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測(cè)試低速容錯(cuò)can網(wǎng)絡(luò)中nerr位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置及方法

文檔序號(hào):7644537閱讀:333來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱:測(cè)試低速容錯(cuò)can網(wǎng)絡(luò)中nerr位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步的方法。
背景技術(shù)
目前低速容錯(cuò)CAN(ControllerArea Network控制器局域網(wǎng))網(wǎng)絡(luò)管理協(xié)議的要求低速容錯(cuò)CAN物理層芯片的NERR位的讀取必須與網(wǎng)關(guān)控制信息幀的發(fā)送或接收是完全同步的,讀取必須恰好在88μs內(nèi)完成。但現(xiàn)有的檢測(cè)手段不能對(duì)其工作進(jìn)行檢測(cè),無(wú)法確定其是否在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成了數(shù)據(jù)讀取,從而保證工作的正常進(jìn)行。如果采用人工的方式將CAN總線的CANH和CANL短路來(lái)制造CAN總線物理層錯(cuò)誤,由于要求在88μs內(nèi)完成,所以人是無(wú)法在這么短的時(shí)間內(nèi)完成的。另外,可以采用德國(guó)Vector公司的CANStress來(lái)完成,但是使用復(fù)雜并且價(jià)格昂貴,所以不是經(jīng)濟(jì)實(shí)用的方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是為了解決目前無(wú)法對(duì)低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步進(jìn)行檢測(cè)的問(wèn)題,提供一種具有方法簡(jiǎn)便易行,檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)的測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置及方法。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案一種測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置,它包括測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)和CAN網(wǎng)絡(luò)中的任意一個(gè)被測(cè)節(jié)點(diǎn),所述測(cè)試裝置包括帶CAN控制器的微控制器和低速容錯(cuò)CAN的物理層芯片,兩個(gè)節(jié)點(diǎn)通過(guò)CANH、CANL和地連接實(shí)現(xiàn)CAN數(shù)據(jù)幀的通訊,測(cè)試裝置的控制器的一個(gè)I/O口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)的CAN物理層芯片的NERR位來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)NERR位的控制。
它的步驟為,1)測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)進(jìn)行初始化;2)按照設(shè)定周期發(fā)送控制信息幀;3)測(cè)試裝置判斷控制信息幀是否發(fā)送成功,不成功則等待重發(fā);成功后將I/O口置為低電平;4)被測(cè)節(jié)點(diǎn)的NEER位也被置為低電平,人為模擬出一個(gè)低速容錯(cuò)CAN的物理層故障;測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的I/O口低電平保持小于88μs之后被置為高電平;5)測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)在控制信息幀的發(fā)送周期內(nèi)重復(fù)上述過(guò)程,如果被測(cè)節(jié)點(diǎn)在這個(gè)過(guò)程中正確檢測(cè)NERR位的電平,那么被測(cè)節(jié)點(diǎn)滿足了協(xié)議的規(guī)定。
本發(fā)明的測(cè)試裝置和被測(cè)節(jié)點(diǎn)的基本配置為帶CAN控制器的微控制器和低速容錯(cuò)CAN的物理層芯片。兩個(gè)節(jié)點(diǎn)通過(guò)CANH、CANL和地連接實(shí)現(xiàn)CAN數(shù)據(jù)幀的通訊,測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的控制器的一個(gè)I/O口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)的CAN物理層芯片的NERR位來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)NERR位的控制。
測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的工作流程為測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)在初始化完基本配置之后,并確認(rèn)幀發(fā)送成功后,將I/O口置為低電平,這時(shí)被測(cè)節(jié)點(diǎn)的NEER位也被置為低電平,因此人為的模擬出一個(gè)低速容錯(cuò)CAN的物理層故障。測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的I/O口低電平保持小于88μs之后被置為高電平。測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)在控制信息的發(fā)送周期內(nèi)重復(fù)上述過(guò)程,如果被測(cè)節(jié)點(diǎn)能在這個(gè)過(guò)程中正確檢測(cè)NERR位的電平,那么被測(cè)節(jié)點(diǎn)滿足了協(xié)議的規(guī)定。
本發(fā)明的有益效果是普通的方法是通過(guò)CANH與CANL短路等故障制造實(shí)際的低速容錯(cuò)CAN物理層的錯(cuò)誤使NERR位為低電平,但是這種方法很難滿足時(shí)間同步的要求。通過(guò)此方法可以非常方便的控制NERR位的電平高低和時(shí)間,以此來(lái)測(cè)試被測(cè)節(jié)點(diǎn)對(duì)物理層NERR位的讀取是否與網(wǎng)關(guān)控制信息幀的發(fā)送或接收是完全同步。


圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為本發(fā)明的工作流程圖。
其中,1.測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn),2.被測(cè)節(jié)點(diǎn),3.控制器,4.CAN物理層芯片。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖與實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
圖1中,它包括測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)1和CAN網(wǎng)絡(luò)中的任意一個(gè)被測(cè)節(jié)點(diǎn)2,各節(jié)點(diǎn)均包括帶CAN控制器的微控制器3和低速容錯(cuò)CAN的物理層芯片4。測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)1和被測(cè)節(jié)點(diǎn)2間通過(guò)CANH、CANL和地連接實(shí)現(xiàn)CAN數(shù)據(jù)幀的通訊,測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)1的控制器3的一個(gè)I/O口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)2的CAN物理層芯片4的NERR位來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)NERR位的控制。
圖2中,本發(fā)明的檢測(cè)方法為它的步驟為,1)測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)進(jìn)行初始化;2)按照設(shè)定周期發(fā)送控制信息幀;3)測(cè)試裝置判斷控制信息幀是否發(fā)送成功,不成功則等待重發(fā);成功后將I/O口置為低電平;4)被測(cè)節(jié)點(diǎn)的NEER位也被置為低電平,人為模擬出一個(gè)低速容錯(cuò)CAN的物理層故障;測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的I/O口低電平保持小于88μs之后被置為高電平;5)測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)在控制信息幀的發(fā)送周期內(nèi)重復(fù)上述過(guò)程,如果被測(cè)節(jié)點(diǎn)在這個(gè)過(guò)程中正確檢測(cè)NERR位的電平,那么被測(cè)節(jié)點(diǎn)滿足了協(xié)議的規(guī)定。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置,它包括測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)和CAN網(wǎng)絡(luò)中的任意一個(gè)被測(cè)節(jié)點(diǎn),各節(jié)點(diǎn)均包括帶CAN控制器的微控制器和低速容錯(cuò)CAN的物理層芯片,其特征是所述測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)和被測(cè)節(jié)點(diǎn)間通過(guò)CANH、CANL和地連接實(shí)現(xiàn)CAN數(shù)據(jù)幀的通訊,測(cè)試裝置的控制器的一個(gè)I/O口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)的CAN物理層芯片的NERR位來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)NERR位的控制。
2.一種權(quán)利要求1所述的測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步的方法,其特征是它的步驟為,1)測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)進(jìn)行初始化;2)按照設(shè)定周期發(fā)送控制信息幀;3)測(cè)試裝置判斷控制信息幀是否發(fā)送成功,不成功則等待重發(fā);成功后將I/O口置為低電平;4)被測(cè)節(jié)點(diǎn)的NEER位也被置為低電平,人為模擬出一個(gè)低速容錯(cuò)CAN的物理層故障;測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的I/O口低電平保持小于88μs之后被置為高電平;5)測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)在控制信息幀的發(fā)送周期內(nèi)重復(fù)上述過(guò)程,如果被測(cè)節(jié)點(diǎn)在這個(gè)過(guò)程中正確檢測(cè)NERR位的電平,那么被測(cè)節(jié)點(diǎn)滿足了協(xié)議的規(guī)定。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置及方法。它解決了目前無(wú)法對(duì)低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步進(jìn)行檢測(cè)的問(wèn)題,具有方法簡(jiǎn)便易行,檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。其結(jié)構(gòu)為它包括測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)和CAN網(wǎng)絡(luò)中的任意一個(gè)被測(cè)節(jié)點(diǎn),所述測(cè)試裝置包括帶CAN控制器的微控制器和低速容錯(cuò)CAN的物理層芯片,兩個(gè)節(jié)點(diǎn)通過(guò)CANH、CANL和地連接實(shí)現(xiàn)CAN數(shù)據(jù)幀的通訊,測(cè)試裝置的控制器的一個(gè)I/O口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)的CAN物理層芯片的NERR位來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)NERR位的控制。
文檔編號(hào)H04L12/26GK101094108SQ20071001539
公開(kāi)日2007年12月26日 申請(qǐng)日期2007年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月20日
發(fā)明者李研強(qiáng), 于良杰, 李楊, 劉學(xué)軍 申請(qǐng)人:山東省科學(xué)院自動(dòng)化研究所
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