一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)，它包括測試夾具和測試主機(jī)，被測手機(jī)主板置于測試夾具上，測試夾具上裝有與被測手機(jī)主板鍵盤相配合的頂針；測試主機(jī)包括電子開關(guān)和主控MCU，電子開關(guān)的控制信號輸入端與主控MCU連接，電子開關(guān)的另一端與頂針連接，主控MCU與被測手機(jī)主板通過串口總線連接。被測手機(jī)主板和主控MCU通過串口總線傳遞信號，主控MCU依次控制電子開關(guān)的導(dǎo)通與關(guān)閉，從而使受控于電子開關(guān)的頂針作用于被測手機(jī)主板鍵盤。本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)了手機(jī)主板鍵盤測試的自動化，降低了測試成本，提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確度及可靠性。
【專利說明】一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種自動測試系統(tǒng)，特別是涉及一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]手機(jī)，現(xiàn)已成為人們?nèi)粘Ｉ钪胁豢扇鄙俚耐ㄓ嵐ぞ?，在使用手機(jī)時(shí)，人們通過手機(jī)鍵盤向手機(jī)內(nèi)部傳遞指令，從而完成相應(yīng)功能的實(shí)現(xiàn)。但隨著電子技術(shù)的高速發(fā)展，手機(jī)主板越來越小，生產(chǎn)難度越來越大，尤其是對于手機(jī)主板上鍵盤又細(xì)又長的信號引線，在SMT過程中更易出現(xiàn)接觸不良情況，嚴(yán)重影響手機(jī)質(zhì)量，故在手機(jī)裝機(jī)前，廠家必須對手機(jī)主板按鍵情況進(jìn)行測試。
[0003]目前采用的測試方式是將被測手機(jī)主板固定在裝有頂針的測試夾具內(nèi)，由測試人員手動進(jìn)入鍵盤測試界面，該界面顯示出被測手機(jī)主板上的所有按鍵，測試人員需將所有按鍵依次按下，來判斷按鍵的接觸情況。該測試系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)接觸不良的按鍵，但是測試人員工作量相對較大，導(dǎo)致測試效率低，測試成本高；同時(shí)，由于測試人員在操作過程中的疏忽，存在漏按及錯(cuò)按等現(xiàn)象，使測試結(jié)果的準(zhǔn)確度及可靠性較低。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種可實(shí)現(xiàn)自動化檢測手機(jī)主板鍵盤的測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)運(yùn)用電子開關(guān)控制頂針，從而實(shí)現(xiàn)手機(jī)主板鍵盤測試的自動化及智能化，且該系統(tǒng)的測試效率高、測試速度快、測試結(jié)果準(zhǔn)確度及可靠性高。
[0005]本實(shí)用新型是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的:一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)，它包括測試夾具和測試主機(jī)，被測手機(jī)主板置于測試夾具上，測試夾具上裝有與被測手機(jī)主板鍵盤相配合的頂針；測試主機(jī)包括電子開關(guān)和主控MCU，電子開關(guān)的控制信號輸入端與主控MCU連接，電子開關(guān)的另一端與頂針連接，主控MCU與被測手機(jī)主板通過串口總線連接。
[0006]上述頂針和電子開關(guān)之間通過排線連接。
[0007]上述頂針為頂針矩陣。
[0008]上述電子開關(guān)為矩陣電子開關(guān)。
[0009]本實(shí)用新型的有益效果是:利用電子開關(guān)代替測試人員來控制頂針，實(shí)現(xiàn)了手機(jī)主板鍵盤測試的自動化，降低了測試成本，提高了測試效率和測試結(jié)果的準(zhǔn)確度及可靠性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0011]下面結(jié)合附圖進(jìn)一步詳細(xì)描述本實(shí)用新型的技術(shù)方案，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不局限于以下所述。
[0012]如圖1所示，一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)，它包括測試夾具和測試主機(jī)，被測手機(jī)主板置于測試夾具上，測試夾具上裝有與被測手機(jī)主板鍵盤相配合的頂針，所述頂針為頂針矩陣；測試主機(jī)包括電子開關(guān)和主控MCU，所述電子開關(guān)為8 X 8的電子開關(guān)矩陣，8 X 8的電子開關(guān)矩陣的控制信號輸入端與主控MCU連接，8 X 8的電子開關(guān)矩陣的另一端通過排線與頂針連接，主控MCU與被測手機(jī)主板通過串口總線連接。
[0013]本實(shí)用新型的工作過程是:將被測手機(jī)主板固定在裝有頂針的測試夾具上，被測手機(jī)主板與主控MCU之間通過串口總線傳遞信息，使被測手板主機(jī)進(jìn)入到按鍵測試模式；同時(shí)，8x8電子開關(guān)矩陣在主控MCU的控制信息下依次導(dǎo)通，從而控制頂針按壓被測手機(jī)主板鍵盤，此時(shí)被測主板內(nèi)置的鍵盤測試子程序依次記錄被按鍵盤情況；待被測手機(jī)主板鍵盤全部測試完，頂針停止按壓運(yùn)動，數(shù)據(jù)傳送至主控MCU。在整個(gè)測試過程中，若發(fā)現(xiàn)不良按鍵，則被測主機(jī)將發(fā)出報(bào)警信號。
【權(quán)利要求】
1.一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)，它包括測試夾具和測試主機(jī)，被測手機(jī)主板置于測試夾具上，測試主機(jī)包括電子開關(guān)和主控MCU，主控MCU與被測手機(jī)主板通過串口總線連接，電子開關(guān)的控制信號輸入端與主控MCU連接，其特征在于:測試夾具上裝有與被測手機(jī)主板鍵盤相配合的頂針，電子開關(guān)的另一端與頂針連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述頂針和電子開關(guān)之間通過排線連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述頂針為頂針矩陣。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種手機(jī)鍵盤自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述電子開關(guān)為電子開關(guān)矩陣。
【文檔編號】H04M1/24GK203618048SQ201320413327
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2013年7月12日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月12日
【發(fā)明者】李長城, 楊金銘 申請人:遼寧泰蒙通訊技術(shù)有限公司