技術(shù)特征：
1.一種用于確定噪聲參數(shù)的方法，該噪聲參數(shù)表征一個(gè)受測(cè)光信號(hào)，該受測(cè)光信號(hào)在一個(gè)光信號(hào)帶寬內(nèi)具有一個(gè)信號(hào)成分、一個(gè)放大自發(fā)發(fā)射(ASE)噪聲成分以及一個(gè)非ASE光噪聲成分，所述方法包括：為該受測(cè)信號(hào)的多個(gè)nSOP不同偏振狀態(tài)分析條件中的每一個(gè)獲取至少一條偏振分析的光譜跡線；使用所獲取的偏振分析的光譜跡線以及從所獲取的偏振分析的光譜跡線中獲得的一條跡線中的至少一個(gè)，區(qū)分所述ASE噪聲成分與至少所述非ASE光噪聲成分；以及使用所區(qū)分的非ASE光噪聲成分以及所區(qū)分的ASE噪聲成分中的至少一個(gè)，確定表征所述受測(cè)信號(hào)的所述噪聲參數(shù)；進(jìn)一步包括：從所獲取的偏振分析的光譜跡線中確定一條極值跡線；以及其中，所述區(qū)分是使用所述極值跡線進(jìn)行的。2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述區(qū)分基于的是所述非ASE光噪聲成分與所述ASE噪聲成分之間的已知不同光譜形狀性質(zhì)。3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述區(qū)分包括基于所述非ASE光噪聲成分、所述ASE噪聲成分與所述信號(hào)成分之間的已知不同光譜形狀性質(zhì)區(qū)分所述ASE噪聲成分及所述信號(hào)成分與至少所述非ASE光噪聲成分。4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述信號(hào)成分是偏振的，并且其中，所述非ASE光噪聲成分包括至少一個(gè)消偏振的信號(hào)成分。5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述非ASE光噪聲成分包括至少一個(gè)載波泄露成分。6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述噪聲參數(shù)包括一個(gè)光信噪比(OSNR)。7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述信號(hào)成分包括一個(gè)數(shù)據(jù)承載信號(hào)成分。8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該受測(cè)信號(hào)是如在一條待表征的光通信信道上傳播的一個(gè)非數(shù)據(jù)承載探測(cè)光信號(hào)，所述信號(hào)成分包括一個(gè)探測(cè)信號(hào)成分并且所述噪聲參數(shù)在所述受測(cè)試信號(hào)上的表征提供了所述光通信信道的一種表征。9.一種用于確定噪聲參數(shù)的方法，該噪聲參數(shù)表征一個(gè)受測(cè)光信號(hào)，該受測(cè)光信號(hào)在一個(gè)光信號(hào)帶寬內(nèi)具有一個(gè)信號(hào)成分、一個(gè)載波泄露成分和一個(gè)放大自發(fā)發(fā)射(ASE)噪聲成分，所述方法包括：獲取所述受測(cè)信號(hào)的至少一條光譜跡線；使用所述光譜跡線以及從所述至少一條光譜跡線中獲得的一條跡線中的至少一個(gè)，區(qū)分所述ASE噪聲成分與至少所述載波泄露成分；以及使用所區(qū)分的載波泄露成分以及所區(qū)分的ASE噪聲成分中的至少一個(gè)在所述受測(cè)信號(hào)上確定所述噪聲參數(shù)；其中所述獲取包括為該受測(cè)信號(hào)的多個(gè)nSOP不同偏振狀態(tài)分析條件中的每一個(gè)獲取所述受測(cè)信號(hào)的所述光譜跡線中的至少一個(gè)，其中，所述光譜跡線是一條偏振分析的光譜跡線；進(jìn)一步包括：從這些偏振分析的光譜跡線中確定一條極值跡線；以及其中，所述區(qū)分是使用所述極值跡線進(jìn)行的。10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述區(qū)分包括基于所述載波泄漏成分與所述ASE噪聲成分之間的已知不同光譜形狀性質(zhì)，區(qū)分所述極值跡線中的所述ASE噪聲成分與至少所述載波泄漏成分。11.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述載波泄漏成分的一種光譜形狀是已知的，并且其中，所述區(qū)分包括使用所述載波泄露成分的該已知光譜形狀，區(qū)分所述極值跡線中的所述ASE噪聲成分與至少所述載波泄露成分。12.如權(quán)利要求9至11中任一項(xiàng)所述的方法，其中，所述極值跡線是一條極小值跡線。13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述區(qū)分包括在所述極小值跡線上執(zhí)行一次內(nèi)插以估算所述極小值跡線中的所述ASE噪聲成分。14.如權(quán)利要求13所述的方法，其中，所述內(nèi)插是一種線性內(nèi)插。15.如權(quán)利要求13或14所述的方法，其中，所述區(qū)分包括通過(guò)從所述極小值跡線中減去所估算的ASE噪聲成分來(lái)估算所述載波泄露成分。16.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述極小值跡線包括一個(gè)殘余的調(diào)制信號(hào)成分，并且其中，所述方法進(jìn)一步包括使用所述極小值跡線上的一個(gè)曲線擬合來(lái)區(qū)分所述殘余的調(diào)制信號(hào)成分和所述ASE噪聲成分與所述載波泄露成分。17.如權(quán)利要求16所述的方法，其中，所述曲線擬合將一條參考跡線擬合在所述極小值跡線上。18.如權(quán)利要求16或17所述的方法，其中，所述區(qū)分包括通過(guò)從所述極小值跡線中減去該曲線擬合來(lái)估算所述載波泄露成分。19.如權(quán)利要求18所述的方法，其中，所述參考跡線是所述調(diào)制信號(hào)成分、所述載波泄露成分和所述放大自發(fā)發(fā)射(ASE)噪聲成分的總功率跡線(總和跡線)。20.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述極值跡線是一條復(fù)合極小值跡線，該復(fù)合極小值跡線是通過(guò)在所述光譜跡線中為每個(gè)波長(zhǎng)單獨(dú)地選擇一個(gè)極小值獲得的。21.如權(quán)利要求20所述的方法，其中，所述復(fù)合極小值跡線是一條構(gòu)造的復(fù)合極小值跡線，該構(gòu)造的復(fù)合極小值跡線是使用一條極值跡線通過(guò)所述受測(cè)信號(hào)的一條總光譜跡線的歸一化獲得的。22.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，為該受測(cè)信號(hào)的所述多個(gè)nSOP不同偏振狀態(tài)分析條件中的每一個(gè)獲取一對(duì)相互正交的偏振分析的光譜跡線。23.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述噪聲參數(shù)包括一個(gè)載波泄露參數(shù)。24.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述噪聲參數(shù)包括一個(gè)ASE噪聲參數(shù)。25.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述噪聲參數(shù)包括一個(gè)僅ASE的光信噪比(僅ASE的OSNR)。26.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述噪聲參數(shù)包括一個(gè)載波泄露消光比。27.一種用于確定噪聲參數(shù)的方法，該噪聲參數(shù)表征一個(gè)受測(cè)光信號(hào)，該受測(cè)光信號(hào)在一個(gè)光信號(hào)帶寬內(nèi)具有一個(gè)偏振信號(hào)成分、一個(gè)消偏振的信號(hào)成分和一個(gè)放大自發(fā)發(fā)射(ASE)噪聲成分，所述消偏振的信號(hào)成分至少部分地來(lái)自一種待表征的非線性效應(yīng)，所述方法包括：為該受測(cè)信號(hào)的多個(gè)nSOP不同偏振狀態(tài)分析條件中的每一個(gè)獲取至少一條偏振分析的光譜跡線；使用所獲取的偏振分析的光譜跡線以及從所獲取的偏振分析的光譜跡線中獲得的一條跡線中的至少一個(gè)來(lái)區(qū)分所述ASE噪聲成分與至少所述消偏振的信號(hào)成分；以及使用所區(qū)分的消偏振的信號(hào)成分以及所區(qū)分的ASE噪聲成分中的至少一個(gè)在所述受測(cè)信號(hào)上確定所述噪聲參數(shù)；進(jìn)一步包括：從所獲取的偏振分析的光譜跡線中確定一條極值跡線；以及其中，所述區(qū)分是使用所述極值跡線進(jìn)行的。28.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，所述區(qū)分包括基于所述消偏振的信號(hào)成分與所述ASE噪聲成分之間的已知不同光譜形狀性質(zhì)，區(qū)分所述極值跡線中的所述ASE噪聲成分與至少所述消偏振的信號(hào)成分。29.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，所述極值跡線是一條復(fù)合極值跡線，該復(fù)合極值跡線是通過(guò)在所述光譜跡線中為每個(gè)波長(zhǎng)單獨(dú)地選擇一個(gè)極值獲得的。30.如權(quán)利要求29所述的方法，其中，所述復(fù)合極值跡線是一條構(gòu)造的復(fù)合極值跡線，該構(gòu)造的復(fù)合極值跡線是使用一條極值跡線通過(guò)所述受測(cè)信號(hào)的一條總光譜跡線的歸一化獲得的。31.如權(quán)利要求27至30中任一項(xiàng)所述的方法，其中，所述極值跡線包括一條極小值跡線。32.如權(quán)利要求31所述的方法，其中，假定所述極小值跡線不包括一個(gè)偏振信號(hào)成分。33.如權(quán)利要求31所述的方法，其中，所述極小值跡線包括一部分偏振信號(hào)成分，其中所述方法進(jìn)一步包括：基于所述多個(gè)nSOP不同偏振狀態(tài)分析條件，在所述極小值跡線中估算所述部分偏振信號(hào)成分；以及其中，所述區(qū)分包括使用所述估算的部分來(lái)區(qū)分所述極小值跡線中的所述消偏振的信號(hào)成分與所估算的部分偏振信號(hào)成分。34.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，所述消偏振的信號(hào)成分包括一個(gè)非線性效應(yīng)誘導(dǎo)(NLE誘導(dǎo))的信號(hào)消偏振部分和一個(gè)偏振模色散相關(guān)(PMD相關(guān))的信號(hào)消偏振部分，并且其中，所述方法包括：在所述受測(cè)信號(hào)中從指示一個(gè)PMD相關(guān)的信號(hào)消偏振部分的一個(gè)PMD參數(shù)中估算所述PMD相關(guān)的信號(hào)消偏振部分；以及使用所區(qū)分的消偏振的信號(hào)部分和所估算的PMD相關(guān)的信號(hào)消偏振部分估算所述NLE誘導(dǎo)的信號(hào)消偏振部分；其中，所述噪聲參數(shù)是使用至少所估算的NLE誘導(dǎo)的信號(hào)消偏振部分確定的。35.如權(quán)利要求34所述的方法，進(jìn)一步包括：從所獲取的偏振分析的光譜跡線中選擇一條最大值跡線和一條最小值跡線；從所獲取的偏振分析的光譜跡線中，確定一條復(fù)合極值跡線，該復(fù)合極值跡線是通過(guò)從所獲取的偏振分析的光譜跡線中為每個(gè)波長(zhǎng)單獨(dú)地選擇一個(gè)極值獲得的；以及使用從至少所述最大值跡線和所述最小值跡線和所述復(fù)合極值跡線中計(jì)算出的一條功率比光譜跡線估算所述PMD相關(guān)的信號(hào)消偏振部分。36.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，所述消偏振的信號(hào)成分包括一個(gè)非線性效應(yīng)誘導(dǎo)(NLE誘導(dǎo))的信號(hào)消偏振部分，所述方法進(jìn)一步包括：使用所區(qū)分的消偏振的信號(hào)部分在一個(gè)第一所述受測(cè)光信號(hào)上估算所述NLE誘導(dǎo)的信號(hào)消偏振部分；以及從在至少該第一所述受測(cè)光信號(hào)上估算的該NLE誘導(dǎo)的信號(hào)消偏振部分，估算在同一條波分復(fù)用通信鏈路的一個(gè)第二受測(cè)光信號(hào)上的一個(gè)NLE誘導(dǎo)的信號(hào)消偏振部分。37.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，為該受測(cè)信號(hào)的所述多個(gè)nSOP不同偏振狀態(tài)分析條件中的每一個(gè)，獲取一對(duì)相互正交的偏振分析的光譜跡線。38.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，所述噪聲參數(shù)包括一個(gè)僅ASE的光信噪比(僅ASE的OSNR)。39.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，所述噪聲參數(shù)包括一個(gè)信號(hào)消偏振參數(shù)。40.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，所述偏振的信號(hào)成分和所述消偏振的信號(hào)成分是承載數(shù)據(jù)的。41.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，該受測(cè)信號(hào)是如在一條待表征的光通信信道上傳播的一個(gè)非數(shù)據(jù)承載探測(cè)光信號(hào)，并且所述噪聲參數(shù)在所述受測(cè)信號(hào)上的表征提供了所述光通信信道的一種表征。