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積分數(shù)據(jù)接收器的制作方法

文檔序號:7671576閱讀:189來源:國知局
專利名稱:積分數(shù)據(jù)接收器的制作方法
技術領域
本實用新型涉及到半導體器件,更具體地說,涉及到一種積分數(shù)據(jù)接收器,該接收器基 于積分采樣原理,用以將接收到的與時鐘同步的數(shù)據(jù)信號進行積分來檢測接收到的數(shù)據(jù)。
背景技術
在國際上,小擺幅差分信號被廣泛應用于高速系統(tǒng)的接口電路中,用以傳送高速數(shù)據(jù)信 號。目前有多種高速數(shù)據(jù)接收方法被提出,多數(shù)基于參考電壓比較原理,例如美國專利 6160423 (US Patent 6160423 )。在上述專利文獻中,描述了一種利用單端電壓和時間基準同步振蕩源SSF77 以及它的互補信號SSF77 來接收單端數(shù)據(jù)輸入信號的方法。上述專利文獻中所提出的數(shù)據(jù)接收器由兩個比較器的正輸入端同時接收單端輸入數(shù)據(jù) 信號SA^ ,上述兩個比較器的負輸入端分別接到和時間基準同步振蕩的S5T77 及其反向信號5^P77 上,而兩個比較器的輸出結(jié)果由選擇開關根據(jù)前一個周期所接收到的數(shù)據(jù)信號進 行選擇,作為檢測到的輸入數(shù)據(jù)信號。S57^77 和SVX三個信號之間的關系為:初始時,單端數(shù)據(jù)輸入信號S7S^在 邏輯高電平時與SSPTi 相等,然后隨SSF77 —起轉(zhuǎn)換為邏輯低電平,并保持在低電平, 從而與SSPTi 相等;然后再隨SSF77 —起轉(zhuǎn)換為高電平。再保持高電平,從而與SSF77 相等。從上述SSFTi 、 SSJ/77 和SiVx三個信號之間的關系描述可知,如果在當前時鐘周期 內(nèi)檢測到的輸入數(shù)據(jù)信號和上一周期內(nèi)檢測到的輸入數(shù)據(jù)信號不同,則選擇開關將維持選擇 同一個比較器的輸出結(jié)果作為輸出信號;如果當前時鐘周期內(nèi)檢測到的輸入數(shù)據(jù)信號和上一周期內(nèi)檢測到的輸入數(shù)據(jù)信號相同,則選擇開關將選擇另一個比較器的輸出結(jié)果作為輸出信 號。這樣才能保證電路的穩(wěn)定。上述專利文獻所提出的數(shù)據(jù)接收方法無需使用接收傳統(tǒng)小擺幅單端信號所需要的高阻 抗VREF信號,使比較所必要的電壓擺幅降低,從而降低功耗。然而,由于上述專利文獻所提出的數(shù)據(jù)接收方法仍然是基于比較器原理,對輸入信號上 的高頻噪聲抑制能力不強;同時,由于反相器的翻轉(zhuǎn)點會隨電路工藝、工作電壓和溫度的變 化而變化,所以接收的數(shù)據(jù)不能保證精確地被探測到。另外,如果比較器的輸入信號電平較 低,則也很難精確探測所接收的數(shù)據(jù)。發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是在于提供一種積分數(shù)據(jù)接收器,其結(jié)構簡單,操作簡便,接收數(shù)據(jù) 準確度高。和傳統(tǒng)的基于比較器原理的數(shù)據(jù)接收方法相比,其主要優(yōu)點是采用積分采樣技 術,無需提供參考電壓,能有效抑制輸入信號上高頻噪聲干擾對數(shù)據(jù)接收精度的影響,更適合用于接收高速數(shù)據(jù)信號;可以通過調(diào)整接收器中的O97V77 0丄信號來補償電路工藝、電源電壓和溫度的變化,且通過調(diào)整電容的放電速率來確保輸入信號在一個時鐘周期內(nèi)能夠被捕獲;積分精度僅依賴于電路中一對適度匹配的電容,因此對電路工藝的依賴性較弱。 為了達到上述目的,本實用新型采用以下技術措施 一種積分數(shù)據(jù)接收器,其結(jié)構關系為,包括(a) 第一級積分電路,包括積分元件、充電元件和放電元件,以及相應的控制信號,用以接收N對(N為自然數(shù))輸入的差分(或單端)數(shù)據(jù)信號并將其差值積分;(b) 第二級檢測放大電路,包括檢測放大元件和鎖存輸出元件兩部分。檢測放大元件的輸入連接到所述第一級積分電路的輸出上,用以檢測放大第一級的積分結(jié)果;鎖存輸出元 件的輸入連接在檢測放大元件的輸出上,用以將檢測放大結(jié)果鎖存輸出。根據(jù)本實用新型,可以提供一種適用于高速IO接口的數(shù)據(jù)接收器,與傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)接收(a) 結(jié)構簡單,操作簡便,接收數(shù)據(jù)準確度高;(b) 采用積分采樣技術,無需提供參考電壓,能有效抑制輸入信號上高頻噪聲干擾對 數(shù)據(jù)接收精度的影響;(c) 可以通過調(diào)整電路中的COATi OZ信號來補償電路工藝、電源電壓和溫度的變化, 且通過調(diào)整電容的放電速率來確保輸入信號在一個時鐘周期內(nèi)能夠被捕獲;(d) 積分精度僅依賴于電路中一對適度匹配的電容,因此對電路工藝的依賴性較弱。


圖1為一種積分數(shù)據(jù)接收器的結(jié)構示意圖;圖2為本實用新型中積分電路的具體實施方式
的電路示意圖;圖3為本實用新型中檢測放大電路的具體實施方式
的電路示意圖。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖對本實用新型作進一步詳細描述圖1是本實用新型的積分數(shù)據(jù)接收器的結(jié)構示意圖。從圖1中可知,本實用新型的積分 數(shù)據(jù)接收器包括積分電路11和檢測放大電路12兩個部分。其中,積分電路11從輸入端子D/和^7接收N對(N為自然數(shù))差分數(shù)據(jù)輸入信號,并在時鐘同步信號sr及05五的作用下將輸入信號的差值進行積分,另外,積分電路ll還通過O9ATi 0Z信號控制積分量,用以 對不同電路工藝、工作電壓及溫度的變化進行補償;檢測放大電路12在時鐘同步信號577 <95£的作用下,從所述積分電路11接收積分信號并放大輸出給輸出端子DO和萬5 , 用以接收積分電路11輸出的N對(N為自然數(shù))差分信號的積分結(jié)果,將其放大并鎖存輸 出。圖2是本實用新型中積分電路11的具體實施方式
的電路示意圖。從圖2中可知,積分電路11由積分元件21、充電元件22和放電元件23組成。其中,積分元件21的結(jié)構關系 為第一電容C1的一端和第二電容C2的一端連接均在電源電壓VDD上,第一電容C1的 另一端連接在節(jié)點201上,第二電容C2的另一端連接在節(jié)點202上;充電元件22的結(jié)構 關系為第一 P溝道型MOS晶體管MP1和第二 P溝道型MOS晶體管MP2的源端均連接 到電源電壓VDD上,第一 P溝道型MOS晶體管MP1的漏端連接在節(jié)點201上,第二 P溝 道型MOS晶體管MP2的漏端連接在節(jié)點202上,第三P溝道型MOS晶體管MP3的源漏 兩端分別連接在節(jié)點201和節(jié)點202上,第一、二和第三P溝道型MOS晶體管MPl、 MP2 和MP3的柵端連接在反相器24的輸出端上,反相器的輸入端連接在輸入端子Sri 05五上; 放電元件23的結(jié)構關系為第一 N溝道型MOS晶體管MN1和第二 N溝道型MOS晶體管 MN2的源端均連接在節(jié)點203上,第一 N溝道型MOS晶體管MN1的漏端連接在節(jié)點201 上,第二N溝道型MOS晶體管MN2的漏端連接在節(jié)點202上,第一 N溝道型MOS晶體 管MN1的柵端連接在輸入端子iX4L4上,第二 N溝道型MOS晶體管MN2的柵端連接在 輸入端子上,第三至第六N溝道型MOS晶體管MN3 MN6的漏端連接在節(jié)點203 上,第三至第六N溝道型MOS晶體管MN3 MN6的源端分別連接在第七至第十N溝道型 MOS晶體管MN7 MN10的漏端上,第七至第十N溝道型MOS晶體管MN7 MN10的源端 連接在地節(jié)點VSS上,第三至第六N溝道型MOS晶體管MN3 MN6的柵端連接在四位控 制總線COA77 0丄上,第七至第十N溝道型MOS晶體管MN7 MN10的柵端連接在反相 器24的輸出端上。需要說明的是,在本新型實用中,控制總線O97Vri 0丄的位數(shù)取決于放 電元件23中的支路個數(shù)而不限于4位。接著,說明上述積分電路11的動作。S77 0^:信號為與輸入數(shù)據(jù)信號同步的時鐘信號。 當577 <93£信號為邏輯1電平時,第1至第三P溝道型MOS晶體管MP1 MP3均導通,此時節(jié)點201和202節(jié)點被預充電到電源電壓vdd,也即輸出端子of/r和oc/r5上的電平為電源電壓VDD;當S77 (95£信號變?yōu)檫壿?電平時,節(jié)點201和202的放電與否將取決于輸入端子/X47M和ZX47^S上的電平。若A4L4為邏輯1而DJ7^5為邏輯0,則節(jié) 點201將放電;反之,若ZX47^為邏輯0而ZX47^S為邏輯1,則節(jié)點202將放電。這樣, 輸入端子ZX47M和ZX4L45之間的電壓差將被積分,轉(zhuǎn)換為節(jié)點201和節(jié)點202之間的電 壓差,并通過輸出端子OLT5和OLT將此積分的電壓差輸出。當577 05£信號又變回為 邏輯1時,積分結(jié)束,節(jié)點201和202被重新預充電至電源電壓VDD,這時檢測放大電路 開始工作。放電元件21的作用是由總線輸入端子CCW77 OZ上的信號控制開通放電支路 的多少,從而控制積分元件中第一電容C1和第二電容C2的放電電流的大小,這樣,可以 通過調(diào)整控制總線COiV77 0丄的設置來補償不同電路工藝、電源電壓和溫度變化的影響。 圖3是本實用新型中檢測放大電路12的具體實施方式
的電路示意圖。從圖3中可知, 檢測放大電路12由檢測放大元件31和鎖存輸出元件32組成。其中,檢測放大元件31的結(jié) 構關系為第一至第四P溝道型MOS晶體管MP1 MP4的源端連接在電源電壓VDD上, 第一、三P溝道型MOS晶體管MP1、 MP3的漏端以及第二 P溝道型MOS晶體管MP2的 柵端連接在節(jié)點310上,第二、四P溝道型MOS晶體管MP2、 MP4的漏端以及第一P溝 道型MOS晶體管MP1的柵端連接在節(jié)點311上,第五P溝道型MOS晶體管MP5的漏端 和源端分別接在節(jié)點310和節(jié)點311上,第一 N溝道型MOS晶體管MN1的柵端和第二 N 溝道型MOS晶體管MN2的漏端連接在節(jié)點311上,第一 N溝道型MOS晶體管MN1的漏 端和第二 N溝道型MOS晶體管MN2的柵端連接在節(jié)點310上,第一 N溝道型MOS晶體 管MN1的源端和第三N溝道型MOS晶體管MN3的漏端連接在節(jié)點312上,第二 N溝道 型MOS晶體管MN2的源端和第四N溝道型MOS晶體管MN4的漏端連接在節(jié)點313上, 第三、四N溝道型MOS晶體管MN3、 MN4的源端和第五N溝道型MOS晶體管MN5的 漏端連接在節(jié)點314上,第五N溝道型MOS晶體管MN5的源端連接在地節(jié)點VSS上,第 三至第五P溝道型MOS晶體管MP3 MP5和第五N溝道型MOS晶體管MN5的柵端連接 在輸入端子S77 0萬五上;第三N溝道型MOS晶體管MN3的柵端連接在輸入端子ZX4L4上,第四N溝道型MOS晶體管MN4的柵端連接在輸入端子ZX47^5上。鎖存輸出元件32的結(jié) 構關系為第六至九P溝道型MOS晶體管MP6 MP9的源端連接在電源電壓VDD上,第 六、八P溝道型MOS晶體管MP6和MP8的漏端以及第九P溝道型MOS晶體管MP9的柵 端連接在節(jié)點320上,第七、九P溝道型MOS晶體管MP7和MP9的漏端以及第八P溝道 型MOS晶體管MP8的柵端連接在節(jié)點321上,第六、八N溝道型MOS晶體管MN6、 MN8 的漏端以及第九N溝道型MOS晶體管MN9的源端連接在節(jié)點320上,第七、九N溝道型 MOS晶體管MN7、MN9的漏端以及第八N溝道型MOS晶體管MN8的柵端連接在節(jié)點321 上,第六P溝道型MOS晶體管MP6的柵端連接在節(jié)點311上,第七P溝道型MOS晶體管 MP7的柵端連接在節(jié)點310上,反相器INV1的輸入端連接到節(jié)點310上而輸出端連接到第 六N溝道型MOS晶體管MN6的柵端,反相器INV2的輸入端連接在節(jié)點311上而輸出端 連接在第七N溝道型MOS晶體管MN7的柵端;節(jié)點320連接到輸出端子上,節(jié)點 321連接到輸出端子OLT上。接著,說明上述檢測放大電路12的動作。輸入端子STT O萬五上的信號為檢測放大元件 31的使能信號。當S77 (9萬五信號為邏輯0電平時,第三至五P溝道型MOS晶體管MP3 MP5導通而第五N溝道型MOS晶體管MN5截止,使得檢測放大電路12的數(shù)據(jù)輸入ZX47M 和ZM7M5無效,此時節(jié)點310和節(jié)點311的電平被預充電至電源電壓VDD,使得第六、 七P溝道型MOS晶體管MP6、 MP7和第六、七N溝道型MOS晶體管MN6、 MN7截止, 節(jié)點320和321的電平在交叉耦合連接的第八、九P溝道型MOS晶體管MP8、 MP9和第 八、九N溝道型MOS晶體管MN8、MN9的正反饋作用下保持鎖存狀態(tài),輸出OLT和0LT5 保持前一個周期的數(shù)據(jù)信號;當577 0萬£信號由邏輯0電平變?yōu)檫壿?電平時,第三、四 P溝道型MOS晶體管MP3、 MP4截止而第五N溝道型MOS晶體管MN5導通,檢測放大 元件31開始作用,在一個反相器延遲的時間內(nèi)采樣積分電路11的積分結(jié)果(即ZX4L4和 ii4L45之間的差值),差值在節(jié)點310和311處被放大,并通過輸出鎖存元件32將放大的結(jié)果轉(zhuǎn)換為節(jié)點320和321的電平并通過輸出端子OLT和0LT5輸出數(shù)據(jù)。從上述工作過程可知,在與數(shù)據(jù)同步的時鐘信號S77 O5五為邏輯0電平的時間內(nèi),數(shù)據(jù)接收器將輸入端子和57上的差分信號進行積分,并在S77 05五信號上跳沿時對積分 結(jié)果進行采樣并放大輸出。由于采用了積分采樣技術,將有效抑制輸入信號高頻噪聲的干擾。 由于在放電元件21中引入了相應的控制信號COiV77 Oi:,能對積分過程進行調(diào)節(jié),因此可 以在電路工藝、工作電壓和溫度變化時作出一定的補償,提高了設計的魯棒性。
權利要求1. 一種積分數(shù)據(jù)接收器,它包括積分電路(11)和檢測放大電路(12)兩部分,其特征在于A.第一級積分電路(11),包括積分元件(21)、充電元件(22)和放電元件(23),以及相應的控制信號,用以接收N對/N為自然數(shù)輸入的差分/或單端數(shù)據(jù)信號并將其差值積分;B.第二級檢測放大電路(12),包括檢測放大元件(31)和鎖存輸出元件(32)兩部分。檢測放大元件(31)的輸入連接到所述第一級積分電路(11)的輸出上,用以檢測放大第一級的積分結(jié)果;鎖存輸出元件(32)的輸入連接在檢測放大元件(31)的輸出上,用以將檢測放大結(jié)果鎖存輸出。
2. 根據(jù)權利要求1所述的一種積分數(shù)據(jù)接收器,其特征在于積分電路(11)由積分元件(21)、充電元件(22)和放電元件(23)組成,其中,積 分元件(21)的結(jié)構關系為第一電容C1的一端和第二電容C2的一端連接均在電源電壓 VDD上,第一電容Cl的另一端連接在節(jié)點201上,第二電容C2的另一端連接在節(jié)點202 上;充電元件(22)的結(jié)構關系為第一P溝道型MOS晶體管MPl和第二P溝道型MOS 晶體管MP2的源端均連接到電源電壓VDD上,第一 P溝道型MOS晶體管MP1的漏端連 接在節(jié)點201上,第二 P溝道型MOS晶體管MP2的漏端連接在節(jié)點202上,第三P溝道 型MOS晶體管MP3的源漏兩端分別連接在節(jié)點201和節(jié)點202上,第一、二和第三P溝 道型M0S晶體管MP1、 MP2和MP3的柵端連接在反相器(24)的輸出端上,反相器的輸 入端連接在輸入端子577 05£上;放電元件(23)的結(jié)構關系為第一N溝道型MOS晶 體管MN1和第二 N溝道型MOS晶體管MN2的源端均連接在節(jié)點203上,第一 N溝道型 MOS晶體管MN1的漏端連接在節(jié)點201上,第二 N溝道型MOS晶體管MN2的漏端連接在節(jié)點202上,第一N溝道型MOS晶體管MNl的柵端連接在輸入端子iX4L4上,第二N 溝道型MOS晶體管MN2的柵端連接在輸入端子ZX47M5上,第三至第六N溝道型MOS 晶體管MN3 MN6的漏端連接在節(jié)點203上,第三至第六N溝道型MOS晶體管MN3 MN6 的源端分別連接在第七至第十N溝道型MOS晶體管MN7 MN10的漏端上,第七至第十N 溝道型MOS晶體管MN7-MN10的源端連接在地節(jié)點VSS上,第三至第六N溝道型MOS 晶體管MN3 MN6的柵端連接在四位控制總線COiVri O丄上,第七至第十N溝道型MOS 晶體管MN7-MN10的柵端連接在反相器(24)的輸出端上。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種積分數(shù)據(jù)接收器,其特征在于.-檢測放大電路(12)由檢測放大元件(31)和鎖存輸出元件(32)組成,其中,檢測放 大元件(31)的結(jié)構關系為第一至第四P溝道型MOS晶體管MPl MP4的源端連接在電 源電壓VDD上,第一、三P溝道型MOS晶體管MP1、 MP3的漏端以及第二 P溝道型MOS 晶體管MP2的柵端連接在節(jié)點310上,第二、四P溝道型MOS晶體管MP2、 MP4的漏端 以及第一 P溝道型MOS晶體管MP1的柵端連接在節(jié)點311上,第五P溝道型MOS晶體管 MP5的漏端和源端分別接在節(jié)點310和節(jié)點311上,第一 N溝道型MOS晶體管MN1的柵 端和第二 N溝道型MOS晶體管MN2的漏端連接在節(jié)點311上,第一 N溝道型MOS晶體 管MN1的漏端和第二 N溝道型MOS晶體管MN2的柵端連接在節(jié)點310上,第一 N溝道 型MOS晶體管MN1的源端和第三N溝道型MOS晶體管MN3的漏端連接在節(jié)點312上, 第二 N溝道型MOS晶體管MN2的源端和第四N溝道型MOS晶體管MN4的漏端連接在節(jié) 點313上,第三、四N溝道型MOS晶體管MN3、 MN4的源端和第五N溝道型MOS晶體 管MN5的漏端連接在節(jié)點314上,第五N溝道型MOS晶體管MN5的源端連接在地節(jié)點 VSS上,第三至第五P溝道型MOS晶體管MP3 MP5和第五N溝道型MOS晶體管MN5 的柵端連接在輸入端子S77 05五上;第三N溝道型MOS晶體管MN3的柵端連接在輸入端子iX47M上,第四N溝道型MOS晶體管MN4的柵端連接在輸入端子ZX47M5上,鎖存輸 出元件(32)的結(jié)構關系為第六至九P溝道型MOS晶體管MP6 MP9的源端連接在電源 電壓VDD上,第六、八P溝道型MOS晶體管MP6和MP8的漏端以及第九P溝道型MOS 晶體管MP9的柵端連接在節(jié)點320上,第七、九P溝道型MOS晶體管MP7和MP9的漏端 以及第八P溝道型MOS晶體管MP8的柵端連接在節(jié)點321上,第六、八N溝道型MOS 晶體管MN6、 MN8的漏端以及第九N溝道型MOS晶體管MN9的源端連接在節(jié)點320上, 第七、九N溝道型MOS晶體管MN7、 MN9的漏端以及第八N溝道型MOS晶體管MN8 的柵端連接在節(jié)點321上,第六P溝道型MOS晶體管MP6的柵端連接在節(jié)點311上,第 七P溝道型晶體管MP7的柵端連接在節(jié)點310上,反相器INV1的輸入端連接到節(jié)點 310上而輸出端連接到第六N溝道型MOS晶體管MN6的柵端,反相器INV2的輸入端連接 在節(jié)點311上而輸出端連接在第七N溝道型MOS晶體管MN7的柵端;節(jié)點320連接到輸 出端子OLT5上,節(jié)點321連接到輸出端子Of/T上。
專利摘要本實用新型公開了一種積分數(shù)據(jù)接收器,它包括積分電路、檢測放大電路,首先是第一級積分電路,包括積分元件/電容及其放電支路MOS管、充電元件MOS管和相應的控制信號,用以接收N對/N為自然數(shù)輸入的差分/或單端數(shù)據(jù)信號并將其差值積分;其次是第二級檢測放大電路,包括檢測放大元件和鎖存輸出元件兩部分,檢測放大元件的輸入連接到所述第一級積分電路的輸出上,用以檢測放大第一級的積分結(jié)果;鎖存輸出元件的輸入連接在檢測放大元件的輸出上,用以將檢測放大結(jié)果鎖存輸出。本實用新型結(jié)構簡單,方法易行,操作簡便,接收數(shù)據(jù)準確,采用積分采樣技術,無需提供參考電平,能有效抑制輸入信號上的高頻噪聲干擾對數(shù)據(jù)接收精度的影響。
文檔編號H04L25/02GK201113970SQ20072008483
公開日2008年9月10日 申請日期2007年5月24日 優(yōu)先權日2007年5月24日
發(fā)明者海 敖, 紅 由 申請人:武漢芯動科技有限公司
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