專(zhuān)利名稱(chēng)：一體化mil-std-1553a/b電纜網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及ー種測(cè)試儀，特別涉及一體化MIL-STD-1553A/B電纜網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀。
背景技術(shù)：
目前，MIL-STD-1553A/B電纜網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，國(guó)內(nèi)一直依賴(lài)國(guó)外廠商的產(chǎn)品。由于國(guó)外1553總線測(cè)試/測(cè)量/分析設(shè)備對(duì)我國(guó)的長(zhǎng)期禁運(yùn)和封鎖，采購(gòu)1553總線測(cè)試/測(cè)量/分析設(shè)備一直是個(gè)業(yè)內(nèi)難題，根據(jù)航空航天業(yè)界反饋來(lái)看，國(guó)外產(chǎn)品采購(gòu)周期長(zhǎng)、后續(xù)服務(wù)沒(méi)保障，故障排除周期長(zhǎng)。這個(gè)問(wèn)題長(zhǎng)期存在，必須引起足夠的重視。目前國(guó) 內(nèi)MIL-STD-1553A/B電纜網(wǎng)絡(luò)測(cè)試設(shè)備，普遍還停留在板卡測(cè)試的水平，有少數(shù)廠家對(duì)GJB5186. 5(SAE AS4115)規(guī)范規(guī)定的測(cè)試項(xiàng)目做片面的測(cè)試，測(cè)試覆蓋率低，測(cè)試結(jié)果沒(méi)有指導(dǎo)意義。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一體化MIL-STD-1553A/B電纜網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，很大程度地覆蓋了國(guó)軍標(biāo)GJB5186. 5測(cè)試規(guī)范規(guī)定的測(cè)試項(xiàng)目，且維護(hù)簡(jiǎn)單高效。上述技術(shù)問(wèn)題通過(guò)以下技術(shù)方案解決一體化MIL-STD-1553A/B電纜網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，其特征在于，包括一 CPU板、一連續(xù)性/直流電阻測(cè)試板、一隔離度/共模噪聲測(cè)試板、ー數(shù)據(jù)通路測(cè)試板、ー衰減/対稱(chēng)性測(cè)試板、一波形畸變測(cè)試板、一特性阻抗測(cè)試板、一用于連接受測(cè)設(shè)備的子線連接板及與以上各模塊連接的VME總線，CPU板連有ー用于實(shí)現(xiàn)本測(cè)試儀與上位機(jī)連接的以太網(wǎng)接口和一用于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)模塊。所述總線衰減/対稱(chēng)性測(cè)試板和所述波形畸變測(cè)試板共同連有ー顯示模塊。所述子線連接板包括16個(gè)短截線連接器和兩個(gè)主總線端接連接器。由上述技術(shù)方案可見(jiàn)，本實(shí)用新型一體化集成了六個(gè)功能測(cè)試板，能覆蓋GJB5186.5測(cè)試規(guī)范中規(guī)定的如下測(cè)試項(xiàng)目總線連續(xù)性(屏蔽層連續(xù)性和主總線連續(xù)性除外)、特性阻抗測(cè)試、動(dòng)態(tài)故障模擬、總線衰減、冗余總線間的隔離、共模抑制、波形畸變、波形対稱(chēng)性、數(shù)據(jù)通路完整性，各測(cè)試板采用VME總線與CPU板通訊，各測(cè)試板相互獨(dú)立，其中一塊測(cè)試板壞了并不影響其他測(cè)試板測(cè)試，測(cè)試維護(hù)只需要更換不工作的測(cè)試板即可，維護(hù)簡(jiǎn)單高效。
圖I為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖I所示，本實(shí)用新型測(cè)試儀包括一 CPU板、一連續(xù)性/直流電阻測(cè)試板、ー隔離度/共模噪聲測(cè)試板、ー數(shù)據(jù)通路測(cè)試板、ー衰減/対稱(chēng)性測(cè)試板、一波形畸變測(cè)試板、一特性阻抗測(cè)試板、一用于連接受測(cè)設(shè)備的子線連接板及與以上各模塊連接的VME總線，總線衰減/対稱(chēng)性測(cè)試板和波形畸變測(cè)試板共同連有ー顯示模塊，CPU板連有ー用于實(shí)現(xiàn)本測(cè)試儀與上位機(jī)連接的以太網(wǎng)接口和ー用于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)模塊。其中，子線連接板包括16個(gè)短截線連接器和兩個(gè)主總線端接連接器。本實(shí)用新型的工作原理是本測(cè)試儀通過(guò)以太網(wǎng)接ロ與上位機(jī)連接并通過(guò)子線連接板與受測(cè)設(shè)備連接，上位機(jī)通過(guò)以太網(wǎng)向本測(cè)試儀下發(fā)測(cè)試腳本，啟動(dòng)/停止本測(cè)試儀的測(cè)試，本測(cè)試儀的CPU板根據(jù)測(cè)試腳本控制各測(cè)試板對(duì)受測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，各測(cè)試板測(cè)試完后將測(cè)試結(jié)果回傳CPU板，CPU板將測(cè)試結(jié)果生成測(cè)試日志文件存儲(chǔ)到存儲(chǔ)模塊及上傳到上位機(jī)。CPU板是測(cè)試儀的核心部分，它是測(cè)試控制部分，負(fù)責(zé)測(cè)試資源的合理調(diào)度和處理。連續(xù)性/直流電阻測(cè)試連續(xù)性/直流電阻測(cè)試板產(chǎn)生一個(gè)恒流源，用四端法測(cè)出連續(xù)性/直流電阻，測(cè)出的結(jié)果經(jīng)CPU板處理產(chǎn)生測(cè)試日志文件存儲(chǔ)在存儲(chǔ)模塊。特性阻抗測(cè)試特性阻抗測(cè)試板向受測(cè)設(shè)備先后發(fā)送電壓均方根值為1V-2V、頻率為75KHz和I. OMHz的正弦波，分別測(cè)量記錄兩個(gè)頻率點(diǎn)的特性阻抗Z，取平均值作為測(cè)出的結(jié)果，測(cè)出的結(jié)果經(jīng)CPU板處理產(chǎn)生測(cè)試日志文件存儲(chǔ)在存儲(chǔ)模塊。衰減/波形対稱(chēng)性測(cè)試衰減/波形対稱(chēng)性測(cè)試板向受測(cè)設(shè)備先后發(fā)送峰峰電壓為6V、頻率為250KHz和IMHz的正弦波信號(hào)Vin，并接收受測(cè)設(shè)備反饋的兩個(gè)波信號(hào)，進(jìn)行分析以得出衰減/波形對(duì)稱(chēng)性的結(jié)果，并將測(cè)試信號(hào)和反饋的波形信號(hào)顯示在顯示模塊上，測(cè)出的結(jié)果經(jīng)CPU板處理產(chǎn)生測(cè)試日志文件存儲(chǔ)在存儲(chǔ)模塊。隔離度/共模噪聲測(cè)試隔離度/共模噪聲測(cè)試板向受測(cè)設(shè)備發(fā)送測(cè)試正弦波測(cè)試信號(hào)，然后接收受測(cè)設(shè)備反饋的波形信號(hào)以分析得出測(cè)試結(jié)果，并將測(cè)試信號(hào)和反饋的波形信號(hào)顯示在顯示模塊上，測(cè)出的結(jié)果經(jīng)CPU板處理產(chǎn)生測(cè)試日志文件存儲(chǔ)在存儲(chǔ)模塊。動(dòng)態(tài)故障模擬測(cè)試動(dòng)態(tài)故障模擬測(cè)試板按標(biāo)準(zhǔn)要求向受測(cè)設(shè)備重復(fù)發(fā)送開(kāi)、關(guān)兩種測(cè)試信號(hào)，然后接收受測(cè)設(shè)備反饋的信號(hào)以分析得出測(cè)試結(jié)果，測(cè)出的結(jié)果經(jīng)CPU板處理產(chǎn)生測(cè)試日志文件存儲(chǔ)在存儲(chǔ)模塊。 波形畸變測(cè)試波形畸變測(cè)試板向受測(cè)設(shè)備發(fā)送測(cè)試波型測(cè)試信號(hào)，然后接收受測(cè)設(shè)備反饋的信號(hào)以分析得出測(cè)試結(jié)果，測(cè)試結(jié)果經(jīng)CPU板處理產(chǎn)生測(cè)試日志文件存儲(chǔ)在存儲(chǔ)模塊。數(shù)據(jù)通路測(cè)試數(shù)據(jù)通路測(cè)試板向受測(cè)設(shè)備重復(fù)發(fā)送隨機(jī)數(shù)據(jù)字1000次，然后接收受測(cè)設(shè)備反饋的信號(hào)以分析得出測(cè)試結(jié)果，測(cè)試結(jié)果經(jīng)CPU板處理產(chǎn)生測(cè)試日志文件存儲(chǔ)在存儲(chǔ)模塊。不同的受測(cè)設(shè)備需要測(cè)試不同的項(xiàng)目，本實(shí)用新型一體化集成了六個(gè)測(cè)試板，不但能覆蓋GJB5186.5測(cè)試規(guī)范中規(guī)定的如下測(cè)試項(xiàng)目總線連續(xù)性(屏蔽層連續(xù)性和主總線連續(xù)性除外)、特性阻抗測(cè)試、動(dòng)態(tài)故障模擬、總線衰減、冗余總線間的隔離、共模抑制、波形畸變、波形対稱(chēng)性、數(shù)據(jù)通路完整性，而且能適應(yīng)不同的受測(cè)設(shè)備。本實(shí)用新型不局限于上述實(shí)施例，基于上述實(shí)施例的、未做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的簡(jiǎn)單替換，應(yīng)當(dāng)屬于本實(shí)用新型揭露的范圍。
權(quán)利要求1.一體化MIL-STD-1553A/B電纜網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，其特征在于，包括一 CPU板、一連續(xù)性/直流電阻測(cè)試板、ー隔離度/共模噪聲測(cè)試板、ー數(shù)據(jù)通路測(cè)試板、ー衰減/対稱(chēng)性測(cè)試板、一波形畸變測(cè)試板、一特性阻抗測(cè)試板、一用于連接受測(cè)設(shè)備的子線連接板及與以上各模塊連接的VME總線，CPU板連有ー用于實(shí)現(xiàn)本測(cè)試儀與上位機(jī)連接的以太網(wǎng)接口和ー用于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述總線衰減/対稱(chēng)性測(cè)試板和所述波形畸變測(cè)試板共同連有ー顯不模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述子線連接板包括16個(gè)短截線連接器和兩個(gè)主總線端接連接器。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型涉及一體化MIL-STD-1553A/B電纜網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，包括CPU板、連續(xù)性/直流電阻測(cè)試板、隔離度/共模噪聲測(cè)試板、數(shù)據(jù)通路測(cè)試板、衰減/對(duì)稱(chēng)性測(cè)試板、波形畸變測(cè)試板、特性阻抗測(cè)試板、用于連接受測(cè)設(shè)備的子線連接板及與以上各模塊連接的VME總線，CPU板連有一用于實(shí)現(xiàn)本測(cè)試儀與上位機(jī)連接的以太網(wǎng)接口和一用于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)模塊。本實(shí)用新型一體化集成了六個(gè)功能測(cè)試板，很大程度地覆蓋了國(guó)軍標(biāo)GJB5186.5測(cè)試規(guī)范規(guī)定的測(cè)試項(xiàng)目，各測(cè)試板采用VME總線與CPU板通訊，各測(cè)試板相互獨(dú)立，其中一塊測(cè)試板壞了并不影響其他測(cè)試板測(cè)試，測(cè)試維護(hù)只需要更換不工作的測(cè)試板即可，維護(hù)簡(jiǎn)單高效。
文檔編號(hào)H04L12/26GK202395800SQ20112045246
公開(kāi)日2012年8月22日 申請(qǐng)日期2011年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月16日
發(fā)明者房樹(shù)磊 申請(qǐng)人:珠海矽微電子科技有限公司