本發(fā)明實(shí)施例一般涉及射頻(RF)測試。更具體地，本發(fā)明實(shí)施例涉及在特定頻帶中對多個(gè)設(shè)備同時(shí)進(jìn)行射頻測試的方法和裝置。

背景技術(shù)：
近來，具有RF發(fā)送/接收能力的無線設(shè)備和其它系統(tǒng)(諸如蜂窩電話和RF模塊，以及其它具有RF能力的器件(如IC)、基站、RF發(fā)送器、其它無線系統(tǒng))的數(shù)量激增已經(jīng)導(dǎo)致增加了對RF測試裝備的需要。通常被用來測試無線設(shè)備的RF功能的該測試裝備典型地通過向目標(biāo)無線設(shè)備或受測試設(shè)備發(fā)送RF測試信號(包括數(shù)據(jù)或命令)而進(jìn)行操作。受測試設(shè)備被編程以產(chǎn)生響應(yīng)的特定RF信號，并且將這些響應(yīng)信號發(fā)送回測試裝備，在測試裝備中，分析所述信號以便確定受測試設(shè)備的工作狀況。然而，目前模塊化的RF測試裝備具有多個(gè)缺點(diǎn)。例如，大多數(shù)單模塊或RF測試卡經(jīng)常在其同時(shí)掃描多個(gè)受測試設(shè)備的能力方面受到限制。而且，鑒于目前模塊化的RF測試裝備被設(shè)計(jì)用于覆蓋寬頻率范圍，因此它們承受復(fù)雜且高成本的設(shè)計(jì)。因此，RF測試過程經(jīng)常承受低處理量(throughput)以及減緩制造和檢驗(yàn)過程兩個(gè)方面，而且還承受高成本。相應(yīng)地，正在進(jìn)行的努力在于提高RF測試裝備和RF測試過程兩者的速度和質(zhì)量，并且降低裝備成本。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
本發(fā)明可以被以多種方式實(shí)現(xiàn)為例如系統(tǒng)和方法。在一個(gè)實(shí)施例中，一種用于射頻(RF)測試的系統(tǒng)包括矢量信號生成器，該矢量信號生成器具有：第一模塊，被配置為存儲測試信號的數(shù)字表示；以及多個(gè)第二模塊，每個(gè)第二模塊與第一模塊進(jìn)行電子通信以便從第一模塊接收測試信號的數(shù)字表示。每個(gè)第二模塊還被配置為從所接收的測試信號的數(shù)字表示生成RF測試信號，并且每個(gè)還被配置為將生成的RF測試信號發(fā)送給受測試設(shè)備。在另一實(shí)施例中，一種用于RF測試的系統(tǒng)包括矢量信號分析器，該矢量信號分析器具有：第一模塊，被配置為存儲從多個(gè)受測試設(shè)備的RF測試產(chǎn)生的結(jié)果信號；多個(gè)第二模塊，每個(gè)第二模塊與第一模塊進(jìn)行電子通信。每個(gè)第二模塊還被配置為從對應(yīng)的受測試設(shè)備之一接收RF測試結(jié)果信號、從所接收的RF測試結(jié)果信號生成一些結(jié)果信號，并將結(jié)果信號傳送給第一模塊。在又一實(shí)施例中，一種對多個(gè)受測試設(shè)備進(jìn)行并行RF測試的方法，包括：取得測試信號的數(shù)字表示；將測試信號的數(shù)字表示的副本(copy)傳送給多個(gè)信號生成模塊中的每一個(gè)。執(zhí)行該傳送，以便從信號生成模塊中從測試信號的數(shù)字表示生成多個(gè)RF測試信號。該方法還包括將多個(gè)RF測試信號發(fā)送給多個(gè)受測試設(shè)備。在再一實(shí)施例中，一種用于RF測試的系統(tǒng)包括矢量信號生成器，該矢量信號生成器具有第一模塊、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、RF上變換器、以及多個(gè)第二模塊。第一模塊被配置為存儲測試信號的數(shù)字表示。數(shù)模轉(zhuǎn)換器與第一模塊進(jìn)行電子通信，并且被配置為從第一模塊接收測試信號的數(shù)字表示并將測試信號的數(shù)字表示轉(zhuǎn)換為模擬信號。RF上變換器與數(shù)模轉(zhuǎn)換器進(jìn)行電子通信，以便從數(shù)模轉(zhuǎn)換器接收模擬信號，并且RF上變換器還被配置為將模擬信號上變換至所生成的RF測試信號。第二模塊中的每一個(gè)與RF上變換器進(jìn)行電子通信，以便從RF上變換器接收所生成的RF測試信號，并且每個(gè)被配置為將所生成的RF測試信號發(fā)送給受測試設(shè)備。在本發(fā)明實(shí)施例中，RF測試模塊被設(shè)計(jì)為僅僅覆蓋用于預(yù)定無線標(biāo)準(zhǔn)的那些頻率。這與如今市場上的那些被設(shè)計(jì)為覆蓋其中許多頻率未被任何商用無線標(biāo)準(zhǔn)使用的寬頻率范圍的RF測試模塊相反。用于制造商用無線設(shè)備的測試裝備僅需關(guān)注所選擇的用于商用無線標(biāo)準(zhǔn)的頻帶。結(jié)果，本發(fā)明實(shí)施例的測試裝備既更廉價(jià)又具有更高的測量質(zhì)量。在附圖中，相似參考標(biāo)記指代對應(yīng)的部分。附圖說明為了更好地理解本發(fā)明，應(yīng)參考結(jié)合附圖對以下詳細(xì)描述進(jìn)行參考，在附圖中，圖1是常規(guī)的矢量信號生成器的框圖圖示。圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例配置的矢量信號生成器的框圖圖示。圖3是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例構(gòu)造的矢量信號生成器的框圖圖示。圖4是常規(guī)的矢量信號分析器的框圖圖示。圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例配置的矢量信號分析器的框圖圖示。圖6是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例構(gòu)造的矢量信號分析器的框圖圖示。圖7圖示了被配置用于在多個(gè)不同頻帶中進(jìn)行RF測試的示例性多矢量信號生成器系統(tǒng)。圖8圖示了被配置用于在多個(gè)不同頻帶中進(jìn)行RF測試的示例性多矢量信號分析器系統(tǒng)。圖9圖示了采用本發(fā)明實(shí)施例的矢量信號生成器和矢量信號分析器的模塊化的多端口測試器。圖10圖示了目前的RF測試模塊所覆蓋的頻率范圍和各種商用無線標(biāo)準(zhǔn)所使用的頻率。圖11是根據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施例構(gòu)造的矢量信號生成器的框圖圖示。圖12是根據(jù)本發(fā)明再一實(shí)施例構(gòu)造的矢量信號生成器的框圖圖示。圖13圖示了被配置用于在多個(gè)不同頻帶中進(jìn)行RF測試的示例性多矢量信號生成器系統(tǒng)的另一實(shí)施例。在附圖中，相似參考標(biāo)記指代對應(yīng)的部分。具體實(shí)施方式在一個(gè)實(shí)施例中，本發(fā)明是采用被配置為同時(shí)對多個(gè)受測試設(shè)備進(jìn)行測試的矢量信號生成器(VSG)和矢量信號分析器(VSA)模塊或卡的系統(tǒng)。每個(gè)VSG被配置有單個(gè)控制器或存儲器、以及多個(gè)信號生成模塊。控制器同時(shí)將數(shù)字測試信號傳送到每個(gè)信號生成模塊，并且每個(gè)模塊將該數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬RF信號。以此方式，生成了多個(gè)RF測試信號，并且將其同時(shí)發(fā)送給多個(gè)受測試設(shè)備。類似地，每個(gè)VSA被配置有與單個(gè)控制器或存儲器連接的多個(gè)信號接收模塊。每個(gè)信號接收模塊從受測試設(shè)備接收RF信號，將其轉(zhuǎn)換為基帶數(shù)字信號，并且將該數(shù)字信號傳送給VSA的存儲器。單個(gè)RF測試系統(tǒng)可以采用多個(gè)這樣的VSG和VSA，每個(gè)這樣的VSG和VSA能夠評估多個(gè)受測試設(shè)備。以此方式，一個(gè)測試系統(tǒng)可以同時(shí)或者基本同時(shí)地測試多個(gè)設(shè)備，提高了RF設(shè)備測試的處理量，增加了效率，并且降低了成本。圖1是常規(guī)的VSG的框圖表示，以便通過對比來說明本發(fā)明的某些方面。典型的常規(guī)VSG以兩種方式之一配置。被示出為圖1的上部框圖的第一配置具有控制器10、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)20、RF上變換器30、一個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘40、以及功率放大器和衰減器45?？刂破?0又具有電源模塊12、存儲器14和處理器16，在該情況下，處理器16是數(shù)字信號處理器(DSP)或現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)。處理器16從存儲器10中取得測試信號的數(shù)字化表示，并將其傳送給DAC20以轉(zhuǎn)換為模擬信號，模擬信號繼而被傳送給RF上變換器30以便被上變換為RF頻譜信號。該RF信號然后被功率放大器45放大，并且被發(fā)送到受測試設(shè)備。該VSG的操作由從時(shí)鐘源40傳送到各個(gè)塊的定時(shí)或時(shí)鐘信號操控。替代地，如圖1的下部框圖所示，控制器10可以僅僅包含存儲器和存儲器控制器，而不包含單獨(dú)的處理器16。該配置與前一配置相似地起作用：從存儲器10中取得測試信號的數(shù)字表示，將其轉(zhuǎn)換為模擬信號，上變換這些模擬信號，并且將上變換器后的RF信號發(fā)送到受測試設(shè)備。注意，圖1中的兩種配置一次僅僅可以生成并發(fā)送單個(gè)RF信號，因此一次僅僅可以測試一個(gè)受測試設(shè)備，限制了整個(gè)測試過程的處理量。本發(fā)明實(shí)施例提供了對該問題的解決方案。作為一個(gè)示例，圖2是能夠用于同時(shí)RF測試多個(gè)受測試設(shè)備的示例性VSG的框圖圖示。這里，每個(gè)VSG50包括控制器塊100、多個(gè)信號生成器塊102、時(shí)鐘生成器108、基準(zhǔn)振蕩器110、以及PLL/LO生成器112。每個(gè)信號生成器塊102具有DAC104、RF上變換器106、以及RF發(fā)送器(未示出)。控制器塊100與每個(gè)信號生成器塊102的DAC104連接。而且，時(shí)鐘生成器108與每個(gè)信號生成器塊102的DAC104連接，PLL/LO生成器112與每個(gè)信號生成器塊102的RF上變換器106連接?？刂破鲏K100包括電源塊120、存儲器122、可以是FPGA的控制器124以及可以是DSP、中央處理單元CPU等的處理器126。處理器126從在存儲器122中存儲的數(shù)據(jù)生成調(diào)制的數(shù)字波形。如果處理器126足以生成數(shù)字波形，則某些配置可以不采用FPGA124?？刂破鲏K100和各個(gè)DAC104典型地通過高速串行鏈路連接。在操作上，從諸如主機(jī)計(jì)算機(jī)之類的外部源接收波形并將其置入存儲器122中，它們被從存儲器122傳送到DAC104。DAC104將每個(gè)數(shù)字波形轉(zhuǎn)換為模擬信號，該模擬信號然后被發(fā)送給其RF上變換器106。RF上變換器106以已知方式將這些模擬信號上變換至RF信號，并且將RF信號發(fā)送給功率放大器(未示出)以提升(boost)至受測試設(shè)備期望的適當(dāng)?shù)男盘柟β孰娖?。提升后的信號然后被傳送給RF發(fā)送器，以發(fā)送給對應(yīng)的受測試設(shè)備。以此方式，各個(gè)信號生成器塊102基本同時(shí)地將相同的RF測試信號發(fā)送給其受測試設(shè)備，從而并行地檢測多個(gè)設(shè)備。時(shí)鐘生成器108將時(shí)鐘信號傳送給控制器和緩沖器塊100以及DAC104，以控制其中每個(gè)的定時(shí)(即，何時(shí)以及以什么速率將信息傳遞到這些塊的每個(gè)中、以及從這些塊每個(gè)傳遞信息)，PLL/LO生成器112生成RF上變換器106在上變換中使用的本地振蕩器(LO)信號。時(shí)鐘生成器108和PLL/LO生成器112每個(gè)以已知方式操作，根據(jù)來自基準(zhǔn)振蕩器110的定時(shí)信號生成其相應(yīng)信號。本領(lǐng)域技術(shù)人員將觀察到，每個(gè)VSG50的組件可以被實(shí)現(xiàn)在單個(gè)卡、印刷電路板(PCB)或能夠承載電子裝備的任何其它基板上，并且這樣的配置對于許多應(yīng)用而言是優(yōu)選的。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員將觀察到，VSG50可以被實(shí)現(xiàn)為任何數(shù)量的單獨(dú)的卡、板或基板。此外，每個(gè)VSG50可以包括任何數(shù)量的信號生成器塊102。具體地，每個(gè)信號生成器塊102一次可以測試一個(gè)受測試設(shè)備，因此添加多個(gè)信號生成器塊102允許每個(gè)VSG50同時(shí)測試多個(gè)設(shè)備。設(shè)想任何數(shù)量的信號生成器塊102，這樣的塊102的數(shù)量僅僅受到諸如(多個(gè))VSG50卡上的空間、數(shù)據(jù)處理量、受測試設(shè)備的數(shù)量等等約束條件的限制。圖3圖示了本發(fā)明設(shè)想的VSG的另一配置。除了控制器100被存儲器塊200替代之外，圖3的VSG60類似于圖2的VSG50。存儲器塊200不具有控制器100的FPGA124和DSP/CPU126塊，而代之僅僅被編程來存儲從外部源接收的波形并且在激勵(lì)(prompt)時(shí)將它們同時(shí)分發(fā)到每個(gè)信號生成器塊102的DAC104。每個(gè)信號生成器塊102然后與上面類似地起作用，將其接收的數(shù)字波形轉(zhuǎn)換為模擬信號，將模擬信號上變換至RF測試信號，并且將該測試信號廣播到受測試設(shè)備。以此方式，圖3的VSG60可以被看作VSG50的更簡化的版本，具有簡化的存儲器塊200而不是更完整的功能控制器100。該簡化的存儲器比控制器100包含更少的組件，有利于更簡單且更廉價(jià)的VSG。另外，該簡化的存儲器塊200可以比控制器100更小，允許VSG60被制作得更小且更緊湊。圖2和圖3中的VSG50、VSG60配置給予了顯著優(yōu)點(diǎn)。具體地，VSG50、VSG60給予了同時(shí)或者基本同時(shí)對多個(gè)受測試設(shè)備進(jìn)行RF測試的能力，因此增加了RF測試過程的處理量和效率，并且降低了總成本。這些VSG配置還提供更一致的RF測試性能。更具體地，由于常規(guī)VSG每個(gè)一次僅僅能夠測試單個(gè)設(shè)備，因此經(jīng)常采用多個(gè)這樣的VSG來增加RF測試處理量。然而，每個(gè)不同的VSG具有不同的硬件，造成了所生成的RF測試信號的差異(variation)。具體地，每個(gè)常規(guī)VSG具有其自己的數(shù)字部分(控制器和DAC)，具有其自己單獨(dú)的時(shí)鐘、電源電路等等，并且因此具有其自己的信號生成狀況，諸如固有噪聲電平(noisefloor)。因此，即使提供相同的數(shù)字波形作為輸入，每個(gè)常規(guī)VSG之間硬件的差異導(dǎo)致各個(gè)VSG生成稍有不同的RF測試信號。上面描述的VSG50、VSG60通過對于每個(gè)信號生成器塊102使用相同的數(shù)字部分避免了該問題，由此降低或消除了向每個(gè)生成器塊102傳送的數(shù)字信號的任何差異。相應(yīng)地，圖2和圖3的VSG配置比常規(guī)VSG生成了更一致的RF測試信號。還應(yīng)注意，每個(gè)信號生成器塊102可以將其RF測試信號發(fā)送至任何期望目標(biāo)。因此，例如，每個(gè)信號生成器塊102可以將其信號發(fā)送至不同的受測試設(shè)備。替代地，每個(gè)塊102可以將其信號發(fā)送至相同的受測試設(shè)備，或者多個(gè)塊102中的不同子集中每個(gè)子集可以將其信號發(fā)送至不同的設(shè)備，而任何特定子集中的塊102每個(gè)將其信號發(fā)送至相同的設(shè)備。本發(fā)明實(shí)施例除了包含上述VSG之外，還包含VSA。與VSG一樣，首先描述常規(guī)VSA，然后對照地描述本發(fā)明實(shí)施例的各種VSA。圖4是常規(guī)VSA的框圖表示。典型的常規(guī)VSA以兩種方式之一配置。被示出為圖4的上部框圖的第一配置具有控制器310、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)320、RF下變換器330、以及一個(gè)或多個(gè)時(shí)鐘340。控制器310又具有電源模塊312、存儲器314和處理器316，處理器316可以是DSP或FPGA。受測試設(shè)備發(fā)送的RF信號被RF下變換器330接收，被下變換為基帶信號，并且被傳送至ADC320。ADC320將模擬基帶信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并將其傳送到DSP/FPGA316用于存儲在存儲器314中以進(jìn)行數(shù)字處理和隨后的存儲。在期望時(shí)，可以取得所存儲的數(shù)字信號并將其傳送至另一處理器(諸如主機(jī)計(jì)算機(jī))以供分析。該VSA的操作由從時(shí)鐘源340傳送到各個(gè)塊的定時(shí)或時(shí)鐘信號操控。替代地，如圖4的下部框圖所示，控制器可以僅僅是存儲器和存儲器控制器310，而不包含另外的處理器316。該配置與前一配置相似地起作用：接收RF測試信號，將其下變換至基帶信號并將這些基帶信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)以存儲在存儲器310中?？梢杂^察到，圖4的VSA一次僅僅可以從單個(gè)設(shè)備接收RF信號，限制了RF測試處理量和速度。相對照，本發(fā)明實(shí)施例的VSA允許同時(shí)測試多個(gè)設(shè)備。圖5是包含根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例構(gòu)造的VSA70的進(jìn)一步細(xì)節(jié)的框圖圖示。VSA70具有與多個(gè)信號接收塊402連接的控制器塊400、以及時(shí)鐘生成器408、基準(zhǔn)振蕩器410、PLL/LO生成器412。每個(gè)信號接收塊402具有ADC404、RF下變換器406、以及RF天線或接收器(未示出)。控制器塊400具有電源模塊420、存儲器422、FPGA或其它控制器424、以及DSP/CPU426。FPGA424和DSP/CPU426處理所接收的數(shù)據(jù)，典型地包括可應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)的物理層的實(shí)時(shí)解調(diào)。在一些實(shí)施例中，不需要FPGA424，可以由DSP/CPU426本身執(zhí)行處理功能。在操作上，每個(gè)信號接收塊402通過其RF接收器從受測試設(shè)備接收RF信號，并且將所接收的RF信號傳送至RF下變換器406。RF下變換器406將RF信號下變換至基帶信號，基帶信號被傳遞給ADC404并被轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。該數(shù)字信號是受測試設(shè)備響應(yīng)于由VSG(諸如VSG50、VSG60)向該設(shè)備傳送的RF測試信號而發(fā)送的數(shù)據(jù)的數(shù)字化表示。該數(shù)字測試數(shù)據(jù)然后被傳送給控制器400，其將該測試數(shù)據(jù)組裝至期望格式并將組裝后的數(shù)據(jù)存儲在存儲器422中。時(shí)鐘生成器408將時(shí)鐘信號傳送至每個(gè)ADC404以控制其定時(shí)，而PLL/LO生成器412生成用于下變換的LO信號并將該LO信號傳送給每個(gè)RF下變換器406。基準(zhǔn)振蕩器410生成基準(zhǔn)定時(shí)信號并將其傳送給時(shí)鐘生成器408以及PLL/LO生成器412兩者，從而操控它們相應(yīng)時(shí)鐘和LO信號的定時(shí)。圖6圖示了本發(fā)明設(shè)想的VSA的另一配置。除了控制器400被存儲器塊500替代之外，圖6的VSA80類似于圖5的VSA70。存儲器塊500不具有控制器400的FPGA424和DSP/CPU426塊，而代之僅僅被編程來存儲其從信號接收塊402的ADC404接收的數(shù)字化測試數(shù)據(jù)并且在激勵(lì)時(shí)將該數(shù)據(jù)傳送給主機(jī)處理器或其它外部目的地。每個(gè)信號接收塊402與上面類似地起作用：接收RF測試信號，將RF測試信號下變換至基帶信號，以及將基帶信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號以存儲在存儲器塊500中。以此方式，圖6的VSA80可以被看作VSA70的更簡化的版本，具有簡化的存儲器塊500而不是更完整的功能控制器400。該簡化的存儲器比控制器400包含更少的組件，有利于更簡單且更廉價(jià)的VSA。另外，該簡化的存儲器塊500可以比控制器400更小，允許VSA80被制作得更小且更緊湊。上述的VSA70、VSA80的配置在允許對多于一個(gè)受測試設(shè)備同時(shí)進(jìn)行測試方面是有利的。如上，使用多個(gè)并行的信號接收塊402意味著VSA70、VSA80每個(gè)可以同時(shí)從多個(gè)受測試設(shè)備接收RF信號。本領(lǐng)域技術(shù)人員將觀察到，像VSG50、VSG60一樣，每個(gè)VSA70、VSA80的組件可以被實(shí)現(xiàn)在單個(gè)卡、PCB或能夠承載電子裝備的任何其它基板上。替代地，每個(gè)VSA70也可以被實(shí)現(xiàn)為任何數(shù)量的單獨(dú)的卡。此外，每個(gè)VSA70、VSA80可以包括任何數(shù)量的信號接收塊402，并且由于每個(gè)信號接收塊402一次可以從一個(gè)受測試設(shè)備接收信號，因此添加多個(gè)信號接收塊402允許每個(gè)VSA70、VSA80同時(shí)從多個(gè)設(shè)備接收測試信號。設(shè)想任何數(shù)量的信號接收塊402，這樣的塊402的數(shù)量僅僅受到諸如(多個(gè))VSA70和VSA80卡上的空間、數(shù)據(jù)處理量、受測試設(shè)備的數(shù)量等等約束條件的限制。因此，由于設(shè)想任何數(shù)量的VSG卡50、60和任何數(shù)量的VSA卡70、80，每個(gè)卡50、60、70、80可以繼而包括用于測試多個(gè)設(shè)備的塊102、402，所以并入這些卡50、60、70、80的RF測試器能夠并行測試任何數(shù)量的RF設(shè)備。另外，多個(gè)VSG和VSA每個(gè)可以被優(yōu)化而在相對窄的頻帶中進(jìn)行廣播和接收，其中這些頻帶可以對應(yīng)于不同的無線標(biāo)準(zhǔn)，這些標(biāo)準(zhǔn)可以具有不同的RF要求(諸如帶寬、調(diào)制機(jī)制等等)。這將允許VSG和VSA的各個(gè)組件被設(shè)計(jì)為僅僅在更窄的更多特定的頻帶中利用用于具體無線標(biāo)準(zhǔn)的特定技術(shù)規(guī)范最優(yōu)地操作，這繼而進(jìn)一步降低了它們的成本。具體地，被設(shè)計(jì)為在寬頻率范圍上操作的VSA(諸如圖10所示的用于常規(guī)測試模塊的VSA)經(jīng)常要求生產(chǎn)成本昂貴的組件。例如，寬帶VSA要求諸如能夠覆蓋寬頻率范圍的低噪聲放大器(LNA)之類的組件。這樣的寬帶LNA是昂貴的但在常規(guī)上被認(rèn)為是期望的，這是由于常規(guī)思想期望在寬頻率范圍上對測試設(shè)備具有靈活性的寬帶RF測試裝備。與此相反，本發(fā)明實(shí)施例采用具有被設(shè)計(jì)用于更窄的指定頻帶(諸如圖10的頻率軸上所示的頻帶)的組件的VSA和VSG。這些組件顯然更廉價(jià)(有時(shí)比對應(yīng)的寬帶組件便宜5到10倍)，導(dǎo)致了更廉價(jià)的VSA/VSG。返回上面的VSA示例，常規(guī)的寬帶VSA要么采用單個(gè)昂貴的寬帶LNA，要么將每個(gè)覆蓋不同的頻率范圍的多個(gè)窄帶LNA串起來，從而合起來覆蓋寬頻率范圍。如果要僅在特定的窄頻帶中進(jìn)行測試，則所產(chǎn)生的VSA不一定那么昂貴。因此，本發(fā)明實(shí)施例采用例如以下VSA，該VSA被設(shè)計(jì)為僅在指定的更窄頻率范圍中進(jìn)行測試、并且采用諸如僅被設(shè)計(jì)用于該更窄頻率范圍的窄帶LNA之類的組件。這樣的VSA顯然比寬帶VSA廉價(jià)。另外，由于各個(gè)組件針對其窄帶內(nèi)的性能而優(yōu)化，因此與通常的寬帶VSA相比，所產(chǎn)生的VSA在其頻率范圍內(nèi)展示了優(yōu)秀的性能。相應(yīng)地，并入了這種無線標(biāo)準(zhǔn)、窄帶和無線標(biāo)準(zhǔn)特定的VSG和VSA的RF測試系統(tǒng)可以提供更低成本和更高精度的RF測試能力。而且，窄帶設(shè)計(jì)大大簡化了硬件設(shè)計(jì)和組件的數(shù)量，這是由于VSG/VSA僅僅需要針對窄頻率范圍而不是在寬帶范圍的良好性能而設(shè)計(jì)。組件的減少節(jié)省了板上空間，進(jìn)一步允許在標(biāo)準(zhǔn)尺寸模塊化的VSA/VSG卡的印刷電路板上具有多個(gè)端口。圖7和圖8分別圖示了被配置用于在多個(gè)不同頻帶中進(jìn)行RF測試和用于特定無線標(biāo)準(zhǔn)的示例性多VSG和多VSA系統(tǒng)。如這些圖所示，RF測試器可以包括n個(gè)不同的VSG60，所述n個(gè)VSG60中的每一個(gè)被設(shè)計(jì)為僅在用于具有具體技術(shù)要求的某些無線標(biāo)準(zhǔn)的、特定的窄頻帶或頻帶組中生成并傳送RF測試信號。例如，所述n個(gè)VSG60中的一個(gè)VSG60可以被設(shè)計(jì)為在WiFi、GPS和藍(lán)牙頻帶中生成并傳送RF測試信號，而所述n個(gè)VSG60中的另一個(gè)VSG60可以被設(shè)計(jì)為在一個(gè)或多個(gè)其它頻帶中生成并傳送RF測試信號。各個(gè)VSG60可以被設(shè)計(jì)用于任何一個(gè)或多個(gè)頻帶，包括全球定位系統(tǒng)(GPS)、第三代移動(dòng)電信(3G)、長期演進(jìn)(LTE)、高級LTE、以及碼分多址(CDMA)頻帶。以類似方式，示例性RF測試器還可以包括n個(gè)不同的VSA80，所述n個(gè)VSA80中的每一個(gè)被設(shè)計(jì)為在某些預(yù)定窄頻帶中接收并處理RF信號。例如，所述n個(gè)VSA80中的一個(gè)或多個(gè)可以被設(shè)計(jì)為在以上任何的頻帶和無線標(biāo)準(zhǔn)中接收和處理(即，下變換)RF測試信號。因此可以被設(shè)置這樣的配置來在多個(gè)不同的RF頻帶和無線標(biāo)準(zhǔn)中測試多個(gè)不同的受測試設(shè)備。本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到，盡管圖7和圖8示出了利用VSG60和VSA80的多VSA和多VSG配置，然而其它實(shí)施例可以采用其它的VSA和VSG，諸如VSG50和VSA70的陣列。本領(lǐng)域技術(shù)人員還將認(rèn)識到，這樣的系統(tǒng)可以采用任何數(shù)量的VSG/VSA，每個(gè)被調(diào)諧到或被設(shè)計(jì)用于任何期望頻帶和無線標(biāo)準(zhǔn)，包括任何以上頻帶、或者任何其它期望頻帶和/或任何無線標(biāo)準(zhǔn)。上述RF測試系統(tǒng)可以是被配置為操作本發(fā)明的多對VSG和VSA卡的任何系統(tǒng)。圖9圖示了采用本發(fā)明實(shí)施例的VSG和VSA的示例性的這種模塊化多端口測試器。RF測試系統(tǒng)600被配置為對多個(gè)受測試設(shè)備進(jìn)行RF測試，并且包括VSG/VSA卡模塊602和主機(jī)計(jì)算機(jī)606。模塊602可以是機(jī)架或具有可以連接任何數(shù)量的VSG60和VSA80卡對的接口和總線電路的其它已知的計(jì)算機(jī)外設(shè)安裝裝置。主機(jī)計(jì)算機(jī)606然后可以如上指導(dǎo)(direct)這些卡來測試受測試設(shè)備(DUT)604。具體地，主機(jī)計(jì)算機(jī)606可以將測試信號的數(shù)字表示傳送給VSG60，在VSG60中，測試信號的數(shù)字表示被存儲在存儲器中。主機(jī)計(jì)算機(jī)606然后可以指示VSG60開始RF測試，由此VSG60從其存儲器中取得數(shù)字化的測試波形，將其轉(zhuǎn)換為模擬信號，將其上變換為RF信號，并將RF信號發(fā)送至DUT604。DUT604通過發(fā)送響應(yīng)的預(yù)編程的RF信號來進(jìn)行相應(yīng)，VSA80接收該RF信號，將其下變換為基帶信號，轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并將其存儲在它們的相應(yīng)存儲器中。所存儲的測試數(shù)據(jù)然后被傳送給主機(jī)計(jì)算機(jī)606以供分析?？梢宰⒁獾剑總€(gè)信號生成器塊102包括DAC104和RF上變換器106。因此通過采用公共的DAC和RF上變換器，而不是每個(gè)塊102一個(gè)DAC和RF上變換器，可以實(shí)現(xiàn)其它優(yōu)點(diǎn)。圖11是根據(jù)這樣的實(shí)施例構(gòu)造的矢量信號生成器的框圖圖示。這里，矢量信號生成器700包括控制器塊702、DAC704、RF上變換器706和多個(gè)功率放大器708，還包括基準(zhǔn)時(shí)鐘710、時(shí)鐘生成器712、和PLL/LO生成器714。控制器塊702與DAC704連接，并且包括電源塊720、存儲器722、控制器724(其可以是FPGA)、和處理器726(其可以是DSP、CPU等)。而且，時(shí)鐘生成器712與DAC704連接，PLL/LO生成器714與RF上變換器706連接。電源塊720、存儲器722、控制器724、和DSP/CPU726以與圖2的控制器塊100中的對應(yīng)組件相似的方式操作。即，處理器726從在存儲器722中存儲的數(shù)據(jù)中生成調(diào)制的數(shù)字波形。如同圖2的實(shí)施例，如果處理器726足以生成數(shù)字波形，則某些配置可以不采用FPGA724。除了采用公共DAC704和RF上變換器706之外，矢量信號生成器700的操作類似于VSG50的操作。具體地，從諸如主機(jī)計(jì)算機(jī)之類的外部源接收波形并將其存儲在存儲器722中，DSP/CPU726從存儲器722中取得所述波形。DSP/CPU726從所存儲的數(shù)據(jù)構(gòu)造數(shù)字信號，并將其傳送給DAC704。DAC704然后將數(shù)字波形轉(zhuǎn)換為模擬信號，其然后被傳送給RF上變換器706。RF上變換器706以已知方式將該模擬信號上變換為RF信號，并且將RF信號傳送給多個(gè)功率放大器708，功率放大器708將RF信號提升至受測試設(shè)備期望的適當(dāng)信號功率電平。提升后的信號然后被傳送給RF發(fā)送器(未示出)，以發(fā)送給對應(yīng)的受測試設(shè)備。以此方式，各個(gè)功率放大器708基本同時(shí)將相同的RF測試信號發(fā)送給其受測試設(shè)備，從而并行地檢測多個(gè)設(shè)備。時(shí)鐘生成器712將時(shí)鐘信號傳送給控制器塊702以及DAC704以控制其中每一個(gè)的定時(shí)，PLL/LO生成器714生成RF上變換器706在上變換中使用的本地振蕩器(LO)信號。時(shí)鐘生成器712和PLL/LO生成器714中每一個(gè)以已知方式操作，根據(jù)來自基準(zhǔn)時(shí)鐘710的定時(shí)信號生成其各自的信號。如同之前實(shí)施例的VSG，每個(gè)VSG700的組件可以被實(shí)現(xiàn)在單個(gè)卡、PCB或能夠承載電子裝備的任何其它基板上，或者可以被實(shí)現(xiàn)在任何數(shù)量的單獨(dú)的卡、板或基板上。此外，每個(gè)VSG700可以包括任何數(shù)量的功率放大器708，使得每個(gè)VSG700可以同時(shí)測試多個(gè)設(shè)備。設(shè)想任何數(shù)量的功率放大器708，這樣的功率放大器708的數(shù)量僅僅受到諸如(多個(gè))VSG700卡上的空間、數(shù)據(jù)處理量、受測試設(shè)備的數(shù)量等等約束條件的限制。圖12圖示了本發(fā)明設(shè)想的VSG的另一配置。除了控制器702被存儲器塊802替代之外，圖12的VSG800類似于圖11的VSG700。存儲器塊802不具有控制器702的FPGA724和DSP/CPU726塊，而代之僅僅被編程來存儲從外部源接收的波形并且在激勵(lì)時(shí)將它們傳送給DAC704。VSG800的其余部分則與上面類似地起作用：將其接收的數(shù)字波形轉(zhuǎn)換為模擬信號，將模擬信號上變換至RF測試信號，并且將該測試信號廣播到多個(gè)受測試設(shè)備。以此方式，圖12的VSG800可以被看作VSG700的更簡化的版本，具有簡化的存儲器塊802而不是更完整的功能控制器702。該簡化的存儲器比控制器702包含更少的組件，有利于更簡單且更廉價(jià)的VSG。另外，該簡化的存儲器塊802可以比控制器702更小，允許VSG800被制作得更小且更緊湊。通過為每個(gè)功率放大器708采用單個(gè)DAC704和單個(gè)RF上變換器706，該實(shí)施例確保相同信號被傳送給每個(gè)功率放大器708并且使用相同的硬件平臺來生成每個(gè)信號。與之前實(shí)施例相比，圖11－12的實(shí)施例因此允許甚至更小的信號間差異。圖11－12的實(shí)施例還允許進(jìn)一步節(jié)省成本，這是因?yàn)閮H僅采用單個(gè)DAC704和RF上變換器706，而不是對于每個(gè)信號生成模塊102具有一個(gè)DAC704和RF上變換器706。與圖7類似，測試系統(tǒng)可以采用多個(gè)VSG700、VSG800，如圖13所示。如圖7那樣，圖13所示的RF測試器可以包括n個(gè)不同的VSG700或800。此外，所述n個(gè)VSG700/800中的每一個(gè)可以被設(shè)計(jì)為僅在可能對應(yīng)于具有具體技術(shù)要求的某些無線標(biāo)準(zhǔn)的特定的窄頻帶或頻帶組中生成并傳送RF測試信號。另外，每個(gè)功率放大器708可以將其信號發(fā)送至相同的受測試設(shè)備，或者多個(gè)功率放大器708中的不同子集中的每個(gè)子集可以將其信號發(fā)送至不同的設(shè)備，而任何具體子集中的功率放大器708將其信號發(fā)送至相同的設(shè)備。本發(fā)明的上述實(shí)施例給予顯著優(yōu)點(diǎn)。例如，應(yīng)注意，本發(fā)明的VSG和VSA比常規(guī)設(shè)備廉價(jià)得多并產(chǎn)生更好的結(jié)果。由于VSG和VSA的各個(gè)組件被優(yōu)化用于特定頻率范圍，因此VSG/VSA本身進(jìn)行更高質(zhì)量的測試(例如，具有更低噪聲、更好的精度等等)。此外，這樣的VSG/VSA表現(xiàn)了顯著的成本節(jié)省，足以使得在單個(gè)系統(tǒng)中采用多個(gè)VSG/VSA允許該系統(tǒng)有效地覆蓋寬范圍的頻率而仍花費(fèi)比單個(gè)常規(guī)寬帶VSG/VSA更低的成本。這些多個(gè)VSG/VSA給予了能夠同時(shí)測試多個(gè)受設(shè)備的附加優(yōu)點(diǎn)，而單個(gè)常規(guī)VSG/VSA一次僅僅能夠測試一個(gè)設(shè)備。本發(fā)明實(shí)施例因此允許以更高精度實(shí)現(xiàn)更高RF測試處理量，同時(shí)更廉價(jià)。前述描述為了說明的目的采用了特定命名以便提供對本發(fā)明的全面理解。然而，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言，顯然為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明可能不需要特定細(xì)節(jié)。因此，為了說明和描述的目的而呈現(xiàn)本發(fā)明的特定實(shí)施例的前述描述。它們不意圖是窮舉性的或?qū)⒈景l(fā)明限制到所公開的確切形式。考慮以上教導(dǎo)，許多修改和變更是可能的。例如，本發(fā)明實(shí)施例的RF測試裝置可以包括任何數(shù)量的VSG50、60以及任何數(shù)量的VSA70、80。繼而，每個(gè)VSG50、60可以包括任何數(shù)量的信號生成器塊102，每個(gè)VSA70、80可以包括任何數(shù)量的信號接收塊402，使得可以分析任何數(shù)量的受測試設(shè)備。另外，VSG50、60和VSA70、80可以被設(shè)計(jì)用于在任何不同無線標(biāo)準(zhǔn)的任何離散或定義的頻帶中進(jìn)行RF信號的廣播/接收，包括這里提及的那些、以及任何其它頻帶和無線標(biāo)準(zhǔn)。而且，各實(shí)施例每個(gè)具有不同于其它實(shí)施例的某些特征，并且注意到本發(fā)明設(shè)想了按需要而混合和匹配各個(gè)特征。也就是說，可以從來自不同實(shí)施例的各個(gè)特征中進(jìn)行選擇以形成其它實(shí)施例。為了更好地解釋本發(fā)明原理及其實(shí)際應(yīng)用而選擇并描述了實(shí)施例，由此使得本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠更好地利用本發(fā)明以及具有適合于所設(shè)想的具體用途的各種修改的各種實(shí)施例。