專利名稱：硬件模塊測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，更具體地涉及一種硬件一莫塊測(cè)試方法及 系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著人們生活質(zhì)量的不斷提高，產(chǎn)品質(zhì)量逐漸成為人們衡量生 活質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)。作為產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)企業(yè)，始終4巴產(chǎn)品的質(zhì)量作 為"企業(yè)生存之本"。測(cè)試是保證質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)和重要步驟，而硬 件模塊作為組成各種產(chǎn)品的基礎(chǔ)單元，其測(cè)試將直接影響到最終產(chǎn)品的質(zhì)量。為了不斷提高硬件模塊的質(zhì)量，加大測(cè)試的力度，需要始終把 測(cè)試貫穿于硬件沖莫塊的整個(gè)生命周期中的各個(gè)實(shí)施場(chǎng)合，例如研發(fā)、 中試、生產(chǎn)、維修等。由于各個(gè)場(chǎng)合分工不同，責(zé)4壬明確，導(dǎo)致各個(gè)場(chǎng)合執(zhí)4亍的測(cè)試， 無(wú)論是在測(cè)試內(nèi)容、執(zhí)行測(cè)試人員、測(cè)試環(huán)境、還是在測(cè)試角度等 方面均存在較大差異，這直接造成了硬件模塊在各個(gè)場(chǎng)合的測(cè)試方 法和測(cè)試系統(tǒng)逐漸走向獨(dú)立性和專向性。每個(gè)場(chǎng)合的獨(dú)有的測(cè)試方法和測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，雖然滿足了自 身的需要，但是由于其對(duì)場(chǎng)合的依賴性太強(qiáng)，造成在不同場(chǎng)合之間
的移4直或繼承上，人力和資源要重復(fù)4更入，特別是4艮多測(cè)試方法可 以相互借鑒，甚至可以形成才莫塊化的方面。即使在同一個(gè)場(chǎng)合，由于沒(méi)有統(tǒng)一的測(cè)試方法，每個(gè)人在設(shè)計(jì)測(cè)試方法時(shí)均4安照個(gè)人的想法進(jìn)4亍測(cè):逸，從而會(huì)造成測(cè)i式方法或多 或少的信息不全面的情況，同時(shí)由于個(gè)人風(fēng)格的差異，也會(huì)造成測(cè) 試代碼的可移植性和可維護(hù)性較差。如^(可能夠在> 更件才莫塊處于不同場(chǎng)合的情況下，測(cè)試方法都能夠 根據(jù)不同場(chǎng)合所具有的主要特點(diǎn)，進(jìn)行有效的綜合考慮，從而最大 可能地避免出現(xiàn)人力和資源的重復(fù)投入，不斷提高硬件才莫塊質(zhì)量和 測(cè)試開(kāi)發(fā)效率，從而展現(xiàn)測(cè)試方法的魅力是目前測(cè)試方法改進(jìn)的目標(biāo)。發(fā)明內(nèi)容鑒于以上所述的一個(gè)或多個(gè)問(wèn)題，本發(fā)明提供了 一種硬件模塊 測(cè)試方法及系統(tǒng)。根據(jù)本發(fā)明的硬件模塊測(cè)試方法，包括以下步驟分析硬件模 塊需要經(jīng)歷的測(cè)試場(chǎng)合，收集各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試特點(diǎn)；對(duì)各測(cè)試場(chǎng) 合的測(cè)試特點(diǎn)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，分離出各測(cè)試場(chǎng)合的獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)和公有 測(cè)試特點(diǎn)；根據(jù)各測(cè)試場(chǎng)合的獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)，建立各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè) 試專用執(zhí)行單元，并根據(jù)各測(cè)試場(chǎng)合的公有測(cè)試特點(diǎn)，建立各測(cè)試 場(chǎng)合的測(cè)試公用執(zhí)行單元；以及利用各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)行單 元和測(cè)試公用執(zhí)行單元，對(duì)硬件模塊在各測(cè)試場(chǎng)合的功能或者性能 進(jìn)行觀'J試。其中，對(duì)于獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)相同或相似的測(cè)試場(chǎng)合，利用相同的 測(cè)試專用執(zhí)行單元對(duì)硬件模塊執(zhí)行測(cè)試。通過(guò)各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專 用執(zhí)行單元調(diào)用各測(cè)試場(chǎng)合的公用測(cè)試執(zhí)行單元對(duì)硬件模塊進(jìn)行測(cè)試。其中，可以通過(guò)各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)4亍單元對(duì)各測(cè)試場(chǎng)合 的測(cè)試公用執(zhí)行單元的設(shè)置信息進(jìn)行設(shè)置。也可以直接在各測(cè)試場(chǎng) 合的測(cè)試公用執(zhí)行單元上對(duì)其設(shè)置信息進(jìn)行設(shè)置。根據(jù)本發(fā)明的硬件模塊測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試專用執(zhí)行單元，包 二括一個(gè)或多個(gè)凈爭(zhēng)定場(chǎng)合的獨(dú)有測(cè)試4爭(zhēng)點(diǎn)，通過(guò)調(diào)用測(cè)試/>用扭J亍單 元完成對(duì)硬件模塊的測(cè)試；以及測(cè)試/>用執(zhí)行單元，包括多個(gè)特定 場(chǎng)合的公有測(cè)試特點(diǎn)，用于對(duì)硬件模塊在特定場(chǎng)合下的公有測(cè)試特 點(diǎn)方面的功能或者性能進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)本發(fā)明的硬件模塊測(cè)試系統(tǒng) 還可以包括測(cè)試場(chǎng)合選擇單元，用于選擇對(duì)硬件模塊進(jìn)行測(cè)試的 特定場(chǎng)合。其中，測(cè)試7>用執(zhí)行單元在測(cè)試專用執(zhí)行單元的調(diào)用下，對(duì)硬— 件模塊進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試公用執(zhí)行單元的設(shè)置信息通過(guò)測(cè)試專用執(zhí)行 單元進(jìn)行設(shè)置，或由其自身完成設(shè)置。本發(fā)明通過(guò)對(duì)硬件模塊在不同場(chǎng)合測(cè)試的差異性和特點(diǎn)進(jìn)行分 析，使得測(cè)試方法和測(cè)試系統(tǒng)能夠滿足多個(gè)場(chǎng)合測(cè)試的要求，從而 大大節(jié)省了測(cè)試成本投入，提高了開(kāi)發(fā)和測(cè)試效率。


此處所說(shuō)明的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申 請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并 不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬件模塊測(cè)試方法的流程點(diǎn)示意圖；圖3是才艮據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試場(chǎng)合測(cè)試才莫型圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試才莫型與測(cè)試執(zhí)行單元對(duì)應(yīng)圖；圖5是才艮據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的石更件才莫塊與測(cè)試7>用執(zhí)4亍單元映射圖；圖6是才艮據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試場(chǎng)合調(diào)用關(guān)系系統(tǒng)圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試公用執(zhí)行單元與測(cè)試專用執(zhí)行 單元之間信息交互示意圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬件模塊測(cè)試系統(tǒng)的框圖。
具體實(shí)施方式
下面參考附圖，詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的具體實(shí)施方式
。參考圖1,說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬件模塊測(cè)試方法。如圖1 所示，該硬件模塊測(cè)試方法包括以下步驟S102,根據(jù)硬件模塊的整個(gè)生命存在周期，分析硬件模塊在經(jīng) 歷整個(gè)生命周期中需要經(jīng)歷的測(cè)試場(chǎng)合，收集各個(gè)測(cè)試場(chǎng)合的特點(diǎn)。S104,對(duì)各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試特點(diǎn)進(jìn)行整理，分離出各測(cè)試場(chǎng)合 的獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)和7>有測(cè)試特點(diǎn)。S106,根據(jù)整理的各測(cè)試場(chǎng)合的公有和獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)，建立測(cè) 試模型，該測(cè)試模型要覆蓋所有的公有和獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)。也就是說(shuō)，
根據(jù)各測(cè)試場(chǎng)合的獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)，建立各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)行 單元，并才艮據(jù)各測(cè)試場(chǎng)合的7>有測(cè)試特點(diǎn)，建立各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試 公用執(zhí)行單元。S108,利用各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)行單元和測(cè)試7>用執(zhí)行單 元，對(duì)硬件模塊在各測(cè)試場(chǎng)合的功能或者性能進(jìn)行測(cè)試。其中，對(duì)于測(cè)試場(chǎng)合特點(diǎn)的收集中，要關(guān)注代表測(cè)試場(chǎng)合的主 要或重要特點(diǎn)，否則測(cè)試模型的創(chuàng)建的復(fù)雜性會(huì)很高。在測(cè)試模型 的建立過(guò)程中，要考慮測(cè)試才莫型的擴(kuò)展性，即如果再有新的測(cè)試特 點(diǎn)加入時(shí)，可以筒潔方便地添加，以將對(duì)測(cè)試模型的影響降低到最 小。其中，根據(jù)測(cè)試場(chǎng)合的主要測(cè)試特點(diǎn)建立的測(cè)試模型，要逐漸 映射為測(cè)試方法的具體實(shí)施上。原則上，每個(gè)測(cè)試場(chǎng)合均對(duì)應(yīng)測(cè)試方法的一個(gè)測(cè)試專用4丸行單 元。但是，也允許多個(gè)測(cè)試場(chǎng)合對(duì)應(yīng)同一個(gè)測(cè)試專用執(zhí)行單元。才艮 據(jù)對(duì)應(yīng)關(guān)系，建立測(cè)試場(chǎng)合和測(cè)試專用執(zhí)行單元的映射?？梢圆鹏迵?jù) 選擇的測(cè)試場(chǎng)合和映射關(guān)系，調(diào)用對(duì)應(yīng)的測(cè)試專用執(zhí)行單元，通過(guò) 調(diào)用的專用測(cè)試4丸行單元完成對(duì)碩/f牛沖莫塊的測(cè)試活動(dòng)。其中，當(dāng)硬 件才莫塊在多個(gè)測(cè)試場(chǎng)合的主要獨(dú)有特點(diǎn)具有相似性或等同性時(shí)，可 以將多個(gè)測(cè)試場(chǎng)合映射到同 一個(gè)測(cè)試專用執(zhí)4亍單元上。其中，根據(jù)各測(cè)試場(chǎng)合的主要公有特點(diǎn)，建立測(cè)試公用執(zhí)行單 元，各個(gè)場(chǎng)合要完成對(duì)應(yīng)的測(cè)試任務(wù)，必須通過(guò)測(cè)試專用執(zhí)行單元 調(diào)用測(cè)試7>用單元來(lái)達(dá)到最終的測(cè)試目標(biāo)。測(cè)試7>用執(zhí)4亍單元完成 各測(cè)試專用執(zhí)行單元的公共的測(cè)試設(shè)置和執(zhí)行。其中，測(cè)試公用執(zhí) 行單元的設(shè)置信息可以通過(guò)測(cè)試專用執(zhí)行單元進(jìn)行設(shè)置，也可以由 其自身直接進(jìn)行設(shè)置。
其中，測(cè)試專用扭J亍單元完成的工作包4舌用戶界面顯示和係:存(具有不同風(fēng)格)、測(cè)試結(jié)果顯示、測(cè)試結(jié)果保存、專用參數(shù)設(shè)置、 查詢統(tǒng)計(jì)、測(cè)試項(xiàng)選擇、以及自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)程度等。測(cè)試公用4丸行單元完成的工作包括測(cè)試參凌t配置、測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)、測(cè)試結(jié)果收集、 測(cè)試結(jié)果上才艮、7>共設(shè)置界面(可選)等。其中，測(cè)試公用執(zhí)行單元與硬件模塊進(jìn)行映射和關(guān)聯(lián)。測(cè)試專 用執(zhí)行單元和測(cè)試公用執(zhí)行單元之間的工作劃分，可以根據(jù)硬件模 塊的實(shí)際場(chǎng)合情況進(jìn)行靈活劃分(目的是為了更好地執(zhí)行測(cè)試)。其中，對(duì)于測(cè)試專用執(zhí)行單元，在設(shè)計(jì)考慮時(shí)一定要重點(diǎn)突出 測(cè)試場(chǎng)合的特點(diǎn)和要求，使其基本上能夠滿足對(duì)應(yīng)測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試 需求， 一般情況下測(cè)試專用執(zhí)行單元在硬件模塊發(fā)生變化時(shí)，基本 上不作改動(dòng)。對(duì)于測(cè)試/〉用執(zhí)4于單元，在考慮i殳計(jì)時(shí)由于其工作范 圍的界定，要包括測(cè)試方法等隨著硬件模塊發(fā)生變化的可變因素存 在，因此在石更件4莫塊發(fā)生變化時(shí)，由于測(cè)試項(xiàng)的變更，導(dǎo)致測(cè)試Z^ 用執(zhí)行單元必然要發(fā)生升級(jí)或重新設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)(兼容性設(shè)計(jì)比較復(fù)雜 時(shí)，要考慮重新設(shè)計(jì))。硬件才莫塊可以一對(duì)一或多對(duì)一的方式與測(cè)試 公用執(zhí)行單元進(jìn)行關(guān)聯(lián)。即，硬件模塊始終對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)試公用執(zhí)行 單元。對(duì)于處于不同測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試活動(dòng)，具有4呆存當(dāng)前用戶i殳定 參數(shù)的功能，以備下次用戶直接調(diào)用。下面以研發(fā)和生產(chǎn)兩個(gè)場(chǎng)合測(cè)i式的方法和系統(tǒng)為例對(duì)本發(fā)明進(jìn) 4亍詳細(xì)i兌明。在進(jìn)入到測(cè)試方法的實(shí)際-沒(méi)計(jì)過(guò)禾呈前，必須對(duì)研發(fā)和生產(chǎn)兩個(gè) 場(chǎng)合的測(cè)試特點(diǎn)進(jìn)4于分4斤和整理。如圖2所示，研發(fā)測(cè)試的主要特點(diǎn)202如下1 )測(cè)試重點(diǎn)在于發(fā)現(xiàn)i殳計(jì)上的不足和缺陷以及i殳計(jì)余量，要求 參數(shù)靈活可變，能夠遍歷到硬件模塊的工作范圍和極限；2 )研發(fā)對(duì)自動(dòng)化要求不高，因?yàn)檠邪l(fā)的測(cè)試主要放在硬件模塊 開(kāi)發(fā)初期，重點(diǎn)關(guān)注硬件模塊各個(gè)組成部分的工作狀態(tài)以及工作穩(wěn) 定性；3 )研發(fā)需要重復(fù)的測(cè)試，同時(shí)研發(fā)除了關(guān)注硬件基本功能實(shí)現(xiàn)， 更加關(guān)注性能的測(cè)試和要求，需要實(shí)現(xiàn)統(tǒng)計(jì)和查詢功能，例如當(dāng)前 流量，丟包率等等；4 )整理出硬件模塊的所有測(cè)試項(xiàng)，能夠完全的覆蓋到硬件模塊 完成的各項(xiàng)功能和硬件連線測(cè)試，其中包括部分與高層軟件接口功 能測(cè)試；5)根據(jù)硬件模塊的實(shí)際場(chǎng)合的其它主要測(cè)試特點(diǎn)。 生產(chǎn)測(cè)試的主要特點(diǎn)204如下1 )參數(shù)的配置不需要靈活，采取隨機(jī)或者固定參數(shù)的方式進(jìn)行 測(cè)試，基本上能夠滿足生產(chǎn)的要求；2)提高效率一直是生產(chǎn)追求的目標(biāo)之一，對(duì)自動(dòng)化要求較高， 在測(cè)試過(guò)程中避免出現(xiàn)人工干預(yù)的現(xiàn)象；3 )硬件模塊的每個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試指標(biāo)規(guī)定，通過(guò)理論指標(biāo)與 實(shí)際測(cè)試指標(biāo)對(duì)比，上報(bào)測(cè)試結(jié)果，同時(shí)能夠顯示硬件模塊的各個(gè) 測(cè)試項(xiàng)測(cè)試結(jié)果，并且能夠?qū)y(cè)試結(jié)果進(jìn)^H呆存和查詢；4)由于生產(chǎn)關(guān)注的是硬件模塊的硬件測(cè)試問(wèn)題，對(duì)于與軟件相 關(guān)的測(cè)試項(xiàng)可以在生產(chǎn)場(chǎng)合刪才皁； 5)根據(jù)硬件模塊的實(shí)際場(chǎng)合的其它主要測(cè)試特點(diǎn)。以上是研發(fā)和生產(chǎn)兩個(gè)測(cè)試場(chǎng)合的獨(dú)有4爭(zhēng)點(diǎn)。而研發(fā)和生產(chǎn)兩 個(gè)場(chǎng)合的公共特點(diǎn)206，則是都要完成硬件模塊的對(duì)應(yīng)測(cè)試項(xiàng)、測(cè) 試項(xiàng)完成的測(cè)試方法(大部分相同)、都要完成測(cè)試參凄t的配置等。在完成研發(fā)和生產(chǎn)兩個(gè)測(cè)試場(chǎng)合的主要特點(diǎn)整理后，需要進(jìn)行 測(cè)試模型的建立，即要實(shí)現(xiàn)兩個(gè)場(chǎng)合的測(cè)試，需要使用什么樣的模 型來(lái)達(dá)到目標(biāo)以及對(duì)后續(xù)的測(cè)試方法進(jìn)4亍指導(dǎo)。如圖3所示，測(cè)試 模型208實(shí)現(xiàn)了研發(fā)的專用測(cè)試特點(diǎn)，測(cè)試模型210實(shí)現(xiàn)了生產(chǎn)場(chǎng) 合的專用測(cè)試特點(diǎn)，而測(cè)試才莫型212則實(shí)現(xiàn)了兩個(gè)場(chǎng)合的/>共測(cè)試 特點(diǎn)。完成測(cè)試才莫型的建立，需要繼續(xù)完成測(cè)試方法的i殳計(jì)。如圖4 所示，測(cè)試才莫型208對(duì)應(yīng)測(cè)試專用執(zhí)行單元214,測(cè)試沖莫型210對(duì) 應(yīng)測(cè)試專用批j亍單元216,測(cè)試才莫型212對(duì)應(yīng)測(cè)試7>用扭J亍單元218。硬件^t塊不同，會(huì)出現(xiàn)測(cè)試項(xiàng)或者測(cè)試方法等方面的差異，導(dǎo) 致4丸行的測(cè)試公用執(zhí)^亍單元不同(如圖5所示)。對(duì)于同一個(gè)硬件才莫 塊的不同硬件版本，如果在綜合考慮情況下(兼容越復(fù)雜，測(cè)試成 本會(huì)大幅4是高)，可以考慮重新i殳計(jì)測(cè)試Z^用執(zhí)^亍單元來(lái)達(dá)到降^f氐石更 件才莫塊的測(cè)試成本的目的。其中，綜合考慮的方面可以包括公用執(zhí)行單元的穩(wěn)定性、可靠 性、代碼可維護(hù)性、開(kāi)發(fā)周期性、人力資源成本等。對(duì)于硬件模塊與測(cè)試場(chǎng)合、測(cè)試公用執(zhí)行單元、測(cè)試專用執(zhí)行 單元之間的調(diào)用關(guān)系如圖6所示。根據(jù)當(dāng)前的場(chǎng)合，選擇合適的測(cè) 試場(chǎng)合，根據(jù)硬件模塊與專用執(zhí)行單元之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，調(diào)用正確 的專用才丸4亍單元，/人而進(jìn)4亍正確的測(cè)試。
測(cè)試7>用執(zhí)行單元在測(cè)試系統(tǒng)中的位置，注定要與測(cè)試專用執(zhí) 行單元進(jìn)行信息交互，從而獲取硬件模塊的測(cè)試項(xiàng)，參數(shù)配置等信息(如圖7所示)。也就是說(shuō)，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬件模塊測(cè)試系統(tǒng)包括(如圖 8所示)測(cè)試專用執(zhí)4亍單元802,包4舌一個(gè)或多個(gè)特定場(chǎng)合的獨(dú)有 測(cè)試特點(diǎn)，體現(xiàn)了硬件模塊在特定場(chǎng)合下的獨(dú)有測(cè)試應(yīng)用特點(diǎn)，一 4殳通過(guò)調(diào)用測(cè)試公用4丸行單元804完成對(duì)石更件才莫塊的測(cè)試；測(cè)試7> 用執(zhí)行單元804，包括多個(gè)特定場(chǎng)合的公有測(cè)試特點(diǎn)，用于對(duì)硬件 模塊在特定場(chǎng)合下的功能或者性能進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)本發(fā)明的硬件模 塊測(cè)試系統(tǒng)還可以包括測(cè)試場(chǎng)合選擇單元806，用于選4奪對(duì)硬件 模塊進(jìn)行測(cè)試的特定場(chǎng)合。其中，測(cè)試公用執(zhí)行單元在測(cè)試專用執(zhí)行單元的調(diào)用下，對(duì)硬 件模塊進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試公用執(zhí)行單元的設(shè)置信息通過(guò)測(cè)試專用執(zhí)行 單元進(jìn)行設(shè)置，或由其自身完成i殳置。以上為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，〗力f又以兩個(gè)場(chǎng)合為例，在本技 術(shù)領(lǐng)域不脫離本發(fā)明原理的前提下，可以做出若干的改進(jìn)和完善， 這些改進(jìn)和完善均^L為本發(fā)明的保護(hù)范圍。對(duì)于在研發(fā)場(chǎng)合的測(cè)試， 由于基本上涵蓋了其它測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試項(xiàng)或者測(cè)試方法等因素，可能的有機(jī)合并，共同組成測(cè)試公用執(zhí)行單元的簡(jiǎn)化方式，這樣作的 優(yōu)勢(shì)是在硬件模塊發(fā)生變化時(shí)，測(cè)試項(xiàng)和測(cè)試方法存在差異的情況 下，可以避免研發(fā)界面控件變化所帶來(lái)的測(cè)試專用執(zhí)行單元復(fù)雜的 兼容性設(shè)計(jì)。例如，當(dāng)硬件模塊變化時(shí)，測(cè)試項(xiàng)和測(cè)試方法發(fā)生變 化，那么研發(fā)場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)行單元要適應(yīng)這種變化，必須選用 合適的各類控件，如果對(duì)控制設(shè)計(jì)作兼容，存在較多的難度。那么 我們可以采耳又變相的方法，即測(cè)試專用執(zhí)4亍單元與測(cè)試/>共#^亍單 元合并的方法，來(lái)克服當(dāng)前的困難。當(dāng)執(zhí)行生產(chǎn)場(chǎng)合的測(cè)試時(shí)，(生產(chǎn))測(cè)試專用扭J亍單元顯示生產(chǎn)獨(dú)有特點(diǎn)，例如生產(chǎn)界面特點(diǎn)等， 通過(guò)調(diào)用測(cè)試公共執(zhí)行單元執(zhí)行生產(chǎn)測(cè)試，與合并在測(cè)試公共執(zhí)行 單元中的研發(fā)場(chǎng)合測(cè)試無(wú)關(guān)。當(dāng)執(zhí)行研發(fā)場(chǎng)合的測(cè)試，通過(guò)測(cè)試公 共執(zhí)行單元本身來(lái)彈出研發(fā)界面來(lái)達(dá)到顯示研發(fā)場(chǎng)合控件，凸顯出 了研發(fā)場(chǎng)合獨(dú)有的特點(diǎn)，具有類似于專用執(zhí)行單元的功能，最終達(dá) 到研發(fā)場(chǎng)合測(cè)試的目的，簡(jiǎn)單的實(shí)現(xiàn)了研發(fā)場(chǎng)合控件隨著硬件模塊 變化的設(shè)計(jì)。以上所述^又為本發(fā)明的實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì) 于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本 發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均 應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種硬件模塊測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟分析硬件模塊需要經(jīng)歷的測(cè)試場(chǎng)合，收集各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)特點(diǎn)；對(duì)所述各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試特點(diǎn)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，分離出所述各測(cè)試場(chǎng)合的獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)和公有測(cè)試特點(diǎn)；根據(jù)所述各測(cè)試場(chǎng)合的獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)，建立所述各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)行單元，并根據(jù)所述各測(cè)試場(chǎng)合的公有測(cè)試特點(diǎn)，建立所述各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試公用執(zhí)行單元；以及利用所述各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)行單元和測(cè)試公用執(zhí)行單元，對(duì)所述硬件模塊在所述各測(cè)試場(chǎng)合的功能或者性能進(jìn)行測(cè)試。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬件模塊測(cè)試方法，其特征在于，對(duì)于 獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)相同或相似的測(cè)試場(chǎng)合，利用相同的測(cè)試專用執(zhí) 4亍單元對(duì)所述;更件4莫塊執(zhí)^于測(cè)試。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的硬件模塊測(cè)試方法，其特征在于，通過(guò)公用測(cè)試執(zhí)行單元對(duì)所述硬件沖莫塊進(jìn)行測(cè)試。
4. 才艮據(jù)權(quán)利要求3所述的硬件才莫塊測(cè)試方法，其特4正在于，通過(guò) 所述各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)4于單元對(duì)所述各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè) 試公用執(zhí)行單元的設(shè)置信息進(jìn)行設(shè)置。
5. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的硬件模塊測(cè)試方法，其特征在于，直接 在所述各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試7>用執(zhí)4于單元上對(duì)其纟殳置信息進(jìn)4亍 設(shè)置。
6. —種碩/f牛才莫塊測(cè)試系統(tǒng)，其特4正在于，包4舌測(cè)試專用執(zhí)4亍單元，包4舌一個(gè)或多個(gè)(不同場(chǎng)合的測(cè)試凈爭(zhēng) 點(diǎn)相同)特定場(chǎng)合的獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)，體現(xiàn)了硬件模塊在特定場(chǎng) 合下的獨(dú)有測(cè)試應(yīng)用特點(diǎn)， 一般通過(guò)調(diào)用測(cè)試7>用執(zhí)行單元完 成對(duì)》更件才莫塊的測(cè)試；測(cè)試公用執(zhí)行單元，包括多個(gè)特定場(chǎng)合的公有測(cè)試特點(diǎn)， 用于對(duì)所述硬件模塊在所述特定場(chǎng)合下的功能或者性能進(jìn)行 測(cè)試。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的硬件模塊測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包 括測(cè)試場(chǎng)合選擇單元，用于選擇對(duì)所述硬件模塊進(jìn)行測(cè)試的 特定場(chǎng)合。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的硬件模塊測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述 測(cè)試公用執(zhí)行單元在所述測(cè)試專用執(zhí)行單元的調(diào)用下，對(duì)所述 石更件，莫塊進(jìn)4于測(cè)試。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的硬件模塊測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述 測(cè)試公用執(zhí)行單元的設(shè)置信息通過(guò)所述測(cè)試專用執(zhí)行單元進(jìn) 行設(shè)置。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的硬件模塊測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述 測(cè)試公用執(zhí)行單元的設(shè)置信息由其自身完成設(shè)置。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種硬件模塊測(cè)試方法及系統(tǒng)。其中，該硬件模塊測(cè)試方法包括以下步驟S102，分析硬件模塊需要經(jīng)歷的測(cè)試場(chǎng)合，收集各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試特點(diǎn)；S104，對(duì)各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試特點(diǎn)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，分離出各測(cè)試場(chǎng)合的獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)和公有測(cè)試特點(diǎn)；S106，根據(jù)各測(cè)試場(chǎng)合的獨(dú)有測(cè)試特點(diǎn)，建立各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)行單元，并根據(jù)各測(cè)試場(chǎng)合的公有測(cè)試特點(diǎn)，建立各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試公用執(zhí)行單元；S108，利用各測(cè)試場(chǎng)合的測(cè)試專用執(zhí)行單元和測(cè)試公用執(zhí)行單元，對(duì)硬件模塊在各測(cè)試場(chǎng)合的功能或者性能進(jìn)行測(cè)試。通過(guò)本發(fā)明，可以大大節(jié)省測(cè)試成本投入，提高開(kāi)發(fā)和測(cè)試效率。
文檔編號(hào)H04L12/26GK101150456SQ200710164258
公開(kāi)日2008年3月26日 申請(qǐng)日期2007年10月17日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月17日
發(fā)明者崔文會(huì), 王卓勇, 檬 石 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司