光纜光纖串接檢測(cè)裝置與方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種光纜光纖串接檢測(cè)裝置與方法，通過(guò)光纖連接器將該待測(cè)試光纖的一端、跳纖和其他待測(cè)試的光纖首尾連接，利用光時(shí)域反射儀在待測(cè)試的光纜光纖的一端進(jìn)行測(cè)試，獲取光路測(cè)試曲線，根據(jù)所述光路測(cè)試曲線獲取光纜光纖的數(shù)據(jù)參數(shù)，能夠同時(shí)對(duì)多條光纖進(jìn)行檢測(cè)，快速定位問(wèn)題光纖，耗時(shí)短效率高；而且不需要對(duì)每一條光纖檢測(cè)時(shí)都外接尾纖以消除盲區(qū)的影響，進(jìn)一步加大了檢測(cè)的時(shí)間，提高了檢測(cè)效率；方便對(duì)光纜光纖中間的連接點(diǎn)和兩端接頭進(jìn)行雙向測(cè)試。
【專利說(shuō)明】光纜光纖串接檢測(cè)裝置與方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及光通信【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地涉及一種光纜光纖串接檢測(cè)裝置與方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 光纜網(wǎng)絡(luò)是現(xiàn)代信息傳輸?shù)幕S著我國(guó)信息化建設(shè)的進(jìn)行，光纜架設(shè)大量進(jìn) 行，為了保障通信設(shè)施工程質(zhì)量和日后通信業(yè)務(wù)的順利開通，需要對(duì)完工的光纜進(jìn)行檢測(cè)， 對(duì)光纜長(zhǎng)度、線路損耗、接頭損耗等數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)試，這些數(shù)據(jù)可以作為日后運(yùn)營(yíng)維護(hù)的重要 資料。
[0003] 目前，采用較多的光纜檢測(cè)方法是絕對(duì)功率測(cè)量法和后向散射法。絕對(duì)功率測(cè)量 法主要是通過(guò)分別連接在被測(cè)光纜光纖兩端的紅光源和光功率計(jì)，根據(jù)發(fā)光功率和收光功 率差值的絕對(duì)功率來(lái)測(cè)量光纜纖芯的總衰耗，這種方法只能對(duì)光纜光纖的總衰耗進(jìn)行測(cè) 試，不能獲取光纜的其它參數(shù)。向后散射法主要通過(guò)光時(shí)域反射儀（OTDR，Optical Time Domain Reflectmeter)，將之連接在被測(cè)光纜光纖一端，通過(guò)獲取光纖的傳輸光的背向散 射來(lái)測(cè)量光纜的長(zhǎng)度、線路損耗、接頭損耗等。
[0004] 0TDR是光纜工程施工和光纜線路維護(hù)工作中最重要也是使用頻率最高的測(cè)試儀 表，它能將光纖鏈路的完好情況和故障狀態(tài)，以曲線的形式清晰、直觀的顯示出來(lái)，可以方 便地測(cè)量得到光纖的長(zhǎng)度、線路損耗、熔接損耗、熔接點(diǎn)和故障點(diǎn)位置等信息?，F(xiàn)有技術(shù)中 在使用0TDR檢測(cè)光纜時(shí)，只能夠針對(duì)單根光纖進(jìn)行檢測(cè)，耗時(shí)長(zhǎng)效率低。并且，0TDR和光 纖接頭部分會(huì)導(dǎo)致0TDR檢測(cè)存在盲區(qū)，影響測(cè)量精度。雖然，現(xiàn)有技術(shù)中通過(guò)在0TDR和光 纖之間外接尾纖的方式來(lái)消除盲區(qū)的影響，但是如果針對(duì)每一條光纖在檢測(cè)時(shí)都外接尾 纖進(jìn)行，又進(jìn)一步加大了檢測(cè)所需的時(shí)長(zhǎng)，降低了效率。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 為此，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于現(xiàn)有技術(shù)中用于光纜光纖檢測(cè)的方法檢測(cè) 效率低，從而提出一種能夠提高檢測(cè)效率的光纜光纖串接檢測(cè)裝置與方法。
[0006] 為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：
[0007] -種光纜光纖串接檢測(cè)裝置，包括：
[0008] 光時(shí)域反射儀、至少兩根跳纖和光纖連接器；所述光時(shí)域反射儀信號(hào)端與一條待 測(cè)試光纖的一端連接，通過(guò)光纖連接器將該待測(cè)試光纖的另一端、所述跳纖和其他待測(cè)試 的光纖首尾連接。
[0009] 上述光纜光纖串接檢測(cè)裝置，還包括：
[0010] 跳纖夾排，其上設(shè)置有若干卡孔，跳纖穿過(guò)所述卡孔后被所述跳纖夾排固定。
[0011] 上述光纜光纖串接檢測(cè)裝置，所述跳纖夾排由第一夾排部件和第二夾排部件拼接 組成。
[0012] 上述光纜光纖串接檢測(cè)裝置，所述跳纖在連接兩條光纖時(shí)保持一定的曲率半徑， 所述曲率半徑大于所述跳纖的最小彎曲半徑。
[0013] 一種光纜光纖串接檢測(cè)方法，包括如下步驟：
[0014] S1 :利用權(quán)利要求1-4任一所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置對(duì)待測(cè)試的光纜光纖進(jìn) 行首尾連接；
[0015] S2:利用光時(shí)域反射儀在待測(cè)試的光纜光纖的一端進(jìn)行測(cè)試，獲取光路測(cè)試曲 線.
[0016] S3:根據(jù)所述光路測(cè)試曲線獲取光纜光纖的數(shù)據(jù)參數(shù)，所述數(shù)據(jù)參數(shù)包括光纜長(zhǎng) 度、線路損耗和接頭損耗。
[0017] 上述光纜光纖串接檢測(cè)方法，根據(jù)所述光路測(cè)試曲線上的峰值區(qū)分每條被測(cè)光 纖。
[0018] 本發(fā)明的上述技術(shù)方案相比現(xiàn)有技術(shù)具有以下優(yōu)點(diǎn)
[0019] (1)本發(fā)明所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置與方法，通過(guò)光纖連接器將該待測(cè)試光 纖的一端、跳纖和其他待測(cè)試的光纖首尾連接，利用光時(shí)域反射儀在待測(cè)試的光纜光纖的 一端進(jìn)行測(cè)試，獲取光路測(cè)試曲線，根據(jù)所述光路測(cè)試曲線獲取光纜光纖的數(shù)據(jù)參數(shù)，能夠 同時(shí)對(duì)多條光纖進(jìn)行檢測(cè)，快速定位問(wèn)題光纖，耗時(shí)短效率高；而且不需要對(duì)每一條光纖檢 測(cè)時(shí)都外接尾纖以消除盲區(qū)的影響，進(jìn)一步加大了檢測(cè)的時(shí)間，提高了檢測(cè)效率；方便對(duì)光 纜光纖中間的連接點(diǎn)和兩端接頭進(jìn)行雙向測(cè)試。
[0020] (2)本發(fā)明所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置與方法，采用跳纖夾排可實(shí)現(xiàn)對(duì)跳纖進(jìn) 行固定，整理作用，防止跳接錯(cuò)誤，跳纖夾排上設(shè)置的卡孔可根據(jù)跳纖的數(shù)量進(jìn)行定制。
[0021] (3)本發(fā)明所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置與方法，所述跳纖夾排由第一夾排部件 和第二夾排部件拼接組成，支持拼接處理，在待測(cè)試光纜光纖數(shù)量較多的情況下也能方便 使用。
[0022] (4)本發(fā)明所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置與方法，所述跳纖在連接兩條光纖時(shí)保 持一定的曲率半徑，能夠防止跳纖的彎曲損耗。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0023] 為了使本發(fā)明的內(nèi)容更容易被清楚的理解，下面根據(jù)本發(fā)明的具體實(shí)施例并結(jié)合 附圖，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明，其中
[0024] 圖1是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的一種光纜光纖串接檢測(cè)裝置示意圖；
[0025] 圖2是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的一種光纜光纖串接檢測(cè)裝置中的跳纖夾排；
[0026] 圖3是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的一種光纜光纖串接檢測(cè)方法流程圖；
[0027] 圖4是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的一種光纜光纖串接檢測(cè)實(shí)施示意圖；
[0028] 圖5是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的一種應(yīng)用光纜光纖串接檢測(cè)方法的0TDR測(cè)試曲線；
[0029] 圖6是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的一種應(yīng)用光纜光纖串接檢測(cè)方法時(shí)存在斷纖的0TDR 測(cè)試曲線。
[0030] 圖中附圖標(biāo)記表示為：1_光時(shí)域反射儀、2-跳纖、3-光纖連接器、4-跳纖夾排、 5-光配、6-待測(cè)試光纖、7-光纜、8-卡孔。

【具體實(shí)施方式】
[0031] 實(shí)施例1
[0032] 本實(shí)施例提供了一種光纜光纖串接檢測(cè)裝置，如圖1所示，包括光時(shí)域反射儀1、 至少兩根跳纖2和光纖連接器3 ;所述光時(shí)域反射儀1的信號(hào)端與一條待測(cè)試光纖6的一 端連接，通過(guò)光纖連接器3將該待測(cè)試光纖6的另一端、所述跳纖2和其他待測(cè)試的光纖首 尾連接。
[0033] 其中所述待測(cè)試的光纖可以是整條光纜光纖也可以是一條光纜上的多條光纖，對(duì) 所有待測(cè)試的光纖首尾連接完成后可以組成一個(gè)完整的光路通道，為方便簡(jiǎn)化說(shuō)明圖示， 圖中只畫出一條光纜中的6條光纖串接示意圖，在光纜7的兩端進(jìn)行兩兩跳接，且兩端進(jìn)行 對(duì)錯(cuò)跳接，光時(shí)域反射儀1只需連接被測(cè)光纜7的一端就可以進(jìn)行檢測(cè)。
[0034] 由于測(cè)試原理和光纖結(jié)構(gòu)上的原因，用光時(shí)域反射儀1單向測(cè)試會(huì)出現(xiàn)虛假增益 的現(xiàn)象，相應(yīng)地也會(huì)出現(xiàn)虛假衰耗的現(xiàn)象，對(duì)于光纜的一個(gè)接頭來(lái)說(shuō)，用兩個(gè)方向衰減值的 數(shù)學(xué)平均數(shù)才能準(zhǔn)確反映其真實(shí)的衰耗值。使用光纜光纖串接檢測(cè)裝置可方便對(duì)光纜中間 接續(xù)點(diǎn)和兩端接頭進(jìn)行雙向測(cè)試，并能夠準(zhǔn)確評(píng)估接頭的好壞。
[0035] 光纜光纖檢測(cè)裝置還包括：
[0036] 跳纖夾排4,其上設(shè)置有若干卡孔8,跳纖2穿過(guò)所述卡孔8后被所述跳纖夾排4 固定，如圖2所示，采用跳纖夾排4可實(shí)現(xiàn)對(duì)跳纖2進(jìn)行固定，整理作用，防止跳接錯(cuò)誤，跳 纖夾排4上設(shè)置的卡孔8可根據(jù)跳纖2的數(shù)量進(jìn)行定制。
[0037] 所述跳纖夾排4由第一夾排部件和第二夾排部件拼接組成，支持拼接處理，在需 要的時(shí)候也可以有第三夾排部件、第四夾排部件等，這樣在待測(cè)試光纜光纖數(shù)量較多的情 況下也能方便使用。
[0038] 所述跳纖2在連接兩條光纖時(shí)保持一定的曲率半徑，所述曲率半徑大于所述跳纖 2的最小彎曲半徑，能夠防止跳纖2的彎曲損耗。最小彎曲半徑就是指保證光纖在彎曲時(shí)沒(méi) 有損耗或者損耗很小的前提下，光纖所能彎成的最小圓角半徑。不同的光纖最小彎曲半徑 也不一樣，有些光纖的最小彎曲半徑是十幾毫米，有些光纖的最小彎曲半徑是二十幾毫米， 有些光纖的最小彎曲半徑是30毫米，例如跳纖2可以選取G652光纖，它的最小彎曲半徑為 30mm。30mm是所有光纖最小彎曲半徑值中的最大值。優(yōu)選地，跳纖2的曲率半徑大于30mm 時(shí)就能夠防止跳纖2的彎曲損耗。所述跳纖2可根據(jù)所述光纖連接器3的不同有多種類型， 一般選取比普通跳纖稍粗，韌性更大的跳纖，可有效的防止跳纖的彎曲損耗。
[0039] 所述光纖連接器3的卡口經(jīng)過(guò)了一定的改進(jìn)，在雙向測(cè)試和重點(diǎn)檢測(cè)的時(shí)候可以 方便快速進(jìn)行拔插，節(jié)省時(shí)間，提高效率。
[0040] 本實(shí)施例提供的光纜光纖串接檢測(cè)裝置，通過(guò)光纖連接器3將該待測(cè)試光纖6的 一端、跳纖2和其他待測(cè)試的光纖首尾連接，利用光時(shí)域反射儀1在待測(cè)試的光纜光纖的一 端進(jìn)行測(cè)試，能夠同時(shí)對(duì)多條光纖進(jìn)行檢測(cè)，快速定位問(wèn)題光纖，耗時(shí)短效率高；而且不需 要對(duì)每一條光纖檢測(cè)時(shí)都外接尾纖以消除盲區(qū)的影響，進(jìn)一步加大了檢測(cè)的時(shí)間，提高了 檢測(cè)效率；方便對(duì)光纜光纖中間的連接點(diǎn)和兩端接頭進(jìn)行雙向測(cè)試。
[0041] 實(shí)施例2
[0042] 本實(shí)施例提供了一種光纜光纖串接檢測(cè)方法，如圖3所示，包括如下步驟：
[0043] S1 :利用實(shí)施例1所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置對(duì)待測(cè)試的光纜光纖進(jìn)行首尾 連接，如圖4所示，在光纜7的一端用光纜光纖串接檢測(cè)裝置從第1條光纖開始依次在光配 5進(jìn)行兩兩跳接，可依照此方法對(duì)待測(cè)試的光纜光纖一次全部跳接完畢，為簡(jiǎn)化說(shuō)明圖示， 本實(shí)施例中只對(duì)一條光纜的6條光纖進(jìn)行串接測(cè)試。在光纜7另一端也就是測(cè)試端，從光 纜7的第2條光纖開始依次在光配5進(jìn)行兩兩跳接，跳接完畢后，全部跳接光纜光纖可形成 一條完整光路通道：A?A'?B'?B?C?C'?D'?D?E?E'?F'?F，其中A、 A'、B'、B、C、C'、D'、D、E、E'、F'、F 為光纜光纖的光配口。
[0044] S2 :利用光時(shí)域反射儀1在待測(cè)試的光纜光纖的一端進(jìn)行測(cè)試，獲取光路測(cè)試曲 線，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試工作人員可從第1條光纖，即從光配A 口連接光時(shí)域反射儀1，設(shè)定適當(dāng)?shù)臏y(cè)試 參數(shù)，對(duì)串接的光路進(jìn)行測(cè)試。
[0045] 如果串接形成的光路通道完好并且選擇的光時(shí)域反射儀量程、脈沖寬度等參數(shù)合 適，則可得到圖5所示0TDR光路測(cè)試曲線，其橫軸為測(cè)試光路長(zhǎng)度（單位為km)，縱軸為光 路在測(cè)試波長(zhǎng)的衰耗（單位為dB)，根據(jù)述光路測(cè)試曲線上的菲涅爾反射峰值可區(qū)分每條 被測(cè)光纖，如果被測(cè)光纜的D?D'條光纖出現(xiàn)斷纖，則其0TDR光路測(cè)試曲線如圖6所示， 從圖中可以看出，其斷纖信息直接反應(yīng)在0TDR光路測(cè)試曲線上，所以，光纜光纖串接檢測(cè) 方法僅需一次0TDR測(cè)試，即可定位光纜的問(wèn)題光纖。
[0046] S3:根據(jù)所述光路測(cè)試曲線獲取光纜光纖的數(shù)據(jù)參數(shù)，所述數(shù)據(jù)參數(shù)包括光纜長(zhǎng) 度、線路損耗和接頭損耗。針對(duì)每條光纖分別選取對(duì)應(yīng)的光路測(cè)試曲線得到對(duì)應(yīng)的光纖的 數(shù)據(jù)參數(shù)，例如需要測(cè)試B'?B條光纖，就在光路測(cè)試曲線上選取B'?B段的光路測(cè)試 曲線，然后光時(shí)域反射儀直接顯示出B'?B條光纖的長(zhǎng)度、線路損耗和接頭損耗。
[0047] 在光配A 口處測(cè)試完畢后，可從光配F 口連接光時(shí)域反射儀，設(shè)定適當(dāng)?shù)臏y(cè)試參 數(shù)，對(duì)串接的光路進(jìn)行反向測(cè)試，用以消除盲區(qū)以及測(cè)試時(shí)的虛假增益與虛假衰耗現(xiàn)象。在 光纜光纖檢測(cè)時(shí)可對(duì)任一光纖進(jìn)行重點(diǎn)檢測(cè)，如需對(duì)C?C'?D'?D光路進(jìn)行重點(diǎn)測(cè) 試，可在測(cè)試端光配處將光纜串接檢測(cè)裝置在光配C 口的光纖連接器拔下，將光時(shí)域反射 儀連接光配C 口，并斷開光配D 口處的光纖連接器，減小光時(shí)域反射儀測(cè)試脈沖寬度，對(duì)之 進(jìn)行細(xì)測(cè)。同理，如果光纜光纖串接檢測(cè)的光路長(zhǎng)度超過(guò)光時(shí)域反射儀量程時(shí)，可將光纖接 口器在測(cè)試端光配的適當(dāng)位置打開，再連接光時(shí)域反射儀進(jìn)行測(cè)試。
[0048] 本實(shí)施例提供的光纜光纖串接檢測(cè)方法，通過(guò)光纖連接器將該待測(cè)試光纖的一 端、跳纖和其他待測(cè)試的光纖首尾連接，利用光時(shí)域反射儀在待測(cè)試的光纜光纖的一端進(jìn) 行測(cè)試，獲取光路測(cè)試曲線，根據(jù)所述光路測(cè)試曲線獲取光纜光纖的數(shù)據(jù)參數(shù)，能夠同時(shí)對(duì) 多條光纖進(jìn)行檢測(cè)，快速定位問(wèn)題光纖，耗時(shí)短效率高；而且不需要對(duì)每一條光纖檢測(cè)時(shí)都 外接尾纖以消除盲區(qū)的影響，進(jìn)一步加大了檢測(cè)的時(shí)間，提高了檢測(cè)效率；方便對(duì)光纜光纖 中間的連接點(diǎn)和兩端接頭進(jìn)行雙向測(cè)試。
[〇〇49] 顯然，上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說(shuō)明所作的舉例，而并非對(duì)實(shí)施方式的限定。對(duì) 于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在上述說(shuō)明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或 變動(dòng)。這里無(wú)需也無(wú)法對(duì)所有的實(shí)施方式予以窮舉。而由此所引伸出的顯而易見的變化或 變動(dòng)仍處于本發(fā)明創(chuàng)造的保護(hù)范圍之中。
【權(quán)利要求】
1. 一種光纜光纖串接檢測(cè)裝置，其特征在于，包括： 光時(shí)域反射儀、至少兩根跳纖和光纖連接器；所述光時(shí)域反射儀信號(hào)端與一條待測(cè)試 光纖的一端連接，通過(guò)光纖連接器將該待測(cè)試光纖的另一端、所述跳纖和其他待測(cè)試的光 纖首尾連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括： 跳纖夾排，其上設(shè)置有若干卡孔，跳纖穿過(guò)所述卡孔后被所述跳纖夾排固定。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置，其特征在于： 所述跳纖夾排由第一夾排部件和第二夾排部件拼接組成。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置，其特征在于： 所述跳纖在連接兩條光纖時(shí)保持一定的曲率半徑，所述曲率半徑大于所述跳纖的最小 彎曲半徑。
5. -種光纜光纖串接檢測(cè)方法，其特征在于，包括如下步驟： 51 :利用權(quán)利要求1-4任一所述的光纜光纖串接檢測(cè)裝置對(duì)待測(cè)試的光纜光纖進(jìn)行首 尾連接； 52 :利用光時(shí)域反射儀在待測(cè)試的光纜光纖的一端進(jìn)行測(cè)試，獲取光路測(cè)試曲線； 53 :根據(jù)所述光路測(cè)試曲線獲取光纜光纖的數(shù)據(jù)參數(shù)，所述數(shù)據(jù)參數(shù)包括光纜長(zhǎng)度、線 路損耗和接頭損耗。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述光纜光纖串接檢測(cè)方法，其特征在于：根據(jù)所述光路測(cè)試曲線 上的峰值區(qū)分每條被測(cè)光纖。
【文檔編號(hào)】H04B10/071GK104104433SQ201410273102
【公開日】2014年10月15日 申請(qǐng)日期:2014年6月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月18日
【發(fā)明者】孟建, 黃彥, 李凱, 彭碧君 申請(qǐng)人:國(guó)網(wǎng)山東省電力公司青島供電公司, 國(guó)家電網(wǎng)公司