時(shí)分雙工(tdd)通信系統(tǒng)的有效并行測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】文中描述的本發(fā)明使用存儲(chǔ)有預(yù)定義測(cè)試序列的受測(cè)設(shè)備(DUT)、具有矢量信號(hào)發(fā)生(VSG)和矢量信號(hào)分析(VSA)功能的測(cè)試儀和創(chuàng)新方法，將環(huán)回和單端測(cè)試功能結(jié)合，以使用藍(lán)牙通信或其他基于時(shí)分雙工(TDD)的通信獲得更高的DUT測(cè)試效率。
【專(zhuān)利說(shuō)明】時(shí)分雙工(TDD)通信系統(tǒng)的有效并行測(cè)試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明整體涉及用于測(cè)試電子設(shè)備的系統(tǒng)和方法。更具體地講，本發(fā)明涉及對(duì)于使用測(cè)試平臺(tái)來(lái)測(cè)試無(wú)線設(shè)備的系統(tǒng)和方法的改進(jìn)，所述測(cè)試平臺(tái)由硬件、固件和/或軟件組成，最小限度地需要來(lái)自所述設(shè)備的反饋。

【背景技術(shù)】
[0002]目前的許多手持設(shè)備將無(wú)線“連接”用于電話技術(shù)、數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)傳送、地理定位等。盡管頻譜范圍、調(diào)制方法和功率譜密度存在差異，但是無(wú)線連接標(biāo)準(zhǔn)采用同步數(shù)據(jù)包發(fā)送和接收數(shù)據(jù)。
[0003]通常，所有這些無(wú)線連接功能(例如WiF1、WiMAX、藍(lán)牙等)由行業(yè)許可標(biāo)準(zhǔn)(例如IEEE 802.11和IEEE 802.16)定義，這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了具有這些連接功能的設(shè)備必須遵守的參數(shù)和限制。
[0004]在設(shè)備開(kāi)發(fā)連續(xù)過(guò)程的任何時(shí)間點(diǎn)，可能需要測(cè)試和驗(yàn)證設(shè)備是否在其標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范內(nèi)運(yùn)行。大多數(shù)此類(lèi)設(shè)備為收發(fā)機(jī)，即，它們發(fā)送并接收無(wú)線射頻信號(hào)。設(shè)計(jì)用于測(cè)試此類(lèi)設(shè)備的專(zhuān)門(mén)系統(tǒng)通常包含子系統(tǒng)，這些子系統(tǒng)被設(shè)計(jì)成接收和分析設(shè)備所發(fā)送的信號(hào)并發(fā)送符合行業(yè)許可標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)，以便確定設(shè)備是否正在按照其標(biāo)準(zhǔn)接收和處理無(wú)線信號(hào)。
[0005]越來(lái)越多的無(wú)線設(shè)備使用嵌入式控制子系統(tǒng)來(lái)控制各種無(wú)線功能的運(yùn)行，如3GCellular、IEEE 802.1lx和藍(lán)牙等。此類(lèi)設(shè)計(jì)可能會(huì)限制測(cè)試-控制接口選擇，并強(qiáng)制通過(guò)嵌入式控制器來(lái)完成控制，而不是直接使用特定子系統(tǒng)。此外，要求降低此類(lèi)設(shè)備的制造成本以及它們?cè)谥圃爝^(guò)程中的運(yùn)行測(cè)試成本的壓力持續(xù)存在。任何能夠減少測(cè)試此類(lèi)設(shè)備所需時(shí)間且不損害測(cè)試完整性的創(chuàng)新都可降低測(cè)試成本。
[0006]圖1示出了現(xiàn)有的測(cè)試設(shè)置100，所述設(shè)置一般包括具有矢量信號(hào)分析(VSA)和矢量信號(hào)發(fā)生(VSG)功能的測(cè)試儀104、存儲(chǔ)有預(yù)定義測(cè)試序列102的受測(cè)設(shè)備(DUT)1l和用于控制測(cè)試儀的PC控制器106。雙向通信接口 103支持DUT 101和測(cè)試儀104之間的通信。同樣，雙向通信接口 105支持PC控制器106和測(cè)試儀104之間的通信。雙向通信接口103和105可以是有線傳導(dǎo)接口或無(wú)線(例如射頻、紅外等)接口。如圖所示，DUT 101能夠存儲(chǔ)DUT 101和測(cè)試儀104均“已知”的預(yù)定義測(cè)試序列102。通過(guò)這種配置，可以減少DUT和測(cè)試儀之間的非測(cè)試相關(guān)的通信交互次數(shù)。
[0007]參見(jiàn)圖2，圖1的測(cè)試系統(tǒng)可用于實(shí)施環(huán)回測(cè)試，其中測(cè)試儀202發(fā)送的數(shù)據(jù)包203,204,205由DUT 201接收。繼而，DUT 201又分別將被嵌入為新數(shù)據(jù)包206,207,208的所接收的數(shù)據(jù)包有效載荷發(fā)回給測(cè)試儀202。因此，如果測(cè)試儀202使用3個(gè)時(shí)隙發(fā)送3個(gè)數(shù)據(jù)包，DUT 201將使用3個(gè)時(shí)隙環(huán)回3個(gè)數(shù)據(jù)包。在這種情況下，總時(shí)間是6個(gè)時(shí)隙。盡管證明有用，但是大量的測(cè)試序列和多個(gè)設(shè)備會(huì)需要額外時(shí)隙。
[0008]在以有效的方式測(cè)試所公開(kāi)的系統(tǒng)的嘗試中，已采用了其他的系統(tǒng)和方法。參見(jiàn)圖3，目前除了在測(cè)試儀305和多個(gè)受測(cè)DUT 301-304之間的多端口接口 310之外，還使用了與圖2相同的裝置。使用了多端口接口或拆分器接口 310，這樣可并行復(fù)制數(shù)據(jù)包序列306、307和308。在該示例性設(shè)置中，多端口接口 310是一個(gè)具有4個(gè)端口的拆分器(I個(gè)輸入/4個(gè)輸出)，其被構(gòu)造成可同時(shí)測(cè)試4個(gè)DUT。測(cè)試儀305使用單個(gè)VSG發(fā)送數(shù)據(jù)包序列306、307、308，這些數(shù)據(jù)包可使用本領(lǐng)域公知的拆分器310電路復(fù)制。多端口接口 310可以是測(cè)試儀305的一部分(例如在其內(nèi)部)并由測(cè)試儀305的主控制器控制，或者可以與測(cè)試儀305分開(kāi)(例如在其外部)，由測(cè)試儀305的主控制器通過(guò)控制接口(未顯示)控制。VSG發(fā)送的每個(gè)數(shù)據(jù)包導(dǎo)致數(shù)據(jù)包306、307、308的4份拷貝，它們被分別發(fā)送給DUT301、302、303、304，如圖所示。因此，用于發(fā)送3個(gè)VSG數(shù)據(jù)包的3個(gè)時(shí)隙將導(dǎo)致被4個(gè)DUT301、302、303、304接收的3組四份拷貝的數(shù)據(jù)包。因此，每個(gè)DUT所需的接收上述三個(gè)數(shù)據(jù)包的測(cè)試時(shí)間是單個(gè)DUT測(cè)試時(shí)的四分之一。
[0009]要求降低此類(lèi)設(shè)備的制造成本以及它們?cè)谥圃爝^(guò)程中的運(yùn)行測(cè)試成本的壓力仍然持續(xù)存在。任何能夠減少測(cè)試此類(lèi)設(shè)備所需時(shí)間且不損害測(cè)試完整性的創(chuàng)新預(yù)計(jì)最終將降低測(cè)試成本。因此，需要能夠應(yīng)對(duì)并達(dá)成這些目標(biāo)的創(chuàng)新系統(tǒng)和技術(shù)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0010]文中描述的本發(fā)明使用存儲(chǔ)有預(yù)定義測(cè)試序列的受測(cè)設(shè)備(DUT)、具有矢量信號(hào)發(fā)生(VSG)和矢量信號(hào)分析(VSA)功能的測(cè)試儀和創(chuàng)新方法，將環(huán)回和單端測(cè)試功能相結(jié)合，以使用藍(lán)牙通信或其他基于時(shí)分雙工(TDD)的通信獲得更高的DUT測(cè)試效率。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0011]根據(jù)下面給出的關(guān)于【具體實(shí)施方式】以及本發(fā)明多個(gè)實(shí)施例的附圖可更全面地理解本發(fā)明，然而這些描述和附圖不應(yīng)理解為將本發(fā)明限制為具體的實(shí)施例，而是僅供說(shuō)明和理解。
[0012]圖1示出了一個(gè)常規(guī)的無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)。
[0013]圖2示出了一個(gè)根據(jù)現(xiàn)有測(cè)試方法進(jìn)行的環(huán)回式測(cè)試。
[0014]圖3示出了一個(gè)根據(jù)現(xiàn)有設(shè)計(jì)的包括用以并行復(fù)制數(shù)據(jù)包序列的多端口接口的無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)。
[0015]圖4是根據(jù)示例性公開(kāi)實(shí)施例進(jìn)行測(cè)試所需設(shè)備環(huán)境的功能框圖。
[0016]圖5示出了圖3的無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)，其中包括根據(jù)示例性公開(kāi)實(shí)施例進(jìn)行的改進(jìn)測(cè)試和確認(rèn)方案。
[0017]圖6示出了根據(jù)示例性公開(kāi)實(shí)施例進(jìn)行的單端測(cè)試。
[0018]圖7示出了圖6的無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)，其中包括根據(jù)示例性公開(kāi)實(shí)施例進(jìn)行的改進(jìn)測(cè)試和確認(rèn)方案。
[0019]圖8示出了根據(jù)示例性公開(kāi)實(shí)施例進(jìn)行的測(cè)試方案、環(huán)回響應(yīng)和誤碼率匯總。
[0020]圖9示出了根據(jù)示例性公開(kāi)實(shí)施例進(jìn)行的另一個(gè)測(cè)試方案、環(huán)回響應(yīng)和誤碼率匯總。
[0021]圖10示出了根據(jù)示例性公開(kāi)實(shí)施例進(jìn)行的理想測(cè)試場(chǎng)景。
[0022]圖11示出了根據(jù)示例性公開(kāi)實(shí)施例進(jìn)行的非理想測(cè)試場(chǎng)景。

【具體實(shí)施方式】
[0023]現(xiàn)在將結(jié)合附圖描述本發(fā)明，在附圖中，類(lèi)似的附圖標(biāo)記表示類(lèi)似的部件。以下【具體實(shí)施方式】是結(jié)合附圖的受權(quán)利要求書(shū)保護(hù)的本發(fā)明的示例性實(shí)施例。相對(duì)于本發(fā)明的范圍，此類(lèi)描述旨在進(jìn)行示例而非加以限制。對(duì)此類(lèi)實(shí)施例加以詳盡的描述，使得本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以實(shí)施該主題發(fā)明，并且應(yīng)當(dāng)理解，在不脫離本主題發(fā)明的精神或范圍的前提下，可以實(shí)施具有一些變化的其他實(shí)施例。
[0024]在本發(fā)明全文中，在沒(méi)有明確指示與語(yǔ)境相反的情況下，應(yīng)當(dāng)理解，所述單獨(dú)的電路元件可以是單數(shù)或復(fù)數(shù)。例如，術(shù)語(yǔ)“電路”可以包括單個(gè)部件或多個(gè)部件，所述部件為有源和/或無(wú)源，并且連接或以其他方式耦合到一起(例如成為一個(gè)或多個(gè)集成電路芯片)，以提供所述功能。另外，術(shù)語(yǔ)“信號(hào)”可指一個(gè)或多個(gè)電流、一個(gè)或多個(gè)電壓、或數(shù)據(jù)信號(hào)。在這些圖中，類(lèi)似或相關(guān)的元件具有類(lèi)似或相關(guān)的字母、數(shù)字或字母數(shù)字指示符。此外，雖然在具體實(shí)施的語(yǔ)境中已討論了本發(fā)明使用分立的電子電路(優(yōu)選地為一個(gè)或多個(gè)集成電路芯片形式)，但作為另一種選擇，根據(jù)待處理的信號(hào)頻率或數(shù)據(jù)速率，此類(lèi)電路的任何部分的功能部件可以是使用一個(gè)或多個(gè)被適當(dāng)編程的處理器的器件。
[0025]文中描述的本發(fā)明通過(guò)結(jié)合使用受測(cè)設(shè)備(DUT)中存儲(chǔ)的預(yù)定義測(cè)試序列的優(yōu)勢(shì)，減少基于時(shí)分雙工(TDD)的通信系統(tǒng)(例如藍(lán)牙)的測(cè)試時(shí)間。此外，本發(fā)明還采用了并行測(cè)試DUT的方法，通常讓DUT使用相同頻譜同時(shí)發(fā)送結(jié)果會(huì)妨礙并行測(cè)試的執(zhí)行。一些優(yōu)選實(shí)施例使用存儲(chǔ)有預(yù)定義測(cè)試序列的DUT、具有矢量信號(hào)發(fā)生(VSG)和矢量信號(hào)分析(VSA)功能的測(cè)試儀和創(chuàng)新方法，將環(huán)回和單端測(cè)試功能結(jié)合，以使用藍(lán)牙通信或其他基于時(shí)分雙工(TDD)的通信獲得更高的DUT測(cè)試效率。
[0026]所述實(shí)施例的測(cè)試設(shè)備可以包括一個(gè)無(wú)線測(cè)試儀，例如包括矢量信號(hào)發(fā)生器(VSG)和矢量信號(hào)分析器(VSA)等其他電子部件。DUT可包括一個(gè)或多個(gè)電子部件和配置，例如多個(gè)嵌入式子系統(tǒng)，包括一個(gè)主處理器、存儲(chǔ)器(例如，非易失存儲(chǔ)器)、一個(gè)無(wú)線收發(fā)機(jī)以及一個(gè)或多個(gè)外圍設(shè)備。主處理器可被配置成通過(guò)各種控制接口來(lái)控制存儲(chǔ)器、無(wú)線收發(fā)機(jī)和外圍設(shè)備。通常，存儲(chǔ)器以固件形式存儲(chǔ)將被DUT使用的程序?？刂破魍ǔ？杀慌渲脼檫\(yùn)行生產(chǎn)測(cè)試軟件，所述生產(chǎn)測(cè)試軟件通過(guò)通用串行總線(USB)、串行外圍接口(SPI)、RS-232串行接口、通用接口總線(GPIB)、以太網(wǎng)等通信通道來(lái)控制測(cè)試設(shè)備。測(cè)試設(shè)備被配置為通過(guò)通信通道與DUT通信(例如，通過(guò)內(nèi)部無(wú)線收發(fā)機(jī))，通信通道可以是有線或無(wú)線接口。測(cè)試設(shè)備需要設(shè)置信號(hào)發(fā)送、信號(hào)接收和信號(hào)分析功能。不難理解，根據(jù)這些功能的實(shí)施方法，這樣的檢測(cè)裝置可通過(guò)一個(gè)測(cè)試儀或通過(guò)將多個(gè)測(cè)試儀器耦接在一起來(lái)實(shí)現(xiàn)。
[0027]參見(jiàn)圖4，可使用本領(lǐng)域公知硬件1100來(lái)實(shí)現(xiàn)要求權(quán)利保護(hù)的本發(fā)明實(shí)施測(cè)試方法的示例性實(shí)施例。例如，測(cè)試儀1104通?？砂ㄊ噶啃盘?hào)發(fā)生器(VSG)形式的信號(hào)源1108，信號(hào)發(fā)生器提供測(cè)試信號(hào)1110，將數(shù)據(jù)包傳遞給受測(cè)設(shè)備(DUT) 1101。作為應(yīng)答，DUT1101用來(lái)將返回?cái)?shù)據(jù)包1112發(fā)送給測(cè)試儀1104內(nèi)部的接收器1114，其通常為矢量信號(hào)分析器(VSA)的形式。(盡管DUT 1101通常為無(wú)線通信設(shè)備，且傳輸信號(hào)1110、1112所用的通信通道也可以是無(wú)線通道，然而在制造測(cè)試環(huán)境中此類(lèi)通信通道多采取有線形式。)如前所述，測(cè)試儀1104由控制器1106(例如，個(gè)人計(jì)算機(jī))控制，此控制器通過(guò)控制信號(hào)1116與測(cè)試儀1104通信，其中傳送各種控制信號(hào)和測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0028]圖5示出了 4個(gè)DUT(例如圖3所示)的環(huán)回響應(yīng)。(由測(cè)試儀發(fā)送至DUT的)數(shù)據(jù)包序列在被嵌入新數(shù)據(jù)包后由DUT發(fā)送回該測(cè)試儀。顯然，當(dāng)DUT在特定時(shí)隙期間未收到來(lái)自測(cè)試儀的數(shù)據(jù)包時(shí)，其不會(huì)返回?cái)?shù)據(jù)包。因此，每個(gè)DUT被配置為可發(fā)送回包含由測(cè)試儀發(fā)送的有效載荷數(shù)據(jù)的相應(yīng)數(shù)據(jù)包(例如圖3所示)。測(cè)試儀接口 406允許在輸入的環(huán)回?cái)?shù)據(jù)包中進(jìn)行選擇，因此其可一次一個(gè)地分析上述的環(huán)回?cái)?shù)據(jù)包。如圖5所示，在時(shí)隙I期間測(cè)試儀405對(duì)端口 I取樣，但是在這種情況下，與該端口連接的DUT不接收或返回?cái)?shù)據(jù)包。因此，在時(shí)隙I期間不存在數(shù)據(jù)采集。在時(shí)隙2期間，對(duì)端口 I取樣的測(cè)試儀確實(shí)采集到數(shù)據(jù)包，現(xiàn)在移至端口 2。在接下來(lái)的η個(gè)時(shí)隙期間，沒(méi)有數(shù)據(jù)包在端口 2被接收。測(cè)試儀405將該情況的發(fā)生記錄為故障，在該測(cè)試的剩余時(shí)間內(nèi)將不再對(duì)端口 2取樣?，F(xiàn)在，η+2時(shí)隙結(jié)束時(shí)，測(cè)試儀405移至端口 3，并且至此三個(gè)剩余的在工作的DUT均發(fā)送環(huán)回返回?cái)?shù)據(jù)包。因此，在時(shí)隙2+n+l期間，測(cè)試儀405將在端口 3采集數(shù)據(jù)包，然后移至端口 4。在時(shí)隙2+n+2期間，測(cè)試儀405將在端口 4采集返回?cái)?shù)據(jù)包。此時(shí)，發(fā)生“四至一”切換或衰減，從而使測(cè)試儀405的VSA能夠每次一個(gè)地接收并分析收到的環(huán)回?cái)?shù)據(jù)包。在一個(gè)公開(kāi)實(shí)施例中，測(cè)試儀接口 406可以是測(cè)試儀405的一部分(例如在其內(nèi)部)并由其主控制器控制。在另一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試儀接口 406可以與測(cè)試儀405分開(kāi)(例如在其外部)，并由測(cè)試儀405的主控制器通過(guò)控制接口(未顯示)控制。
[0029]在某些情況下，一些數(shù)據(jù)包可能不被一個(gè)或多個(gè)DUT接收，因此，可能不會(huì)在相應(yīng)的時(shí)隙期間產(chǎn)生環(huán)回?cái)?shù)據(jù)包。例如，一些數(shù)據(jù)包可能不被一個(gè)或多個(gè)DUT接收，這是合理的，因?yàn)閿?shù)據(jù)包是由接近DUT靈敏度極限的測(cè)試儀發(fā)送的。實(shí)際采集可能需要額外的時(shí)隙，以補(bǔ)償那些測(cè)試儀對(duì)端口進(jìn)行取樣而未收到數(shù)據(jù)包并因此未發(fā)送環(huán)回?cái)?shù)據(jù)包的次數(shù)，如上文所述。
[0030]圖6示出了單端測(cè)試，其中已知的數(shù)據(jù)包序列被發(fā)送給DUT 501，并在接收到某預(yù)定數(shù)量(η)的數(shù)據(jù)包后，DUT將測(cè)試“匯總”數(shù)據(jù)包發(fā)回測(cè)試儀502。在一些公開(kāi)實(shí)施例中，該系統(tǒng)可能使用圖1和2中所示的相同裝置。在圖6的設(shè)置中，DUT 501被配置為使用其預(yù)定義測(cè)試序列“知識(shí)”來(lái)確定為完成測(cè)試序列必須接收的相符數(shù)量的接收數(shù)據(jù)包或預(yù)定數(shù)量的接收比特(無(wú)論好的或壞的)。達(dá)到該預(yù)定數(shù)量時(shí)，DUT 501作出響應(yīng)將測(cè)試匯總數(shù)據(jù)包503發(fā)回測(cè)試儀502進(jìn)行分析。該“單端”測(cè)試工序所需的時(shí)間比環(huán)回工序少，因?yàn)閰R總數(shù)據(jù)包僅耗用一個(gè)時(shí)隙(返回匯總數(shù)據(jù)包503)，不論測(cè)試儀502將輸入數(shù)據(jù)包發(fā)給DUT501需使用多少個(gè)數(shù)據(jù)包和時(shí)隙。此外，由測(cè)試儀502發(fā)送給DUT 501的數(shù)據(jù)包可以隔得更近，因?yàn)橹辽贌o(wú)需在發(fā)送至DUT 501的數(shù)據(jù)包數(shù)量等于可引發(fā)匯總數(shù)據(jù)包的預(yù)定數(shù)量之前預(yù)測(cè)匯總數(shù)據(jù)包。
[0031]圖7示出了發(fā)送數(shù)據(jù)包序列609的測(cè)試儀605，數(shù)據(jù)包被拆分為4個(gè)數(shù)據(jù)包且被并行發(fā)送至多個(gè)DUT。在此例中，4個(gè)DUT被配置為接收數(shù)據(jù)包。因此，在優(yōu)選實(shí)施例中，測(cè)試儀605發(fā)送的數(shù)據(jù)包序列被復(fù)制且被同時(shí)發(fā)送至4個(gè)DUT中的每一個(gè)。作為響應(yīng)，在接收到某預(yù)定數(shù)量(η)的數(shù)據(jù)包后，DUT返回它們的匯總數(shù)據(jù)包607。匯總數(shù)據(jù)包607充當(dāng)單端確認(rèn)數(shù)據(jù)包(例如圖6的匯總數(shù)據(jù)包503)。公開(kāi)實(shí)施例提供“四至一”切換或選擇性衰減(例如通過(guò)測(cè)試儀接口 606)與測(cè)試儀605連接，每次一個(gè)地選擇從DUT接收的數(shù)據(jù)包進(jìn)行分析。如圖7中所示，配置在測(cè)試儀接口 606端口 2和3上的各個(gè)DUT收到了 “η”個(gè)數(shù)據(jù)包，開(kāi)始在時(shí)隙η+1期間發(fā)送一個(gè)匯總數(shù)據(jù)包607，隨后在時(shí)隙η+2、η+3、η+4期間重復(fù)3次。但是，端口 I和4上的DUT耗用一個(gè)額外時(shí)隙接收其η個(gè)數(shù)據(jù)包，因此開(kāi)始在時(shí)隙η+2期間發(fā)送第一個(gè)匯總數(shù)據(jù)包607，并在n+3、n+4、n+5期間繼續(xù)發(fā)送三個(gè)重復(fù)的匯總數(shù)據(jù)包607。測(cè)試儀605通過(guò)在端口 I上采樣并監(jiān)控端口 2、3、4在時(shí)隙η+1開(kāi)始其采集例程。如圖所示，在時(shí)隙I期間測(cè)試儀605已在端口 2和3感測(cè)到數(shù)據(jù)包，但是在端口 I未采集到數(shù)據(jù)包。因此，根據(jù)公開(kāi)實(shí)施例，測(cè)試儀605將根據(jù)規(guī)定的算法繼續(xù)其操作并移動(dòng)至下一個(gè)端口，在該端口上測(cè)試儀605繼續(xù)監(jiān)測(cè)到達(dá)的匯總數(shù)據(jù)包607。在端口 2和3感測(cè)到匯總數(shù)據(jù)包607后，測(cè)試儀605計(jì)劃在時(shí)隙η+2和n+3期間到達(dá)端口 2然后到達(dá)端口 3 (或相反)。例如，在時(shí)隙2期間，測(cè)試儀605移至監(jiān)測(cè)端口 2，并從配置在該端口的相應(yīng)DUT采集匯總數(shù)據(jù)包607。然后，測(cè)試儀605在時(shí)隙3期間移至監(jiān)測(cè)端口 3，并從配置在該端口的相應(yīng)DUT采集匯總數(shù)據(jù)包607。測(cè)試儀605還被配置為監(jiān)測(cè)其他端口，在此例中，測(cè)試儀在時(shí)隙2期間“看到”匯總數(shù)據(jù)包607已開(kāi)始到達(dá)端口 I和4。因此同樣地，在時(shí)隙n+4和n+5期間，測(cè)試儀605將計(jì)劃到達(dá)端口 4然后到達(dá)端口 I (或相反)。例如，在時(shí)隙4期間，測(cè)試儀605對(duì)端口 4取樣，并從配置在該端口的相應(yīng)DUT采集匯總數(shù)據(jù)包607。最終，在時(shí)隙5期間，測(cè)試儀605從端口 I采集最后一個(gè)匯總數(shù)據(jù)包607。
[0032]因此，在圖7的示例性附圖中，在第一個(gè)時(shí)隙中，不能從與端口 I和4連接的DUT得到返回匯總數(shù)據(jù)包607。因此，在時(shí)隙η+1中，采集不到匯總數(shù)據(jù)包。測(cè)試儀605繼續(xù)移動(dòng)，以便在連續(xù)時(shí)隙(η+2至n+4)中從與端口 2、3、4連接的DUT采集匯總數(shù)據(jù)包607，然后在時(shí)隙n+5期間與從端口 I連接的相應(yīng)DUT采集匯總數(shù)據(jù)包607。所以，不難理解，對(duì)于本文所述的并行測(cè)試的“M”個(gè)DUT，M個(gè)DUT需要返回最少M(fèi)個(gè)匯總數(shù)據(jù)包607才能確?？蓮拿總€(gè)DUT采集到匯總數(shù)據(jù)包。
[0033]圖8示出了根據(jù)示例性公開(kāi)實(shí)施例的測(cè)試方案，該測(cè)試方案結(jié)合環(huán)回響應(yīng)和誤碼率匯總。測(cè)試儀通過(guò)向多個(gè)DUT的每個(gè)接收器并行發(fā)送數(shù)據(jù)包序列“A”(701，703，705，707)開(kāi)始工作。在環(huán)回A序列中，數(shù)據(jù)包701、703、705和707被發(fā)給4個(gè)DUT。然后，接收數(shù)據(jù)包的每個(gè)DUT然后再將有效載荷重包到新數(shù)據(jù)包(例如702、704、706、708)中，然后發(fā)回測(cè)試儀，作為發(fā)送機(jī)測(cè)試?yán)痰囊徊糠?。如圖所示，每個(gè)DUT在環(huán)回A序列期間將環(huán)回?cái)?shù)據(jù)包發(fā)給測(cè)試儀，所以完成該示例性過(guò)程需要8個(gè)時(shí)隙。該實(shí)施例代表理想或最佳的狀況。更有可能的情況是，由于可能在接近靈敏度下限的情況下發(fā)送數(shù)據(jù)包，一個(gè)或多個(gè)DUT可能收不到輸入數(shù)據(jù)包，因此在特定時(shí)隙期間不會(huì)返回環(huán)回?cái)?shù)據(jù)包。如前所述，在這些情況下，在測(cè)試儀采集到所有環(huán)回?cái)?shù)據(jù)包之前可能耗用一個(gè)或多個(gè)額外時(shí)隙。
[0034]在環(huán)回B序列期間，測(cè)試儀可以發(fā)送與環(huán)回A序列至少具有一個(gè)不同特性的數(shù)據(jù)包(例如頻率、功率、調(diào)制)，DUT在收到數(shù)據(jù)包后將再次將有效載荷重包到新數(shù)據(jù)包中并環(huán)回給測(cè)試儀。當(dāng)前實(shí)施例示出了理想化的完成示例性過(guò)程的8個(gè)時(shí)隙，該示例性過(guò)程假設(shè)每個(gè)DUT均成功接收各個(gè)輸入數(shù)據(jù)包。
[0035]環(huán)回A序列和環(huán)回B序列在測(cè)試發(fā)送參數(shù)。也可以累計(jì)誤碼率信息，因此當(dāng)環(huán)回A和環(huán)回B發(fā)送(TX)測(cè)試序列結(jié)束時(shí)，測(cè)試儀可以發(fā)送預(yù)期用于誤碼率計(jì)算的額外數(shù)據(jù)包，或DUT可能已使用TX測(cè)試數(shù)據(jù)包累計(jì)BER數(shù)據(jù)。因此在BER B序列期間，作為對(duì)測(cè)試儀發(fā)送的匯總數(shù)據(jù)包請(qǐng)求的響應(yīng)，DUT將發(fā)送匯總數(shù)據(jù)包，如圖所示。盡管圖8示出了請(qǐng)求和接收BER匯總數(shù)據(jù)包所需的8個(gè)時(shí)隙序列，在使用環(huán)回A和環(huán)回B序列的情況下，從所有受測(cè)DUT采集匯總數(shù)據(jù)包實(shí)際可能需要額外時(shí)隙。
[0036]圖9示出了與在圖8產(chǎn)生的大致類(lèi)似的測(cè)試序列。但是，圖9在環(huán)回A和環(huán)回B序列之間啟動(dòng)了誤碼率上傳(BER A)序列。環(huán)回B序列可能構(gòu)成與環(huán)回A不同的功率變化。因此本發(fā)明的配置和采用的方法提供了適合于各種應(yīng)用序列數(shù)據(jù)特性的經(jīng)改進(jìn)的測(cè)試靈活性和生成分析結(jié)果。
[0037]參見(jiàn)圖10，在環(huán)回序列結(jié)束時(shí)，測(cè)試儀繼續(xù)發(fā)送可能添增在環(huán)回序列期間累計(jì)的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)包，且?guī)в杏?jì)算誤包率(PER)和誤碼率(BER)所需的數(shù)據(jù)。雖然圖示了 BER序列前的5個(gè)數(shù)據(jù)包序列，但可能使用額外的序列。準(zhǔn)備就緒時(shí)，DUT發(fā)送一個(gè)BER匯總數(shù)據(jù)包。在圖10中，所有DUT同時(shí)準(zhǔn)備就緒，因此BER序列在8個(gè)時(shí)隙中結(jié)束。這是最佳的狀況。但是，如圖11中所示，在相同的初始時(shí)隙期間可能所有DUT均未準(zhǔn)備就緒。圖11的實(shí)施例示出了在第一個(gè)時(shí)隙1002期間為進(jìn)行BER計(jì)算而未能從相應(yīng)DUT 1000接收的數(shù)據(jù)包。因此，所公開(kāi)發(fā)明的實(shí)施例可能需要一個(gè)或多個(gè)額外時(shí)隙1004來(lái)接收延遲的數(shù)據(jù)包1006，以結(jié)束B(niǎo)ER測(cè)試。
[0038]本發(fā)明所公開(kāi)的采用預(yù)定義序列的系統(tǒng)和方法具有環(huán)回測(cè)試并將RX數(shù)據(jù)包并行發(fā)送給DUT，與RX/TX測(cè)試相比耗時(shí)更短。當(dāng)與用于測(cè)量誤碼率的單端測(cè)試結(jié)合時(shí)，本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的時(shí)間壓縮。與使用帶有單個(gè)VSA/VSG的測(cè)試儀進(jìn)行的DUT串行測(cè)試相比，總體好處是測(cè)試時(shí)間更短，與基本上同時(shí)使用各自帶有VSA和VSG的多個(gè)測(cè)試儀測(cè)試多個(gè)DUT相比，測(cè)試系統(tǒng)的成本更低。
[0039]根據(jù)上述示例性實(shí)施例，DUT針對(duì)各個(gè)數(shù)據(jù)塊η，η+1, η+2,…的測(cè)試包括以不同的相應(yīng)頻率F1，F(xiàn)2，F(xiàn)3，…來(lái)發(fā)送這些數(shù)據(jù)塊。然而，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員顯而易見(jiàn)的是，數(shù)據(jù)塊信號(hào)的發(fā)送可包括其他信號(hào)特征上的改變。例如，除了改變數(shù)據(jù)包發(fā)送所憑借的頻率之外或作為其替代，也可以改變其他信號(hào)特征，包括但不限于數(shù)據(jù)速率、信號(hào)調(diào)制類(lèi)型和信號(hào)功率。因此，規(guī)定的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)可根據(jù)需要涉及各種信號(hào)特征，包括但不限于頻率、數(shù)據(jù)速率、信號(hào)調(diào)制類(lèi)型和信號(hào)功率。
[0040]對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員將顯而易見(jiàn)的是，在不脫離本公開(kāi)的情況下，可以在本發(fā)明所公開(kāi)的裝置和方法中進(jìn)行各種修改和變型。另外，在考慮了說(shuō)明書(shū)的情況下，該裝置和方法的其他實(shí)施例對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員將顯而易見(jiàn)。規(guī)格和示例應(yīng)被視為僅用于舉例說(shuō)明，本發(fā)明的真實(shí)范圍由以下權(quán)利要求及其等同形式限定。
[0041]本技術(shù)中所述系統(tǒng)或其任何部件可以計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的形式呈現(xiàn)。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的典型例子包括通用計(jì)算機(jī)、經(jīng)過(guò)編程的微處理器、微控制器、外圍集成電路元件和能夠?qū)崿F(xiàn)構(gòu)成本技術(shù)的方法的步驟的其他器件或器件配置。
[0042]計(jì)算機(jī)系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)、輸入設(shè)備、顯示單元和/或互聯(lián)網(wǎng)。計(jì)算機(jī)還包括微處理器。微處理器連接到通信總線。計(jì)算機(jī)也包括存儲(chǔ)器。存儲(chǔ)器可以包括隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)和只讀存儲(chǔ)器(ROM)。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)還包括存儲(chǔ)設(shè)備。存儲(chǔ)設(shè)備可以是硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器或可拆卸的存儲(chǔ)驅(qū)動(dòng)器，例如，軟盤(pán)驅(qū)動(dòng)器、光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器等。存儲(chǔ)設(shè)備也可以是用于將計(jì)算機(jī)程序或其他指令加載到計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的其他類(lèi)似裝置。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)也包括通信單元。通信單元允許計(jì)算機(jī)通過(guò)I/O接口連接到其他數(shù)據(jù)庫(kù)和互聯(lián)網(wǎng)。通信單元允許向其他數(shù)據(jù)庫(kù)傳送數(shù)據(jù)和從其他數(shù)據(jù)庫(kù)接收數(shù)據(jù)。通信單元可包括調(diào)制解調(diào)器、以太網(wǎng)卡或任何使得計(jì)算機(jī)系統(tǒng)能夠連接到數(shù)據(jù)庫(kù)和LAN、MAN、WAN和互聯(lián)網(wǎng)等網(wǎng)絡(luò)的類(lèi)似設(shè)備。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)有利于用戶通過(guò)可通過(guò)I/O接口訪問(wèn)系統(tǒng)的輸入設(shè)備進(jìn)行輸入。
[0043]計(jì)算機(jī)系統(tǒng)執(zhí)行存儲(chǔ)在一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)元件中的指令集，以處理輸入的數(shù)據(jù)。存儲(chǔ)元件也可根據(jù)需要保持?jǐn)?shù)據(jù)或其他信息。存儲(chǔ)元件可以為存在于處理器中的信息源或物理存儲(chǔ)元件的形式。
[0044]指令集可以包括多個(gè)命令，這些命令指示處理器執(zhí)行具體任務(wù)，例如構(gòu)成本技術(shù)的方法的步驟。指令集可以為軟件程序的形式。此外，軟件可以為單獨(dú)程序的集合、具有較大程序的程序模塊或程序模塊的一部分的形式，如在本技術(shù)中那樣。軟件也可以包括具有面向?qū)ο蟮木幊绦问降哪K化編程。處理機(jī)可以響應(yīng)用戶命令、此前的處理的結(jié)果或由另一個(gè)處理機(jī)發(fā)出的請(qǐng)求來(lái)處理輸入數(shù)據(jù)。
[0045]雖然給出了以上描述以使本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員能夠產(chǎn)生和使用本技術(shù)，但是該描述是在要求獲得專(zhuān)利的語(yǔ)境中提供的。本說(shuō)明書(shū)是用于實(shí)現(xiàn)本技術(shù)的目前想到的最佳方法。對(duì)于優(yōu)選實(shí)施例的各種修改對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員將顯而易見(jiàn)，并且本技術(shù)的一般原理可以應(yīng)用于其他實(shí)施例，而且可以使用本技術(shù)的一些特征而無(wú)需對(duì)應(yīng)使用其他特征。因此，本技術(shù)并非意圖局限于所示實(shí)施例，而是被賦予與本文所述原理和特征一致的最寬泛的范圍。
【權(quán)利要求】
1.在測(cè)試周期內(nèi)測(cè)試多個(gè)通信設(shè)備的方法，包括: 從測(cè)試設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)包序列； 并行復(fù)制所述數(shù)據(jù)包序列，以產(chǎn)生并行數(shù)據(jù)包序列； 將每個(gè)并行數(shù)據(jù)包序列發(fā)送給多個(gè)受測(cè)設(shè)備(DUT)中的相應(yīng)設(shè)備； 將所接收的數(shù)據(jù)包序列重包，并將所重包的數(shù)據(jù)包從所述多個(gè)DUT中的每一個(gè)DUT發(fā)送至測(cè)試儀；以及 通過(guò)評(píng)估重包的數(shù)據(jù)包是否已在測(cè)試周期內(nèi)從相應(yīng)DUT轉(zhuǎn)發(fā)來(lái)從所述多個(gè)DUT確定故障 DUT0
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括: 在規(guī)定時(shí)隙內(nèi)從所述重包的數(shù)據(jù)包中選擇，以確定故障DUT。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，還包括: 評(píng)估是否能夠在規(guī)定時(shí)隙內(nèi)得到重包的數(shù)據(jù)包，如不能，則評(píng)估是否能夠在所述測(cè)試周期的另一個(gè)時(shí)隙內(nèi)得到另一個(gè)重包的數(shù)據(jù)包。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，還包括: 重新確定之前未能在規(guī)定時(shí)隙內(nèi)得到的重包的數(shù)據(jù)包是否能夠在所述測(cè)試周期的另一個(gè)時(shí)隙內(nèi)得到。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中確定步驟包括:通過(guò)以規(guī)定順序選擇與“η”個(gè)DUT中的一個(gè)相關(guān)的決定因素，確定是否能夠從“η”個(gè)DUT的列表中得到重包的數(shù)據(jù)包。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述決定因素包括:選擇在“η”個(gè)DUT中的相應(yīng)DUT和所述測(cè)試儀之間所分配的通信連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中所述通信連接是與“η”個(gè)DUT中的相應(yīng)DUT和所述測(cè)試儀電氣連接的端口。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中所述通信連接被無(wú)線地測(cè)試。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括發(fā)送具有彼此不同的特性的數(shù)據(jù)包。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中所述不同的特性包括頻率、功率和調(diào)制。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括用所述重包的數(shù)據(jù)包來(lái)確定誤碼率(BER)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，還包括通過(guò)發(fā)送額外的數(shù)據(jù)包序列來(lái)補(bǔ)充所述重包的數(shù)據(jù)包以確定誤碼率(BER)。
13.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，還包括在“評(píng)估是否能夠在規(guī)定時(shí)隙內(nèi)得到所述重包的數(shù)據(jù)包”的步驟和“評(píng)估是否能夠在所述測(cè)試周期的另一個(gè)時(shí)隙內(nèi)得到另一個(gè)重包的數(shù)據(jù)包”的步驟之間的一個(gè)時(shí)隙中用所述重包的數(shù)據(jù)包確定誤碼率(BER)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中在所述測(cè)試周期的最后一個(gè)時(shí)隙中確定BER發(fā)生。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，還包括通過(guò)發(fā)送額外的數(shù)據(jù)包序列來(lái)補(bǔ)充所述重包的數(shù)據(jù)包以確定誤包率(PER)。
16.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述多個(gè)DUT包括M個(gè)DUT，所述重包的數(shù)據(jù)包包括來(lái)自所述M個(gè)DUT中每個(gè)DUT的至少M(fèi)個(gè)重包的數(shù)據(jù)包。
17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述將所重包的數(shù)據(jù)包從所述多個(gè)DUT中的每一個(gè)DUT發(fā)送至測(cè)試儀包括:在所述的多個(gè)DUT之間切換，以從中獲取相應(yīng)的匯總數(shù)據(jù)包。
18.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述將所重包的數(shù)據(jù)包從所述多個(gè)DUT中的每一個(gè)DUT發(fā)送至測(cè)試儀包括:在所述多個(gè)DUT之間依次切換，以從中獲取相應(yīng)的匯總數(shù)據(jù)包。
19.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述將所重包的數(shù)據(jù)包從所述多個(gè)DUT中的每一個(gè)DUT發(fā)送至測(cè)試儀包括:在來(lái)自所述多個(gè)DUT的相應(yīng)匯總數(shù)據(jù)包中的可得到的匯總數(shù)據(jù)包中進(jìn)行切換。
20.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述將所重包的數(shù)據(jù)包從所述多個(gè)DUT中的每一個(gè)DUT發(fā)送至測(cè)試儀包括:在來(lái)自所述多個(gè)DUT的相應(yīng)匯總數(shù)據(jù)包中的可得到的匯總數(shù)據(jù)包中依次切換。
21.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述通過(guò)評(píng)估重包的數(shù)據(jù)包是否已在測(cè)試周期內(nèi)從相應(yīng)DUT轉(zhuǎn)發(fā)來(lái)從所述多個(gè)DUT中確定故障DUT包括:在所述多個(gè)DUT中切換，以從中獲取相應(yīng)的匯總數(shù)據(jù)包。
22.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述通過(guò)評(píng)估重包的數(shù)據(jù)包是否已在測(cè)試周期內(nèi)從相應(yīng)DUT轉(zhuǎn)發(fā)來(lái)從所述多個(gè)DUT中確定故障DUT包括:在所述多個(gè)DUT中依次切換，以從中獲取相應(yīng)的匯總數(shù)據(jù)包。
23.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述通過(guò)評(píng)估重包的數(shù)據(jù)包是否已在測(cè)試周期內(nèi)從相應(yīng)DUT轉(zhuǎn)發(fā)來(lái)從所述多個(gè)DUT中確定故障DUT包括:在來(lái)自所述多個(gè)DUT的相應(yīng)匯總數(shù)據(jù)包的可得到的匯總數(shù)據(jù)包中進(jìn)行切換。
24.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述通過(guò)評(píng)估重包的數(shù)據(jù)包是否已在測(cè)試周期內(nèi)從相應(yīng)DUT轉(zhuǎn)發(fā)來(lái)從所述多個(gè)DUT中確定故障DUT包括:在來(lái)自所述多個(gè)DUT的相應(yīng)匯總數(shù)據(jù)包的可得到的匯總數(shù)據(jù)包中依次切換。
【文檔編號(hào)】H04L1/24GK104471880SQ201380023291
【公開(kāi)日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2013年4月24日 優(yōu)先權(quán)日:2012年5月2日
【發(fā)明者】克里斯蒂安·沃爾夫·厄爾高, 王瑞祖, 厄爾德姆·賽坎·厄爾多甘, 馬修·菲利普 申請(qǐng)人:萊特普茵特公司