專利名稱：測試裝置及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測試裝置及測試方法。在美國，本申請是美國申請12/3四635(申請日2008年12月8日)的繼續(xù)申請。
背景技術(shù)：
進行數(shù)據(jù)包通信的器件已廣為人知。同時，測試進行數(shù)據(jù)包通信的器件的測試裝置也是眾所周知的。在數(shù)據(jù)包通信中在器件間做收發(fā)的各包中，除了實質(zhì)數(shù)據(jù)以外，包含起始碼、終止碼及校驗碼等的冗長數(shù)據(jù)。因此，測試裝置在對進行數(shù)據(jù)包通信的器件測試時，必須產(chǎn)生包含這樣的冗長數(shù)據(jù)的復(fù)雜的測試圖形。并且，進行數(shù)據(jù)包通信的器件與通訊對象的器件信號交換。作為一個例子，進行數(shù)據(jù)包通信的器件將執(zhí)行與通訊對象的器件之間的通訊的要求及拒絕的交互、通訊的開始及結(jié)束的應(yīng)答的交互、通訊的成功及失敗的交互。并且，若要測試進行數(shù)據(jù)包通信的器件，測試裝置必須與被測試器件信號交換。同時，在信號交換中，測試裝置即使在等待來自被測試器件的應(yīng)答期間，為了馬上能應(yīng)答也必須做下一個信息發(fā)送的準備及發(fā)送空閑數(shù)據(jù)包等。因此，如果測試這樣的器件，測試裝置必須產(chǎn)生復(fù)雜的測試圖形。

發(fā)明內(nèi)容
因此，在本說明書中包含的技術(shù)革新(創(chuàng)新)的1個側(cè)面中，以提供能夠解決上述問題的測試裝置及測試方法為目的。該目的由獨立權(quán)利要求記載的特征的組合達成。另外， 從屬權(quán)利要求規(guī)定了本發(fā)明的更有利的具體例。S卩，根據(jù)本說明書包含的創(chuàng)新所相關(guān)聯(lián)的側(cè)面的裝置的一個例子(優(yōu)選例)，提供一種測試裝置，是用于測試被測試器件的測試裝置，包括高位序列器，執(zhí)行用于測試所述被測試器件的測試程序，依次指定與上述被測試器件之間進行通訊的各數(shù)據(jù)包；包數(shù)據(jù)列存儲部，用于存儲多種數(shù)據(jù)包的每一個中包含的數(shù)據(jù)列；低位序列器，從上述包數(shù)據(jù)列存儲部讀出由上述高位序列器指定的數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)列，生成與上述被測試器件之間的測試所使用的測試數(shù)據(jù)列。此外，根據(jù)本說明書包含的創(chuàng)新相關(guān)聯(lián)的側(cè)面的方法的一例(優(yōu)選例)，提供一種測試方法，是由測試裝置對被測試器件進行測試的測試方法，上述測試裝置具有高位序列器和低位序列器，通過上述高位序列器，執(zhí)行用于測試上述被測試器件的測試程序，并依次指定與上述被測試器件之間進行通訊的各數(shù)據(jù)包；通過上述低位序列器，從存儲著多種數(shù)據(jù)包的各個所包含的數(shù)據(jù)列的包數(shù)據(jù)列存儲部讀出由上述高位序列器所指定的數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)列，并生成在與上述被測試器件之間的測試中使用的測試數(shù)據(jù)列。另外，上述發(fā)明的概要并未列舉出本發(fā)明的必要的技術(shù)特征的全部，這些特征群的輔助結(jié)合也能夠成本發(fā)明。


圖1，與被測試器件200 —起表示本實施方式涉及的測試裝置10的構(gòu)成。圖2，表示發(fā)送側(cè)塊12的構(gòu)成。圖3，表示發(fā)送側(cè)塊12內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32構(gòu)成的一個例子。圖4，表示發(fā)送側(cè)塊12內(nèi)的發(fā)送部34構(gòu)成的一個例子。圖5，表示接收側(cè)塊14的構(gòu)成。圖6，表示接收側(cè)塊14內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32構(gòu)成的一個例子。圖7，表示接收側(cè)塊14具有的接收部82構(gòu)成的一個例子。圖8，表示過程、數(shù)據(jù)包序列及數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)構(gòu)成。圖9，示出了表示包序列的測試程序的一個例子。圖10，表示用于生成空閑數(shù)據(jù)包的指令列及空閑數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列的一個例子。圖11，表示用于生成寫數(shù)據(jù)包的指令列及寫數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列的一個例子。圖12，表示由高位序列器22及低位序列器觀的處理定時的一個例子。圖13，表示測試裝置10的處理流程。
具體實施例方式下面通過發(fā)明的實施方式說明本發(fā)明。不過下面的實施方式并不限定權(quán)利要求所涉及的發(fā)明。另外，在實施方式中說明的特征組合并非全部都是發(fā)明的解決手段所必須的。圖1，與被測試器件200 —起表示本實施方式的測試裝置10的構(gòu)成。測試裝置10， 對發(fā)送及接收數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)包通信型的被測試器件200進行測試。測試裝置10具有發(fā)送側(cè)塊12、接收側(cè)塊14、主存儲器16以及主控制部18。發(fā)送側(cè)塊12按照被測試程序指定的順序?qū)Ρ粶y試器件200發(fā)送數(shù)據(jù)包。接收側(cè)塊14從被測試器件200接收包，并判斷與被測試器件200之間的通訊的好壞。主存儲器16存儲用于測試被測試器件200的測試程序。更詳細地，主存儲器16， 存儲表示對被測試器件200應(yīng)該發(fā)送的數(shù)據(jù)包及應(yīng)該從被測試器件200接收的數(shù)據(jù)包的順序的數(shù)據(jù)包序列測試程序。并且，主存儲器16存儲在應(yīng)該發(fā)送或應(yīng)該接收的數(shù)據(jù)包內(nèi)所包含的、分別對每個數(shù)據(jù)包所單獨確定的個別數(shù)據(jù)。主控制部18將主存儲器16存儲的測試程序及個別數(shù)據(jù)傳送至發(fā)送側(cè)塊12以及接收側(cè)塊14。并且，主控制部18執(zhí)行對該測試裝置10的開始及結(jié)束等的全部控制。圖2，表示發(fā)送側(cè)塊12的構(gòu)成。發(fā)送側(cè)塊12具有序列存儲部20、高位序列器22、 數(shù)據(jù)包指令列存儲部對、包數(shù)據(jù)列存儲部沈、低位序列器觀、數(shù)據(jù)處理部32和發(fā)送部34。序列存儲部20存儲表示數(shù)據(jù)包序列的測試程序。序列存儲部20，在測試之前或在測試之中適當(dāng)?shù)貜闹鞔鎯ζ?6傳送測試程序。高位序列器22，執(zhí)行序列存儲部20存儲的測試程序，依次指定在與被測試器件 200之間的通訊的各數(shù)據(jù)包。作為一個例子，高位序列器22，對在與被測試器件200之間進行通訊的數(shù)據(jù)包指定用于發(fā)生在數(shù)據(jù)包指令列存儲器M中的該數(shù)據(jù)包的指令列的地址 (比如該指令列的起始地址)。并且，作為一個例子，高位序列器22，對在與被測試器件200之間進行通信的數(shù)據(jù)包指定在包數(shù)據(jù)列存儲部26中的相應(yīng)的數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列的地址(比如數(shù)據(jù)列的起始地址)。這樣，高位序列器22，分別指定用于產(chǎn)生數(shù)據(jù)包的指令列的地址和該數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列的地址。另外，在這種情況中，在測試程序中，當(dāng)對2以上的數(shù)據(jù)包指定共用的指令列或數(shù)據(jù)列時，高位序列器22可以對該2以上的數(shù)據(jù)包指定同樣的指令列的地址或同一數(shù)據(jù)列的地址。數(shù)據(jù)包指令列存儲部M，對每個種類的數(shù)據(jù)包存儲用于產(chǎn)生每個種類數(shù)據(jù)包的指令列。作為一個例子，數(shù)據(jù)包指令列存儲部M存儲用于產(chǎn)生寫數(shù)據(jù)包的指令列、用于產(chǎn)生讀數(shù)據(jù)包的指令列以及用于產(chǎn)生空閑數(shù)據(jù)包的指令列等。包數(shù)據(jù)列存儲部沈，對每個種類的數(shù)據(jù)包存儲多個種類的數(shù)據(jù)包各自包含的數(shù)據(jù)列。作為一個例子，包數(shù)據(jù)列存儲部26可以具有寫數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列、讀數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列以及空閑數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列等。包數(shù)據(jù)列存儲部沈，作為一個例子，可以包括共用數(shù)據(jù)存儲部40、共用數(shù)據(jù)選取指針42、第1個別數(shù)據(jù)存儲部44-1、第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-2、第1個別數(shù)據(jù)選取指針46_1 和第2個別數(shù)據(jù)選取指針46-2。共用數(shù)據(jù)存儲部40存儲在多種類數(shù)據(jù)包各自包含的數(shù)據(jù)列中的、對數(shù)據(jù)包的每個種類共用的共用數(shù)據(jù)。共用數(shù)據(jù)存儲部40，作為一個例子，對數(shù)據(jù)包的每個種類存儲用于表示數(shù)據(jù)包的開始的開始碼、表示數(shù)據(jù)包的結(jié)束的結(jié)束碼及識別該數(shù)據(jù)包的類別的指令碼等。共用數(shù)據(jù)選取指針42，從高位序列器22取得存儲了由高位序列器22指定的數(shù)據(jù)包中包含的共用數(shù)據(jù)的塊的起始地址。進一步地，共用數(shù)據(jù)選取指針42，從低位序列器觀取得在該塊內(nèi)的偏移位置。并且，共用數(shù)據(jù)選取指針42，對共用數(shù)據(jù)存儲部40給予基于起始地址及偏移位置確定的地址(比如在起始地址加上偏移位置后的地址)，將該在地址上存儲的共用數(shù)據(jù)供給數(shù)據(jù)處理部32。第1及第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-1、44_2存儲在多種數(shù)據(jù)包各自包含的數(shù)據(jù)列中的對每個數(shù)據(jù)包變更的個別數(shù)據(jù)。作為一個例子，第1及第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-1、44-2也可以存儲包含在各數(shù)據(jù)包中的，對被測試器件200發(fā)送的實質(zhì)數(shù)據(jù)或從被測試器件200接收的實質(zhì)數(shù)據(jù)。第1個別數(shù)據(jù)存儲部44-1，存儲與執(zhí)行的測試程序無關(guān)的預(yù)先確定的個別數(shù)據(jù)。 第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-2存儲在每個所執(zhí)行的測試程序中被變更的個別數(shù)據(jù)。第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-2，作為一個例子，在測試之前或在測試之中，適當(dāng)?shù)貜闹鞔鎯ζ?6接收個別數(shù)據(jù)的傳送。第1及第2個別數(shù)據(jù)選取指針46-1、46_2，從高位序列器22接收存儲了由高位序列器22指定的數(shù)據(jù)包中包含了個別數(shù)據(jù)的塊起始地址。進一步地，第1及第2個別數(shù)據(jù)選取指針46-1、46-2，從低位序列器觀取得在該塊內(nèi)的偏移位置。并且，第1及第2個別數(shù)據(jù)選取指針46-1、46-2，將根據(jù)起始地址及偏移位置所確定的地址(比如在起始地址加上偏移位置后的地址)提供給第1及第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-1、44-2，進而將該地址上存儲的個別數(shù)據(jù)供給數(shù)據(jù)處理部32。低位序列器觀從數(shù)據(jù)包指令列存儲部M讀出被高位序列器22指定的數(shù)據(jù)包的指令列，即，讀出由高位序列器22指定的地址上的指令列，并順次執(zhí)行讀出的指令列中包
6含的各指令。并且，低位序列器28，隨著指令列的執(zhí)行順次從包數(shù)據(jù)列存儲部沈讀出被高位序列器22指定的數(shù)據(jù)包中的數(shù)據(jù)列，即，讀出由高位序列器22指定的地址上的數(shù)據(jù)列， 生成用于與被測試器件200之間測試用的測試數(shù)據(jù)列。作為一個例子，低位序列器觀，對共用數(shù)據(jù)選取指針42、個別數(shù)據(jù)選取指針46-1 及個別數(shù)據(jù)選取指針46-2供給偏移位置，該偏移位置表示在存儲了由高位序列器22指定的數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列的塊中的、與所執(zhí)行的指令對應(yīng)的數(shù)據(jù)的位置。在該情況中，低位序列器觀，產(chǎn)生在最初的指令中的初始值，也可以將每次執(zhí)行指令時躍遷的增量值作為偏移位置產(chǎn)生。再者，被低位序列器觀執(zhí)行的指令列，優(yōu)選不包含前方向跳躍指令及分歧指令等。這樣，低位序列器觀可以通過簡易的結(jié)構(gòu)實現(xiàn)高速度的處理。并且，低位序列器觀，在每次執(zhí)行指令時，對數(shù)據(jù)處理部32給予控制數(shù)據(jù)，用于指示對所讀出的個別數(shù)據(jù)及共用數(shù)據(jù)實施所指定的處理(運算或數(shù)據(jù)變換)。這樣，低位序列器觀，能夠?qū)⒏呶恍蛄衅?2指定的數(shù)據(jù)包中的、被指定的數(shù)據(jù)部分作為對所讀出的數(shù)據(jù)實施了所指定的處理的數(shù)據(jù)。并且，低位序列器觀，在每次執(zhí)行指令時，對數(shù)據(jù)處理部32指定在每次執(zhí)行指令時，輸出共用數(shù)據(jù)、個別數(shù)據(jù)(與所執(zhí)行的測試程序無關(guān)的預(yù)先確定的個別數(shù)據(jù)或每個所執(zhí)行的測試程序中被變更的個別數(shù)據(jù))，以及數(shù)據(jù)處理部32處理后的數(shù)據(jù)中的一個。即，低位序列器觀，在每次執(zhí)行指令時，對數(shù)據(jù)處理部32指定從某個存儲有已實施了指定處理的數(shù)據(jù)的寄存器中讀出數(shù)據(jù)并輸出。所述已實施了指定處理的數(shù)據(jù)為共用數(shù)據(jù)存儲部40、 第1個別數(shù)據(jù)存儲部44-1、第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-2，或數(shù)據(jù)處理部32內(nèi)的實施了指定處理的數(shù)據(jù)。這樣，低位序列器觀，能夠根據(jù)從個別數(shù)據(jù)存儲部44讀出的個別數(shù)據(jù)生成在由高位序列器22指定的數(shù)據(jù)包中的、對每個數(shù)據(jù)包應(yīng)該變更的數(shù)據(jù)部分。并且，低位序列器28， 能夠根據(jù)從共用數(shù)據(jù)存儲部40讀出的共用數(shù)據(jù)生成被高位序列器22指定的數(shù)據(jù)包中的、 對每個種類的數(shù)據(jù)包共用的數(shù)據(jù)部分。并且，低位序列器觀能夠?qū)⒈桓呶恍蛄衅?2指定的數(shù)據(jù)包中的、被指定的數(shù)據(jù)部分作為對已經(jīng)讀出的數(shù)據(jù)實施了所指定的處理的數(shù)據(jù)。并且，低位序列器觀，可以在執(zhí)行完由高位序列器22指定的數(shù)據(jù)包中的指令列后，對高位序列器22發(fā)出結(jié)束通知。這樣，高位序列器22能按照低位序列器觀的指令列的執(zhí)行的進展，順次指定數(shù)據(jù)包。并且，低位序列器觀針對發(fā)送部34，指定對被測試器件200發(fā)送的信號的邊沿定時。作為一個例子，低位序列器觀對發(fā)送部；34給予定時信號，對每個數(shù)據(jù)包控制邊沿定時。并且，低位序列器觀，與后面圖5中表示的接收側(cè)塊14具有的接收側(cè)的低位序列器觀進行通訊。這樣，發(fā)送側(cè)塊12具有的發(fā)送側(cè)的低位序列器觀，能夠與接收側(cè)塊14具有的接收側(cè)的低位序列器觀進行信號交換，與接收側(cè)的低位序列器觀同步執(zhí)行指令列。作為一個例子，發(fā)送側(cè)的低位序列器觀，將已經(jīng)對被測試器件200發(fā)送了預(yù)先確定的數(shù)據(jù)包的測試數(shù)據(jù)列的信息通知給接收側(cè)的低位序列器觀。這樣，發(fā)送側(cè)的低位序列器觀能禁止判斷部84在接收側(cè)的低位序列器觀收到來自發(fā)送側(cè)的低位序列器觀的通知為止的期間內(nèi)對接收部82所接收的數(shù)據(jù)列的好壞進行判斷。同時，發(fā)送方面的低位序列器觀，作為一個例子，從接收側(cè)的低位序列器觀接收到與所生成的測試數(shù)據(jù)列一致的數(shù)據(jù)列的通知后，生成預(yù)先確定的數(shù)據(jù)包的測試數(shù)據(jù)列。這樣，發(fā)送側(cè)的低位序列器觀，能在從被測試器件200接收到規(guī)定的數(shù)據(jù)包之后，將預(yù)先確定的數(shù)據(jù)包發(fā)送給被測試器件200。數(shù)據(jù)處理部32，輸入來自共用數(shù)據(jù)存儲部40、第1個別數(shù)據(jù)存儲部44_1及第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-2的數(shù)據(jù)，對所輸入的數(shù)據(jù)進行由低位序列器觀所指定的處理后，作為測試數(shù)據(jù)列的各數(shù)據(jù)輸出。另外，數(shù)據(jù)處理部32，也可以根據(jù)低位序列器觀的指定內(nèi)容，而將所輸入的數(shù)據(jù)直接作為測試數(shù)據(jù)列的數(shù)據(jù)輸出。關(guān)于數(shù)據(jù)處理部32構(gòu)成的一個例子，在圖 3中說明。發(fā)送部34，對被測試器件200發(fā)送從數(shù)據(jù)處理部32輸出的測試數(shù)據(jù)列。關(guān)于發(fā)送部；34構(gòu)成的一個例子，在圖4中說明。圖3，表示發(fā)送側(cè)塊12內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32的構(gòu)成的一個例子。發(fā)送側(cè)塊12內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32，作為一個例子，包含至少1個寄存器52、前段選擇部M、至少1個運算器56、 變換部58和后段選擇部60。至少1個寄存器52中的每個存儲前周期的運算處理結(jié)果。在本例中，數(shù)據(jù)處理部 32，含第1寄存器52-1和第2寄存器52-2。前段選擇部M，在每個周期，從來自共用數(shù)據(jù)存儲部40的共用數(shù)據(jù)、來自各個個別數(shù)據(jù)存儲部44(在本例中為第1個別數(shù)據(jù)存儲部44-1及第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-2)的個別數(shù)據(jù)、來自各個在寄存器52 (在本例中為第1寄存器52-1及第2寄存器52- 的數(shù)據(jù)及變換部58輸出的數(shù)據(jù)中選擇低位序列器觀指定的數(shù)據(jù)。并且，前段選擇部M，在每個周期，將所選擇的數(shù)據(jù)分別提供給被低位序列器洲指定的運算器56 (在本例中為第1運算器 56-1及第2運算器56-2)、變換部58或后段選擇部60。至少1個運算器56分別與至少1個寄存器52各自對應(yīng)設(shè)置。在本例中，數(shù)據(jù)處理部32包括與第1寄存器52-1對應(yīng)的第1運算器56-1和，與第2寄存器52_2對應(yīng)的第 2運算器56-2。作為一個例子，每個運算器56進行邏輯運算，四則混合運算、虛擬隨機數(shù)發(fā)生及錯誤訂正符號生成等的運算。每個運算器56在每個周期，對被前段選擇部M選擇的數(shù)據(jù)進行低位序列器觀所指定的運算，并存儲到對應(yīng)的寄存器52。變換部58，在每周期，根據(jù)預(yù)先確定的數(shù)據(jù)表變換前段選擇部M所選擇的數(shù)據(jù)。 變換部58，作為一個例子，進行Sb-IOb變換等的數(shù)據(jù)變換。并且，變換部58輸出轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)。后段選擇部60，在每周期，從前段選擇部M所選擇的數(shù)據(jù)(本例中是來自共用數(shù)據(jù)存儲部40，第1個別數(shù)據(jù)存儲部44-1或第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-2的數(shù)據(jù))、至少1個寄存器52內(nèi)的數(shù)據(jù)，以及變換部58輸出的數(shù)據(jù)中選擇與所指定的數(shù)據(jù)包對應(yīng)的數(shù)據(jù)。并且， 后段選擇部60將所選擇的數(shù)據(jù)作為測試數(shù)據(jù)列的各數(shù)據(jù)而輸出。圖4，表示發(fā)送側(cè)塊12內(nèi)的發(fā)送部34構(gòu)成的一個例子。發(fā)送部34，作為一個例子， 包含序列化器72、格式控制器74以及驅(qū)動程序76。序列化器72，將從數(shù)據(jù)處理部32接收的測試數(shù)據(jù)列轉(zhuǎn)換成串行的波形圖形。格式控制器74，生成具有與從序列化器72接收到的波形圖形對應(yīng)的波形的信號。并且，格式控制器74，在被低位序列器觀指定的邊沿定時中，輸出邏輯變化的波形信號。驅(qū)動程序76， 將從格式控制器74輸出的信號供給被測試器件200。圖5，表示接收側(cè)塊14的構(gòu)成。接收側(cè)塊14具有與圖2所示的發(fā)送側(cè)塊12大體上相同的構(gòu)成及功能。在接收側(cè)塊14具有的部件內(nèi)，對與發(fā)送側(cè)塊12具有的部件大體上具有同樣的構(gòu)成及功能的部件賦予同樣的符號，省略相同點的說明。
接收側(cè)塊14，具有序列存儲部20和，高位序列器22和，數(shù)據(jù)包指令列存儲部M 和，包數(shù)據(jù)列存儲部26和，低位序列器28和，數(shù)據(jù)處理部32和，接收部82和，判斷部84。 接收部82，從被測試器件200接收數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)列。在圖7中說明關(guān)于接收部82構(gòu)成的一個例子。 接收側(cè)塊14內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32，輸入接收部82所接收的數(shù)據(jù)列，并將輸入的數(shù)據(jù)列和所生成的測試數(shù)據(jù)列一起輸出。關(guān)于數(shù)據(jù)處理部32構(gòu)成的一例在圖6中說明。接收側(cè)塊14內(nèi)的低位序列器觀，作為測試數(shù)據(jù)列輸出從被測試器件200輸出被期待的數(shù)據(jù)列。并且，接收側(cè)塊14內(nèi)的低位序列器觀，對接收部82指定，獲取從被測試器件 200輸出的信號的數(shù)據(jù)值的選通時間。判斷部84，從數(shù)據(jù)處理部32接收測試數(shù)據(jù)列及接收部82所接收的數(shù)據(jù)列。判斷部84，根據(jù)接收部82接收到的數(shù)據(jù)列與測試數(shù)據(jù)列的比較的結(jié)果，判定與被測試器件200 之間的通訊的好壞。作為一個例子，判斷部84，包括對接收部82接收的數(shù)據(jù)列和測試數(shù)據(jù)列是否一致而進行比較的邏輯比較部，和存儲比較結(jié)果的失效存儲器。同時，接收側(cè)塊14內(nèi)的低位序列器28，與圖2所示的發(fā)送側(cè)塊12具有的發(fā)送側(cè)的低位序列器觀進行通信。這樣，接收側(cè)塊14具有的接收側(cè)的低位序列器觀，能與發(fā)送側(cè)塊 12具有的發(fā)送側(cè)的低位序列器觀進行信號交換，并與發(fā)送側(cè)的低位序列器觀同步執(zhí)行指令列。作為一個例子，接收側(cè)的低位序列器觀，對發(fā)送側(cè)的低位序列器觀通知已經(jīng)接收了與該接收側(cè)的低位序列器觀生成的測試數(shù)據(jù)列一致的數(shù)據(jù)列。這樣，發(fā)送側(cè)的低位序列器28，能夠從接收側(cè)的低位序列器觀，接收有關(guān)已經(jīng)接收了與所生成的測試數(shù)據(jù)列一致的數(shù)據(jù)列的通知，并生成預(yù)先指定了的數(shù)據(jù)包的測試數(shù)據(jù)列。并且，作為一個例子，接收側(cè)的低位序列器觀，在到收到來自發(fā)送側(cè)的低位序列器 28對被測試器件200發(fā)送的預(yù)先指定的數(shù)據(jù)包的測試數(shù)據(jù)列的通知為止的期間，禁止由判斷部84進行的有關(guān)接收部82所接收的數(shù)據(jù)列的好壞判斷。這樣，接收側(cè)的低位序列器28， 能夠在向被測試器件200發(fā)送指定的數(shù)據(jù)包之后，判斷是否從被測試器件200輸出與該指定的數(shù)據(jù)包對應(yīng)的響應(yīng)。圖6，表示接收側(cè)塊14內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32構(gòu)成的一個例子。接收側(cè)塊14內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32具有與圖3中所表示的，發(fā)送側(cè)塊12內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32大體上同樣的構(gòu)成及功能。接收側(cè)塊14內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32包含的部件內(nèi)，與發(fā)送側(cè)塊12內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部32 包含的部件大體上同樣的構(gòu)成及功能的部件，賦予同樣的符號省略相同點的說明。接收側(cè)塊14內(nèi)的前段選擇部M，在每一周期，還對后段選擇部60供給接收部82 接收的數(shù)據(jù)。同時，接收側(cè)塊14內(nèi)的后段選擇部60，在每周期，還與測試數(shù)據(jù)列的數(shù)據(jù)一起輸出從前段選擇部討供給的接收部82接收的數(shù)據(jù)。這樣，接收側(cè)塊14內(nèi)的數(shù)據(jù)處理部 32，輸入接收部82接收的數(shù)據(jù)列，并可以與生成的測試數(shù)據(jù)列一起輸出所輸入的數(shù)據(jù)列。圖7，表示接收側(cè)塊14具有的接收部82構(gòu)成的一個例子。接收部82，作為一個例子包括水平比較儀86和，定時比較儀88和，反序列化器90以及相位調(diào)整部92。水平比較儀86比較從被測試器件200輸出的信號與閾值，并輸出邏輯信號。定時
9比較儀88，根據(jù)被低位序列器觀指定的選通時間，順次獲取被水平比較儀86輸出的邏輯信號的數(shù)據(jù)。反序列化器90，將被定時比較儀88獲取的數(shù)據(jù)列轉(zhuǎn)換成并行的測試數(shù)據(jù)列。 相位調(diào)整部92檢測出數(shù)據(jù)包起始的特定碼后，調(diào)整反序列化器90對并行的測試數(shù)據(jù)的投切相位。圖8，表示過程、數(shù)據(jù)包序列及數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)構(gòu)成。測試裝置10，執(zhí)行含1個以上連續(xù)的過程的測試程序。各過程分別定義應(yīng)該發(fā)送到被測試器件200的數(shù)據(jù)包的序列，或被期待應(yīng)該從被測試器件200接收的數(shù)據(jù)包的序列。高位序列器22，執(zhí)行這樣的測試程序，并順次指定應(yīng)該發(fā)送到被測試器件200數(shù)據(jù)包，以及應(yīng)該從被測試器件200接收的數(shù)據(jù)包。并且，低位序列器觀，從高位序列器22順次接收數(shù)據(jù)包的指定，執(zhí)行用于產(chǎn)生指定的數(shù)據(jù)包的指令列，產(chǎn)生該數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列。各數(shù)據(jù)包中，比如，包含開始碼及結(jié)束碼。并且，各數(shù)據(jù)包中，包含表示該數(shù)據(jù)包的種類的指令。這樣的開始碼、結(jié)束碼及指令，是對每個種類的數(shù)據(jù)包共用的共用數(shù)據(jù)。因此， 低位序列器觀將從存儲該共用數(shù)據(jù)的共用數(shù)據(jù)存儲部40中的、被高位序列器22指定的地址讀出并生成這樣的共用數(shù)據(jù)。并且，各數(shù)據(jù)包中，包含指定被測試器件200的存儲位置的地址、對被測試器件 200寫入的數(shù)據(jù)、來自被測試器件200的讀出數(shù)據(jù)等的實質(zhì)數(shù)據(jù)。這樣的實質(zhì)數(shù)據(jù)，是每個數(shù)據(jù)包被變更的個別數(shù)據(jù)。因此，低位序列器觀，從存儲該個別數(shù)據(jù)的個別數(shù)據(jù)存儲部44 中的、被高位序列器22指定的地址讀出并生成這樣的個別數(shù)據(jù)。并且，各數(shù)據(jù)包中，包含校驗碼等，用于檢測出該數(shù)據(jù)包所包含的數(shù)據(jù)的錯誤。該校驗碼等是通過對該數(shù)據(jù)包中包含的各數(shù)據(jù)施加運算并算出的。因此，低位序列器觀，讓數(shù)據(jù)處理部32內(nèi)的運算器56運算并生成這樣的校驗碼等。此外，在各數(shù)據(jù)包中，也可以包含比如根據(jù)Sb-IOb變換等指定的規(guī)則而轉(zhuǎn)換來的數(shù)據(jù)。此時，低位序列器觀，將所生成的各個數(shù)據(jù)進一步通過變換部58變換后輸出。圖9，表示代表數(shù)據(jù)包序列的測試程序的一個例子。作為一例，高位序列器22，如圖9所示，執(zhí)行測試程序，該程序是記述需依次執(zhí)行的多個指令、與多個指令分別對應(yīng)記述的數(shù)據(jù)包的種類及參數(shù)，記述用于生成對應(yīng)的種類的數(shù)據(jù)包的指令列及表示數(shù)據(jù)列的保存位置的地址的測試程序。該測試程序，作為一個例子，包含NOP指令、IDXI指令及EXIT指令等。NOP指令， 1次形成與該NOP指令對應(yīng)的數(shù)據(jù)包，并讓執(zhí)行躍遷到下一個指令。IDXI指令，按照所指定的次數(shù)反復(fù)生成與該IDIX指令對應(yīng)的數(shù)據(jù)包，并讓執(zhí)行躍遷到下一個指令。EXIT指令，1 次生成與該EXIT指令對應(yīng)的數(shù)據(jù)包后，結(jié)束該數(shù)據(jù)包序列的執(zhí)行。該測試程序，可以不僅僅包含上述指令，比如，也可以包含根據(jù)被指定的條件一致與否，使下面的應(yīng)該執(zhí)行的指令出現(xiàn)分歧的分歧指令等。并且，作為一個例子，該測試程序記述用于識別寫數(shù)據(jù)包、讀數(shù)據(jù)包，及重復(fù)指定的編碼而產(chǎn)生的空閑數(shù)據(jù)包等的數(shù)據(jù)包的種類。并且，作為一個例子，該測試程序，包含存儲了用于生成該數(shù)據(jù)包的指令列的起始地址、該數(shù)據(jù)包中包含的共用數(shù)據(jù)的起始地址及該數(shù)據(jù)包中包含的個別數(shù)據(jù)的起始地址。圖10，表示用于生成空閑數(shù)據(jù)包的指令列，及空閑數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列的一個例子。圖11，表示用于生成寫數(shù)據(jù)包的指令列及寫數(shù)據(jù)包中包含的數(shù)據(jù)列的一個例子。低位序列器觀，作為一個例子，執(zhí)行指令列，該指令列包括圖10及圖11所表示的被順次執(zhí)行的多個指令、與多個指令分別對應(yīng)的控制數(shù)據(jù)、指定與多個指令分別對應(yīng)輸出的數(shù)據(jù)的保存位置的信息。作為一個例子，該指令列，作為數(shù)據(jù)的保存位置，比如，指定共用數(shù)據(jù)存儲部40、個別數(shù)據(jù)存儲部44、寄存器52或變換部58。在圖10及圖11的例子中，作為所說的OxOF或0x01的十六進數(shù)值，指定共用數(shù)據(jù)存儲部40作為數(shù)據(jù)的保存位置。此外，DB1，指定第1個別數(shù)據(jù)存儲部44-1作為數(shù)據(jù)的保存位置。DB2，指定第2個別數(shù)據(jù)存儲部44-2作為數(shù)據(jù)的保存位置。REG1，指定第1寄存器 52-1作為數(shù)據(jù)的保存位置?；蛘?，該指令列包含NOP指令、IDXI指令及RTN指令等。NOP指令，1次輸出在與該 NOP指令對應(yīng)的保存位置中的，在指針所指定的地址中存儲的數(shù)據(jù)后，讓執(zhí)行躍遷到下一個指令。IDXI指令，按照指定的次數(shù)重復(fù)輸出在與該IDIX指令對應(yīng)的保存位置的，由指針指定的地址上所存儲的數(shù)據(jù)重復(fù)，并讓執(zhí)行躍遷到下一個指令。RTN指令，將在與該RTN指令對應(yīng)的保存位置中的，由指針指定了的地址保存的數(shù)據(jù)1次輸出后，將執(zhí)行返回到高位序列器22。此外，由低位序列器觀執(zhí)行的指令列，可以不包含前方向跳躍指令及分歧指令等。這樣，低位序列器觀能夠以簡易的構(gòu)成實現(xiàn)高速的處理。此外，該指令列包含作為控制數(shù)據(jù)而給與運算器56的運算式。在圖11的例子中， 該指令列包含將該第1寄存器52-1的數(shù)據(jù)和輸出的數(shù)據(jù)的排他邏輯和帶入至第1寄存器 52-1的運算式(REG1 = REG1~DB1或REGl = REG1"DB2)。代替這個，該指令列也可以作為控制數(shù)據(jù)指定由變換部58進行變換處理。圖12表示高位序列器22及低位序列器觀的處理定時的一個例子。作為一個例子，高位序列器22在從主控制部18接收到開始信號后，開始數(shù)據(jù)包序列的執(zhí)行。高位序列器22，以與數(shù)據(jù)包序列對應(yīng)的順序指定數(shù)據(jù)包。并且，低位序列器觀，根據(jù)從高位序列器22 接收到的數(shù)據(jù)包的指定，執(zhí)行用于產(chǎn)生該數(shù)據(jù)包的指令列。在這里，高位序列器22，可以在低位序列器觀執(zhí)行某數(shù)據(jù)包的指令列的過程中 (即，在該指令列完成前)，對低位序列器觀進行下一個數(shù)據(jù)包的指定。這樣，低位序列器觀，可以在執(zhí)行完某數(shù)據(jù)包最后的指令(RTN指令)之后(比如下個周期)，馬上開始執(zhí)行下一個數(shù)據(jù)包的指令列。圖13，表示測試裝置10處理流程。首先，高位序列器22，執(zhí)行測試程序，并依次指定與被測試器件200之間通訊的各數(shù)據(jù)包(S11，S16)。并且，低位序列器觀，若收到高位序列器22指定的數(shù)據(jù)包，則重復(fù)執(zhí)行從步驟S12到步驟S15的處理。若低位序列器觀接收指定的數(shù)據(jù)包，則從數(shù)據(jù)包指令列存儲部M調(diào)出用于產(chǎn)生該數(shù)據(jù)包的指令列，并從起始的指令順次執(zhí)行。低位序列器觀，是在每次執(zhí)行各指令時，執(zhí)行步驟S13及步驟S14的處理(S12，S15)。在步驟S13中，低位序列器28輸出與該指令對應(yīng)的數(shù)據(jù)?；蛘撸诓襟ES14中，低位序列器觀執(zhí)行與該指令對應(yīng)的運算或數(shù)據(jù)變換。低位序列器觀并行執(zhí)行步驟S13及步驟 S14。
低位序列器觀，執(zhí)行最后的指令的話，將處理返回到高位序列器22，從高位序列器22接收下一個數(shù)據(jù)包的指定(S15)。并且，高位序列器22，如果完成到數(shù)據(jù)包序列中的最后的數(shù)據(jù)包為止的處理，則結(jié)束該流程(S16)。根據(jù)如上所示的本實施方式的測試裝置10，由個別序列器執(zhí)行表示數(shù)據(jù)包序列的測試程序和數(shù)據(jù)包內(nèi)的指令列。這樣，根據(jù)測試裝置10能夠使程序的記述簡單化。并且， 因為根據(jù)測試裝置10，能夠使用于產(chǎn)生同一種類的數(shù)據(jù)包的指令列及數(shù)據(jù)共用化，所以可以減少所存儲的信息量。并且，本實施方式所涉及的測試裝置10，由高位序列器22個別指定低位序列器觀執(zhí)行的指令列的地址及低位序列器觀讀出的數(shù)據(jù)列的地址。由此，根據(jù)測試裝置10，能通過同一指令列產(chǎn)生不同的數(shù)據(jù)列。因此，根據(jù)測試裝置10，因為可以不必保存多個同樣的指令列，所以能減少所存儲的信息量。并且，本實施方式的測試裝置10，由數(shù)據(jù)處理部32對從共用數(shù)據(jù)存儲部40及個別數(shù)據(jù)存儲部44讀出的數(shù)據(jù)執(zhí)行指定的處理(即，運算或變換)。即，數(shù)據(jù)處理部32，能夠按照在數(shù)據(jù)包通信中的低位層(接近物理層的層)的規(guī)定，生成應(yīng)該被處理的數(shù)據(jù)變換及錯誤檢測碼。由此，根據(jù)測試裝置10，可生成用于輸出在數(shù)據(jù)包通信中高位層的數(shù)據(jù)的指令列及數(shù)據(jù)列，并可個別指定在數(shù)據(jù)包通信中低位層的處理，所以能夠簡化程序的記述，并且，能夠減少所存儲的信息量。并且，本實施方式的測試裝置10，分離生成用于向被測試器件200發(fā)送信號的測試數(shù)據(jù)列的發(fā)送側(cè)塊12和生成用于與從被測試器件200接收的信號進行比較的測試數(shù)據(jù)列的接收側(cè)塊14，并分別具有高位序列器22及低位序列器觀。因為根據(jù)測試裝置10，能獨立記述發(fā)送側(cè)及接收側(cè)的程序，所以能簡化程序。并且，測試裝置10，能夠在發(fā)送側(cè)的低位序列器觀和接收側(cè)的低位序列器觀之間進行通訊。由此，根據(jù)測試裝置10，使得比如將在發(fā)送側(cè)發(fā)生的事件作為觸發(fā)開始接收側(cè)的動作，或者將接收側(cè)發(fā)生的事件作為觸發(fā)開始發(fā)送側(cè)的動作的事變得容易。再者，測試裝置10，也可以是具有多個發(fā)送側(cè)塊12及接收側(cè)塊14的組合的構(gòu)成。 在這種情況下，主控制部18，對發(fā)送側(cè)塊12及接收側(cè)塊14的組和的分別給予單獨的序列 (單獨的測試程序)，讓互相獨立執(zhí)行。這樣，測試裝置10可以讓發(fā)送側(cè)塊12及接收側(cè)塊 14的組合各自進行相互異步的動作。同時，主控制部18，也可以讓發(fā)送側(cè)塊12及接收側(cè)塊14的組合的各自進行相互同步地動作。這種情況下，主控制部18，對發(fā)送側(cè)塊12及接收側(cè)塊14的組合分別給予同樣的序列(同樣的測試程序)，并使之互相同步開始執(zhí)行。這樣，測試裝置10，能并行測試具有同樣種類或不同種類的數(shù)據(jù)包通信型接口的多個被測試器件200。以上，通過實施方式說明了本發(fā)明。不過，以上的實施方式并不限定權(quán)利范圍所涉及的發(fā)明，另外，本行業(yè)專業(yè)人員明白，能夠?qū)ι鲜鰧嵤├右远喾N多樣的改良和變更。根據(jù)權(quán)利要求的記載可以明確，實施了這樣的變更和改良的實施方式也包含在本發(fā)明的技術(shù)范圍之內(nèi)。關(guān)于在權(quán)利要求、說明書和在附圖中表示的裝置、系統(tǒng)、程序，和在方法中的動作、 次序、步驟和階段等的各處理的執(zhí)行順序，只要沒有特別注明“比…先”、“在…之前”等，或者只要不是后邊的處理必須使用前面的處理的輸出，就可以以任意的順序?qū)嵤?。有關(guān)權(quán)利要求、說明書和附圖中的動作流程，為了說明上的方便，說明中使用了“首先”、“其次”等字樣，但即使這樣也不意味著以這個順序?qū)嵤┦潜仨毜臈l件。
0100]附圖標記說明0101]10測試裝置0102]12發(fā)送側(cè)塊0103]14接收側(cè)塊0104]16主存儲器0105]18主控制部0106]20序列存儲部0107]22高位序列器0108]24數(shù)據(jù)包指令列存儲部0109]28低位序列器0110]26包數(shù)據(jù)列存儲部0111]32數(shù)據(jù)處理部0112]34發(fā)送部0113]40共用數(shù)據(jù)存儲部0114]42共用數(shù)據(jù)選取指針0115]44個別數(shù)據(jù)存儲部0116]46個別數(shù)據(jù)選取指針0117]52寄存器0118]54前段選擇部0119]56運算器0120]58變換部0121]60后段選擇部0122]72序列化器0123]74格式控制器0124]76驅(qū)動程序0125]82接收部0126]84判斷部0127]86水平比較儀0128]88定時比較儀0129]90反序列化器0130]92相位調(diào)整部0131]200被測試器件
權(quán)利要求
1.一種測試裝置，是測試被測試器件的測試裝置，包括高位序列器，執(zhí)行用于測試所述被測試器件的測試程序，依次指定與所述被測試器件之間進行通訊的各數(shù)據(jù)包；包數(shù)據(jù)列存儲部，用于存儲多種數(shù)據(jù)包的每一個中包含的數(shù)據(jù)列； 低位序列器，從所述包數(shù)據(jù)列存儲部讀出由所述高位序列器指定的數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)列， 生成與所述被測試器件之間的測試所使用的測試數(shù)據(jù)列。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，還包括對所述被測試器件發(fā)送所述測試數(shù)據(jù)列的發(fā)送部。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，還包括 接收部，從所述被測試器件接收數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)列；判斷部，根據(jù)將所述接收部所接收的數(shù)據(jù)列與所述測試數(shù)據(jù)列進行比較后的結(jié)果，判定與所述被測試器件之間的通訊的好壞。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，還包括存儲用于產(chǎn)生多種數(shù)據(jù)包的各自的指令列的數(shù)據(jù)包指令列存儲部； 所述高位序列器，對于在所述被測試器件間進行通訊的數(shù)據(jù)包，指定在所述數(shù)據(jù)包指令列存儲部內(nèi)的指令列的地址及所述包數(shù)據(jù)列存儲部內(nèi)的數(shù)據(jù)列的地址；所述低位序列器讀出由所述高位序列器指定的地址上的指令列及數(shù)據(jù)列，并生成所述測試數(shù)據(jù)列。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試裝置，在所述測試程序中，當(dāng)對2個以上的數(shù)據(jù)包指定共用的指令列或數(shù)據(jù)列時，所述高位序列器，對于該2個以上的數(shù)據(jù)包指定同一指令列的地址或同一數(shù)據(jù)列的地址。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，包括與所述被測試器件相對的發(fā)送側(cè)的所述高位序列器、所述包數(shù)據(jù)列存儲部和所述低位序列器；將發(fā)送側(cè)的所述低位序列器產(chǎn)生的所述測試數(shù)據(jù)列對所述被測試器件發(fā)送的發(fā)送部；來自所述被測試器件的接收側(cè)的所述高位序列器、所述包數(shù)據(jù)列存儲部和所述低位序列器；以及，從所述被測試器件接收數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)列的接收部。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試裝置，其中所述接收側(cè)的低位序列器，將已接收到與所述接收側(cè)的低位序列器生成的測試數(shù)據(jù)列一致的數(shù)據(jù)列的信息通知給所述發(fā)送側(cè)的低位序列器；所述發(fā)送側(cè)的低位序列器，收到來自所述接收側(cè)的低位序列器的通知后，生成預(yù)先指定的數(shù)據(jù)包的所述測試數(shù)據(jù)列。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試裝置，還包括判斷部，根據(jù)將所述接收部接收到的數(shù)據(jù)列與所述測試數(shù)據(jù)列進行比較后的結(jié)果來判定與所述被測試器件之間的通訊的好壞；所述發(fā)送側(cè)的低位序列器，通知所述接收側(cè)的低位序列器已將預(yù)先指定數(shù)據(jù)包的所述測試數(shù)據(jù)列發(fā)送至所述被測試器件；所述接收側(cè)的低位序列器，在收到來自所述發(fā)送側(cè)的低位序列器的通知為止的期間， 禁止所述判斷部對所述接收部所接收到的數(shù)據(jù)列的好壞進行判斷。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，所述包數(shù)據(jù)列存儲部包括個別數(shù)據(jù)存儲部，存儲多種數(shù)據(jù)包各自所包含的數(shù)據(jù)列中的對每個包變更的個別數(shù)據(jù)；以及共用數(shù)據(jù)存儲部，存儲多種數(shù)據(jù)包各自所包含的數(shù)據(jù)列中的對每個數(shù)據(jù)包的種類而共用的共用數(shù)據(jù)；所述低位序列器，根據(jù)從所述個別數(shù)據(jù)存儲部讀出的個別數(shù)據(jù)，生成所述高位序列器所指定的數(shù)據(jù)包中的、應(yīng)該對每個數(shù)據(jù)包變更的數(shù)據(jù)部分，并由從所述共用數(shù)據(jù)存儲部讀出的共用數(shù)據(jù)生成按照每個數(shù)據(jù)包的種類共用的數(shù)據(jù)部分。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試裝置，還包括數(shù)據(jù)處理部，輸入來自所述的個別數(shù)據(jù)存儲部及所述共用數(shù)據(jù)存儲部的數(shù)據(jù)后，對所輸入的數(shù)據(jù)進行由所述低位序列器指定的處理，并作為所述測試數(shù)據(jù)列的各數(shù)據(jù)而輸出。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試裝置，所述數(shù)據(jù)處理部包括寄存器，存儲前一周期的運算處理結(jié)果；前段選擇部，從所述個別數(shù)據(jù)存儲部的個別數(shù)據(jù)、所述共用數(shù)據(jù)存儲部的共用數(shù)據(jù)和所述寄存器的數(shù)據(jù)中選擇指定的數(shù)據(jù)；運算器，對選擇的數(shù)據(jù)進行所述低位序列器指定的運算，并存儲在所述寄存器中；后段選擇部，從所述前段選擇部選擇的數(shù)據(jù)及所述寄存器內(nèi)的數(shù)據(jù)中選擇由所述低位序列器指定的數(shù)據(jù)并作為所述測試數(shù)據(jù)列的數(shù)據(jù)而輸出。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試裝置，所述數(shù)據(jù)處理部還包括變換部，所述變換部根據(jù)預(yù)先設(shè)定的表來變換所述前段選擇部所選擇的數(shù)據(jù)；所述后段選擇部，從所述前段選擇部選擇的數(shù)據(jù)、所述寄存器內(nèi)的數(shù)據(jù)和所述變換部輸出的數(shù)據(jù)中選擇與被指定的數(shù)據(jù)包對應(yīng)的數(shù)據(jù)來作為所述測試數(shù)據(jù)列的各數(shù)據(jù)而輸出。
13.—種測試方法，是由測試裝置測試對被測試器件進行測試的測試方法，其特征在于所述測試裝置，具有高位序列器和低位序列器；通過所述高位序列器，執(zhí)行用于測試所述被測試器件的測試程序，并依次指定與所述被測試器件之間進行通訊的各數(shù)據(jù)包；通過所述低位序列器，從存儲著多種數(shù)據(jù)包分別包含的數(shù)據(jù)列的包數(shù)據(jù)列存儲部讀出由所述高位序列器指定的數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)列，并生成在與所述被測試器件之間的測試中使用的測試數(shù)據(jù)列。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種測試裝置，是測試被測試器件的測試裝置，其包括高位序列器，其執(zhí)行用于測試所述被測試器件的測試程序，并依次指定與被測試器件之間進行通訊的各數(shù)據(jù)包；包數(shù)據(jù)列存儲部，用于存儲多種數(shù)據(jù)包中每個數(shù)據(jù)包里所包含的數(shù)據(jù)列；低位序列器，從包數(shù)據(jù)列存儲部讀出由高位序列器指定的數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)列，生成與被測試器件之間的測試用的測試數(shù)據(jù)列。
文檔編號H04L29/14GK102239682SQ200980148900
公開日2011年11月9日 申請日期2009年12月3日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月8日
發(fā)明者中山浩康, 基石優(yōu), 津藤勝 申請人:愛德萬測試株式會社