專利名稱：用于減小路徑損耗的方法和設(shè)備的制作方法
用于減小路徑損耗的方法和設(shè)備
背景技術(shù)：
本申請(qǐng)一般涉及測(cè)試電子設(shè)備，并且更具體地，涉及測(cè)試包括多個(gè)天線的電子設(shè)備。電子設(shè)備通常包含無(wú)線通信電路。例如，設(shè)備可以使用2. 4GHz和5. OGHz的W1-Fi (IEEE 802. 11)頻帶進(jìn)行通信。在蜂窩電話電信頻帶和其它射頻頻帶中，無(wú)線通信也是可能的。在諸如天線分集方案之類的方案中，電子設(shè)備可以使用具有多個(gè)天線的陣列來(lái)處理無(wú)線通信。當(dāng)大量制造這樣類型的多天線無(wú)線設(shè)備時(shí)，可以使用射頻測(cè)試站來(lái)評(píng)估每個(gè)設(shè)備上的無(wú)線通信電路的性能，以確保每個(gè)設(shè)備滿足設(shè)計(jì)準(zhǔn)則。射頻測(cè)試站通常包括測(cè)試主機(jī)、測(cè)試器(例如，信號(hào)生成器)以及具有測(cè)試天線的電磁屏蔽測(cè)試外殼。信號(hào)生成器連接到測(cè)試主機(jī)。以這種方式進(jìn)行布置，在產(chǎn)品測(cè)試期間，測(cè)試主機(jī)將信號(hào)生成器配置成經(jīng)由電磁屏蔽測(cè)試外殼的測(cè)試天線向相應(yīng)的被測(cè)電子設(shè)備(DUT)發(fā)送射頻信號(hào)。在傳統(tǒng)的射頻測(cè)試布置中，將只具有一個(gè)天線的無(wú)線DUT放置在電磁屏蔽測(cè)試外殼中。測(cè)試主機(jī)指導(dǎo)信號(hào)生成器向DUT廣播下行鏈路測(cè)試信號(hào)(B卩，信號(hào)生成器使用屏蔽測(cè)試外殼中的測(cè)試天線向DUT輻射測(cè)試信號(hào))。DUT可以使用其天線來(lái)接收下行鏈路測(cè)試信號(hào)。DUT可以被配置成分析所接收到的下行鏈路測(cè)試信號(hào)，并確定其無(wú)線通信電路是否滿足性能準(zhǔn)則。例如，DUT可以基于所接收到的下行鏈路信號(hào)來(lái)計(jì)算接收功率電平。如果接收功率電平小于預(yù)定閾值，則將DUT標(biāo)記為通過(guò)的DUT。如果接收功率電平大于預(yù)定閾值，則將DUT標(biāo)記為失敗的DUT。
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以這種方式測(cè)試多天線設(shè)備可能不適合測(cè)試至少包含第一天線和第二天線的DTU，并且可能產(chǎn)生不正確的結(jié)果，這是因?yàn)閭鹘y(tǒng)的測(cè)試方法將DUT固定在電磁屏蔽測(cè)試外殼內(nèi)的固定位置。如果在該固定位置中，將第一天線放置得更接近測(cè)試天線，那么測(cè)量結(jié)果可能偏向第一天線(即，測(cè)試結(jié)果對(duì)于第一天線可能更正確，但是對(duì)于第二天線可能不太正確)。如果在該固定位置中，將第二天線放置得更接近測(cè)試天線，那么測(cè)量結(jié)果可能偏向第二天線(即，測(cè)試結(jié)果對(duì)于第二天線可能更正確，而對(duì)于第一天線可能不太正確)。還存在以下情況至少兩個(gè)天線與測(cè)試天線的距離相同，但是由于極化，與另一天線相比，設(shè)備的朝向有利于一個(gè)天線。因此，可能希望提供用于在生產(chǎn)環(huán)境中測(cè)試具有多個(gè)天線的電子設(shè)備的改善方式。

發(fā)明內(nèi)容
可以使用射頻測(cè)試系統(tǒng)中的測(cè)試站來(lái)對(duì)均至少具有第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)的被測(cè)無(wú)線設(shè)備(DUT)執(zhí)行射頻測(cè)試。每個(gè)測(cè)試站可以包括測(cè)試主機(jī)、測(cè)試單元(例如，頻譜分析器、向量網(wǎng)絡(luò)分析器、信號(hào)生成器等)以及測(cè)試外殼(例如，橫電磁室)。可以將諸如電感耦合器之類的測(cè)試天線放置在測(cè)試外殼內(nèi)，用以使用近場(chǎng)通信機(jī)制向DUT輻射射頻測(cè)試信號(hào)以及從DUT接收射頻測(cè)試信號(hào)。在測(cè)試之前，可以對(duì)參考DUT進(jìn)行校準(zhǔn)以確定在測(cè)試外殼內(nèi)的最佳DUT朝向。例如，可以在使得第一天線結(jié)構(gòu)與測(cè)試天線之間的射頻信號(hào)路徑損耗最小化的校準(zhǔn)操作期間確定第一 DUT朝向(例如，將與第一天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的主要電場(chǎng)極化和磁場(chǎng)同與測(cè)試天線相關(guān)聯(lián)的主要電場(chǎng)極化對(duì)齊的第一 DUT朝向)。可以在使得第二天線結(jié)構(gòu)與測(cè)試天線之間的路徑損耗最小化的校準(zhǔn)操作期間確定第二 DUT朝向(例如，將與第二天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的主要電場(chǎng)極化同與測(cè)試天線相關(guān)聯(lián)的主要電場(chǎng)極化對(duì)齊的第二 DUT朝向)。—旦確定了第一和第二朝向，就可以將產(chǎn)品DUT放置在相應(yīng)的測(cè)試固定裝置中，并將其插入到測(cè)試外殼(例如，諸如橫電磁室、測(cè)試箱等之類的屏蔽外殼)中。測(cè)試固定裝置可以由諸如DUT旋轉(zhuǎn)器之類的定位器支撐。DUT旋轉(zhuǎn)器可以用于使DUT圍繞期望軸旋轉(zhuǎn)/傾斜/轉(zhuǎn)動(dòng)，或者可以用于垂直地/水平地移動(dòng)DUT，以將DUT放置在測(cè)試外殼內(nèi)的不同朝向。例如，在測(cè)試第一天線結(jié)構(gòu)的性能時(shí)，DUT旋轉(zhuǎn)器可以將DUT定位在使第一天線結(jié)構(gòu)與測(cè)試天線之間的路徑損耗最小化的第一 DUT朝向。當(dāng)正在測(cè)試第一天線結(jié)構(gòu)時(shí)，第二天線結(jié)構(gòu)可以被切出使用。隨后在測(cè)試第二天線結(jié)構(gòu)的性能時(shí)，DUT旋轉(zhuǎn)器可以將DUT定位在使第二天線結(jié)構(gòu)與測(cè)試天線之間的路徑損耗最小化的第二 DUT朝向。當(dāng)正在測(cè)試第二天線結(jié)構(gòu)時(shí)，第一天線結(jié)構(gòu)可以被切出使用。當(dāng)測(cè)試單元向DUT主動(dòng)地輻射射頻測(cè)試信號(hào)并對(duì)從DUT接收到的相應(yīng)信號(hào)執(zhí)行測(cè)量時(shí)，可以固定DUT的位置。根據(jù)使用測(cè)試單元收集的測(cè)試結(jié)果，可以將DUT標(biāo)記為通過(guò)的DUT或失敗的DUT。例如，如果第一和第二天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試數(shù)據(jù)都是令人滿意的，那么可以將DUT標(biāo)記為通過(guò)的DUT。如果第一和第二天線結(jié)構(gòu)中的至少一個(gè)的測(cè)試數(shù)據(jù)不能滿足設(shè)計(jì)準(zhǔn)則，則可以將DUT標(biāo)記為失敗的DUT。失敗的DUT可以返回重做，或者可以廢棄。根據(jù)附圖和以下詳細(xì)描述，本發(fā)明的其它特征、其特性和各種優(yōu)點(diǎn)將更加明顯。


圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的包括可以被測(cè)試的多個(gè)天線的類型的示例性電子設(shè)備的透視圖。圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的在圖1中所示的類型的示例性電子設(shè)備的俯視圖。圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的包括被測(cè)設(shè)備旋轉(zhuǎn)器的示例性測(cè)試站的圖。圖4A和4B是不出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例可以如何使被測(cè)設(shè)備圍繞與測(cè)試室的底座垂直的軸旋轉(zhuǎn)的側(cè)視圖，其中在測(cè)試室中正在測(cè)試該被測(cè)設(shè)備。圖5和圖6是示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例可以如何使被測(cè)設(shè)備圍繞平行于測(cè)試室的底座的軸旋轉(zhuǎn)的側(cè)視圖，其中在測(cè)試室中正在測(cè)試該被測(cè)設(shè)備。圖7是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例使用結(jié)合圖3所示的類型的測(cè)試站來(lái)測(cè)試被測(cè)設(shè)備所涉及的示例性步驟的流程圖。
具體實(shí)施例方式可以給電子設(shè)備提供無(wú)線通信電路。無(wú)線通信電路可以用于支持多個(gè)無(wú)線通信頻帶中的無(wú)線通信。無(wú)線通信電路可以包括被布置成實(shí)現(xiàn)天線分集系統(tǒng)的多個(gè)天線。
天線可以包括環(huán)形天線、倒F天線、帶狀天線、平面倒F天線、槽孔天線、包括多于一個(gè)類型的天線結(jié)構(gòu)的混合天線、或者其它適當(dāng)?shù)奶炀€。天線的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)可以由導(dǎo)電電子設(shè)備結(jié)構(gòu)形成，例如導(dǎo)電殼體結(jié)構(gòu)，襯底上的跡線(諸如塑料、玻璃或陶瓷襯底上的跡線、柔性印刷電路板(“柔性電路”)上的跡線、剛性印刷電路板(例如，填充玻璃纖維的環(huán)氧板)上的跡線)，被圖形化的金屬箔的多個(gè)部分、導(dǎo)線、導(dǎo)體帶、其它導(dǎo)電結(jié)構(gòu)、或者由這些結(jié)構(gòu)的組合形成的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)。在圖1中示出了可以被提供一個(gè)或多個(gè)天線的類型的示例性電子設(shè)備。電子設(shè)備10可以是便攜式電子設(shè)備或其它適當(dāng)?shù)碾娮釉O(shè)備。例如，電子設(shè)備10可以是膝上型計(jì)算機(jī)，平板計(jì)算機(jī)，諸如腕表設(shè)備、吊墜設(shè)備、耳機(jī)設(shè)備、聽(tīng)筒設(shè)備或其它可佩戴或小型設(shè)備之類的稍微較小的設(shè)備，蜂窩電話、媒體播放器等。設(shè)備10可以包括諸如殼體12之類的殼體。殼體12有時(shí)可以稱為箱體，可以由塑料、玻璃、陶瓷、纖維組合物、金屬(例如不銹鋼、鋁等)、其它適當(dāng)材料或這些材料的組合來(lái)形成。在一些情況中，殼體12的多個(gè)部分可以由電介質(zhì)或其它低導(dǎo)電性材料形成。在其它情況中，殼體12或者組成殼體12的結(jié)構(gòu)中的至少一些可以由金屬元素形成。如果希望的話，設(shè)備10可以具有諸如顯示器14之類的顯示器。顯示器14可以例如是包含電容式觸摸電極的觸摸屏。顯示器14可以包括由發(fā)光二極管(LED)、有機(jī)LED(0LED)、等離子光電元件、電子墨水元件、液晶顯示(IXD)組件或其它適當(dāng)?shù)膱D像像素結(jié)構(gòu)形成的圖像像素。蓋玻片層可以覆蓋顯示器14的表面。顯示器14的多個(gè)部分，例如外圍區(qū)域201，可以是不活動(dòng)的，并且可以不具有圖像像素結(jié)構(gòu)。顯示器14的多個(gè)部分，例如矩形中心部分20A (以虛線20為邊界)，可以與顯示器14的活動(dòng)部分相對(duì)應(yīng)。在活動(dòng)的顯示區(qū)域20A中，可以使用圖像像素陣列來(lái)為用戶顯示圖像。覆蓋顯示器14的蓋玻片層可以具有諸如用于按鈕16的圓形開(kāi)口之類的開(kāi)口以及諸如揚(yáng)聲器端口開(kāi)口 18 (例如，用于用戶的耳機(jī)揚(yáng)聲器)之類的揚(yáng)聲器端口開(kāi)口。設(shè)備10還可以具有其它開(kāi)口(例如，顯示器14和/或殼體12中的用于容納音量按鈕、振鈴按鈕、休眠按鈕和其它按鈕的開(kāi)口，用于音頻插座、數(shù)據(jù)端口連接器、可移除介質(zhì)插槽的開(kāi)口，等等)殼體12可以包括外圍導(dǎo)電元件，例如圍繞顯示器14和設(shè)備10的矩形輪廓延伸的金屬框或帶(作為例子)。天線可以作為延伸元件或可附接結(jié)構(gòu)而沿著設(shè)備10的邊緣、在設(shè)備10的后部或前部上進(jìn)行設(shè)置，或者設(shè)置在設(shè)備10中的其它地方。使用一個(gè)適當(dāng)?shù)牟贾?其在本文中有時(shí)被描述成例子)，可以在殼體12的下端24向設(shè)備10提供一個(gè)或多個(gè)天線，并且在殼體12的上端22向設(shè)備10提供一個(gè)或多個(gè)天線。在設(shè)備10的相對(duì)端(即，當(dāng)設(shè)備10具有圖1中所示的類型的細(xì)長(zhǎng)矩形形狀時(shí)，顯示器14和設(shè)備10的較窄端的區(qū)域)設(shè)置天線可以允許這些天線形成在離地結(jié)構(gòu)的適當(dāng)距離處，其中地結(jié)構(gòu)與顯示器14的導(dǎo)電部分(例如，顯示器14的活動(dòng)區(qū)域20A中的像素陣列和驅(qū)動(dòng)器電路)相關(guān)聯(lián)。如果希望的話，可以將第一蜂窩電話天線設(shè)置在區(qū)域24中，并且可以將第二蜂窩電話天線設(shè)置在區(qū)域22中。還可以在區(qū)域22和/或24中提供用于處理諸如全球定位系統(tǒng)信號(hào)之類的衛(wèi)星導(dǎo)航信號(hào)或者諸如IEEE 802. 11 (
權(quán)利要求
1.一種用于使用測(cè)試站來(lái)測(cè)試被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備的方法，所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測(cè)試站包括測(cè)試外売，所述方法包括 將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備耦合到所述測(cè)試外殼內(nèi)的測(cè)試固定裝置； 在所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備耦合到所述測(cè)試固定裝置吋，收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量，以確定所述第一天線結(jié)構(gòu)是否滿足與所述第一天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定性能準(zhǔn)則；以及 在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量之后并且在所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備仍然耦合到所述測(cè)試固定裝置吋，收集關(guān)于第二天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量，以確定所述第二天線結(jié)構(gòu)是否滿足與所述第二天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定性能準(zhǔn)則。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括 在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量之前，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備定位在第一朝向；以及 在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量之后并且在收集關(guān)于所述第二天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量之前，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備定位在與所述第一朝向不同的第二朝向。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括圍繞旋轉(zhuǎn)軸來(lái)旋轉(zhuǎn)所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括圍繞與所述測(cè)試外殼的平面底座表面垂直的旋轉(zhuǎn)軸來(lái)旋轉(zhuǎn)所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備。
5.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括沿著與所述測(cè)試外殼的平面底座表面垂直的軸垂直地移動(dòng)所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備。
6.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括沿著與所述測(cè)試外殼的平面底座表面平行的軸水平移動(dòng)所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備。
7.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述測(cè)試外殼包括測(cè)試天線，并且其中，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備定位在所述第一朝向包括定位所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備，使得所述測(cè)試天線與所述第一天線結(jié)構(gòu)之間的射頻信號(hào)路徑損耗被最小化。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備定位在所述第二朝向包括定位所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備，使得所述測(cè)試天線與所述第二天線結(jié)構(gòu)之間的射頻信號(hào)路徑損耗被最小化。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括 響應(yīng)于確定所述第一天線結(jié)構(gòu)和所述第二天線結(jié)構(gòu)中的至少ー個(gè)未能滿足預(yù)定性能準(zhǔn)則，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備標(biāo)記為需要重做的失敗的設(shè)備。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括 響應(yīng)于確定所述第一天線結(jié)構(gòu)和所述第二天線結(jié)構(gòu)滿足預(yù)定性能準(zhǔn)則，將所述被測(cè)設(shè)備標(biāo)記為通過(guò)的設(shè)備，并且將所述通過(guò)的設(shè)備封裝成全新的產(chǎn)品。
11.一種用于使用測(cè)試站來(lái)測(cè)試被測(cè)設(shè)備的方法，所述被測(cè)設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測(cè)試站包括測(cè)試外殼和所述測(cè)試外殼內(nèi)的測(cè)試天線，所述方法包括 在所述被測(cè)設(shè)備與所述外殼內(nèi)的測(cè)試固定裝置配合吋，將所述被測(cè)設(shè)備定位在使在所述測(cè)試天線與所述第一天線結(jié)構(gòu)之間傳播的射頻信號(hào)的射頻信號(hào)路徑損耗最小化的第一朝向； 在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第一朝向吋，對(duì)所述第一天線結(jié)構(gòu)執(zhí)行射頻測(cè)量； 在所述被測(cè)設(shè)備與所述測(cè)試固定裝置配合吋，將所述被測(cè)設(shè)備定位在使在所述測(cè)試天線與所述第二天線結(jié)構(gòu)之間傳播的射頻信號(hào)的射頻信號(hào)路徑損耗最小化的第二朝向；以及 在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第二朝向吋，對(duì)所述第二天線結(jié)構(gòu)執(zhí)行射頻測(cè)量。
12.如權(quán)利要求11所述的方法,其中,所述測(cè)試外殼包括橫電磁室。
13.如權(quán)利要求11所述的方法，還包括 在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第一朝向時(shí)并且在所述第二天線結(jié)構(gòu)被切出使用吋，利用所述測(cè)試天線向所述第一天線結(jié)構(gòu)發(fā)送射頻測(cè)試信號(hào)，并從所述第一天線結(jié)構(gòu)結(jié)接收射頻測(cè)試信號(hào)。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，還包括 在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第二朝向時(shí)并且在所述第一天線結(jié)構(gòu)被切出使用時(shí)，利用所述測(cè)試天線向所述第二天線結(jié)構(gòu)發(fā)送射頻測(cè)試信號(hào)并從所述第二天線結(jié)構(gòu)接收射頻測(cè)試信號(hào)。
15.如權(quán)利要求11所述的方法，其中，將所述被測(cè)設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第ニ朝向包括圍繞旋轉(zhuǎn)軸來(lái)旋轉(zhuǎn)所述被測(cè)設(shè)備。
16.如權(quán)利要求11所述的方法，其中，將所述被測(cè)設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第ニ朝向包括沿著軸移動(dòng)所述被測(cè)設(shè)備。
17.如權(quán)利要求11所述的方法，其中，所述測(cè)試天線包括近場(chǎng)通信元件，所述近場(chǎng)通信元件適合用于使用近場(chǎng)電磁耦合機(jī)制向所述被測(cè)設(shè)備發(fā)送射頻信號(hào)，并從所述被測(cè)設(shè)備接收射頻信號(hào)。
18.如權(quán)利要求11所述的方法，還包括 使用所述測(cè)試站來(lái)校準(zhǔn)參考被測(cè)設(shè)備，以確定在測(cè)試所述被測(cè)設(shè)備時(shí)使用的所述第一朝向和所述第二朝向。
19.一種用于使用測(cè)試站來(lái)測(cè)試被測(cè)設(shè)備的方法，所述被測(cè)設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測(cè)試站包括測(cè)試外殼和所述測(cè)試外殼內(nèi)的近場(chǎng)通信元件，所述方法包括 將所述被測(cè)設(shè)備定位在第一朝向； 在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第一朝向時(shí)，利用所述近場(chǎng)通信元件使用近場(chǎng)電磁耦合來(lái)從所述被測(cè)設(shè)備接收射頻信號(hào)； 將所述被測(cè)設(shè)備定位在與所述第一朝向不同的第二朝向；以及 在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第二朝向時(shí)，利用所述近場(chǎng)通信元件使用近場(chǎng)電磁耦合來(lái)從所述被測(cè)設(shè)備接收射頻信號(hào)。
20.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述測(cè)試外殼包括橫電磁室。
21.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述測(cè)試站還包括定位設(shè)備，并且其中，將所述被測(cè)設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向包括利用所述定位設(shè)備圍繞至少ー個(gè)旋轉(zhuǎn)軸來(lái)旋轉(zhuǎn)所述被測(cè)設(shè)備。
22.一種用于使用測(cè)試站來(lái)測(cè)試被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備的設(shè)備，所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測(cè)試站包括測(cè)試外殼，所述用于使用測(cè)試站來(lái)測(cè)試被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備的設(shè)備包括 用于將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備耦合到所述測(cè)試外殼內(nèi)的測(cè)試固定裝置的裝置； 用于在所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備耦合到所述測(cè)試固定裝置吋，收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量，以確定所述第一天線結(jié)構(gòu)是否滿足與所述第一天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定性能準(zhǔn)則的裝置；以及 用于在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量之后并且在所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備仍然耦合到所述測(cè)試固定裝置時(shí)，收集關(guān)于第二天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量，以確定所述第二天線結(jié)構(gòu)是否滿足與所述第二天線結(jié)構(gòu)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定性能準(zhǔn)則的裝置。
23.如權(quán)利要求22所述的設(shè)備，還包括 用于在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量之前，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備定位在第一朝向的裝置；以及 用于在收集關(guān)于所述第一天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量之后并且在收集關(guān)于所述第二天線結(jié)構(gòu)的測(cè)試測(cè)量之前，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備定位在與所述第一朝向不同的第二朝向的裝置。
24.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于圍繞旋轉(zhuǎn)軸來(lái)旋轉(zhuǎn)所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備的裝置。
25.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于圍繞與所述測(cè)試外殼的平面底座表面垂直的旋轉(zhuǎn)軸來(lái)旋轉(zhuǎn)所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備的裝置。
26.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于沿著與所述測(cè)試外殼的平面底座表面垂直的軸垂直地移動(dòng)所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備的裝置。
27.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于沿著與所述測(cè)試外殼的平面底座表面平行的軸水平移動(dòng)所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備的裝置。
28.如權(quán)利要求23所述的設(shè)備，其中，所述測(cè)試外殼包括測(cè)試天線，并且其中，用于將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備定位在所述第一朝向的裝置包括用于定位所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備，使得所述測(cè)試天線與所述第一天線結(jié)構(gòu)之間的射頻信號(hào)路徑損耗被最小化的裝置。
29.如權(quán)利要求28所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備定位在所述第二朝向的裝置包括用于定位所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備，使得所述測(cè)試天線與所述第二天線結(jié)構(gòu)之間的射頻信號(hào)路徑損耗被最小化的裝置。
30.如權(quán)利要求22所述的設(shè)備，還包括 用于響應(yīng)于確定所述第一天線結(jié)構(gòu)和所述第二天線結(jié)構(gòu)中的至少ー個(gè)未能滿足預(yù)定性能準(zhǔn)則，將所述被測(cè)產(chǎn)品設(shè)備標(biāo)記為需要重做的失敗的設(shè)備的裝置。
31.如權(quán)利要求22所述的設(shè)備，還包括 用于響應(yīng)于確定所述第一天線結(jié)構(gòu)和所述第二天線結(jié)構(gòu)滿足預(yù)定性能準(zhǔn)則，將所述被測(cè)設(shè)備標(biāo)記為通過(guò)的設(shè)備，并且將所述通過(guò)的設(shè)備封裝成全新的產(chǎn)品的裝置。
32.一種用于使用測(cè)試站來(lái)測(cè)試被測(cè)設(shè)備的設(shè)備，所述被測(cè)設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測(cè)試站包括測(cè)試外殼和所述測(cè)試外殼內(nèi)的測(cè)試天線，所述設(shè)備包括 用于在所述被測(cè)設(shè)備與所述外殼內(nèi)的測(cè)試固定裝置配合吋，將所述被測(cè)設(shè)備定位在使在所述測(cè)試天線與所述第一天線結(jié)構(gòu)之間傳播的射頻信號(hào)的射頻信號(hào)路徑損耗最小化的第一朝向的裝置； 用于在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第一朝向吋，對(duì)所述第一天線結(jié)構(gòu)執(zhí)行射頻測(cè)量的裝置； 用于在所述被測(cè)設(shè)備與所述測(cè)試固定裝置配合吋，將所述被測(cè)設(shè)備定位在使在所述測(cè)試天線與所述第二天線結(jié)構(gòu)之間傳播的射頻信號(hào)的射頻信號(hào)路徑損耗最小化的第二朝向的裝置；以及 用于在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第二朝向吋，對(duì)所述第二天線結(jié)構(gòu)執(zhí)行射頻測(cè)量的裝置。
33.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備,其中,所述測(cè)試外殼包括橫電磁室。
34.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，還包括 用于在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第一朝向時(shí)并且在所述第二天線結(jié)構(gòu)被切出使用時(shí)，利用所述測(cè)試天線向所述第一天線結(jié)構(gòu)發(fā)送射頻測(cè)試信號(hào)，并從所述第一天線結(jié)構(gòu)結(jié)接收射頻測(cè)試信號(hào)的裝置。
35.如權(quán)利要求34所述的設(shè)備，還包括 用于在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第二朝向時(shí)并且在所述第一天線結(jié)構(gòu)被切出使用時(shí)，利用所述測(cè)試天線向所述第二天線結(jié)構(gòu)發(fā)送射頻測(cè)試信號(hào)并從所述第二天線結(jié)構(gòu)接收射頻測(cè)試信號(hào)的裝置。
36.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測(cè)設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于圍繞旋轉(zhuǎn)軸來(lái)旋轉(zhuǎn)所述被測(cè)設(shè)備的裝置。
37.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，其中，用于將所述被測(cè)設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括用于沿著軸移動(dòng)所述被測(cè)設(shè)備的裝置。
38.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，其中，所述測(cè)試天線包括近場(chǎng)通信元件，所述近場(chǎng)通信元件適合用于使用近場(chǎng)電磁耦合機(jī)制向所述被測(cè)設(shè)備發(fā)送射頻信號(hào)，并從所述被測(cè)設(shè)備接收射頻信號(hào)。
39.如權(quán)利要求32所述的設(shè)備，還包括 用于使用所述測(cè)試站來(lái)校準(zhǔn)參考被測(cè)設(shè)備，以確定在測(cè)試所述被測(cè)設(shè)備時(shí)使用的所述第一朝向和所述第二朝向的裝置。
40.一種用于使用測(cè)試站來(lái)測(cè)試被測(cè)設(shè)備的設(shè)備，所述被測(cè)設(shè)備至少包括第一天線結(jié)構(gòu)和第二天線結(jié)構(gòu)，其中，所述測(cè)試站包括測(cè)試外殼和所述測(cè)試外殼內(nèi)的近場(chǎng)通信元件，所述設(shè)備包括 用于將所述被測(cè)設(shè)備定位在第一朝向的裝置； 用于在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第一朝向時(shí)，利用所述近場(chǎng)通信元件使用近場(chǎng)電磁耦合來(lái)從所述被測(cè)設(shè)備接收射頻信號(hào)的裝置； 用于將所述被測(cè)設(shè)備定位在與所述第一朝向不同的第二朝向的裝置；以及用于在所述被測(cè)設(shè)備處于所述第二朝向時(shí)，利用所述近場(chǎng)通信元件使用近場(chǎng)電磁耦合來(lái)從所述被測(cè)設(shè)備接收射頻信號(hào)的裝置。
41.如權(quán)利要求40所述的設(shè)備,其中,所述測(cè)試外殼包括橫電磁室。
42.如權(quán)利要求40所述的設(shè)備，其中，所述測(cè)試站還包括定位設(shè)備，并且其中，用于將所述被測(cè)設(shè)備從所述第一朝向定位到所述第二朝向的裝置包括 用于利用所述定位設(shè)備圍繞至少一個(gè)旋轉(zhuǎn)軸來(lái)旋轉(zhuǎn)所述被測(cè)設(shè)備的裝置。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了用于減小路徑損耗的方法和設(shè)備。測(cè)試站可以包括測(cè)試主機(jī)、測(cè)試單元和測(cè)試外殼。在產(chǎn)品測(cè)試期間，可以將至少具有第一天線和第二天線的被測(cè)設(shè)備(DUT)放置在測(cè)試外殼中?？梢允褂脺y(cè)試外殼內(nèi)的測(cè)試天線來(lái)從測(cè)試單元向DUT傳送射頻測(cè)試信號(hào)。在測(cè)試第一天線的性能的第一時(shí)段中，可以將DUT定向在第一位置，使得第一天線與測(cè)試天線之間的路徑損耗最小化。在測(cè)試第二天線的性能的第二時(shí)段中，可以將DUT定向在第二位置，使得第二天線與測(cè)試天線之間的路徑損耗最小化。如果所收集的測(cè)試數(shù)據(jù)是令人滿意的，則將DUT標(biāo)記為通過(guò)的DUT。
文檔編號(hào)H04B17/00GK103051390SQ20121036716
公開(kāi)日2013年4月17日 申請(qǐng)日期2012年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月12日
發(fā)明者J·G·尼科爾, M·帕斯科林尼, 申志一 申請(qǐng)人:蘋果公司