專利名稱：一種防止手機測試中過電流破壞的系統及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種防止手機測試中過電流破壞的系統及方法。
背景技術：
在現有的手機測試中(如圖l所示)，沒有在測試治具上做過電流的保護，導致在電源供應器提供電壓給手機測試時，如果發(fā)生意外情況(不當的操作、突發(fā)性斷電或短路等)，電源供應器或測試治具中就會有大電流經過，從而損壞手機內部零件。

發(fā)明內容
鑒于以上內容，有必要提供一種防止手機測試中過電流破壞的系統，其可防止手機測試中產生的過電流對待測手機內部零件的破壞。
還有必要提供一種防止手機測試中過電流破壞的方法，其可防止手機測試中產生的過電流對待測手機內部零件的破壞。
一種防止手機測試中過電流破壞的系統，該系統包括一個測試治具和與之相連的電源供應器，所述測試治具連接待測手機，所述測試治具的正極和電源供應器的正極之間串聯有一個過電流保護元件。
在上述防止手機測試中過電流破壞的系統中，當通過所述過電流保護元件的電流急速升高而大于或等于設定的閥值時，所述過電流保護元件自動切斷所述電源供應器至所述測試治具的通路。
在上述防止手機測試中過電流破壞的系統中，所述過電流保護元件是自恢復保險絲。
在上述防止手機測試中過電流破壞的系統中，當通過所述過電流保護元件的電流小于設定的閥值后，所述過電流保護元件立即恢復原狀而繼續(xù)導通。
一種防止手機測試中過電流破壞的方法，該方法包括如下步驟提供一個測試治具和與之相連的電源供應器；在所述測試治具的正極和電源供應器的正極之間串聯一個過電流保護元件；使所述測試治具與待測手機相連，以進行手機測試。
在上述防止手機測試中過電流破壞的方法中，當通過所述過電流保護元件的電流急速升高而大于或等于設定的閥值時，所述過電流保護元件自動切斷所述電源供應器至所述測試治具的通路。
在上述防止手機測試中過電流破壞的方法中，所述過電流保護元件是自恢復保險絲。在上述防止手機測試中過電流破壞的方法中，當通過所述過電流保護元件的電流小于設定的閥值后，所述過電流保護元件立即恢復原狀而繼續(xù)導通。
相較于現有技術，所述的一種防止手機測試中過電流破壞的系統及方法，可以防止手機測試中產生的過電流對待測手機內部零件的破壞。


圖l是現有的手機測試系統的結構示意圖。
圖2是本發(fā)明一種防止手機測試中過電流破壞的系統的結構示意圖。
具體實施例方式
如圖2所示，是本發(fā)明一種防止手機測試中過電流破壞的系統的結構示意圖。本發(fā)明與圖1中所示的現有手機測試系統相比，在測試治具l的正極和電源供應器2的正極之間串聯一個過電流保護元件3。所述測試治具l與待測手機(圖中未示出)相連，以進行手機測試。所述過電流保護元件3可選用保險絲，最好是自恢復保險絲(Poly switch)，因為自恢復保險絲的使用壽命為2000 (cycles),它不像一般的保險絲一旦熔斷后就需更換，自恢復保險絲在過電流產生時會斷開，當電流恢復正常時它就繼續(xù)導通。在本實施例中，所述過電流保護元件3采用自恢復保險絲，在其它實施例中，所述過電流保護元件3也可采用其它限流元件。
在手機測試過程中，電源供應器2中的電流通過所述過電流保護元件3流入測試治具1。當發(fā)生意外情況(不當的操作、突發(fā)性斷電或短路等)，通過所述過電流保護元件3的電流急速升高而大于或等于設定的閥值時，所述過電流保護元件3的溫度就會瞬間上升、阻抗提高，從而自動切斷所述電源供應器2至所述測試治具1的通路，導致通過所述過電流保護元件3的電流在極短時間(微秒)內降低。當通過所述過電流保護元件3的電流小于設定的閥值后，所述過電流保護元件3就會立即恢復原狀而繼續(xù)導通。
最后應說明的是，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本發(fā)明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發(fā)明的技術方案進行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術方案的精神和范圍。
權利要求
1.一種防止手機測試中過電流破壞的系統，該系統包括一個測試治具和與之相連的電源供應器，所述測試治具連接待測手機，其特征在于，所述測試治具的正極和電源供應器的正極之間串聯有一個過電流保護元件。
2.如權利要求l所述的防止手機測試中過電流破壞的系統，其特征在 于，當通過所述過電流保護元件的電流急速升高而大于或等于設定的閥值時，所述過電流保 護元件自動切斷所述電源供應器至所述測試治具的通路。
3.如權利要求l所述的防止手機測試中過電流破壞的系統，其特征在 于，所述過電流保護元件是保險絲。
4.如權利要求l所述的防止手機測試中過電流破壞的系統，其特征在 于，所述過電流保護元件是自恢復保險絲。
5.如權利要求4所述的防止手機測試中過電流破壞的系統，其特征在 于，當通過所述過電流保護元件的電流急速升高而大于或等于設定的閥值時，所述過電流保 護元件自動切斷所述電源供應器至所述測試治具的通路，當通過所述過電流保護元件的電流 小于設定的閥值后，所述過電流保護元件立即恢復原狀而繼續(xù)導通。
6. 一種防止手機測試中過電流破壞的方法，其特征在于，該方法包括如下步驟提供一個測試治具和與之相連的電源供應器；在所述測試治具的正極和電源供應器的正極之間串聯一個過電流保護元件；及 使所述測試治具與待測手機相連，以進行手機測試。
7.如權利要求6所述的防止手機測試中過電流破壞的方法，其特征在 于，當通過所述過電流保護元件的電流急速升高而大于或等于設定的閥值時，所述過電流保 護元件自動切斷所述電源供應器至所述測試治具的通路。
8.如權利要求6所述的防止手機測試中過電流破壞的方法，其特征在 于，所述過電流保護元件是保險絲。
9 如權利要求6所述的防止手機測試中過電流破壞的方法，其特征在 于，所述過電流保護元件是自恢復保險絲。
10 如權利要求9所述的防止手機測試中過電流破壞的方法，其特征 在于，當通過所述過電流保護元件的電流急速升高而大于或等于設定的閥值時，所述過電流 保護元件自動切斷所述電源供應器至所述測試治具的通路，當通過所述過電流保護元件的電 流小于設定的閥值后，所述過電流保護元件立即恢復原狀而繼續(xù)導通。
全文摘要
一種防止手機測試中過電流破壞的方法，該方法包括如下步驟提供一個測試治具和與之相連的電源供應器；在所述測試治具的正極和電源供應器的正極之間串聯一個過電流保護元件；使所述測試治具與待測手機相連，以進行手機測試；當通過所述過電流保護元件的電流急速升高而大于或等于設定的閥值時，所述過電流保護元件自動切斷所述電源供應器至所述測試治具的通路。本發(fā)明還提供一種防止手機測試中過電流破壞的系統。利用本發(fā)明可以防止手機測試中產生的過電流對待測手機內部零件的破壞。
文檔編號H04W24/00GK101626586SQ200810302638
公開日2010年1月13日 申請日期2008年7月8日 優(yōu)先權日2008年7月8日
發(fā)明者余國吉 申請人:深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司;奇美通訊股份有限公司