專利名稱：光傳送網(wǎng)電交叉單元測(cè)試方法、單元、系統(tǒng)、單板與背板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光傳送網(wǎng)電交叉單元的測(cè)試方法、光傳 送網(wǎng)電交叉單元、測(cè)試系統(tǒng)、管理單板和測(cè)試背板。
背景技術(shù)：
光傳送網(wǎng)(OTN，Optical Transport Network)是以波分復(fù)用技術(shù)為基礎(chǔ)、在光層組織網(wǎng)絡(luò)的傳送網(wǎng)，是下一代的骨干傳送網(wǎng)，而OTN系統(tǒng)中的OTN電交叉單元是系統(tǒng)中 一個(gè)非常重要的單元，其用于完成光通道數(shù)據(jù)單元(ODUK)級(jí)別的電路交叉功能，為OTN 提供靈活的電路調(diào)度和保護(hù)功能，OTN電交叉單元可以獨(dú)立存在，對(duì)外提供各種業(yè)務(wù)接 口和光通道傳送單元(OTUK)接口 ；也可以與OTN終端復(fù)用功能集成在一起，除了提供各 種業(yè)務(wù)接口和OTOK接口以外，同時(shí)提供光復(fù)用段和光傳輸段功能，支持波分復(fù)用(WDM， wave IengthDi vis ion Multiplexing)傳輸。如圖1所示，為OTN電交叉單元與業(yè)務(wù)單板、管理單板以及PC機(jī)所構(gòu)成的一個(gè)OTN 電交叉系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，在如圖1所示的系統(tǒng)中，由于OTN電交叉單元的一個(gè)輸入接口一 次只能接收一個(gè)業(yè)務(wù)單板所發(fā)送的一個(gè)測(cè)試信息，并在由該輸入接口與相應(yīng)的輸出接口構(gòu) 成的信息通道上將該測(cè)試信息進(jìn)行傳輸后，由該相應(yīng)的輸出接口對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行輸出，因 此，若需要利用測(cè)試信息對(duì)OTN電交叉單元進(jìn)行測(cè)試，比如，若需要對(duì)OTN電交叉單元所包 含的全部N個(gè)信息通道進(jìn)行測(cè)試，則需利用N個(gè)測(cè)試信息分別對(duì)N個(gè)信息通道進(jìn)行測(cè)試，由 于OTN電交叉單元所包含的N個(gè)信息通道的數(shù)目一般遠(yuǎn)多于一個(gè)業(yè)務(wù)單板所能發(fā)送的測(cè)試 信息的最大數(shù)目，因此，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)OTN電交叉單元的多個(gè)接口進(jìn)行測(cè)試，往往需要多個(gè)業(yè) 務(wù)單板才能實(shí)現(xiàn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種光傳送網(wǎng)電交叉單元的測(cè)試方法、光傳送網(wǎng)電交叉單元、 測(cè)試系統(tǒng)、管理單板，用以降低測(cè)試OTN電交叉單元時(shí)對(duì)業(yè)務(wù)單板資源的需求量。本發(fā)明實(shí)施例還提供一種測(cè)試背板。本發(fā)明實(shí)施例采用以下技術(shù)方案一種光傳送網(wǎng)電交叉單元的測(cè)試方法，包括安裝在測(cè)試背板PCB上的業(yè)務(wù)單板向安裝在PCB上的待測(cè)試的光傳送網(wǎng)電交叉單 元的第一待測(cè)試輸入接口發(fā)送測(cè)試信息；并接收所述光傳送網(wǎng)電交叉單元在管理單板的控 制下，按照將從第一待測(cè)試輸入接口接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第 二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò) 所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所有待測(cè)試輸入接口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待 測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口，并由第一待測(cè) 試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸?shù)臏y(cè)試信息，其中，所述第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置的 用于連接第二待測(cè)試輸入接口與第二待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙斎虢涌?；以及比較接收的測(cè)試信息與發(fā)送的測(cè)試信息是否一致；在比較結(jié)果為否時(shí)，所 述業(yè)務(wù)單板確定所述光傳送網(wǎng)電交叉單元出現(xiàn)故障；以及在比較結(jié)果為是時(shí)，所述業(yè)務(wù)單 板確定所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口均沒(méi)有出現(xiàn)故障。一種光傳送網(wǎng)電交叉單元，安裝在PCB上，且光傳送網(wǎng)電交叉單元的第一待測(cè)試 輸入接口與第一待測(cè)試輸出接口分別與安裝在PCB上的業(yè)務(wù)單板相連接，該光傳送網(wǎng)電交 叉單元包括接收單元，用于通過(guò)第一待測(cè)試輸入接口接收業(yè)務(wù)單板發(fā)送來(lái)的測(cè)試信息；測(cè)試 信息傳輸單元，用于在管理單板的控制下，按照將由接收單元接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙?待測(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方 式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所有待測(cè)試輸入接口輸入后，由 最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連接的第一待 測(cè)試輸出接口，其中，所述第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置的用于連接第二待測(cè)試輸入 接口與第二待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙斎虢涌?；發(fā)送單元，用于 通過(guò)所述第一待測(cè)試輸出接口，向業(yè)務(wù)單板發(fā)送測(cè)試信息傳輸單元傳輸?shù)剿龅谝淮郎y(cè)試 輸出接口的測(cè)試信息。一種光傳送網(wǎng)交叉單元的測(cè)試系統(tǒng)，包括管理單板、至少一個(gè)光傳送網(wǎng)電交叉單 元、業(yè)務(wù)單板和安裝有管理單板、至少一個(gè)光傳送網(wǎng)電交叉單元和業(yè)務(wù)單板的PCB，其中所述管理單板，用于控制所述光傳送網(wǎng)電交叉單元按照將從第一待測(cè)試輸入接口 接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)?第二待測(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所有待 測(cè)試輸入接口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c所 述業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口，并由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸測(cè)試 信息，其中，所述第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置的用于連接第二待測(cè)試輸入接口與第 二待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙斎虢涌?；所述業(yè)務(wù)單板，用于分別向各個(gè)光傳送網(wǎng)電交叉單元發(fā)送測(cè)試信息，并接收所述 光傳送網(wǎng)電交叉單元在管理單板的控制下，由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸?shù)臏y(cè)試 信息；比較獲得的測(cè)試信息與發(fā)送的測(cè)試信息是否一致；并在比較結(jié)果為否時(shí)，確定所述 光傳送網(wǎng)電交叉單元出現(xiàn)故障，在比較結(jié)果為是時(shí)，確定所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中對(duì)所 述測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口均沒(méi)有出現(xiàn)故障；所述光傳送網(wǎng)電交叉單元，用于通過(guò)第一待測(cè)試輸入接口接收業(yè)務(wù)單板發(fā)送的測(cè) 試信息；在管理單板的控制下，由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸測(cè)試信息。一種管理單板，包括控制單元，用于控制光傳送網(wǎng)電交叉單元按照將從第一待測(cè) 試輸入接口接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試 信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)所述光傳送網(wǎng)電交叉單元 中的所有待測(cè)試輸入接口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息 傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口，并由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳 輸測(cè)試信息，其中，所述第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置的用于連接第二待測(cè)試輸入接 口與第二待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口。一種測(cè)試背板，包括
固定單元，用于將安裝在所述測(cè)試背板上的業(yè)務(wù)單板和至少一個(gè)光傳送網(wǎng)電交叉 單元固定在所述測(cè)試背板上；第一走線，用于連接所述光傳送網(wǎng)電交叉單元的第一待測(cè)試 輸入接口與業(yè)務(wù)單板，以及連接所述光傳送網(wǎng)電交叉單元的第一待測(cè)試輸出接口與業(yè)務(wù)單 板；第二走線，用于連接所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的指定待測(cè)試輸入接口與指定待測(cè)試 輸出接口。本發(fā)明實(shí)施例的有益效果如下本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)業(yè)務(wù)單板向待測(cè)試的光傳送網(wǎng)電交叉單元發(fā)送測(cè)試信息；并接 收所述單元在管理單板的控制下，按照將從第一待測(cè)試輸入接口接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降?二待測(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)PCB走線將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試 輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所有待測(cè)試輸入接 口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連 接的第一待測(cè)試輸出接口，并由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸?shù)臏y(cè)試信息；以及比 較接收的測(cè)試信息與發(fā)送的測(cè)試信息是否一致；在比較結(jié)果為否時(shí)，所述業(yè)務(wù)單板確定所 述單元出現(xiàn)故障，從而實(shí)現(xiàn)利用業(yè)務(wù)單板發(fā)送的一個(gè)測(cè)試信息可以對(duì)一個(gè)光傳送網(wǎng)電交叉 單元的多個(gè)待測(cè)試接口進(jìn)行測(cè)試，保證了 OTN電交叉單元測(cè)試的效率的前提下，降低了測(cè) 試時(shí)對(duì)業(yè)務(wù)單板的需求量。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的OTN電交叉系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2a為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種OTN電交叉單元的測(cè)試方法的具體流程示意 圖；圖2b為本發(fā)明實(shí)施例中OTN電交叉單元在管理單板的控制下對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行傳 輸?shù)氖疽鈭D；圖3為本發(fā)明實(shí)施例中利用多個(gè)測(cè)試信息實(shí)現(xiàn)分別對(duì)多個(gè)OTN電交叉單元進(jìn)行檢 測(cè)的示意圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種OTN電交叉單元的具體結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種業(yè)務(wù)單板的具體結(jié)構(gòu)示意圖；圖6a為本發(fā)明實(shí)施例提供的測(cè)試方案在實(shí)際中的應(yīng)用流程示意圖；圖6b為本發(fā)明實(shí)施例提供的測(cè)試方案應(yīng)用在實(shí)際中時(shí)的裝置連接示意圖；圖6c為在應(yīng)用本發(fā)明實(shí)施例提供的測(cè)試方案時(shí)，OTN電交叉單元中的測(cè)試信息傳 輸方向示意圖；圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的OTN電交叉單元的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明實(shí)施例提供一種OTN電交叉單元的測(cè)試方案，通過(guò)利用輸入OTN電交叉單 元的一個(gè)測(cè)試信息，就能實(shí)現(xiàn)對(duì)OTN電交叉單元的多個(gè)待測(cè)試接口進(jìn)行測(cè)試，從而可以降 低測(cè)試OTN電交叉單元時(shí)對(duì)業(yè)務(wù)單板資源的需求量。本發(fā)明實(shí)施例首先提供一種OTN電交叉單元的測(cè)試方法，該方法的具體流程示意 圖如圖2a所示，包括
步驟21，安裝在測(cè)試背板(PCB，Print Circuit Board))上業(yè)務(wù)單板向同樣安裝在該P(yáng)CB上的待測(cè)試的OTN電交叉單元發(fā)送測(cè)試信息，比如，可以向OTN電交叉單元的第一 待測(cè)試輸入接口發(fā)送測(cè)試信息，在本發(fā)明實(shí)施例中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)OTN電交叉單元的測(cè)試，無(wú) 需向OTN電交叉單元的每個(gè)待測(cè)試輸入接口都分別輸入一個(gè)測(cè)試信息，而只需要向OTN電 交叉單元的一個(gè)待測(cè)試輸入接口輸入一個(gè)測(cè)試信息即可；步驟22，業(yè)務(wù)單板接收OTN電交叉單元在管理單板的控制下，按照將從第一待測(cè) 試輸入接口接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù) 先設(shè)置的用于連接第二待測(cè)試輸入接口與第二待測(cè)試輸出接口的PCB走線(PCB走線是指 PCB上設(shè)置的可以用于連接不同設(shè)備，并且可以用于作為信息傳輸通道的連接線)，將測(cè)試 信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)OTN電交叉單元中的所有 待測(cè)試輸入接口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c 業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口，并由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸?shù)臏y(cè)試 信息，由于由第一待測(cè)試輸入接口輸入的測(cè)試信息能夠經(jīng)由OTN電交叉單元的全部待測(cè)試 輸入接口進(jìn)行傳輸，因此，若是對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)娜我庖粋€(gè)接口(包括對(duì)測(cè)試信息 進(jìn)行了傳輸?shù)妮斎虢涌诤洼敵鼋涌?發(fā)生了故障，則業(yè)務(wù)單板接收的測(cè)試信息都能夠反映 出該故障，從而根據(jù)接收的測(cè)試信息，就能判斷出OTN電交叉單元是否發(fā)生了故障；如圖2b所示，為在管理單板的控制下，OTN電交叉單元對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行傳輸?shù)氖?意圖，在圖2b中，OTN電交叉單元可以將第一待測(cè)試輸入接口 Rl接收的測(cè)試信息輸出到第 二待測(cè)試輸出接口 T2，再由第二待測(cè)試輸出接口 T2通過(guò)PCB上用于連接T2與R2的PCB走 線將測(cè)試信息輸入到第二待測(cè)試輸入接口 R2的示意圖，圖中的箭頭用以標(biāo)明測(cè)試信息的 傳輸方向，輸入接口與輸出接口之間的實(shí)線表示PCB走線，而虛線則表示可以通過(guò)軟件控 制來(lái)實(shí)現(xiàn)的信息傳輸路徑，需要說(shuō)明的是，在本發(fā)明實(shí)施例中，對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行傳輸?shù)妮斎?接口的個(gè)數(shù)可以進(jìn)行靈活的設(shè)置，比如，若只需要對(duì)接口 Rl R3以及Tl T3進(jìn)行測(cè)試， 則可以設(shè)置對(duì)測(cè)試進(jìn)行傳輸?shù)妮斎虢涌跒?個(gè)，即Rl R3，而若需要對(duì)OTN電交叉單元中 所有的接口都進(jìn)行測(cè)試，則需要保證測(cè)試信息按照本發(fā)明實(shí)施例中所設(shè)定的傳輸方式，在 每個(gè)接口上都得以傳輸一遍，無(wú)論是在所有的接口上都需要傳輸測(cè)試信息的情況，還是只 在個(gè)別的接口上傳輸測(cè)試信息的情況，業(yè)務(wù)單板所接收的測(cè)試信息都是由于業(yè)務(wù)單板相連 接的第一待測(cè)試輸出接口 Tl發(fā)送給業(yè)務(wù)單板的，此外，PCB走線是在OTN電交叉單元對(duì)測(cè)試 進(jìn)行傳輸前就進(jìn)行設(shè)置，根據(jù)實(shí)際需求，可以設(shè)置PCB走線對(duì)T2與R2進(jìn)行連接，也可以設(shè) 置PCB走線對(duì)T2與R3(或其他指定輸入接口)進(jìn)行連接，即從T2傳輸?shù)臏y(cè)試信息也不一 定必須傳輸?shù)絉2，根據(jù)PCB走線設(shè)置的不同，從T2傳輸?shù)臏y(cè)試信息也可以通過(guò)設(shè)置的PCB 走線傳輸?shù)絆TN電交叉單元上的任意指定輸入接口 ；步驟23，業(yè)務(wù)單板比較接收的測(cè)試信息與向第一待測(cè)試輸入接口發(fā)送的測(cè)試信息 是否一致，并在比較結(jié)果為否時(shí)，執(zhí)行步驟24，而在比較結(jié)果為是時(shí)，執(zhí)行步驟25 ；步驟24，業(yè)務(wù)單板確定OTN電交叉單元出現(xiàn)故障，流程結(jié)束；步驟25，業(yè)務(wù)單板確定OTN電交叉單元中對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口均沒(méi) 有出現(xiàn)故障，流程結(jié)束。在本發(fā)明實(shí)施例中，業(yè)務(wù)單板可以在預(yù)定時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi)向第一待測(cè)試輸入接口持續(xù) 發(fā)送測(cè)試信息，針對(duì)該預(yù)定時(shí)間長(zhǎng)度，還可以預(yù)定一個(gè)測(cè)試時(shí)間點(diǎn)，該測(cè)試時(shí)間點(diǎn)到來(lái)的時(shí)刻需要保證該持續(xù)預(yù)定時(shí)間長(zhǎng)度的測(cè)試信息在該時(shí)刻到來(lái)時(shí)已經(jīng)發(fā)送結(jié)束。針對(duì)測(cè)試信息持續(xù)發(fā)送的情況，在上述步驟23中，在比較結(jié)果為是時(shí)，業(yè)務(wù)單板可以重新執(zhí)行如圖1所示 的步驟，并在預(yù)定的測(cè)試時(shí)間點(diǎn)已經(jīng)到來(lái)且得到比較結(jié)果為是時(shí)，才確定該OTN電交叉單 元中對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口均沒(méi)有出現(xiàn)故障。在本發(fā)明實(shí)施例中，在判斷出OTN電交叉單元中對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接 口沒(méi)有發(fā)生故障時(shí)，業(yè)務(wù)單板可以生成用于說(shuō)明OTN電交叉單元中對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸 的各個(gè)接口沒(méi)有出現(xiàn)故障的檢測(cè)報(bào)告，而在判斷出OTN電交叉單元發(fā)生故障時(shí)，則可以直 接生成用于說(shuō)明OTN電交叉單元出現(xiàn)故障的檢測(cè)報(bào)告，并將生成的檢測(cè)報(bào)告發(fā)送給檢測(cè)報(bào) 告接收方，這里的檢測(cè)報(bào)告接收方可以是檢測(cè)人員，也可以是一個(gè)指定的用于存儲(chǔ)檢測(cè)報(bào) 告的存儲(chǔ)空間等，并且，需要說(shuō)明的是，用于說(shuō)明OTN電交叉單元沒(méi)有出現(xiàn)故障的檢測(cè)報(bào)告 可以是在預(yù)定的測(cè)試時(shí)間點(diǎn)到來(lái)時(shí)才生成的，并且，當(dāng)對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)拇郎y(cè)試輸 入接口為OTN電交叉單元中所包含的所有輸入接口時(shí)，在判斷出OTN電交叉單元中對(duì)測(cè)試 信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口沒(méi)有發(fā)生故障時(shí)，業(yè)務(wù)單板可以生成用于說(shuō)明整個(gè)OTN電交叉 單元沒(méi)有出現(xiàn)故障的檢測(cè)報(bào)告。從本發(fā)明實(shí)施例提供的該方法可以看出，由于該方法中通過(guò)利用PCB走線將指定 輸入接口與輸出接口進(jìn)行了連接，測(cè)試信息能夠進(jìn)行“交叉?zhèn)鬏敗保磳牡谝淮郎y(cè)試輸入 接口輸入的測(cè)試信息通過(guò)第二待測(cè)試輸出接口傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口，再由第二待測(cè) 試輸出接口通過(guò)PCB走線將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口中，使得測(cè)試信息能夠經(jīng) 過(guò)OTN網(wǎng)電交叉單元中的全部待測(cè)試輸入接口進(jìn)行傳輸，并由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待 測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口后，由第一待測(cè) 試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸該測(cè)試信息，從而在實(shí)現(xiàn)對(duì)OTN網(wǎng)電交叉單元進(jìn)行測(cè)試時(shí)，無(wú) 需增加業(yè)務(wù)單板的需求量，就能實(shí)現(xiàn)對(duì)OTN網(wǎng)電交叉單元中多個(gè)待測(cè)試接口的測(cè)試，大大 節(jié)省了測(cè)試所需的系統(tǒng)資源。由于本發(fā)明實(shí)施例提供的該方法中只需要利用業(yè)務(wù)單板所提供的一個(gè)測(cè)試信息， 就能完成對(duì)一個(gè)OTN網(wǎng)電交叉單元的測(cè)試，因此，本發(fā)明實(shí)施例提供的該方案能夠利用一 塊業(yè)務(wù)單板對(duì)多個(gè)OTN網(wǎng)電交叉單元進(jìn)行并行測(cè)試，從而提高對(duì)OTN網(wǎng)電交叉單元的測(cè)試 效率，實(shí)現(xiàn)利用多個(gè)測(cè)試信息同步測(cè)試相應(yīng)個(gè)數(shù)的多個(gè)OTN網(wǎng)電交叉單元。采用本發(fā)明實(shí)施例提供的該方法，利用多個(gè)測(cè)試信息實(shí)現(xiàn)分別對(duì)多個(gè)OTN電交叉 單元進(jìn)行檢測(cè)的示意圖如圖3所示，由圖3中可以看出，利用本發(fā)明實(shí)施例提供的該方法實(shí) 現(xiàn)對(duì)多個(gè)OTN電交叉單元進(jìn)行測(cè)試時(shí)，只需要一塊業(yè)務(wù)單板即可，相對(duì)于如圖1所示的現(xiàn)有 技術(shù)中所采用的測(cè)試方案，本發(fā)明實(shí)施例提供的該方案由于能只需利用一個(gè)業(yè)務(wù)單板發(fā)送 一個(gè)測(cè)試信息就能實(shí)現(xiàn)對(duì)一個(gè)OTN電交叉單元的測(cè)試，因此本發(fā)明實(shí)施例提供的方案能夠 在大大減小對(duì)系統(tǒng)資源需求量的前提下，保證了較高的測(cè)試效率，具有很強(qiáng)的實(shí)用性。在采用本發(fā)明實(shí)施例提供的方案對(duì)OTN電交叉單元進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可以指定待測(cè)試 的輸入接口和輸出接口，以圖2b為例，可以指定Rl R3以及對(duì)應(yīng)的Tl T3為待測(cè)試的接 口，則在測(cè)試時(shí)，只需要保證測(cè)試信息通過(guò)Rl R3以及Tl T3分別進(jìn)行傳輸即可；或者 也可以指定OTN電交叉單元所包含的所有輸入、輸出接口均為待測(cè)試的接口，則在測(cè)試時(shí)， 需要保證測(cè)試信息通過(guò)OTN電交叉單元所包含的各個(gè)輸入、輸出接口分別進(jìn)行傳輸。由于 采用本發(fā)明實(shí)施例的該方案能夠指定待測(cè)試的輸入接口與輸出接口，因此還具有較強(qiáng)的靈活性。相應(yīng)地，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種OTN電交叉單元，該單元安裝在PCB上，且該單 元的第一待測(cè)試輸入接口與第一待測(cè)試輸出接口分別與安裝在PCB上的業(yè)務(wù)單板相連接， 該單元的具體結(jié)構(gòu)示意圖如圖4所示，包括以下功能單元接收單元41，用于通過(guò)第一待測(cè)試輸入接口接收業(yè)務(wù)單板發(fā)送來(lái)的測(cè)試信息；測(cè)試信息傳輸單元42，用于在管理單板的控制下，按照將由接收單元41從第一待測(cè)試輸入接口接收由業(yè)務(wù)單板發(fā)送的的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待 測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)OTN 電交叉單元的所有待測(cè)試輸入接口進(jìn)行傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接 口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口，其中，第二待測(cè)試輸出接 口是通過(guò)預(yù)先設(shè)置的用于連接第二待測(cè)試輸入接口與第二待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將 測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口；發(fā)送單元43，用于通過(guò)第一待測(cè)試輸出接口，向業(yè)務(wù)單板發(fā)送測(cè)試信息傳輸單元 42傳輸?shù)降谝淮郎y(cè)試輸出接口的測(cè)試信息。此外，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種業(yè)務(wù)單板，用以降低測(cè)試OTN電交叉單元時(shí)對(duì)業(yè) 務(wù)單板資源的需求量，本發(fā)明實(shí)施例提供的該業(yè)務(wù)單板的具體結(jié)構(gòu)示意圖如圖5所示，包 括以下功能單元發(fā)送單元51，用于向待測(cè)試的OTN電交叉單元的第一待測(cè)試輸入接口發(fā)送測(cè)試信 息；接收單元52，用于接收OTN電交叉單元在管理單板的控制下，按照將從第一待測(cè) 試輸入接口接收的由發(fā)送單元51發(fā)送的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二 待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò) OTN電交叉單元中的所有待測(cè)試輸入接口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入 接口傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口、并由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單 板傳輸?shù)臏y(cè)試信息，其中，第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置的用于連接第二待測(cè)試輸入 接口與第二待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口 ；比較單元53，用于比較接收單元52接收的測(cè)試信息與發(fā)送單元51發(fā)送的測(cè)試信 息是否一致；故障確定單元54，用于在比較單元53得到的比較結(jié)果為否時(shí)，確定OTN電交叉單 元出現(xiàn)故障，在比較單元53得到的比較結(jié)果為是時(shí)，確定OTN電交叉單元中對(duì)測(cè)試信息進(jìn) 行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口均沒(méi)有出現(xiàn)故障。以下以本發(fā)明實(shí)施例提供的上述方案在實(shí)際中的應(yīng)用為例，詳細(xì)說(shuō)明本方案的應(yīng) 用流程在采用本發(fā)明實(shí)施例提供的該方案對(duì)N個(gè)OTN電交叉單元進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需要準(zhǔn)備 以下軟、硬件1、1塊可以安裝N個(gè)OTN電交叉單元的測(cè)試背板，該測(cè)試背板上應(yīng)設(shè)置有多根走 線，以對(duì)OTN電交叉單元與業(yè)務(wù)單板進(jìn)行連接，并對(duì)OTN電交叉單元上指定的輸入接口與輸 出接口進(jìn)行連接，上述起連接作用的該些走線都能作為傳輸測(cè)試信息的信息通道；2、N個(gè)OTN電交叉單元；
3、1塊可以提供N路測(cè)試信息的業(yè)務(wù)單板，該業(yè)務(wù)單板上的N個(gè)測(cè)試信息輸出接口 可以通過(guò)N條走線分別與N個(gè)OTN電交叉單元建立連接關(guān)系；4、1塊管理單板；5、1個(gè)安裝上述裝置的機(jī)架；6、1 臺(tái) PC 機(jī);7、運(yùn)行在業(yè)務(wù)單板、管理單板、以及PC機(jī)上用于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施例提供的上述方案的軟件，上述PC機(jī)用于運(yùn)行軟件，PC機(jī)可以通過(guò)管理單板實(shí)現(xiàn)對(duì)OTN電交叉單元的測(cè)試 信息傳輸方式的控制?；谏鲜鲕?、硬件，本發(fā)明實(shí)施例提供的測(cè)試方案在實(shí)際中的應(yīng)用流程示意圖如 圖6a所示，包括以下步驟步驟61，在對(duì)OTN電交叉單元單元進(jìn)行測(cè)試前，可以將OTN電交叉單元安裝在測(cè)試 背板上，利用PCB走線將業(yè)務(wù)單板中用于輸出N路測(cè)試信息的接口分別與N個(gè)OTN電交叉單 元的第一輸入接口或指定輸入接口相連接，并且利用PCB走線，對(duì)指定的待測(cè)試輸入接口 與待測(cè)試輸出接口進(jìn)行連接，此外，還可以將PC機(jī)與管理單板進(jìn)行連接，管理單板可以接 收測(cè)試人員通過(guò)PC機(jī)發(fā)送來(lái)的命令，以實(shí)現(xiàn)對(duì)OTN電交叉單元傳輸測(cè)試信息方式的控制， 而安裝有OTN電交叉單元、業(yè)務(wù)單板、管理單板的測(cè)試背板可以安裝在機(jī)架上，上述裝置的 連接示意圖如圖6b所示，任一 OTN電交叉單元中的m個(gè)輸入接口與m個(gè)輸出接口之間的測(cè) 試信息傳輸方向如圖6c中的箭頭所示，其中，Rl Rm為輸入接口的序號(hào)，Tl Tm為輸出 接口的序號(hào)，圖中連接輸入接口與輸出接口的實(shí)線用以表示實(shí)際存在的預(yù)設(shè)PCB走線，而 虛線則表示就可以通過(guò)軟件進(jìn)行設(shè)置的測(cè)試信息傳輸通道，虛線上發(fā)送的測(cè)試信息的傳輸 方向可以由PC機(jī)通過(guò)管理單板向OTN電交叉單元發(fā)送控制信令來(lái)進(jìn)行控制；步驟62，業(yè)務(wù)單板發(fā)送一個(gè)測(cè)試信息給OTN電交叉單元的待測(cè)試輸入接口 Rl后， OTN電交叉單元在管理單板的控制下，可以由Rl將該測(cè)試信息發(fā)送給待測(cè)試輸出接口 T2， 然后，再由T2通過(guò)連接T2與R2的PCB走線，將該測(cè)試信息發(fā)送給待測(cè)試輸入接口 R2，并由 R2將測(cè)試信息發(fā)送給待測(cè)試輸出接口 T3，以此類推...假設(shè)只對(duì)OTN電交叉單元的Rl R3這3個(gè)輸入接口及相應(yīng)的輸出接口 Tl T3進(jìn)行測(cè)試，則可以由R3作為最后一個(gè)對(duì)測(cè)試 信息進(jìn)行傳輸?shù)拇郎y(cè)試輸入接口，將測(cè)試信息發(fā)送給Tl，并由Tl將R3傳輸來(lái)的測(cè)試信息發(fā) 送給業(yè)務(wù)單板，而若需要對(duì)OTN電交叉單元中所包含的總個(gè)數(shù)為m的輸入接口以及相應(yīng)的 m個(gè)輸出接口進(jìn)行測(cè)試，則OTN電交叉單元在可以在管理單板的控制下，按照“交叉?zhèn)鬏敗钡?方式，由Rm作為最后一個(gè)對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行傳輸?shù)拇郎y(cè)試輸入接口，將測(cè)試信息發(fā)送給Tl， 并由Tl將Rm傳輸來(lái)的測(cè)試信息發(fā)送給業(yè)務(wù)單板，需要說(shuō)明的是，業(yè)務(wù)單板發(fā)送給Rl的測(cè) 試信息一般是連續(xù)發(fā)送的測(cè)試信息，并是在一段時(shí)間長(zhǎng)度上持續(xù)發(fā)送的測(cè)試信息，一般地， 該時(shí)間長(zhǎng)度可以是24小時(shí)；步驟63，業(yè)務(wù)單板接收由Tl輸出的測(cè)試信息，并判斷發(fā)送給Rl的測(cè)試信息與接收 的由Tl發(fā)送的測(cè)試信息是否一致，若判斷結(jié)果為一致，執(zhí)行步驟65，否則，執(zhí)行步驟64 ；步驟64，業(yè)務(wù)單板確定該OTN電交叉單元出現(xiàn)了故障，業(yè)務(wù)單板可以根據(jù)該OTN電 交叉單元出現(xiàn)故障的這一情況生成故障報(bào)告，并將該故障報(bào)告經(jīng)管理單板通報(bào)給PC機(jī)，以 使測(cè)試人員獲知當(dāng)前的測(cè)試情況，流程結(jié)束；步驟65，業(yè)務(wù)單板確定預(yù)定的測(cè)試時(shí)間點(diǎn)是否到來(lái)，在確定結(jié)果為是時(shí)，業(yè)務(wù)單板判斷OTN電交叉單元中對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口均沒(méi)有出現(xiàn)故障，執(zhí)行步驟66，在確定結(jié)果為否時(shí)，繼續(xù)執(zhí)行步驟63 ；步驟66，業(yè)務(wù)單板可以根據(jù)該OTN電交叉單元中對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接 口均沒(méi)有出現(xiàn)故障的這一情況生成報(bào)告，并將該報(bào)告經(jīng)管理單板通報(bào)給PC機(jī)，以使測(cè)試人 員獲知當(dāng)前的測(cè)試情況，流程結(jié)束。如圖6c所示，在本發(fā)明實(shí)施例中，上述實(shí)現(xiàn)對(duì)OTN電交叉單元進(jìn)行測(cè)試的方案可 以同時(shí)針對(duì)多個(gè)OTN電交叉單元來(lái)進(jìn)行，即具有N個(gè)測(cè)試信息輸出能力的業(yè)務(wù)單板可以同 時(shí)向N個(gè)OTN電交叉單元發(fā)送測(cè)試信息，以實(shí)現(xiàn)對(duì)OTN電交叉單元的測(cè)試，可見(jiàn)，采用本發(fā) 明實(shí)施例提供的方案，可以大大提高測(cè)試效率，節(jié)省測(cè)試所需的業(yè)務(wù)單板資源。相應(yīng)地，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種OTN電交叉單元的測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)的具體結(jié) 構(gòu)示意圖如圖7所示，包括業(yè)務(wù)單板71、至少一個(gè)OTN電交叉單元72、管理單板73以及安 裝有業(yè)務(wù)單板71、至少一個(gè)OTN電交叉單元72、管理單板73的測(cè)試背板PCB 74，其中管理單板73，用于控制光傳送網(wǎng)電交叉單元72將從第一待測(cè)試輸入接口接收的 測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息通過(guò)預(yù)設(shè)的連 接第二待測(cè)試輸出接口和第二待測(cè)試輸入接口的PCB走線傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的 方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)OTN電交叉單元72中的所有待測(cè)試輸入接口傳輸后，由最后 一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板71相連接的第一待測(cè) 試輸出接口，并由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸測(cè)試信息；業(yè)務(wù)單板71用于分別向各個(gè)OTN電交叉單元72發(fā)送測(cè)試信息，并接收OTN電交 叉單元72在管理單板的控制下，由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸?shù)臏y(cè)試信息；比較 獲得的測(cè)試信息與向OTN電交叉單元72發(fā)送的測(cè)試信息是否一致；并在比較結(jié)果為否時(shí)， 確定OTN電交叉單元72出現(xiàn)故障；在比較結(jié)果為是時(shí)，確定OTN電交叉單元72中對(duì)測(cè)試信 息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口均沒(méi)有出現(xiàn)故障；OTN電交叉單元72則用于通過(guò)第一待測(cè)試輸入接口接收業(yè)務(wù)單板71發(fā)送的測(cè)試 信息，并在管理單板的控制下，由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板71傳輸測(cè)試信息；此外，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種管理單板，其包括控制單元，用于控制OTN電交 叉單元按照將從第一待測(cè)試輸入接口接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第 二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng) 過(guò)OTN電交叉單元中的所有待測(cè)試輸入接口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸 入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口，并由第一待測(cè)試輸出 接口向業(yè)務(wù)單板傳輸測(cè)試信息，其中，第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置的用于連接第二
待測(cè)試輸入接口與第二待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接□。此外，本發(fā)明還相應(yīng)地提出了一種測(cè)試背板，該測(cè)試背板具體包括固定單元，用于將安裝在測(cè)試背板上的業(yè)務(wù)單板和至少一個(gè)OTN電交叉單元固定 在測(cè)試背板上；第一走線，用于連接OTN電交叉單元的第一待測(cè)試輸入接口與業(yè)務(wù)單板，以 及連接OTN電交叉單元的第一待測(cè)試輸出接口與業(yè)務(wù)單板；第二走線，用于連接OTN電交叉 單元中的指定待測(cè)試輸入接口與指定待測(cè)試輸入接口。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
權(quán)利要求
一種光傳送網(wǎng)電交叉單元的測(cè)試方法，其特征在于，包括安裝在測(cè)試背板PCB上的業(yè)務(wù)單板向安裝在PCB上的待測(cè)試的光傳送網(wǎng)電交叉單元的第一待測(cè)試輸入接口發(fā)送測(cè)試信息；并接收所述光傳送網(wǎng)電交叉單元在管理單板的控制下，按照將從第一待測(cè)試輸入接口接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所有待測(cè)試輸入接口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口，并由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸?shù)臏y(cè)試信息，其中，所述第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置的用于連接第二待測(cè)試輸入接口與第二待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口；以及比較接收的測(cè)試信息與發(fā)送的測(cè)試信息是否一致；在比較結(jié)果為否時(shí)，所述業(yè)務(wù)單板確定所述光傳送網(wǎng)電交叉單元出現(xiàn)故障；以及在比較結(jié)果為是時(shí)，所述業(yè)務(wù)單板確定所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口均沒(méi)有出現(xiàn)故障。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所有待測(cè)試 輸入接口具體為所述光傳送網(wǎng)電交叉單元所包含的所有輸入接口。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述業(yè)務(wù)單板在預(yù)定時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi)向第一 待測(cè)試輸入接口持續(xù)發(fā)送測(cè)試信息。
4.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，還包括所述業(yè)務(wù)單板在確定出所述光傳送網(wǎng)電交叉單元出現(xiàn)故障后，生成用于說(shuō)明所述光傳 送網(wǎng)電交叉單元出現(xiàn)故障的檢測(cè)報(bào)告，并將該檢測(cè)報(bào)告發(fā)送給檢測(cè)報(bào)告接收方。
5.一種光傳送網(wǎng)電交叉單元，其特征在于，安裝在PCB上，且所述光傳送網(wǎng)電交叉單元 的第一待測(cè)試輸入接口與第一待測(cè)試輸出接口分別與安裝在PCB上的業(yè)務(wù)單板相連接，所 述光傳送網(wǎng)電交叉單元包括接收單元，用于通過(guò)第一待測(cè)試輸入接口接收業(yè)務(wù)單板發(fā)送來(lái)的測(cè)試信息；測(cè)試信息傳輸單元，用于在管理單板的控制下，按照將由接收單元從第一待測(cè)試輸入 接口接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳 輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所 有待測(cè)試輸入接口輸入后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)?與業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口，其中，所述第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置 的用于連接第二待測(cè)試輸入接口與第二待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降?二輸入接口；發(fā)送單元，用于通過(guò)所述第一待測(cè)試輸出接口，向業(yè)務(wù)單板發(fā)送測(cè)試信息傳輸單元傳 輸?shù)剿龅谝淮郎y(cè)試輸出接口的測(cè)試信息。
6.一種光傳送網(wǎng)交叉單元的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括管理單板、至少一個(gè)光傳送 網(wǎng)電交叉單元、業(yè)務(wù)單板和安裝有管理單板、至少一個(gè)光傳送網(wǎng)電交叉單元和業(yè)務(wù)單板的 PCB，其中所述管理單板，用于控制所述光傳送網(wǎng)電交叉單元按照將從第一待測(cè)試輸入接口接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降?二待測(cè)試輸入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所有待測(cè) 試輸入接口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c所述 業(yè)務(wù)單板相連接的第一待測(cè)試輸出接口，并由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸測(cè)試信 息，其中，所述第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置的用于連接第二待測(cè)試輸入接口與第二 待測(cè)試輸出接口的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙斎虢涌?；所述業(yè)務(wù)單板，用于分別向各個(gè)光傳送網(wǎng)電交叉單元發(fā)送測(cè)試信息，并接收所述光傳 送網(wǎng)電交叉單元在管理單板的控制下，由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸?shù)臏y(cè)試信 息；比較獲得的測(cè)試信息與發(fā)送的測(cè)試信息是否一致；并在比較結(jié)果為否時(shí)，確定所述光 傳送網(wǎng)電交叉單元出現(xiàn)故障，在比較結(jié)果為是時(shí)，確定所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中對(duì)所述 測(cè)試信息進(jìn)行了傳輸?shù)母鱾€(gè)接口均沒(méi)有出現(xiàn)故障；所述光傳送網(wǎng)電交叉單元，用于通過(guò)第一待測(cè)試輸入接口接收業(yè)務(wù)單板發(fā)送的測(cè)試信 息；在管理單板的控制下，由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸測(cè)試信息。
7.如權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所有待測(cè)試 輸入接口具體為所述光傳送網(wǎng)電交叉單元所包含的所有輸入接口。
8.—種管理單板，其特征在于，包括控制單元，用于控制光傳送網(wǎng)電交叉單元按照將從第一待測(cè)試輸入接口接收的測(cè)試信 息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸 入接口的方式，使得測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的所有待測(cè)試輸入接口 傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)脚c業(yè)務(wù)單板相連接 的第一待測(cè)試輸出接口，并由第一待測(cè)試輸出接口向業(yè)務(wù)單板傳輸測(cè)試信息，其中，所述第 二待測(cè)試輸出接口通過(guò)預(yù)先設(shè)置的用于連接第二待測(cè)試輸入接口與第二待測(cè)試輸出接口 的PCB走線，將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙斎虢涌凇?br> 9.一種測(cè)試背板，其特征在于，包括固定單元，用于將安裝在所述測(cè)試背板上的業(yè)務(wù)單板和至少一個(gè)光傳送網(wǎng)電交叉單元 固定在所述測(cè)試背板上；第一走線，用于連接所述光傳送網(wǎng)電交叉單元的第一待測(cè)試輸入接口與業(yè)務(wù)單板，以 及連接所述光傳送網(wǎng)電交叉單元的第一待測(cè)試輸出接口與業(yè)務(wù)單板；第二走線，用于連接所述光傳送網(wǎng)電交叉單元中的指定待測(cè)試輸入接口與指定待測(cè)試 輸出接口。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種OTN電交叉單元的測(cè)試方法、單元、系統(tǒng)、單板，以降低測(cè)試OTN電交叉單元對(duì)業(yè)務(wù)單板需求量。方法包括業(yè)務(wù)單板接收光傳送網(wǎng)電交叉單元按照將第一待測(cè)試輸入接口接收的測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸出接口，并由第二待測(cè)試輸出接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙郎y(cè)試輸入接口的方式，使測(cè)試信息分別經(jīng)過(guò)所有待測(cè)試輸入接口傳輸后，由最后一個(gè)傳輸測(cè)試信息的待測(cè)試輸入接口將測(cè)試信息傳輸?shù)降谝淮郎y(cè)試輸出接口并向業(yè)務(wù)單板傳輸?shù)臏y(cè)試信息，其中，第二待測(cè)試輸出接口通過(guò)PCB走線將測(cè)試信息傳輸?shù)降诙斎虢涌冢槐容^接收的測(cè)試信息與發(fā)送的測(cè)試信息是否一致時(shí)，確定光傳送網(wǎng)電交叉單元是否故障。本發(fā)明還公開(kāi)了一種測(cè)試背板。
文檔編號(hào)H04Q1/20GK101826918SQ20101016576
公開(kāi)日2010年9月8日 申請(qǐng)日期2010年5月5日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月5日
發(fā)明者劉雨 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司