專利名稱：一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測試的方法，該方法用來檢驗被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議的一致性要求。
背景技術(shù)：
FlexRay是一種用于汽車的高速可確定性的,具備故障容錯的總線系統(tǒng)，F(xiàn)lexRay通過在確定的時間槽中傳遞信息，以及在兩個通道上的故障容錯和冗余信息的傳送，滿足了新的x-byiire系統(tǒng)設計思想的對信息傳送速度尤其是故障容錯與時間確定性的不斷增加的需求。由于對于由自然語言所描述的FlexRay總線協(xié)議的理解存在著主觀的因素，因此，對于FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層的協(xié)議一致性測試驗證工作尤為重要。為了檢驗FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議的一致性要求，需要提出一種FlexRay 總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法。

發(fā)明內(nèi)容
為了檢驗FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議一致性要求，本發(fā)明提出了一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法的協(xié)同測試方法，對于被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試在具體實施上通過直接對被測FlexRay總線的FlexRay控制器的測試實現(xiàn)。該方法直接利用邏輯分析儀與被測FlexRay總線中的被測FlexRay控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測FlexRay控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測FlexRay控制器的測試模塊中除了被測FlexRay控制器的部分構(gòu)成上測試器，通過上測試器和下測試器的協(xié)同工作，檢驗被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議的一致性要求。


附圖為一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測試系統(tǒng)原理圖，其中①為上位機PC ;虛線框中為測試模塊，主要由②上測試器和③被測FlexRay控制器組成為邏輯分析儀；⑤為波形發(fā)生器。
具體實施例方式本發(fā)明-一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法，對于被測FlexRay線數(shù)據(jù)鏈路層的測試在具體實施上通過直接對被測FlexRay總線的FlexRay控制器的測試實現(xiàn)。本測試方法直接利用邏輯分析儀與被測FlexRay總線中的被測FlexRay控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測FlexRay控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測FlexRay控制器的測試模塊中除了被測FlexRay控制器的部分構(gòu)成上測試器，通過上測試器和下測試器的協(xié)同工作，檢驗被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay協(xié)議的一致性要求。按照該方法構(gòu)建如附圖所示一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測試系統(tǒng)。附圖中，測試模塊中的被測FlexRay控制器直接與上測試器交互信息，其RX及TX兩引腳接至邏輯分析儀探頭，Rx引腳與波形發(fā)生器的輸出端電連接。上位機、邏輯分析儀與波形發(fā)生之間可以進行相關(guān)信息的交互。上位機同時與上測試器進行信息交互。邏輯分析儀的觸發(fā)信號輸出電連接至波形發(fā)生器的觸發(fā)信號輸入。測試中，上位機將測試用例及相關(guān)命令發(fā)送至邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及測試模塊，邏輯分析儀監(jiān)測TX及RX兩信號線上的信號序列，并根據(jù)TX信號線上的信號判定是否滿足觸發(fā)條件從而觸發(fā)波形發(fā)生器輸出所要求的測試序列至RX信號線。TX及RX的全部 信號都將由邏輯分析儀予以記錄，并傳送回上位機，上位機通過對下測試器傳回的信息與上測試器傳回的被測FlexRay控制器信息進行對比、分析，得出被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay協(xié)議一致性測試的結(jié)果。
權(quán)利要求
1.一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法，其特征是該方法為一種協(xié)同測試方法，對被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試通過對被測FlexRay總線中FlexRay控制器的測試實施，該方法直接利用邏輯分析儀與被測FlexRay總線中的被測FlexRay控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測FlexRay控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測FlexRay控制器的測試模塊中除了被測FlexRay控制器的部分構(gòu)成上測試器，上測試器和下測試器協(xié)同工作。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所描述的下測試器，其特征是上位機將測試用例及相關(guān)命令發(fā)送至邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及測試模塊，邏輯分析儀監(jiān)測TX及RX兩信號線上的信號序列，并根據(jù)TX信號線上的信號判定是否滿足觸發(fā)條件從而觸發(fā)波形發(fā)生器輸出所要求的測試序列至RX信號線。TX及RX的全部信號都將由邏輯分析儀予以記錄，并傳送回上位機，上位機通過對下測試器傳回的信息與上測試器傳回的被測FlexRay控制器信息進行對比、分析，得出被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議一致性測試的結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測試的方法，該方法用來檢驗被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay協(xié)議的一致性要求。為了檢驗FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay協(xié)議一致性要求，本發(fā)明提出了一種FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法的協(xié)同測試方法，對于被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試在具體實施上通過直接對被測FlexRay總線的FlexRay控制器的測試實現(xiàn)。該方法直接利用邏輯分析儀和波型發(fā)生器分別與被測FlexRay總線中的被測FlexRay控制器RX、TX引腳分別相連，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測FlexRay控制器的測試模塊中除了被測FlexRay控制器的部分構(gòu)成上測試器，通過上測試器和下測試器的協(xié)同工作，檢驗被測FlexRay總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足FlexRay總線協(xié)議的一致性要求。
文檔編號H04L12/26GK102801570SQ201110138958
公開日2012年11月28日 申請日期2011年5月26日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月26日
發(fā)明者莫莽, 劉矗, 吳寶紅 申請人:上海固泰科技有限公司