合到這個(gè)輸入端。電感器16的一端耦合 到這個(gè)輸入端，另一端通過電容其17耦合到地。為了正常工作，乘法 器75現(xiàn)在應(yīng)當(dāng)接收標(biāo)稱電阻值的分?jǐn)?shù)(fraction),例如標(biāo)稱電阻值的 一半，標(biāo)稱電阻值的這個(gè)分?jǐn)?shù)是要在導(dǎo)出裝置20的第一部分的輸入端 處的負(fù)載線3處獲得的電阻值。在電感器16和電容器17的公共點(diǎn)，通過 采用相同分?jǐn)?shù)的阻抗上變換，可以獲得原始電阻值。
圖8描述了圖3中的(另一)受控匹配級(jí)IO、 ll的史密斯圖。(另一) 受控匹配級(jí)IO、 ll可以實(shí)現(xiàn)自適應(yīng)阻抗下變換。例如，它可以用于補(bǔ) 償失配天線的虛部，并將天線串聯(lián)轉(zhuǎn)變?yōu)檩^低的串聯(lián)電阻。第二檢測(cè) 器系統(tǒng)50檢測(cè)所感測(cè)的電壓和電流的大小，從而確定匹配阻抗的大 小I Zmatehed| 。此外，它確定了電壓和電流之間的相位差phi的正弦和 余弦。適當(dāng)?shù)亟Y(jié)合第二檢測(cè)器系統(tǒng)的輸出信號(hào)，給出匹配電阻Rmatehed=Au/ Aicos(phi)。這個(gè)檢測(cè)的電阻值與設(shè)置于Rnom的標(biāo)稱電阻 值進(jìn)行比較。然而，cos(phi)項(xiàng)關(guān)于零對(duì)稱，因此有兩種解決方案/ 一種是容性的，令一種是感性的。為獲得唯一的解決方案，sin(phi)的
符號(hào)用作標(biāo)稱電阻值Rn。tn的一個(gè)乘法因數(shù)，該值代表環(huán)所控制的電阻
值?？紤]到容性分路網(wǎng)絡(luò)的特性，正如圖8右手邊的史密斯圖所示，右
手邊的環(huán)朝向這個(gè)參考電阻而在恒定并聯(lián)電導(dǎo)的圓段上進(jìn)行控制。當(dāng)
控制基準(zhǔn)sin(phi^0時(shí)，采用左手邊的控制環(huán)。因此，它對(duì)電容器進(jìn)行 調(diào)諧，使得總電抗變?yōu)榱?，從而獲得與Rnom相等的期望阻抗。對(duì)史密 斯圖的解釋如下。對(duì)并聯(lián)可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)15進(jìn)行調(diào)整，以獲得與Rnom
相等的匹配串聯(lián)電阻Rmatehed。這產(chǎn)生了通過如下方式來補(bǔ)償?shù)娜菘?br> 調(diào)諧串聯(lián)LC網(wǎng)絡(luò)(電感器13和可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)14)，從而相位變得與 被設(shè)置為零的參考相位信號(hào)phi一ref^目等。
圖9描述了圖7中的另一受控匹配級(jí)10、 ll的史密斯圖。備選實(shí)施 方式應(yīng)用自適應(yīng)-L下變換網(wǎng)絡(luò)和固定上變換網(wǎng)絡(luò)的組合。例如，通過 因數(shù)為2的固定上變換，可以結(jié)合自適應(yīng)地將天線阻抗減小為Rnom/2。 網(wǎng)絡(luò)的固定部分可以成為(固定)匹配網(wǎng)絡(luò)的一部分，所述匹配網(wǎng)絡(luò) 通常用于將天線阻抗與功率晶體管的集電極相匹配。優(yōu)點(diǎn)是其一， 所述自適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)阻抗進(jìn)行下變換，因而處于集電極匹配所需的方向。 因此，網(wǎng)絡(luò)的固定部分更容易被吸收到傳統(tǒng)的輸出匹配網(wǎng)絡(luò)中。其二， 不需要在上變換和下變換之間重新配置，從而節(jié)省了開關(guān)或控制復(fù)雜 度。其三，相比于在未示出的自適應(yīng)-T或自適應(yīng)-PI結(jié)構(gòu)的情況下需要 三個(gè)檢測(cè)器，僅需要兩個(gè)檢測(cè)器。其四，與未示出的自適應(yīng)-T或自適 應(yīng)-PI結(jié)構(gòu)相比，可以使用簡單的控制算法。另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)在于，與圖 3所示實(shí)施例相比，獲得了更大的阻抗自適應(yīng)范圍，這可以從史密斯圖 的灰色區(qū)域看出。
關(guān)于圖5所示的第一和第二檢測(cè)器系統(tǒng)40、 50,它們包括線性相位 檢測(cè)器(混頻器43、 53、 45、 55)。通過在混頻器43、 53、 45、 55的輸 入端引入限制器，形成非線性相位檢測(cè)器。此外，由于控制裝置60的 第一部分僅使用來自第一檢測(cè)器系統(tǒng)40的4個(gè)輸出信號(hào)中的一個(gè)，而且 控制裝置70的第二部分僅使用來自第二檢測(cè)器系統(tǒng)50的4個(gè)輸出信號(hào) 中的三個(gè)，所以可以省略檢測(cè)器系統(tǒng)40、 50的特定部分。
在不背離本發(fā)明的范圍的前提下，可以使用與圖3、 7所示阻抗網(wǎng) 絡(luò)結(jié)構(gòu)不同的，并包括電感器13和可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)14、 15的其它阻抗 網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，例如上面提到的自適應(yīng)-T或者自適應(yīng)-PI結(jié)構(gòu)。在不背離本 發(fā)明的范圍的前提下，代替圖3、 7所示的兩個(gè)子級(jí)(一邊為20、 40、 60、 13、 14，另一邊為30、 50、 70、 15)，可以使用例如具有串聯(lián)LC 網(wǎng)絡(luò)或并聯(lián)LC網(wǎng)絡(luò)的僅僅一個(gè)子級(jí)或者三個(gè)或者更多個(gè)子級(jí)。用于將 負(fù)載線3與放大器級(jí)1進(jìn)行匹配的受控匹配級(jí)10不一定和用于匹配天線 級(jí)2的另一受控匹配級(jí)11一同使用。例如，當(dāng)天線級(jí)2受失配的影響相 對(duì)小時(shí)，可以省略另一受控匹配級(jí)ll。
應(yīng)當(dāng)注意，所述實(shí)施例僅用于解釋而不是限制本發(fā)明，在不背離 所附權(quán)利要求的范圍的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠設(shè)計(jì)出多個(gè)備 選實(shí)施例。在權(quán)利要求中，任何置于括號(hào)中的附圖標(biāo)記都不應(yīng)被解釋 為對(duì)該權(quán)利要求產(chǎn)生限制。動(dòng)詞"包括"及其合成形式的使用并不排 除與權(quán)利要求中描述的元件或步驟不同的元件或步驟的存在。位于元 件之前的冠詞"a "或"an "并不排除多個(gè)該元件的存在。本發(fā)明可以 由包括若干不同元件的硬件來實(shí)現(xiàn)，也可以由適當(dāng)編程的計(jì)算機(jī)來實(shí) 現(xiàn)。在列舉出若干裝置的設(shè)備權(quán)利要求中，這些裝置中的若干可以由 同一項(xiàng)硬件來實(shí)現(xiàn)。起碼的事實(shí)是，在互不相同的從屬權(quán)利要求中引 用的特定措施并不表明這些措施的組合不能產(chǎn)生優(yōu)點(diǎn)。
權(quán)利要求
1.一種設(shè)備(5)，包括耦合到放大器級(jí)(1)輸出端的負(fù)載線(3)，并包括用于使負(fù)載線(3)與放大器級(jí)(1)匹配的受控匹配級(jí)(10)。
2. 如權(quán)利要求l所述的設(shè)備(5)，還包括用于匹配天線級(jí)(2)的 另一受控匹配級(jí)(11)，所述另一受控匹配級(jí)(11)耦合到所述受控匹 配級(jí)(10)。
3. 如權(quán)利要求2所述的設(shè)備(5)，所述另一受控匹配級(jí)(11)通 過開關(guān)級(jí)(3)耦合到所述受控匹配級(jí)(10)。
4. 如權(quán)利要求l所述的設(shè)備(5)，所述受控匹配級(jí)(10)包括 -導(dǎo)出裝置(20、 30)，用于從負(fù)載線(3)中導(dǎo)出信號(hào)； -檢測(cè)裝置(40、 50)，用于檢測(cè)信號(hào)的信號(hào)參數(shù)；以及 -控制裝置(60、 70)，用于響應(yīng)對(duì)所述匹配的所述檢測(cè)而控制可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)(14、 15)。
5. 如權(quán)利要求4所述的設(shè)備(5)，導(dǎo)出裝置(20、 30)包括第一 元件(21)和第二元件(31)，檢測(cè)裝置(40、 50)包括耦合到第一元 件(21)的第一檢測(cè)器系統(tǒng)(40)和耦合到第二元件(31)的第二檢 測(cè)器系統(tǒng)(50)，而可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)(14、 15)包括響應(yīng)第一檢測(cè)器系 統(tǒng)(40)執(zhí)行的第一檢測(cè)而受控的第一可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)(14)，還包括 響應(yīng)第二檢測(cè)器系統(tǒng)(50)執(zhí)行的第二檢測(cè)而受控的第二可調(diào)整阻抗 網(wǎng)絡(luò)(15)。
6. 如權(quán)利要求2所述的設(shè)備(5)，所述另一受控匹配級(jí)(11)包括-導(dǎo)出裝置(20、 30)，用于從負(fù)載線(3)中導(dǎo)出信號(hào)； -檢測(cè)裝置(40、 50)，用于檢測(cè)信號(hào)的信號(hào)參數(shù)；以及 -控制裝置(60、 70)，用于響應(yīng)對(duì)所述匹配的所述檢測(cè)而控制可 調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)(14、 15)。
7. 如權(quán)利要求6所述的設(shè)備(5)，導(dǎo)出裝置(20、 30)包括第一 元件(21)和第二元件(31)，檢測(cè)裝置(40、 50)包括耦合到第一元件(21)的第一檢測(cè)器系統(tǒng)(40)和耦合到第二元件(31)的第二檢 測(cè)器系統(tǒng)(50),可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)(14、 15)包括響應(yīng)第一檢測(cè)器系統(tǒng)(40)執(zhí)行的第一檢測(cè)而受控第一可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)(14)，還包括響應(yīng) 第二檢測(cè)器系統(tǒng)(50)執(zhí)行的第二檢測(cè)而受控的第二可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)(15)。
8. 如權(quán)利要求5或7所述的設(shè)備(5)，至少一個(gè)檢測(cè)器系統(tǒng)(40、50) 包括:用于檢測(cè)與一個(gè)信號(hào)有關(guān)的峰值信息的第一峰值檢測(cè)器(41、51) ，用于檢測(cè)與另一個(gè)信號(hào)有關(guān)的峰值信息的第二峰值檢測(cè)器(42、52) ，以及用于檢測(cè)與信號(hào)有關(guān)的相位信息的相位檢測(cè)器(43、 53、 45、 55)。
9. 用于設(shè)備(5)的受控匹配級(jí)(10)，所述設(shè)備(5)包括耦合 到放大器級(jí)(1)輸出端的負(fù)載線(3)，并包括用于使負(fù)載線(3)與 放大器級(jí)(1)匹配的受控匹配級(jí)(10)。
10. 用于設(shè)備(5)的另一受控匹配級(jí)(11)，所述設(shè)備(5)包括 耦合到放大器級(jí)(1)輸出端的負(fù)載線(3)，并包括用于使負(fù)載線(3) 與放大器級(jí)(1)匹配的受控匹配級(jí)(10)，還包括用于匹配天線級(jí)(2) 的另一受控匹配級(jí)(11)，所述另一受控匹配級(jí)(11)耦合到受控匹配 級(jí)(10)。
11. 用于設(shè)備(5)的方法，所述設(shè)備(5)包括耦合到放大器級(jí) (1)輸出端的負(fù)載線(3)，所述方法包括可控制地使負(fù)載線(3)與放大器級(jí)(O匹配的步驟。
12. 用于設(shè)備(5)的處理器程序產(chǎn)品，所述設(shè)備(5)包括耦合 到放大器級(jí)(1)輸出端的負(fù)載線(3)，所述處理器程序產(chǎn)品包括可控 制地使負(fù)載線(3)與放大器級(jí)(1)匹配的功能。
全文摘要
設(shè)備(5)，包括耦合到放大器級(jí)(1)輸出端的負(fù)載線(3)，還被設(shè)置有用于把負(fù)載線(3)與放大器級(jí)(1)進(jìn)行匹配的受控匹配級(jí)(10)。另一受控匹配級(jí)(11)對(duì)天線級(jí)(2)進(jìn)行匹配。受控匹配級(jí)(10、11)包括導(dǎo)出裝置(20、30)，用于從負(fù)載線(3)中導(dǎo)出信號(hào)；檢測(cè)裝置(40、50)，用于檢測(cè)信號(hào)的信號(hào)參數(shù)；以及控制裝置(60、70)，用于響應(yīng)對(duì)所述匹配的所述檢測(cè)而控制可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)(14、15)。提取裝置(20，30)包括第一(21)和第二(31)組成元件。導(dǎo)出裝置(20、30)包括第一元件(21)和一第二元件(31)，檢測(cè)裝置(40、50)包括耦合到元件(21、31)的第一(40)和第二(50)檢測(cè)器系統(tǒng)，而可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)(14、15)包括響應(yīng)檢測(cè)器系統(tǒng)(40、50)執(zhí)行的檢測(cè)而被控制的可調(diào)整阻抗網(wǎng)絡(luò)。檢測(cè)器系統(tǒng)(40、50)包括用于檢測(cè)峰值信息的峰值檢測(cè)器(41、51、42、52)和用于檢測(cè)相位信息的相位檢測(cè)器(43、53、45、55)。
文檔編號(hào)H04B1/04GK101103536SQ200580046821
公開日2008年1月9日 申請(qǐng)日期2005年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月19日
發(fā)明者阿德里安努斯·范貝祖依津 申請(qǐng)人:皇家飛利浦電子股份有限公司