本申請(qǐng)涉及揚(yáng)聲器(loudspeaker)，尤其涉及揚(yáng)聲器的振膜(diaphragm)的偏移量(excursion)的計(jì)算裝置與計(jì)算方法，以及揚(yáng)聲器的控制方法。

背景技術(shù)：

在設(shè)計(jì)揚(yáng)聲器系統(tǒng)時(shí)，應(yīng)避免在揚(yáng)聲器發(fā)出較大聲音時(shí)所導(dǎo)致的毀損，毀損的主要原因包括揚(yáng)聲器的振膜振動(dòng)過大或是音圈(voicecoil)的溫度過高。振膜振動(dòng)過大的所以導(dǎo)致振膜損壞的原因可能為振膜的偏移量(相對(duì)于靜止位置的移動(dòng)距離)超過振膜所能承受的范圍，或?yàn)槠七^大導(dǎo)致振膜與其他物體相碰撞；兩種情況皆會(huì)對(duì)振膜造成結(jié)構(gòu)性的、不可回復(fù)的損壞。

傳統(tǒng)的揚(yáng)聲器的振膜保護(hù)方法可大致分為兩類。一種是在量測(cè)振膜的偏移之前必須得到揚(yáng)聲器的許多模型(model)參數(shù)，但這些模型參數(shù)涉及復(fù)雜的計(jì)算。再者，當(dāng)揚(yáng)聲器使用一段時(shí)間之后，材料的老化可能使模型改變，此時(shí)原本的模型參數(shù)便不再適用；繼續(xù)使用舊的模型參數(shù)會(huì)造成量測(cè)不準(zhǔn)確，而無法達(dá)到預(yù)期的保護(hù)效果。

另一種振膜保護(hù)方法則是利用電壓和電流求出特定頻率的阻抗函數(shù)(impedancefunction)，然后利用阻隔阻抗(blockedelectricalimpedance)及揚(yáng)聲器的驅(qū)動(dòng)因子(forcefactor)求得與頻率相關(guān)的輸入電壓對(duì)振膜偏移量的轉(zhuǎn)移函數(shù)(input-voltage-to-excursiontransferfunction)。舉例來說，美國(guó)專利us8942381提出以基于音圈的電壓和電流所求得的導(dǎo)納(admittance)，結(jié)合δ函數(shù)(deltafunction)、驅(qū)動(dòng)因子及阻隔阻抗來得到時(shí)域的輸入電壓對(duì)振膜偏移量的轉(zhuǎn)移函數(shù)的方法，雖然上述專利所提出的方法需要較少的揚(yáng)聲器的模型參數(shù)，但是卻涉及龐大的計(jì)算量，其理由在于：(1)阻抗或?qū)Ъ{與頻率相關(guān)，所以必須針對(duì)許多頻率成分計(jì)算阻抗或?qū)Ъ{，且阻抗或?qū)Ъ{會(huì)是多種(complexnumber)形式；(2)阻抗或?qū)Ъ{的 計(jì)算方式復(fù)雜，涉及自適應(yīng)濾波(adaptivefiltering)及(3)利用阻抗或?qū)Ъ{計(jì)算振膜偏移量需折積運(yùn)算(convolution)。如此繁雜的計(jì)算導(dǎo)致龐大的計(jì)算量，間接增加偏移量的計(jì)算時(shí)間及芯片的功耗。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于現(xiàn)有技術(shù)的不足，本申請(qǐng)的一目的在于提供一種揚(yáng)聲器的振膜偏移量的計(jì)算裝置、計(jì)算方法及揚(yáng)聲器的控制方法，以保護(hù)揚(yáng)聲器。

本申請(qǐng)公開一種計(jì)算揚(yáng)聲器的振膜偏移量的裝置，應(yīng)用于一揚(yáng)聲器，該揚(yáng)聲器包含一振膜并受一電壓信號(hào)驅(qū)動(dòng)，該裝置包含：一檢測(cè)電路，檢測(cè)輸入至該揚(yáng)聲器的該電壓信號(hào)及一電流信號(hào)；一儲(chǔ)存單元，儲(chǔ)存多個(gè)程序指令；一處理單元，用來執(zhí)行該些程序指令以完成以下步驟：(a)低通濾波該電壓信號(hào)及該電流信號(hào)，以分別產(chǎn)生一低通濾波后的電壓信號(hào)及一低通濾波后的電流信號(hào)；(b)依據(jù)該低通濾波后的電壓信號(hào)及該低通濾波后的電流信號(hào)計(jì)算該揚(yáng)聲器的一直流電阻值；(c)依據(jù)該電壓信號(hào)、該電流信號(hào)及該直流電阻值，計(jì)算該振膜的一振動(dòng)速率；以及(d)依據(jù)該振動(dòng)速率計(jì)算該揚(yáng)聲器的一振膜偏移量。步驟(a)至步驟(d)是為一實(shí)數(shù)運(yùn)算，該實(shí)數(shù)運(yùn)算不須分析該電壓信號(hào)及該電流信號(hào)的頻率成分。

本申請(qǐng)另公開一種計(jì)算揚(yáng)聲器的振膜偏移量的方法，應(yīng)用于一揚(yáng)聲器，該揚(yáng)聲器包含一振膜并受一電壓信號(hào)驅(qū)動(dòng)，該方法包含：(a)低通濾波輸入該揚(yáng)聲器的該電壓信號(hào)及一電流信號(hào)，以分別產(chǎn)生一低通濾波后的電壓信號(hào)及一低通濾波后的電流信號(hào)；(b)依據(jù)該低通濾波后的電壓信號(hào)及該低通濾波后的電流信號(hào)計(jì)算該揚(yáng)聲器的一直流電阻值；(c)依據(jù)該電壓信號(hào)、該電流信號(hào)及該直流電阻值，計(jì)算該振膜的一振動(dòng)速率；以及(d)依據(jù)該振動(dòng)速率計(jì)算該揚(yáng)聲器的一振膜偏移量。步驟(a)至步驟(d)是為一實(shí)數(shù)運(yùn)算，該實(shí)數(shù)運(yùn)算不須分析該電壓信號(hào)及該電流信號(hào)的頻率成分。

本申請(qǐng)另公開一種揚(yáng)聲器的控制方法，應(yīng)用于一揚(yáng)聲器，該揚(yáng)聲器包含一振膜并受一電壓信號(hào)驅(qū)動(dòng)，該方法包含：(a)低通濾波輸入該揚(yáng)聲器的該電壓信號(hào)及一電流信號(hào)，以分別產(chǎn)生一低通濾波后的電壓信號(hào)及一低通濾波后的電流信號(hào)；(b)依據(jù)該低通濾波后的電壓信號(hào)及該低通濾波后的電流信號(hào)計(jì)算該揚(yáng)聲器的一直流電阻值；(c)依據(jù)該電壓信號(hào)、該電流信號(hào) 及該直流電阻值，計(jì)算該振膜的一振動(dòng)速率；(d)依據(jù)該振動(dòng)速率計(jì)算該揚(yáng)聲器的一振膜偏移量；以及(e)依據(jù)該振膜偏移量調(diào)整該電壓信號(hào)。步驟(a)至步驟(d)是為一實(shí)數(shù)運(yùn)算，該實(shí)數(shù)運(yùn)算不須分析該電壓信號(hào)及該電流信號(hào)的頻率成分。

本申請(qǐng)的揚(yáng)聲器的振膜偏移量的計(jì)算裝置、計(jì)算方法及揚(yáng)聲器的控制方法能夠以簡(jiǎn)單的實(shí)數(shù)運(yùn)算得到揚(yáng)聲器的振膜的偏移量。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本申請(qǐng)只包含頻率無關(guān)的實(shí)數(shù)運(yùn)算，亦無須計(jì)算阻抗或是導(dǎo)納，因此本申請(qǐng)可以大幅減少計(jì)算量。

有關(guān)本申請(qǐng)的特征、實(shí)作與技術(shù)效果，茲配合附圖作實(shí)施例詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1為本申請(qǐng)的揚(yáng)聲器的控制電路的功能方塊圖；

圖2為本申請(qǐng)揚(yáng)聲器120的電路模型(circuitmodel)；

圖3為本申請(qǐng)的處理單元150的功能模塊的功能方塊圖；以及

圖4為本申請(qǐng)的揚(yáng)聲器檢測(cè)與保護(hù)方法的流程圖。

附圖標(biāo)記說明：

110驅(qū)動(dòng)電路

120揚(yáng)聲器

130檢測(cè)電路

140取樣電路

150處理單元

160儲(chǔ)存單元

152低通濾波模塊

154振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊

156振膜偏移量及偏移量平均模塊

158比較模塊

s410～s460步驟

具體實(shí)施方式

以下說明內(nèi)容的技術(shù)用語(yǔ)是參照本技術(shù)領(lǐng)域的習(xí)慣用語(yǔ)，如本說明書對(duì)部分用語(yǔ)有加以說明或定義，該部分用語(yǔ)的解釋是以本說明書的說明或定義為準(zhǔn)。

本申請(qǐng)的公開內(nèi)容包含揚(yáng)聲器的振膜偏移量的計(jì)算裝置、計(jì)算方法及揚(yáng)聲器的控制方法。由于本申請(qǐng)的振膜偏移量的計(jì)算裝置所包含的部分元件單獨(dú)而言可能為已知元件，因此在不影響該裝置發(fā)明的充分公開及可實(shí)施性的前提下，以下說明對(duì)于已知元件的細(xì)節(jié)將予以省略。此外，本申請(qǐng)的振膜偏移量的計(jì)算方法及揚(yáng)聲器的控制方法可以是軟件及/或固件的形式，并且可通過本申請(qǐng)的揚(yáng)聲器的控制電路或其等效裝置來執(zhí)行，在不影響該方法發(fā)明的充分公開及可實(shí)施性的前提下，以下方法發(fā)明的說明將著重于步驟內(nèi)容。

圖1是本申請(qǐng)的揚(yáng)聲器控制電路的功能方塊圖。音頻信號(hào)s[n]經(jīng)驅(qū)動(dòng)電路110處理后，成為用來驅(qū)動(dòng)揚(yáng)聲器120的電壓信號(hào)v(t)。驅(qū)動(dòng)電路110包含音頻解碼器(audiodecoder)、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器(digital-to-analogconverter,dac)及放大器。音頻解碼器用于將音頻信號(hào)s[n]解碼，dac用于將音頻信號(hào)s[n]由數(shù)字格式轉(zhuǎn)換為模擬格式，放大器則依據(jù)一增益控制電壓信號(hào)v(t)的振幅。因應(yīng)電壓信號(hào)v(t)的頻率及振幅的變化，通過揚(yáng)聲器120的音圈(voicecoil)的電流也跟著改變。音圈上的電流變化與揚(yáng)聲器120的永久性磁鐵的磁場(chǎng)產(chǎn)生交互作用，使音圈產(chǎn)生位移，進(jìn)而帶動(dòng)揚(yáng)聲器120的振膜產(chǎn)生振動(dòng)。

在一些實(shí)施例中，量測(cè)電壓信號(hào)v(t)不限于利用檢測(cè)電路130量測(cè)揚(yáng)聲器120的輸入端電壓，亦可通過音頻信號(hào)s[n]和放大器的增益預(yù)估求得。

圖2是本申請(qǐng)揚(yáng)聲器120的電路模型，包含電阻re、電感l(wèi)e及因振膜振動(dòng)(即音圈位移)所產(chǎn)生的反電動(dòng)勢(shì)(backemf)b·l·u(t)；其中，b為揚(yáng)聲器120的永久磁鐵的磁通量、l為音圈長(zhǎng)度、u(t)為振膜的振動(dòng)速率。磁通量b與音圈長(zhǎng)度l的乘積為揚(yáng)聲器120的驅(qū)動(dòng)因子，為一定值。v(t)為驅(qū)動(dòng)揚(yáng)聲器120的電壓信號(hào)，其對(duì)應(yīng)的電流信號(hào)i(t)流經(jīng)此三個(gè)元件。依據(jù)克希荷夫電壓定律(kirchhoff’svoltagelaw)可以得到下列方程式：

可以進(jìn)一步由方程式(1)得到方程式(2)及方程式(3)：

方程式(2)為對(duì)應(yīng)振膜振動(dòng)所產(chǎn)生的反電動(dòng)勢(shì)的表示式，方程式(3)為振膜的振動(dòng)速率u(t)的表示式。因?yàn)榛旧戏措妱?dòng)勢(shì)b·l·u(t)與振膜的振動(dòng)速率u(t)的比值為定值(即揚(yáng)聲器120的驅(qū)動(dòng)因子)，所以計(jì)算兩者的其中的一實(shí)質(zhì)上等效于計(jì)算另一者。以下以計(jì)算振膜的振動(dòng)速率u(t)為例來說明本申請(qǐng)計(jì)算揚(yáng)聲器120的振膜偏移量的機(jī)制。

對(duì)小型的揚(yáng)聲器而言，電感的阻抗jωle遠(yuǎn)小于電阻re帶來的效應(yīng)，因此，可以忽略電感效應(yīng)，即忽略方程式(3)中的因此方程式(3)的振膜振動(dòng)速率u(t)可以近似為：

振動(dòng)速率u(t)對(duì)時(shí)間t積分即可得到振膜的偏移量x(t)：

以下說明本申請(qǐng)如何實(shí)作方程式(5)以得到揚(yáng)聲器120的振膜的偏移量x(t)?；氐綀D1，本申請(qǐng)利用檢測(cè)電路130、取樣電路140、處理單元150及儲(chǔ)存單元160來實(shí)作上述的方程式(5)。檢測(cè)電路130耦接于驅(qū)動(dòng)電路110與揚(yáng)聲器120之間，用來檢測(cè)電壓信號(hào)v(t)及電流信號(hào)i(t)。舉例來說，對(duì)于電壓信號(hào)v(t)的檢測(cè)，檢測(cè)電路130可量測(cè)揚(yáng)聲器120輸入端電壓即可得知電壓信號(hào)v(t)；對(duì)于電流信號(hào)的檢測(cè)，可以包含一電阻，根據(jù)電阻的跨壓及阻值即可得知電流信號(hào)i(t)。電壓信號(hào)v(t)及電流信號(hào)i(t)經(jīng)取樣電路140取樣后(依據(jù)取樣時(shí)脈clk取樣，取樣時(shí)脈clk的時(shí)脈周期為t)，產(chǎn)生電壓信號(hào)v(t)及電流信號(hào)i(t)的離散時(shí)間信號(hào)(discrete-timesignal)v[n]及i[n](n為整數(shù))，以方便處理單元150進(jìn)行運(yùn)算。

處理單元150是一種邏輯電路，具有執(zhí)行程序碼、命令或程序指令的能力，例如微處理器(microprocessor)、微控制器(microcontrolunit,mcu)或中央處理單元(centralprocessingunit,cpu)等元件。程序碼、命令或程序指令儲(chǔ)存于儲(chǔ)存單元160中，該些程序碼、命令或程序指令實(shí)作本申請(qǐng)的運(yùn)算法則及/或演算法，處理單元150執(zhí)行該些程序碼、命令或程 序指令以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)的機(jī)制。除了上述的程序碼、命令或程序指令的外，儲(chǔ)存單元160還儲(chǔ)存一些參數(shù)，例如前述的揚(yáng)聲器120的驅(qū)動(dòng)因子。

依據(jù)程序碼、命令或程序指令的功能，可以將其細(xì)分為多個(gè)功能模塊，處理單元150執(zhí)行該些程序碼、命令或程序指令以實(shí)現(xiàn)各模塊的功能。如圖3所示，其是本申請(qǐng)的處理單元150的功能模塊的功能方塊圖，包含低通濾波模塊152、振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154、振膜偏移量及偏移量平均模塊156及比較模塊158。

在一些實(shí)施例中，低通濾波模塊152、振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154、振膜偏移量及偏移量平均模塊156及比較模塊158的其中至少一者亦可由特定應(yīng)用集成電路集成電路(asic)來實(shí)現(xiàn)。

低通濾波模塊152對(duì)電壓信號(hào)v[n]及電流信號(hào)i[n]進(jìn)行低通濾波，以產(chǎn)生低通濾波后的電壓信號(hào)vl[n]及低通濾波后的電流信號(hào)il[n]。振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154可以依據(jù)低通濾波后的電壓信號(hào)vl[n]及低通濾波后的電流信號(hào)il[n]計(jì)算出方程式(5)中的電阻re。事實(shí)上，電壓信號(hào)v(t)除了反應(yīng)音頻信號(hào)s[n]的外，還包含一低頻信號(hào)。此低頻信號(hào)的頻率低于人耳所能聽到的頻率范圍的下限(20hz)，因此不會(huì)對(duì)使用者造成影響。再者，利用低于20hz信號(hào)量測(cè)的阻抗接近于直流電阻值re的特性，因此根據(jù)歐姆定律(ohm'slaw)，可以由低通濾波后的電壓信號(hào)vl[n]及低通濾波后的電流信號(hào)il[n]求得直流電阻值re。

振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154的主要目的在于實(shí)作方程式(4)以求得振膜的振動(dòng)速率u(t)。以下是以離散時(shí)間域(discrete-timedomain)為例，首先，振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154依據(jù)低通濾波后的電壓信號(hào)vl[n]及低通濾波后的電流信號(hào)il[n]得到直流電阻值re。更詳細(xì)地說，振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154先求得低通濾波后的電壓信號(hào)vl[n]及低通濾波后的電流信號(hào)il[n]在時(shí)間上的平均值，例如算術(shù)平均值(arithmeticaverage)、幾何平均值(geometricaverage)、指數(shù)平均值(exponentialaverage)或方均根值(rootmeansquare,rms)。以計(jì)算方均根值為例(分別得到vl_rms[n]及il_rms[n])，再計(jì)算出電阻re，例如re＝vl_rms[n]/il_rms[n]。得到re后，振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154接著計(jì)算電阻re與電流信號(hào)i[n]的乘積，再將電壓信號(hào)v[n]減去該乘積后的差值除以驅(qū)動(dòng)因子b·l，即可得到振膜的振動(dòng) 速率u[n]。

由方程式(4)及以上說明可以知道，振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154所做的計(jì)算只包含實(shí)數(shù)，不涉及虛數(shù)(常數(shù)b·l及變數(shù)v[n]、i[n]、vl[n]、il[n]皆為實(shí)數(shù))。再者，雖然電壓信號(hào)v[n]及電流信號(hào)i[n]包含許多頻率成分，但振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154無須對(duì)該些頻率成分進(jìn)行分析(例如找出對(duì)應(yīng)各頻率成分的阻抗或?qū)Ъ{)。因此相較于現(xiàn)有技術(shù)，振膜振動(dòng)速率計(jì)算模塊154不需要自適應(yīng)濾波(adaptivefiltering)的運(yùn)算，進(jìn)而大幅減少計(jì)算量。

振膜偏移量及偏移量平均模塊156用來根據(jù)振膜的振動(dòng)速率u[n]以計(jì)算出振膜的偏移量x[n]。根據(jù)方程式(5)，將振膜的振動(dòng)速率u[n]乘上取樣時(shí)脈clk的周期t后累加，即可得到振膜的偏移量x[n]＝∑u[n]·t。再根據(jù)以下的方程式(6)，可以得到偏移量x[n]的平均值：

xavg[n]＝α·xavg[n-1]+(1-α)·x[n](6)

方程式(6)為指數(shù)平均(exponentialaverage)運(yùn)算，目前的平均值xavg[n]等于先前的平均值xavg[n-1]乘上權(quán)重α(0＜α＜1)，再加上目前的偏移量x[n]乘上權(quán)重(1-α)。因?yàn)槠屏縳[n]為實(shí)數(shù)，所以方程式(6)也是一個(gè)實(shí)數(shù)的計(jì)算，不涉及任何虛數(shù)，所以振膜偏移量及偏移量平均模塊156只需執(zhí)行簡(jiǎn)單的計(jì)算即可快速得到振膜的偏移量的平均值xavg[n]。請(qǐng)注意，振膜偏移量及偏移量平均模塊156不限于方程式(6)的方法，其他的平均方法亦適用于本申請(qǐng)，例如算術(shù)平均、幾何平均及以下方程式(7)所示的方均根計(jì)算方法(0＜α＜1)。

比較模塊158將振膜的偏移量的平均值xavg[n]與臨界值eth(儲(chǔ)存于儲(chǔ)存單元160)做比較。當(dāng)偏移量的平均值xavg[n]大于臨界值eth，表示振膜長(zhǎng)時(shí)間處于振幅過大的情況，可能導(dǎo)致振膜機(jī)械疲勞或損壞，所以此時(shí)比較模塊158輸出控制信號(hào)ctrl，以控制驅(qū)動(dòng)電路110調(diào)低放大器的增益。

上述的實(shí)施例是基于振膜的平均偏移量對(duì)振膜進(jìn)行保護(hù)，在其他的實(shí)施例中，振膜偏移量及偏移量平均模塊156及比較模塊158也可以基于振膜的偏移量的瞬間極值(例如計(jì)算振膜的偏移量的峰值)對(duì)揚(yáng)聲器120進(jìn)行保護(hù)，以防止當(dāng)振膜的偏移量過大時(shí)，振膜撞擊揚(yáng)聲器120的殼體而造 成毀損。同樣地，當(dāng)振膜偏移量的瞬間極值大于臨界值時(shí)，處理單元150可控制驅(qū)動(dòng)電路110調(diào)低放大器的增益。

除前述的揚(yáng)聲器的振膜偏移量的計(jì)算裝置外，本申請(qǐng)亦公開了一種揚(yáng)聲器的控制方法。圖4為本方法其中一實(shí)施例的流程圖，包含下列步驟：

步驟s410：檢測(cè)輸入至揚(yáng)聲器的電壓信號(hào)和電流信號(hào)。此電流信號(hào)與驅(qū)動(dòng)揚(yáng)聲器的電壓信號(hào)有關(guān)，實(shí)作上通過將電流檢測(cè)器耦接于揚(yáng)聲器與其驅(qū)動(dòng)電路之間，即可測(cè)得該電流信號(hào)；

步驟s420：低通濾波揚(yáng)聲器的電壓信號(hào)及電流信號(hào)，以分別產(chǎn)生一低通濾波后的電壓信號(hào)及一低通濾波后的電流信號(hào)。為了得到揚(yáng)聲器的電阻的直流電阻值，揚(yáng)聲器的驅(qū)動(dòng)電路會(huì)在電壓信號(hào)加入一個(gè)低頻的成分(其頻率低于人耳所能聽到的最低范圍)。此步驟的目的即是過濾出此低頻信號(hào)；

步驟s430：依據(jù)該低通濾波后的電壓信號(hào)及該低通濾波后的電流信號(hào)計(jì)算揚(yáng)聲器的直流電阻值。低通濾波后的電壓信號(hào)與低通濾波后的電流信號(hào)的比值即為揚(yáng)聲器的直流電阻值。此步驟在計(jì)算兩者的比值之前，亦可先求得該低通濾波后的電壓信號(hào)及該低通濾波后的電流信號(hào)對(duì)時(shí)間的平均值，例如方均根值，以得到更準(zhǔn)確的直流電阻值。因?yàn)榈屯V波后的電壓信號(hào)及低通濾波后的電流信號(hào)皆為實(shí)數(shù)，所以此步驟為實(shí)數(shù)運(yùn)算，所得到的直流電阻值亦為實(shí)數(shù)；

步驟s440：依據(jù)該電壓信號(hào)、該電流信號(hào)及該直流電阻值，計(jì)算對(duì)應(yīng)該振膜振動(dòng)的反電動(dòng)勢(shì)或振動(dòng)速率。有了揚(yáng)聲器的電壓信號(hào)、電流信號(hào)及直流電阻值后，可以根據(jù)方程式(4)計(jì)算揚(yáng)聲器振膜的振動(dòng)速率(等效計(jì)算揚(yáng)聲器的反電動(dòng)勢(shì)，兩者的倍率為定值)。因?yàn)殡妷盒盘?hào)、電流信號(hào)及直流電阻值皆為實(shí)數(shù)，所以此步驟為實(shí)數(shù)運(yùn)算，所得到的直流電阻值亦為實(shí)數(shù)；

步驟s450：依據(jù)反電動(dòng)勢(shì)或振動(dòng)速率計(jì)算揚(yáng)聲器的振膜的偏移量。此步驟是根據(jù)方程式(5)計(jì)算揚(yáng)聲器的振膜的偏移量，也就是將步驟s440所得的振動(dòng)速率乘上電壓信號(hào)及電流信號(hào)的取樣周期并累加，即可得到振膜的偏移量；以及

步驟s460：依據(jù)該振膜偏移量調(diào)整該電壓信號(hào)。得到振膜的偏移量之 后，可以對(duì)其進(jìn)行峰值測(cè)量(peakmeasurement)或是計(jì)算其平均值，例如指數(shù)平均值、方均根值等。之后，再依據(jù)峰值測(cè)量的結(jié)果及/或偏移量的平均值調(diào)整電壓信號(hào)(例如通過調(diào)整驅(qū)動(dòng)電路的增益)以保護(hù)揚(yáng)聲器。

上述步驟s410～s460的計(jì)算只包含實(shí)數(shù)的運(yùn)算，不涉及虛數(shù)，再者，本申請(qǐng)無須分析電壓信號(hào)及電流信號(hào)的頻率成分，所以相較于現(xiàn)有技術(shù)中計(jì)算揚(yáng)聲器的阻抗或?qū)Ъ{的方法可以大大地減少計(jì)算量，增快計(jì)算速度。因此，對(duì)于同樣的硬件處理速度而言，因?yàn)楸旧暾?qǐng)的計(jì)算量低，所以可以得到更及時(shí)的振膜偏移量的信息。

由于本技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員可通過圖1至圖3的裝置發(fā)明的公開內(nèi)容來了解圖4的方法發(fā)明的實(shí)施細(xì)節(jié)與變化，因此，為避免贅文，在不影響該方法發(fā)明的公開要求及可實(shí)施性的前提下，重復(fù)的說明在此予以省略。請(qǐng)注意，前揭附圖中，元件的形狀、尺寸、比例以及步驟的順序等僅為示意，是供本技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員了解本申請(qǐng)的用，非用以限制本申請(qǐng)。

雖然本申請(qǐng)的實(shí)施例如上所述，然而該些實(shí)施例并非用來限定本申請(qǐng)，本技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員可依據(jù)本申請(qǐng)的明示或隱含的內(nèi)容對(duì)本申請(qǐng)的技術(shù)特征施以變化，凡此種種變化均可能屬于本申請(qǐng)所尋求的專利保護(hù)范疇，換言的，本申請(qǐng)的專利保護(hù)范圍須視本說明書的權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。