技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種用于毫米波T/R組件測試的保護裝置及方法、測試裝置；其中，保護裝置包括至少一級定向耦合器，所述定向耦合器依次串聯(lián)連接；其中，第一級定向耦合器的輸入端與毫米波T/R組件的發(fā)射輸出端相連，最后一級定向耦合器的輸出端與環(huán)形器的第一端口相連；環(huán)形器的第二端口與負載相連，環(huán)形器的第三端口連接與開關(guān)網(wǎng)絡(luò)相連，所述開關(guān)網(wǎng)絡(luò)與毫米波T/R組件測試儀器相連；所述定向耦合器的耦合輸出端口還通過開關(guān)網(wǎng)絡(luò)或直接與毫米波T/R組件測試儀器連接；所述開關(guān)網(wǎng)絡(luò)還與控制器相連，所述控制器被配置為開關(guān)網(wǎng)絡(luò)切換提供脈沖控制信號。

技術(shù)研發(fā)人員：周輝;方開慶;丁志釗;張海慶;王盤偉;蔣玉峰
受保護的技術(shù)使用者：中國電子科技集團公司第四十一研究所
文檔號碼：201610700240
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.19
技術(shù)公布日：2016.11.16