測(cè)試控制系統(tǒng)及方法
【專利摘要】一種測(cè)試控制方法，包括：預(yù)設(shè)被測(cè)設(shè)備UUT執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從預(yù)設(shè)的微系統(tǒng)啟動(dòng)，所述微系統(tǒng)為帶有硬件掃描功能的操作系統(tǒng)，以掃描獲取所述UUT的配置參數(shù)；接收所述UUT發(fā)送過(guò)來(lái)配置參數(shù)；根據(jù)所述UUT的配置參數(shù)解析該UUT所需的測(cè)試包，該測(cè)試包包括該用于啟動(dòng)所述UUT的操作系統(tǒng)及用于測(cè)試該UUT的測(cè)試程序；完成上述解析操作后，設(shè)置所述UUT執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從上述解析得出的操作系統(tǒng)下啟動(dòng)；及重啟所述UUT，使得該UUT在上述解析得出的操作系統(tǒng)下啟動(dòng)后執(zhí)行上述解析得出的測(cè)試程序。本發(fā)明還提供一種測(cè)試控制系統(tǒng)，利用本發(fā)明可對(duì)不同配置的UUT同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
【專利說(shuō)明】測(cè)試控制系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種服務(wù)器測(cè)試控制系統(tǒng)及方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 服務(wù)器機(jī)架（RACK) -般集成有多臺(tái)服務(wù)器。然而，在對(duì)服務(wù)器機(jī)架上的各臺(tái)服務(wù) 器進(jìn)行具體測(cè)試時(shí)，由于不同服務(wù)器的配置(如硬件配置或軟件配置）可能會(huì)不同，因此，不 同配置的服務(wù)器對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序也會(huì)不同。目前在實(shí)際測(cè)試時(shí)，需要用到多臺(tái)PXE服務(wù)器， 每臺(tái)PXE服務(wù)器對(duì)同一配置的服務(wù)器進(jìn)行測(cè)試。顯然，這種測(cè)試方法存在不能同時(shí)對(duì)不同 配置的服務(wù)器進(jìn)行測(cè)試的困擾。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種測(cè)試控制系統(tǒng)及方法，可對(duì)不同配置的被測(cè)設(shè)備 同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
[0004]所述測(cè)試控制系統(tǒng)包括：設(shè)置模塊，用于預(yù)設(shè)被測(cè)設(shè)備執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從一個(gè)預(yù) 設(shè)的微系統(tǒng)啟動(dòng)，所述微系統(tǒng)為帶有硬件掃描功能的操作系統(tǒng)，以掃描獲取所述被測(cè)設(shè)備 的配置參數(shù)；接收模塊，用于接收所述被測(cè)設(shè)備發(fā)送過(guò)來(lái)配置參數(shù)；解析模塊，用于根據(jù)所 述被測(cè)設(shè)備的配置參數(shù)解析該被測(cè)設(shè)備所需的測(cè)試包，該測(cè)試包包括該用于啟動(dòng)所述被測(cè) 設(shè)備的操作系統(tǒng)及用于測(cè)試該被測(cè)設(shè)備的測(cè)試程序；所述設(shè)置模塊，還用于完成上述解析 操作后，設(shè)置所述被測(cè)設(shè)備執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從上述解析得出的操作系統(tǒng)下啟動(dòng)；及重啟模 塊，用于重啟所述被測(cè)設(shè)備，使得該被測(cè)設(shè)備在上述解析得出的操作系統(tǒng)下啟動(dòng)后執(zhí)行上 述解析得出的測(cè)試程序。
[0005]所述測(cè)試控制方法包括：第一設(shè)置步驟，預(yù)設(shè)被測(cè)設(shè)備執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從一個(gè)預(yù) 設(shè)的微系統(tǒng)啟動(dòng)，所述微系統(tǒng)為帶有硬件掃描功能的操作系統(tǒng)，以掃描獲取所述被測(cè)設(shè)備 的配置參數(shù)；第一接收步驟，接收所述被測(cè)設(shè)備發(fā)送過(guò)來(lái)配置參數(shù)；解析步驟，根據(jù)所述被 測(cè)設(shè)備的配置參數(shù)解析該被測(cè)設(shè)備所需的測(cè)試包，該測(cè)試包包括該用于啟動(dòng)所述被測(cè)設(shè)備 的操作系統(tǒng)及用于測(cè)試該被測(cè)設(shè)備的測(cè)試程序；第二設(shè)置步驟，完成上述解析操作后，設(shè)置 所述被測(cè)設(shè)備執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從上述解析得出的操作系統(tǒng)下啟動(dòng)；及重啟步驟，重啟所述 被測(cè)設(shè)備，使得該被測(cè)設(shè)備在上述解析得出的操作系統(tǒng)下啟動(dòng)后執(zhí)行上述解析得出的測(cè)試 程序。
[0006]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明測(cè)試控制系統(tǒng)及方法，可對(duì)不同配置的被測(cè)設(shè)備同時(shí)進(jìn) 行測(cè)試。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0007] 圖1是本發(fā)明測(cè)試控制系統(tǒng)的運(yùn)行環(huán)境圖。
[0008] 圖2舉例說(shuō)明參照表。
[0009]圖3是本發(fā)明測(cè)試控制系統(tǒng)較佳實(shí)施例的功能模塊圖。
[0010] 圖4是本發(fā)明測(cè)試控制方法較佳實(shí)施例的流程圖。
[0011] 主要元件符號(hào)說(shuō)明
[0012]

【權(quán)利要求】
1. 一種測(cè)試控制系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括： 設(shè)置模塊，用于預(yù)設(shè)被測(cè)設(shè)備執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從一個(gè)預(yù)設(shè)的微系統(tǒng)啟動(dòng)，所述微系統(tǒng) 為帶有硬件掃描功能的操作系統(tǒng)，以掃描獲取所述被測(cè)設(shè)備的配置參數(shù)； 接收模塊，用于接收所述被測(cè)設(shè)備發(fā)送過(guò)來(lái)配置參數(shù)； 解析模塊，用于根據(jù)所述被測(cè)設(shè)備的配置參數(shù)解析該被測(cè)設(shè)備所需的測(cè)試包，該測(cè)試 包包括該用于啟動(dòng)所述被測(cè)設(shè)備的操作系統(tǒng)及用于測(cè)試該被測(cè)設(shè)備的測(cè)試程序； 所述設(shè)置模塊，還用于完成上述解析操作后，設(shè)置所述被測(cè)設(shè)備執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從上 述解析得出的操作系統(tǒng)下啟動(dòng)；及 重啟模塊，用于重啟所述被測(cè)設(shè)備，使得該被測(cè)設(shè)備在上述解析得出的操作系統(tǒng)下啟 動(dòng)后執(zhí)行上述解析得出的測(cè)試程序。
2. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試控制系統(tǒng)，其特征在于： 所述接收模塊，還用于接收所述被測(cè)設(shè)備發(fā)送的完成啟動(dòng)的消息；及 所述設(shè)置模塊，還用于接收到所述被測(cè)設(shè)備完成啟動(dòng)的消息時(shí)，設(shè)置所述被測(cè)設(shè)備執(zhí) 行PXE啟動(dòng)時(shí)從所述微系統(tǒng)啟動(dòng)。
3. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試控制系統(tǒng)，其特征在于，所述配置參數(shù)為所述被測(cè)設(shè)備的 硬件配置參數(shù)及/或軟件配置參數(shù)。
4. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試控制系統(tǒng)，其特征在于，所述解析模塊根據(jù)所述被測(cè)設(shè)備 的配置參數(shù)從一個(gè)預(yù)先存儲(chǔ)的參照表中檢索得出所述被測(cè)設(shè)備所需的測(cè)試包，該參照表用 于記錄不同配置的被測(cè)設(shè)備所對(duì)應(yīng)的測(cè)試包。
5. -種測(cè)試控制方法，其特征在于，該方法包括： 第一設(shè)置步驟，預(yù)設(shè)被測(cè)設(shè)備執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從一個(gè)預(yù)設(shè)的微系統(tǒng)啟動(dòng)，所述微系統(tǒng) 為帶有硬件掃描功能的操作系統(tǒng)，以掃描獲取所述被測(cè)設(shè)備的配置參數(shù)； 第一接收步驟，接收所述被測(cè)設(shè)備發(fā)送過(guò)來(lái)配置參數(shù)； 解析步驟，根據(jù)所述被測(cè)設(shè)備的配置參數(shù)解析該被測(cè)設(shè)備所需的測(cè)試包，該測(cè)試包包 括該用于啟動(dòng)所述被測(cè)設(shè)備的操作系統(tǒng)及用于測(cè)試該被測(cè)設(shè)備的測(cè)試程序； 第二設(shè)置步驟，完成上述解析操作后，設(shè)置所述被測(cè)設(shè)備執(zhí)行PXE啟動(dòng)時(shí)從上述解析 得出的操作系統(tǒng)下啟動(dòng)；及 重啟步驟，重啟所述被測(cè)設(shè)備，使得該被測(cè)設(shè)備在上述解析得出的操作系統(tǒng)下啟動(dòng)后 執(zhí)行上述解析得出的測(cè)試程序。
6. 如權(quán)利要求5所述的測(cè)試控制方法，其特征在于，該方法還包括： 第二接收步驟，接收所述被測(cè)設(shè)備發(fā)送的完成啟動(dòng)的消息；及 第三設(shè)置步驟，接收到所述被測(cè)設(shè)備完成啟動(dòng)的消息時(shí)，設(shè)置所述被測(cè)設(shè)備執(zhí)行PXE 啟動(dòng)時(shí)從所述微系統(tǒng)啟動(dòng)。
7. 如權(quán)利要求5所述的測(cè)試控制方法，其特征在于，所述配置參數(shù)為所述被測(cè)設(shè)備的 硬件配置參數(shù)及/或軟件配置參數(shù)。
8. 如權(quán)利要求5所述的測(cè)試控制方法，其特征在于，所述解析步驟中，根據(jù)所述被測(cè)設(shè) 備的配置參數(shù)從一個(gè)預(yù)先存儲(chǔ)的參照表中檢索得出所述被測(cè)設(shè)備所需的測(cè)試包，該參照表 用于記錄不同配置的被測(cè)設(shè)備所對(duì)應(yīng)的測(cè)試包。
【文檔編號(hào)】H04L12/26GK104426711SQ201310379377
【公開日】2015年3月18日 申請(qǐng)日期:2013年8月27日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月27日
【發(fā)明者】許金華, 陳軍民 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司