電子裝置主板跳帽測試方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種電子裝置主板跳帽測試方法及系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：偵測模塊，用于偵測電子裝置的主板上每個(gè)跳帽的當(dāng)前寄存器地址值；判斷模塊，用于判斷每個(gè)跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與當(dāng)前寄存器地址值是否都相同；提示模塊，用于當(dāng)每個(gè)跳帽預(yù)設(shè)寄存器地址值與當(dāng)前寄存器地址值都相同時(shí)，提示所有跳帽配置正確；篩選模塊，用于篩選出與預(yù)設(shè)寄存器地址值不同的當(dāng)前寄存器地址值；關(guān)機(jī)模塊，用于發(fā)送關(guān)機(jī)命令控制主板關(guān)機(jī)。本發(fā)明通過將預(yù)設(shè)的正確寄存器地址值與偵測到的當(dāng)前寄存器地址值對比，查找出配置錯(cuò)誤的跳帽，并根據(jù)預(yù)設(shè)的正確寄存器地址值重新配置跳帽，避免了跳帽脫落或者未知錯(cuò)誤引起的主板不良。
【專利說明】電子裝置主板跳帽測試方法及系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種電子裝置測試方法及系統(tǒng)，尤其涉及一種電子裝置主板跳帽測試 方法及系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002] 電子裝置在研發(fā)時(shí)需要對主板上的跳帽進(jìn)行配置(例如，配置跳帽對應(yīng)的寄存器 地址)，但在研發(fā)或者運(yùn)輸時(shí)，會出現(xiàn)跳帽配置錯(cuò)誤或者跳帽脫落等狀況，造成電子裝置主 板不良，甚至導(dǎo)致電子裝置開不了機(jī)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種電子裝置主板跳帽測試方法及系統(tǒng)。
[0004] 所述的電子裝置主板跳帽測試方法包括：偵測步驟，偵測電子裝置的主板上每個(gè) 跳帽的當(dāng)前寄存器地址值；判斷步驟，判斷每個(gè)跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到的該跳 帽的當(dāng)前寄存器地址值是否都相同；提示步驟，當(dāng)每個(gè)跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到 的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址值都相同時(shí)，提示主板上所有跳帽的配置正確；篩選步驟，當(dāng)存 在跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址值不相同時(shí)，篩選出與預(yù) 設(shè)寄存器地址值不同的當(dāng)前寄存器地址值，并根據(jù)預(yù)設(shè)寄存器地址值，對篩選出的當(dāng)前寄 存器地址值對應(yīng)的跳帽重新配置；關(guān)機(jī)步驟，發(fā)送關(guān)機(jī)命令控制電子裝置主板關(guān)機(jī)。
[0005] 所述電子裝置主板跳帽測試系統(tǒng)包括：偵測模塊，用于偵測電子裝置的主板上每 個(gè)跳帽的當(dāng)前寄存器地址值；判斷模塊，用于判斷每個(gè)跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到 的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址值是否都相同；提示模塊，用于當(dāng)每個(gè)跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址 值與偵測到的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址值都相同時(shí)，提示主板上所有跳帽的配置正確；篩 選模塊，用于當(dāng)存在跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址值不相 同時(shí)，篩選出與預(yù)設(shè)寄存器地址值不同的當(dāng)前寄存器地址值，并根據(jù)預(yù)設(shè)寄存器地址值，對 篩選出的當(dāng)前寄存器地址值對應(yīng)的跳帽重新配置，使該跳帽在主板上的配置正確；關(guān)機(jī)模 塊，用于發(fā)送關(guān)機(jī)命令控制主板關(guān)機(jī)。
[0006] 本發(fā)明通過將預(yù)設(shè)的正確寄存器地址值與偵測到的當(dāng)前寄存器地址值對比，查找 出配置錯(cuò)誤的跳帽，并根據(jù)預(yù)設(shè)的正確寄存器地址值重新配置跳帽，避免了跳帽脫落或者 未知錯(cuò)誤引起的主板不良。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0007] 圖1是本發(fā)明電子裝置主板跳帽測試系統(tǒng)的較佳實(shí)施方式的運(yùn)行環(huán)境圖。
[0008] 圖2是本發(fā)明電子裝置主板跳帽測試系統(tǒng)的較佳實(shí)施方式的功能模塊圖。
[0009] 圖3是本發(fā)明電子裝置主板跳帽測試方法的較佳實(shí)施方式的流程圖。
[0010] 主要元件符號說明

【權(quán)利要求】
1. 一種電子裝置主板跳帽測試方法，其特征在于，該方法包括： 偵測步驟，偵測電子裝置的主板上每個(gè)跳帽的當(dāng)前寄存器地址值； 判斷步驟，判斷每個(gè)跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址值 是否都相同； 提示步驟，當(dāng)每個(gè)跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址值都 相同時(shí)，提示主板上所有跳帽的配置正確； 篩選步驟，當(dāng)存在跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址值不 相同時(shí)，篩選出與預(yù)設(shè)寄存器地址值不同的當(dāng)前寄存器地址值，并根據(jù)預(yù)設(shè)寄存器地址值， 對篩選出的當(dāng)前寄存器地址值對應(yīng)的跳帽重新配置； 關(guān)機(jī)步驟，發(fā)送關(guān)機(jī)命令控制電子裝置主板關(guān)機(jī)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝置主板跳帽測試方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)寄存器 地址值為主板上每個(gè)跳帽對應(yīng)的正確的寄存器地址值。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝置主板跳帽測試方法，其特征在于，所述篩選步驟之 后、關(guān)機(jī)步驟之前還包括： 報(bào)告生成步驟，根據(jù)上述測試結(jié)果，生成測試報(bào)告。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子裝置主板跳帽測試方法，其特征在于，所述測試報(bào)告包 括跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值、以及篩選出的與預(yù)設(shè)寄存器地址值不同的當(dāng)前寄存器地址 值。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝置主板跳帽測試方法，其特征在于，所述提示步驟包 括：在電子裝置顯示器上顯示"通過"提示主板上所有跳帽的配置正確。
6. -種電子裝置主板跳帽測試方法，其特征在于，該系統(tǒng)包括： 偵測模塊，用于偵測電子裝置的主板上每個(gè)跳帽的當(dāng)前寄存器地址值； 判斷模塊，用于判斷每個(gè)跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到的該跳帽的當(dāng)前寄存器地 址值是否都相同； 提示模塊，用于當(dāng)每個(gè)跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址 值都相同時(shí)，提示主板上所有跳帽的配置正確； 篩選模塊，用于當(dāng)存在跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值與偵測到的該跳帽的當(dāng)前寄存器地址 值不相同時(shí)，篩選出與預(yù)設(shè)寄存器地址值不同的當(dāng)前寄存器地址值，并根據(jù)預(yù)設(shè)寄存器地 址值，對篩選出的當(dāng)前寄存器地址值對應(yīng)的跳帽重新配置； 關(guān)機(jī)模塊，用于發(fā)送關(guān)機(jī)命令控制主板關(guān)機(jī)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子裝置主板跳帽測試系統(tǒng)，其特征在于，所述預(yù)設(shè)寄存器 地址值為主板上每個(gè)跳帽對應(yīng)的正確的寄存器地址值。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子裝置主板跳帽測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括： 報(bào)告生成模塊，用于根據(jù)上述測試結(jié)果，生成測試報(bào)告。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子裝置主板跳帽測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試報(bào)告包 括跳帽的預(yù)設(shè)寄存器地址值、以及篩選出的與預(yù)設(shè)寄存器地址值不同的當(dāng)前寄存器地址 值。
10. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子裝置主板跳帽測試系統(tǒng)，其特征在于，所述提示模塊在 電子裝置顯示器上顯示"通過"提示主板上所有跳帽的配置正確。
【文檔編號】H04M1/24GK104111883SQ201310143053
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2013年4月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年4月22日
【發(fā)明者】李暉 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司