專利名稱：一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及移動(dòng)終端生產(chǎn)測(cè)試領(lǐng)域，具體涉及一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量裝置和方法。
背景技術(shù)：
隨著無(wú)線通信發(fā)達(dá)越來(lái)越快，對(duì)移動(dòng)終端射頻性能的要求也越來(lái)越高，除了在產(chǎn)品研發(fā)階段各器件的匹配調(diào)整、硬件線路的最優(yōu)化調(diào)節(jié)之外，最主要的是在移動(dòng)終端生產(chǎn)測(cè)試時(shí)通過(guò)一個(gè)校調(diào)工位來(lái)保證移動(dòng)終端射頻性能。生產(chǎn)測(cè)試會(huì)對(duì)校調(diào)工位的射頻做一個(gè)綜合測(cè)試，校調(diào)工位對(duì)射頻器件的一致性、貼片、溫度等方面導(dǎo)致的差異做補(bǔ)償，使射頻性能達(dá)到通信行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)。校調(diào)工位和綜合測(cè)試是移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)最關(guān)鍵的組成部分，如圖1所示，移動(dòng)終端生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試設(shè)備、待測(cè)件、PC機(jī)及連接線纜，測(cè)試設(shè)備一般用綜測(cè)儀，有的廠家也用信號(hào)源加頻譜儀的方式，連接線纜有串口數(shù)據(jù)通信線纜，儀表控制通信線纜(GPIB總線、PXI總線或網(wǎng)線)及射頻信號(hào)通訊線纜三種。測(cè)試系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵因素有兩方面，一方面是芯片的校調(diào)及測(cè)試算法，另一方面是測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差。芯片校調(diào)及測(cè)試算法一般都是根據(jù)芯片的規(guī)則及移動(dòng)終端業(yè)界的測(cè)量方面而定，系統(tǒng)誤差在測(cè)試系統(tǒng)中以線損的方式出現(xiàn)，在通訊通路上區(qū)分為上行鏈路線損和下行鏈路線損兩部分。目前的生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)誤差計(jì)量一般將一個(gè)特制的主板或終端(以下稱為金機(jī)金板)作為基準(zhǔn)來(lái)計(jì)量測(cè)試系統(tǒng)的線損，該金機(jī)金板的最大功率是預(yù)先測(cè)量出來(lái)的，系統(tǒng)誤差一般通過(guò)線纜廠家的推薦值估算，測(cè)量設(shè)備(包括綜測(cè)儀或頻譜儀)可以測(cè)出金機(jī)金板發(fā)出信號(hào)的功率與金板設(shè)定的發(fā)射信號(hào)功率的差值，即系統(tǒng)的上行鏈路線損，作為測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試誤差，現(xiàn)有的方法將測(cè)試系統(tǒng)的下行鏈路線損設(shè)置為與該上行鏈路線損一致。在實(shí)際應(yīng)用中上述計(jì)量系統(tǒng)誤差方法表現(xiàn)出來(lái)的缺點(diǎn)是1.金機(jī)金板在制作時(shí)本身就存在一定的制作誤差問(wèn)題，系統(tǒng)線損采用的是一個(gè)估算值，并不準(zhǔn)確；2.金機(jī)金板本身在測(cè)量時(shí)，每次發(fā)射信號(hào)的功率都會(huì)存在一點(diǎn)差別，有波動(dòng)，一致性不好；3.測(cè)量設(shè)備本身有線路衰減，且實(shí)際情況中測(cè)試系統(tǒng)的上下行鏈路線損是不一致的，而現(xiàn)有的方法為了方便將兩者設(shè)置為一致，忽略了上下行鏈路線損的不一致性。綜上，現(xiàn)有的移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量方法在系統(tǒng)精度上不準(zhǔn)確， 由于金機(jī)金板發(fā)射信號(hào)時(shí)就存在誤差，使得測(cè)量設(shè)備不能準(zhǔn)確地測(cè)出射頻線路衰減以及測(cè)量設(shè)備本身的內(nèi)部損耗，最終無(wú)法準(zhǔn)確地計(jì)量測(cè)試系統(tǒng)的誤差，面對(duì)目前市場(chǎng)上對(duì)移動(dòng)終端射頻性能越來(lái)越高的要求，這會(huì)影響產(chǎn)品的質(zhì)量及可靠性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明需要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量
4裝置及方法，提高移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的精度、穩(wěn)定性及可靠性。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量裝置，包括測(cè)試設(shè)備、輸出模塊，其特征在于還包括信號(hào)源和功率計(jì)，其中，所述信號(hào)源用于發(fā)射上行測(cè)試信號(hào)；所述功率計(jì)與所述信號(hào)源相連，用于根據(jù)所述上行測(cè)試信號(hào)測(cè)量所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗；所述測(cè)試設(shè)備與所述信號(hào)源相連，用于測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗；所述輸出模塊分別與所述功率計(jì)和所述測(cè)試設(shè)備相連，用于讀取所述功率計(jì)的測(cè)量值和所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)量值，將所述測(cè)試設(shè)備測(cè)量得到的所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗與所述功率計(jì)測(cè)量得到的所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗的差值作為所述測(cè)試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。進(jìn)一步地，所述上行測(cè)試信號(hào)包括連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)。進(jìn)一步地，所述功率計(jì)用于測(cè)量信號(hào)源的內(nèi)部損耗，包括所述功率計(jì)獲取所述信號(hào)源設(shè)定的該上行測(cè)試信號(hào)功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的該上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗。進(jìn)一步地，所述測(cè)試設(shè)備用于測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗，包括所述測(cè)試設(shè)備獲取所述信號(hào)源設(shè)定的所述上行測(cè)試信號(hào)的功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的所述上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為D，將A-D作為所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。進(jìn)一步地，所述測(cè)試設(shè)備還包括發(fā)射模塊，用于發(fā)射下行測(cè)試信號(hào)；所述功率計(jì)還與所述測(cè)試設(shè)備相連，用于測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗；所述輸出模塊，還用于讀取所述功率計(jì)的測(cè)量值，將所述功率計(jì)測(cè)量得到的所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗作為所述測(cè)試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。進(jìn)一步地，所述下行測(cè)試信號(hào)包括連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)。進(jìn)一步地，所述功率計(jì)用于測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗，包括所述功率計(jì)獲取所述測(cè)試設(shè)備設(shè)定的該下行測(cè)試信號(hào)功率為F，測(cè)量所述測(cè)試設(shè)備發(fā)射的該下行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為G，將F-G作為所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。進(jìn)一步地，所述功率計(jì)與所述信號(hào)源相連的方式為直連，所述測(cè)試設(shè)備與所述信號(hào)源通過(guò)射頻線相連。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明還提供了一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量方法，包括信號(hào)源發(fā)射上行測(cè)試信號(hào)；功率計(jì)根據(jù)所述上行測(cè)試信號(hào)測(cè)量所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗；測(cè)試設(shè)備測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗；將所述測(cè)試設(shè)備測(cè)量得到的所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗與所述功率計(jì)測(cè)量得到的所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗的差值作為所述移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。進(jìn)一步地，所述上行測(cè)試信號(hào)包括連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)。進(jìn)一步地，所述功率計(jì)測(cè)量信號(hào)源的內(nèi)部損耗的方式包括
所述功率計(jì)獲取所述信號(hào)源設(shè)定的該上行測(cè)試信號(hào)功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的該上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗。進(jìn)一步地，所述測(cè)試設(shè)備測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗的方式包括所述測(cè)試設(shè)備獲取所述信號(hào)源設(shè)定的所述上行測(cè)試信號(hào)的功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的所述上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為D，將A-D作為所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。進(jìn)一步地，所述方法還包括所述測(cè)試設(shè)備發(fā)射下行測(cè)試信號(hào)；所述功率計(jì)測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗，將所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗作為所述測(cè)試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。進(jìn)一步地，所述下行測(cè)試信號(hào)包括連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)。進(jìn)一步地，所述功率計(jì)測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗的方式包括所述功率計(jì)獲取所述測(cè)試設(shè)備設(shè)定的該下行測(cè)試信號(hào)功率為F，測(cè)量所述測(cè)試設(shè)備發(fā)射的該下行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為G，為將F-G作為所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量裝置及方法避免了由金機(jī)金板自身誤差帶來(lái)的隱患，采用穩(wěn)定的信號(hào)源，提高了移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性及可靠性，利用精度更高的功率計(jì)測(cè)試信號(hào)源的內(nèi)部損耗，提高了移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的精度；并且還能夠計(jì)量測(cè)試系統(tǒng)的下行鏈路線損，使系統(tǒng)誤差計(jì)量更加準(zhǔn)確，進(jìn)一步提高了移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的精度。


圖1是現(xiàn)有的移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；圖2是實(shí)施例中移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量裝置結(jié)構(gòu)圖；圖3是實(shí)施例中移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的上行鏈路線損計(jì)量流程圖；圖4是實(shí)施例中移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的下行鏈路線損計(jì)量流程圖。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下文中將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。需要說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互任意組合。實(shí)施例如圖2所示，本實(shí)施例提供了一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量裝置， 除了測(cè)試設(shè)備、輸出模塊(例如PC機(jī))之外，還包括信號(hào)源和功率計(jì)，其中，所述信號(hào)源用于發(fā)射上行測(cè)試信號(hào)；其中，信號(hào)源是一個(gè)信號(hào)發(fā)生器，其發(fā)射的上行測(cè)試信號(hào)可以為連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)，該脈沖信號(hào)是穩(wěn)定的，即每次信號(hào)的發(fā)射功率、參數(shù)等都能保持一致，但并不排除其他穩(wěn)定的測(cè)試信號(hào)。本實(shí)施例中用穩(wěn)定的信號(hào)源代替現(xiàn)有技術(shù)中相對(duì)不穩(wěn)定的金機(jī)金板的發(fā)射信號(hào)，提高了計(jì)量裝置的穩(wěn)定性及可靠性。所述功率計(jì)與信號(hào)源相連，用于根據(jù)所述上行測(cè)試信號(hào)測(cè)量信號(hào)源的內(nèi)部損耗；
其中，作為一種優(yōu)選的方式，所述功率計(jì)獲取所述信號(hào)源設(shè)定的該上行測(cè)試信號(hào)功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的該上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗。此外，所述功率計(jì)還與所述測(cè)試設(shè)備相連，用于測(cè)量下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。所述測(cè)試設(shè)備與信號(hào)源相連，用于測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗；其中，所述測(cè)試設(shè)備可以采用綜測(cè)儀或“頻譜儀+信號(hào)源”的方式，作為一種優(yōu)選的方式，本實(shí)施例以測(cè)試設(shè)備是綜測(cè)儀為例，該綜測(cè)儀獲取所述信號(hào)源設(shè)定的所述上行測(cè)試信號(hào)的功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)出的所述上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為D，將 A-D作為所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。此外，如圖2所示，本實(shí)施例中的測(cè)試設(shè)備還包括發(fā)射模塊，以“頻譜儀+信號(hào)源” 的方式為例，發(fā)射模塊即為信號(hào)源，用于發(fā)射下行測(cè)試信號(hào)；在本實(shí)施例中，為了提高計(jì)量裝置的穩(wěn)定性及可靠性，該下行測(cè)試信號(hào)與上行測(cè)試信號(hào)一樣采用連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)，但并不排除其他穩(wěn)定簡(jiǎn)單的測(cè)試信號(hào)。其中，所述功率計(jì)用于測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗，包括所述功率計(jì)獲取所述測(cè)試設(shè)備設(shè)定的該下行測(cè)試信號(hào)功率為F，測(cè)量所述測(cè)試設(shè)備發(fā)射的該下行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為G，將F-G作為所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。所述輸出模塊(如PC機(jī))分別與功率計(jì)和測(cè)試設(shè)備相連，用于讀取功率計(jì)的測(cè)量值和測(cè)試設(shè)備的測(cè)量值，將所述測(cè)試設(shè)備測(cè)量得到的上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗與所述功率計(jì)測(cè)量得到的信號(hào)源的內(nèi)部損耗的差值作為所述測(cè)試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出，即 (A-D)-(A-B) = B-D ；并將功率計(jì)測(cè)量得到的所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗作為所述測(cè)試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出，即F-G。其中，所述上行鏈路線損即為上行測(cè)試信號(hào)在射頻線上的線路損耗與測(cè)試設(shè)備本身內(nèi)部的損耗之和，實(shí)際上，這也是現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)所要測(cè)量的上行鏈路線損的含義，但是相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)施例還考慮到了信號(hào)源發(fā)射信號(hào)本身存在的誤差，從而提高了移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的精度。此外，所述功率計(jì)與所述信號(hào)源相連的方式為直連，所述測(cè)試設(shè)備與所述信號(hào)源通過(guò)射頻線相連。此外，如圖3所示，本實(shí)施例還提供了一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量方法，用來(lái)計(jì)量上行鏈路線損，包括以下步驟SlOl 信號(hào)源發(fā)射上行測(cè)試信號(hào)；在本實(shí)施例中，上行測(cè)試信號(hào)可以采用連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)，但并不排除其他穩(wěn)定簡(jiǎn)單的測(cè)試信號(hào)。本實(shí)施例用穩(wěn)定的信號(hào)源代替相對(duì)不穩(wěn)定的金機(jī)金板的發(fā)射信號(hào)，每次信號(hào)的發(fā)射功率、參數(shù)等都是一樣的，提高了計(jì)量裝置的穩(wěn)定性及可靠性。S102 功率計(jì)測(cè)量信號(hào)源的內(nèi)部損耗；其中，采用精度相對(duì)較高的功率計(jì)作為基準(zhǔn)來(lái)計(jì)量測(cè)試系統(tǒng)的線損，所述功率計(jì)獲取所述信號(hào)源設(shè)定的該上行測(cè)試信號(hào)功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的該上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗。S103 測(cè)試設(shè)備測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗；其中，測(cè)試設(shè)備通常采用綜測(cè)儀或頻譜儀+信號(hào)源的方式，本實(shí)施例以測(cè)試設(shè)備是綜測(cè)儀為例，該綜測(cè)儀獲取所述信號(hào)源設(shè)定的所述上行測(cè)試信號(hào)的功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)出的所述上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為D，將A-D作為所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。S104:將所述測(cè)試設(shè)備測(cè)量得到的所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗與所述功率計(jì)測(cè)量得到的所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗的差值作為所述測(cè)試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。至此，該測(cè)試系統(tǒng)誤差的上行鏈路線損計(jì)量流程結(jié)束。此外，本實(shí)施例中的測(cè)試設(shè)備還包括發(fā)射模塊，可以發(fā)射下行測(cè)試信號(hào)，如圖4所示，本實(shí)施例還提供了一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量方法，用于計(jì)量下行鏈路線損，包括以下步驟S201 所述測(cè)試設(shè)備發(fā)射下行測(cè)試信號(hào)；在本實(shí)施例中，為了提高了計(jì)量裝置的穩(wěn)定性及可靠性，該下行測(cè)試信號(hào)與上行測(cè)試信號(hào)一樣采用連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)，但并不排除其他穩(wěn)定簡(jiǎn)單的測(cè)試信號(hào)。S202 功率計(jì)測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗；其中，所述功率計(jì)獲取所述測(cè)試設(shè)備設(shè)定的該下行測(cè)試信號(hào)功率為F，測(cè)量所述測(cè)試設(shè)備發(fā)射的該下行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為G，將F-G作為所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損
^^ οS203 將所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗作為所述測(cè)試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。至此，該測(cè)試系統(tǒng)誤差的下行鏈路線損計(jì)量流程結(jié)束。從上述實(shí)施例可以看出，相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，上述實(shí)施例中的本發(fā)明提供的移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量裝置及方法避免了由金機(jī)金板自身誤差帶來(lái)的隱患，用穩(wěn)定的信號(hào)源代替現(xiàn)有技術(shù)中相對(duì)不穩(wěn)定的金機(jī)金板的發(fā)射信號(hào)，提高了移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性及可靠性，利用精度更高的功率計(jì)測(cè)試信號(hào)源的內(nèi)部損耗，使得測(cè)量設(shè)備能夠準(zhǔn)確地測(cè)出射頻線路衰減以及測(cè)量設(shè)備本身的內(nèi)部損耗，最終無(wú)法準(zhǔn)確地計(jì)量測(cè)試系統(tǒng)的誤差，提高了移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的精度；并且還能夠計(jì)量測(cè)試系統(tǒng)的下行鏈路線損，使系統(tǒng)誤差計(jì)量更加準(zhǔn)確，克服了現(xiàn)有技術(shù)中忽略上下行鏈路線損的不一致性的缺陷，進(jìn)一步提高了移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的精度。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述方法中的全部或部分步驟可通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)硬件完成，所述程序可以存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，如只讀存儲(chǔ)器、磁盤或光盤等。可選地，上述實(shí)施例的全部或部分步驟也可以使用一個(gè)或多個(gè)集成電路來(lái)實(shí)現(xiàn)。相應(yīng)地，上述實(shí)施例中的各模塊/單元可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明不限制于任何特定形式的硬件和軟件的結(jié)合。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。根據(jù)本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容，還可有其他多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量裝置，包括測(cè)試設(shè)備、輸出模塊，其特征在于還包括信號(hào)源和功率計(jì)，其中，所述信號(hào)源用于發(fā)射上行測(cè)試信號(hào)；所述功率計(jì)與所述信號(hào)源相連，用于根據(jù)所述上行測(cè)試信號(hào)測(cè)量所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗；所述測(cè)試設(shè)備與所述信號(hào)源相連，用于測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗； 所述輸出模塊分別與所述功率計(jì)和所述測(cè)試設(shè)備相連，用于讀取所述功率計(jì)的測(cè)量值和所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)量值，將所述測(cè)試設(shè)備測(cè)量得到的所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗與所述功率計(jì)測(cè)量得到的所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗的差值作為所述測(cè)試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出ο
2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于所述上行測(cè)試信號(hào)包括連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于 所述功率計(jì)用于測(cè)量信號(hào)源的內(nèi)部損耗，包括所述功率計(jì)獲取所述信號(hào)源設(shè)定的該上行測(cè)試信號(hào)功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的該上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗。
4.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于所述測(cè)試設(shè)備用于測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗，包括 所述測(cè)試設(shè)備獲取所述信號(hào)源設(shè)定的所述上行測(cè)試信號(hào)的功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的所述上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為DJfA-D作為所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損^^ ο
5.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于所述測(cè)試設(shè)備還包括發(fā)射模塊，用于發(fā)射下行測(cè)試信號(hào)； 所述功率計(jì)還與所述測(cè)試設(shè)備相連，用于測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗； 所述輸出模塊，還用于讀取所述功率計(jì)的測(cè)量值，將所述功率計(jì)測(cè)量得到的所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗作為所述測(cè)試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。
6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于所述下行測(cè)試信號(hào)包括連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)。
7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于所述功率計(jì)用于測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗，包括所述功率計(jì)獲取所述測(cè)試設(shè)備設(shè)定的該下行測(cè)試信號(hào)功率為F，測(cè)量所述測(cè)試設(shè)備發(fā)射的該下行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為G，將F-G作為所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。
8.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于所述功率計(jì)與所述信號(hào)源相連的方式為直連，所述測(cè)試設(shè)備與所述信號(hào)源通過(guò)射頻線相連。
9.一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量方法，包括 信號(hào)源發(fā)射上行測(cè)試信號(hào)；功率計(jì)根據(jù)所述上行測(cè)試信號(hào)測(cè)量所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗； 測(cè)試設(shè)備測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗；將所述測(cè)試設(shè)備測(cè)量得到的所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗與所述功率計(jì)測(cè)量得到的所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗的差值作為所述移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。
10.如權(quán)利要求9所述的計(jì)量方法，其特征在于 所述上行測(cè)試信號(hào)包括連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)。
11.如權(quán)利要求9所述的計(jì)量方法，其特征在于 所述功率計(jì)測(cè)量信號(hào)源的內(nèi)部損耗的方式包括所述功率計(jì)獲取所述信號(hào)源設(shè)定的該上行測(cè)試信號(hào)功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的該上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗。
12.如權(quán)利要求9所述的計(jì)量方法，其特征在于所述測(cè)試設(shè)備測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗的方式包括 所述測(cè)試設(shè)備獲取所述信號(hào)源設(shè)定的所述上行測(cè)試信號(hào)的功率為A，以及，測(cè)量所述信號(hào)源發(fā)射的所述上行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為D，將A-D作為所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損
13.如權(quán)利要求9所述的計(jì)量方法，其特征在于， 所述方法還包括所述測(cè)試設(shè)備發(fā)射下行測(cè)試信號(hào)；所述功率計(jì)測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗，將所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗作為所述測(cè)試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。
14.如權(quán)利要求13所述的計(jì)量方法，其特征在于 所述下行測(cè)試信號(hào)包括連續(xù)波(CW)脈沖信號(hào)。
15.如權(quán)利要求14所述的計(jì)量方法，其特征在于所述功率計(jì)測(cè)量所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗的方式包括所述功率計(jì)獲取所述測(cè)試設(shè)備設(shè)定的該下行測(cè)試信號(hào)功率為F，測(cè)量所述測(cè)試設(shè)備發(fā)射的該下行測(cè)試信號(hào)的實(shí)際功率值為G，為將F-G作為所述下行測(cè)試信號(hào)的線路損耗。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)誤差的計(jì)量裝置及方法，所述裝置包括信號(hào)源、功率計(jì)、測(cè)試設(shè)備和輸出模塊，所述方法包括信號(hào)源發(fā)射上行測(cè)試信號(hào)；功率計(jì)根據(jù)所述上行測(cè)試信號(hào)測(cè)量所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗；測(cè)試設(shè)備測(cè)量所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗；輸出模塊將所述測(cè)試設(shè)備測(cè)量得到的所述上行測(cè)試信號(hào)的線路損耗與所述功率計(jì)測(cè)量得到的所述信號(hào)源的內(nèi)部損耗的差值作為所述移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。該計(jì)量裝置及方法避免了由金機(jī)金板自身誤差帶來(lái)的隱患，采用穩(wěn)定的信號(hào)源，精度更高的功率計(jì)測(cè)試信號(hào)源的內(nèi)部損耗，使系統(tǒng)誤差計(jì)量更加準(zhǔn)確，進(jìn)一步提高了移動(dòng)終端生產(chǎn)射頻測(cè)試系統(tǒng)的精度、穩(wěn)定性及可靠性。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102386982SQ20111031317
公開(kāi)日2012年3月21日 申請(qǐng)日期2011年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月14日
發(fā)明者萬(wàn)燕斌 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司