專利名稱：用于一測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法及其相關(guān)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于一測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法及其相關(guān)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝 置，尤指一種可以維持測試正常運(yùn)作并提升測試效率的資料轉(zhuǎn)換方法及其相 關(guān)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置。
背景技術(shù)：
隨著更高帶寬的無線通信服務(wù)日漸普及，影音傳輸在移動通信使用上已 獲得更廣泛的應(yīng)用。隨著多媒體移動終端產(chǎn)品的應(yīng)用趨于多元化，傳輸帶寬
的需求也逐漸加大。傳統(tǒng)影音傳輸接口通常采用完全平行(Parallel)的架 構(gòu)，透過多重路徑傳送數(shù)據(jù)。然而，隨著影音數(shù)據(jù)的位數(shù)增加，若采用擴(kuò)展 并行總線寬度的做法，除了會造成接線數(shù)量增加而降低空間使用效率外，信 號頻率的增加也會使傳輸?shù)碾姶泡椛浼又囟斐呻姶鸥蓴_的問題。
因此，為了改善上述問題，習(xí)知技術(shù)已提出不同的串行傳輸接口，用以 提升空間使用效率并降低電磁干擾，其中之一為移動產(chǎn)業(yè)處理器接口 (Mobile Industry Processor Interface, MIPI )。當(dāng)一移動通信裝置采用串行傳輸接 口作為與多媒體外圍設(shè)備的傳輸接口時，設(shè)計者所需要考慮的因素很多，包
括功耗、信號帶寬、信號傳輸距離、實(shí)現(xiàn)成本、噪音感應(yīng)度和接腳數(shù)等。因 此，當(dāng)設(shè)計者完成移動通信裝置的設(shè)計后，必須透過不同的測試步驟、環(huán)境 等，檢測移動通信裝置是否符合所需，并據(jù)以做進(jìn)一步的優(yōu)化。
舉例來說，請參考圖1,圖1為習(xí)知用于一串行傳輸接口 IOO的一測試 系統(tǒng)10的示意圖。測試系統(tǒng)10由一信號產(chǎn)生器102、 一傳輸單元104及一 接收單元106所組成。信號產(chǎn)生器102用來產(chǎn)生不同的信號圖案(Pattern), 并透過串行或平行方式輸出至傳輸單元104。傳輸單元104用來將信號產(chǎn)生 器102所產(chǎn)生的信號圖案轉(zhuǎn)換為符合串行傳輸接口 IOO的預(yù)設(shè)格式后，傳送 至接收單元106。當(dāng)接收單元106設(shè)于一移動通信裝置中，用以透過串行傳 輸接口 100接收傳輸單元104所輸出的信號圖案，并對應(yīng)地驅(qū)動應(yīng)用AP-1-AP—n,則設(shè)計者可據(jù)以判斷移動通信裝置的效能。
然而，在上述架構(gòu)中，信號產(chǎn)生器102通常使用以時間間隔為單位的二 進(jìn)制代碼波形紀(jì)錄文件，當(dāng)作輸入來驗(yàn)證移動通信裝置。此波形紀(jì)錄檔案會 紀(jì)錄所需輸入的波形，對于檔案記錄的波形如為超過操作速度的波形，便無 法進(jìn)行驗(yàn)證。此外，對于波形紀(jì)錄檔案的波形，信號產(chǎn)生器102無法對內(nèi)容 加工處理，例如內(nèi)容取代、延伸功能等，造成其應(yīng)用范圍受限。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的主要目的即在于提供一種用于一測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方 法及其相關(guān)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置及測試系統(tǒng)。
本發(fā)明揭露一種用于一測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，包含有接收一測試信 號，該測試信號包含一測試數(shù)據(jù)及對應(yīng)于該測試數(shù)據(jù)的一時序信息；以及根 據(jù)該時序信息，轉(zhuǎn)換該測試數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生一測試圖案。
本發(fā)明揭露一種用于一測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置，包含有一接收端，用 來接收一測試信號，該測試信號包含一測試數(shù)據(jù)及對應(yīng)于該測試數(shù)據(jù)的一時 序信息；以及一轉(zhuǎn)換單元，耦接于該接收端，用來根據(jù)該時序信息，轉(zhuǎn)換該 測試數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生一測試圖案。
本發(fā)明揭露一種用來測試一通信裝置的測試系統(tǒng)，包含有 一接收單元， 設(shè)于該通信裝置中，用來接收多個測試圖案； 一傳輸單元，用來輸出該多個 測試圖案； 一串行傳輸接口，耦接于該接收單元與該傳輸單元之間，用來傳 送該多個測試圖案； 一數(shù)據(jù)處理裝置，用來產(chǎn)生多個測試信號，該多個測試 信號的每一測試信號包含一測試數(shù)據(jù)及一相對應(yīng)的時序信息；以及一數(shù)據(jù)轉(zhuǎn) 換單元，耦接于該數(shù)據(jù)處理裝置與該傳輸單元之間，用來根據(jù)該多個測試信 號所對應(yīng)的時序信息，轉(zhuǎn)換該多個測試信號，以產(chǎn)生該多個測試圖案。


圖1為習(xí)知用于一串行傳輸接口的一測試系統(tǒng)的示意圖。 圖2為本發(fā)明實(shí)施例用來測試一通信裝置的一測試系統(tǒng)的示意圖。 圖3為用于圖2中一數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元的一數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換流程的示意圖。 圖4為用于圖2中一數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元的功能方塊圖。主要組件符號說明
100、 204 串行傳輸接口
10、 20 測試系統(tǒng)
102 信號產(chǎn)生器
104 傳輸單元
106 接收單元
AP-l — AP—n 應(yīng)用
200 接收單元
202 傳輸單元
206 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元
208 數(shù)據(jù)處理裝置
30 流程
300、 302、 304、 306、 308 步驟
400 參考頻率產(chǎn)生器
402 高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元
404 低速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元
406 存儲器
具體實(shí)施例方式
請參考圖2,圖2為本發(fā)明實(shí)施例用來測試一通信裝置的一測試系統(tǒng)20 的示意圖。測試系統(tǒng)20包含有一接收單元200、 一傳輸單元202、 一串行傳 輸接口 204、 一數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206及一數(shù)據(jù)處理裝置208。在測試系統(tǒng)20中， 數(shù)據(jù)處理裝置208用來產(chǎn)生多個測試信號，而數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206則用來將測 試信號轉(zhuǎn)換為測試圖案。接著，傳輸單元202會透過串行傳輸接口 204將測 試圖案傳送至接收單元200，則設(shè)于通信裝置中的接收單元200會對應(yīng)地驅(qū) 動應(yīng)用AP-1 ~AP_n,使設(shè)計者可據(jù)以判斷通信裝置的效能。其中，數(shù)據(jù)處理 裝置208所產(chǎn)生的測試信號包含有一測試數(shù)據(jù)及一相對應(yīng)的時序信息。若一 測試信號為高速測試信號，則其測試數(shù)據(jù)是以并列傳送的多個位數(shù)據(jù)；若一 測試信號為低速測試信號，則其測試數(shù)據(jù)是單一位數(shù)據(jù)。
進(jìn)一步地，請參考圖3，圖3為用于圖2中數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206的一數(shù)據(jù) 轉(zhuǎn)換流程30的示意圖。數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換流程30用以將測試信號轉(zhuǎn)換為測試圖案，其包含以下步驟
步驟300:開始。
步驟302:接收數(shù)據(jù)處理裝置208所輸出的一測試信號，該測試信號包 含有一測試數(shù)據(jù)及一相對應(yīng)的時序信息。
步驟304:于該測試數(shù)據(jù)包含有并列傳送的多個位數(shù)據(jù)時，根據(jù)該時序 信息，提升一工作頻率，以將并列傳送的該多個位數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為一序列位數(shù)據(jù)，
^v而產(chǎn)生測試圖案。
步驟306:于該測試數(shù)據(jù)包含有一位數(shù)據(jù)時，根據(jù)該時序信息，降低一 工作頻率，以將該位數(shù)據(jù)的工作周期延長，從而產(chǎn)生測試圖案。 步驟308:結(jié)束。
透過數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換流程3Q，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206會根據(jù)測試信號的時序信息， 轉(zhuǎn)換測試數(shù)據(jù)。當(dāng)測試信號為高速測試信號時，本發(fā)明透過提升工作頻率， 以將并列的多位數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為序列的位數(shù)據(jù)；當(dāng)測試信號為低速測試信號時， 本發(fā)明透過降低工作頻率，以將單一位數(shù)據(jù)的工作周期延長。除此之外，數(shù) 據(jù)轉(zhuǎn)換流程30另可根據(jù)一控制信號，以一預(yù)設(shè)測試圖案，取代該測試圖案。 換句話說，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206可對數(shù)據(jù)處理裝置208所輸出的測試信號進(jìn)行 并列轉(zhuǎn)序列、延伸、內(nèi)容取代等功能。
因此，在測試系統(tǒng)20中，對于高速測試數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)處理裝置208可于一 特定時間分段中，透過并列傳送方式傳送多位數(shù)據(jù)；而數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206則 可根據(jù)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換流程30,將工作頻率提升，以將并列位數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為序列位數(shù) 據(jù)。換句話說，由于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206可將并列的多個位數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為序列的 位數(shù)據(jù)，因此，數(shù)據(jù)處理裝置208可透過時間壓縮方式，將高速測試數(shù)據(jù)傳 送至數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206。如此一來，當(dāng)測試數(shù)據(jù)超過操作速度時，本發(fā)明仍 可透過時間壓縮方式，維持測試正常運(yùn)作。相反地，對于低速測試數(shù)據(jù)，數(shù) 據(jù)處理裝置208可于一特定時間分段中，傳送單一位數(shù)據(jù)；而數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元 206則可根據(jù)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換流程30,將工作頻率降低，以將單一位數(shù)據(jù)的工作周 期延長，還原為原始時序。換句話說，由于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206可將單一位數(shù) 據(jù)的工作周期延長，因此，數(shù)據(jù)處理裝置208可將低速測試數(shù)據(jù)以較低位數(shù) 取代，并傳送至數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206。如此一來，所需傳送的數(shù)據(jù)量得以減少， 以提升測試效率。
進(jìn)一步地，關(guān)于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206的實(shí)現(xiàn)方式，請參考圖4。如圖4所示，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206包含有一參考頻率產(chǎn)生器400、 一高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元 402、 一低速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元404及一存儲器406。參考頻率產(chǎn)生器400用來產(chǎn) 生一工作頻率Fref 。高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元402與低速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元404皆耦接 于參考頻率產(chǎn)生器400與數(shù)據(jù)處理裝置208之間，分別用來處理高速及低速 的測試信號。針對高速測試信號，高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元402可根據(jù)對應(yīng)的時序 信息，透過一倍頻器(未繪于圖4中)或其它頻率調(diào)整單元，提升工作頻率 Fref,以將并列傳送的位數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為序列位數(shù)據(jù)。針對低速測試信號，低速 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元404可根據(jù)對應(yīng)的時序信息，透過一除頻器(未繪于圖4中) 或其它頻率調(diào)整單元，降低工作頻率Fref，以將單一位數(shù)據(jù)的工作周期延長。 另外，在圖4中，存儲器406用來儲存預(yù)設(shè)圖案，當(dāng)高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元402 或低速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元404接收到特定控制信號時，高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元402或 低速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元404可由存儲器406中選取對應(yīng)的預(yù)設(shè)圖案，并輸出至傳 輸單元202。因此，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206可對數(shù)據(jù)處理裝置208所輸出的測試 信號進(jìn)行并列轉(zhuǎn)序列、延伸、內(nèi)容取代等功能。
綜上所述，透過測試系統(tǒng)20,數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元206可對數(shù)據(jù)處理裝置208 所輸出的測試信號進(jìn)行并列轉(zhuǎn)序列、延伸、內(nèi)容取代等功能，使得數(shù)據(jù)處理 裝置208可對高速測試數(shù)據(jù)或低速測試數(shù)據(jù)進(jìn)行時間壓縮或延長運(yùn)作，以維 持測試正常運(yùn)作，并提升測試效率。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明申請專利范圍所做的均 等變化與修改，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于一測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，包含有接收一測試信號，該測試信號包含一測試數(shù)據(jù)及對應(yīng)于該測試數(shù)據(jù)的一時序信息；以及根據(jù)該時序信息，轉(zhuǎn)換該測試數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生一測試圖案。
2. 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其中該測試數(shù)據(jù)包含有并列傳送 的多個位數(shù)據(jù)。
3. 如權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其中根據(jù)該時序信息轉(zhuǎn)換該測試 數(shù)據(jù)以產(chǎn)生該測試圖案，是根據(jù)該時序信息，提升一工作頻率，以將并列傳 送的該多個位數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為 一序列位數(shù)據(jù)，從而產(chǎn)生該測試圖案。
4. 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其中該測試數(shù)據(jù)包含有位數(shù)據(jù)。
5. 如權(quán)利要求4所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其中根據(jù)該時序信息轉(zhuǎn)換該測試 數(shù)據(jù)以產(chǎn)生該測試圖案，是根據(jù)該時序信息，降低一工作頻率，以將該位數(shù) 據(jù)的工作周期延長，從而產(chǎn)生該測試圖案。
6. 如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其另包含根據(jù)一控制信號，以一 預(yù)設(shè)測試圖案，取代該測試圖案。
7. —種用于一測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置，包含有一接收端，用來接收一測試信號，該測試信號包含一測試數(shù)據(jù)及對應(yīng)于 該測試數(shù)據(jù)的一時序信息；以及一轉(zhuǎn)換單元，耦接于該接收端，用來根據(jù)該時序信息，轉(zhuǎn)換該測試數(shù)據(jù)， 以產(chǎn)生一測試圖案。
8. 如權(quán)利要求7所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置，其中該測試數(shù)據(jù)包含有并列傳送 的多個位數(shù)據(jù)。
9. 如權(quán)利要求8所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置，其中該轉(zhuǎn)換單元根據(jù)該時序信息， 提升一工作頻率，以將并列傳送的該多個位數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為一序列位數(shù)據(jù)，從而 產(chǎn)生該測試圖案。
10. 如權(quán)利要求7所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置，其中該測試數(shù)據(jù)包含有位數(shù)據(jù)。
11. 如權(quán)利要求10所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置，其中該轉(zhuǎn)換單元根據(jù)該時序信 息，降低一工作頻率，以將該位數(shù)據(jù)的工作周期延長，從而產(chǎn)生該測試圖案。
12. 如權(quán)利要求7所述的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換裝置，其中該轉(zhuǎn)換單元另用來根據(jù)一控 制信號，以一預(yù)設(shè)測試圖案，取代該測試圖案。
13. —種用來測試一通信裝置的測試系統(tǒng)，包含有 一接收單元，設(shè)于該通信裝置中，用來接收多個測試圖案； 一傳輸單元，用來輸出該多個測試圖案；一串行傳輸接口，耦接于該接收單元與該傳輸單元之間，用來傳送該多 個測試圖案；一數(shù)據(jù)處理裝置，用來產(chǎn)生多個測試信號，該多個測試信號的每一測試 信號包含一測試數(shù)據(jù)及一相對應(yīng)的時序信息；以及一數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元，耦接于該數(shù)據(jù)處理裝置與該傳輸單元之間，用來根據(jù) 該多個測試信號所對應(yīng)的時序信息，轉(zhuǎn)換該多個測試信號，以產(chǎn)生該多個測 試圖案。
14. 如權(quán)利要求13所述的測試系統(tǒng)，其中該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元包含有 一參考頻率產(chǎn)生器，用來產(chǎn)生一工作頻率；一高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元，耦接于該參考頻率產(chǎn)生器與該數(shù)據(jù)處理裝置之間， 用于一測試信號的一測試數(shù)據(jù)包含有并列傳送的多個位數(shù)據(jù)時，根據(jù)所對應(yīng) 的時序信息，提升該工作頻率，以將并列傳送的該多個位數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為一序列 位數(shù)據(jù)；以及一低速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元，耦接于該參考頻率產(chǎn)生器與該數(shù)據(jù)處理裝置之間， 用于一測試信號的一測試數(shù)據(jù)包含有一位數(shù)據(jù)時，根據(jù)該時序信息，降低一 工作頻率，以將該位數(shù)據(jù)的工作周期延長。
15. 如權(quán)利要求13所述的測試系統(tǒng)，其另包含有一存儲器，用來儲存多 個預(yù)設(shè)測試圖案。
16. 如權(quán)利要求15所述的測試系統(tǒng)，其中該轉(zhuǎn)換單元另用來根據(jù)一控制 信號，由該多個預(yù)設(shè)測試圖案選擇一預(yù)設(shè)測試圖案，以產(chǎn)生該多個測試圖案 的一測試圖案。
全文摘要
用于一測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，包含有接收一測試信號，該測試信號包含一測試數(shù)據(jù)及對應(yīng)于該測試數(shù)據(jù)的一時序信息；以及根據(jù)該時序信息，轉(zhuǎn)換該測試數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生一測試圖案。
文檔編號H04L1/00GK101577643SQ200810096249
公開日2009年11月11日 申請日期2008年5月6日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月6日
發(fā)明者衛(wèi)建宇, 徐家杰, 湯志偉, 魏維誼 申請人:聯(lián)詠科技股份有限公司