本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種干擾檢測(cè)方法和一種干擾檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù):
目前,常用的檢測(cè)發(fā)射機(jī)射頻輻射干擾的裝置主要包含射頻綜測(cè)儀和射頻天線,通過(guò)射頻綜測(cè)儀、射頻天線與被測(cè)試設(shè)備建立通信鏈接,使射頻綜測(cè)儀的發(fā)射機(jī)處于工作狀態(tài),通過(guò)射頻天線發(fā)出干擾信號(hào),進(jìn)而可以監(jiān)控被測(cè)試設(shè)備的工作狀態(tài),以判斷被測(cè)試設(shè)備工作時(shí)的接收到的射頻輻射是否會(huì)帶來(lái)影響自身工作狀態(tài)的干擾問(wèn)題。
然而,這一技術(shù)方案受測(cè)試儀器的限制較大,需要額外使用射頻綜測(cè)儀和射頻天線才能完成測(cè)試,使得測(cè)試過(guò)程十分繁瑣,同時(shí),采購(gòu)射頻綜測(cè)儀和射頻天線等儀器,還導(dǎo)致了測(cè)試成本的大大增加。
因此,如何在進(jìn)行有效的射頻輻射干擾測(cè)試的同時(shí)降低測(cè)試成本,成為目前亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明提出了一種干擾檢測(cè)方法和一種干擾檢測(cè)系統(tǒng),可以進(jìn)行有效的射頻輻射干擾測(cè)試,并同時(shí)降低測(cè)試成本。
有鑒于此,本發(fā)明的一方面提出了一種干擾檢測(cè)方法,包括:根據(jù)接收到的干擾檢測(cè)命令,將第一待測(cè)試設(shè)備的工作狀態(tài)設(shè)置為發(fā)射狀態(tài);通過(guò)所述第一待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),以供第二待測(cè)試設(shè)備根據(jù)接收到的所述干擾信號(hào)確定自身的工作性能是否發(fā)生異常。
在該技術(shù)方案中,第一待測(cè)試設(shè)備本身具有射頻發(fā)射功能,即具有射頻模塊,故可以將其射頻模塊接通,使其工作狀態(tài)調(diào)整為具有預(yù)定發(fā)射屬性的發(fā)射狀態(tài),這樣,即可使用第一待測(cè)試設(shè)備作為射頻綜測(cè)儀來(lái)發(fā)射干擾信號(hào),以對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備等其他待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行設(shè)備性能的檢測(cè)。通過(guò)該技術(shù)方案,用待測(cè)試設(shè)備本身取代了相關(guān)技術(shù)中的射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,使得測(cè)試人員無(wú)需額外使用射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,而是通過(guò)待測(cè)試設(shè)備之間互相進(jìn)行測(cè)試,降低了測(cè)試成本,另外,第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
其中,第一待測(cè)試設(shè)備可以與第二待測(cè)試設(shè)備的型號(hào)相同,從而能夠使得發(fā)出的干擾信號(hào)更加貼近第二待測(cè)試設(shè)備的自身信號(hào),使對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備的抗干擾監(jiān)測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確。
在上述技術(shù)方案中,優(yōu)選地,在通過(guò)所述第一待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào)的步驟之前,還包括:根據(jù)接收到的設(shè)置命令,為所述第一待測(cè)試設(shè)備設(shè)置所述預(yù)定發(fā)射屬性。
在該技術(shù)方案中,可以為第一待測(cè)試設(shè)備設(shè)置預(yù)定發(fā)射屬性,這里的設(shè)置,可以是在第一待測(cè)試設(shè)備出廠時(shí)即為其設(shè)置多套預(yù)定發(fā)射屬性,在充當(dāng)發(fā)射方進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中,可以根據(jù)實(shí)際工作狀態(tài)自行在多套預(yù)定發(fā)射屬性中選擇適用于實(shí)際場(chǎng)景的一套預(yù)定發(fā)射屬性,或根據(jù)用戶的選擇命令在多套預(yù)定發(fā)射屬性中選擇一套。另外,這里的設(shè)置也可以由用戶直接設(shè)置各種預(yù)定發(fā)射屬性的參數(shù),以適應(yīng)用戶的實(shí)際需求。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述預(yù)定發(fā)射屬性包括:發(fā)射頻率和/或信號(hào)強(qiáng)度。
在該技術(shù)方案中,預(yù)定發(fā)射屬性包括但不限于發(fā)射頻率和/或信號(hào)強(qiáng)度,還可以是根據(jù)需要除此之外的其他屬性,通過(guò)該技術(shù)方案,使得第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,通過(guò)所述第一待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào)的步驟,具體包括:通過(guò)所述第一待測(cè)試設(shè)備按照所述預(yù)定發(fā)射屬性和預(yù)定周期,循環(huán)發(fā)射所述干擾信號(hào)。
在該技術(shù)方案中,為了保證測(cè)試的成功率和有效性,第一待測(cè)試設(shè)備需要按照預(yù)定發(fā)射屬性循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào),以避免第二待測(cè)試設(shè)備因未接收到單次發(fā)射的干擾信號(hào)而無(wú)法順利完成測(cè)試。
而對(duì)于循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào)的步驟,則需要遵循合適的預(yù)定周期,以避免發(fā)射干擾信號(hào)的間隔過(guò)長(zhǎng)造成測(cè)試效率低下或發(fā)射干擾信號(hào)的間隔過(guò)短而造成發(fā)射方的第一待測(cè)試設(shè)備能耗過(guò)多。其中,預(yù)定周期可以用戶根據(jù)實(shí)際需要自行設(shè)置或選擇,也可以由第一待測(cè)試設(shè)備本身出廠自帶或根據(jù)實(shí)際情況設(shè)定。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,在所述循環(huán)發(fā)射所述干擾信號(hào)中的任一次發(fā)射后,還包括:根據(jù)接收到的位置調(diào)整命令,調(diào)整所述第一待測(cè)試設(shè)備與所述第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置。
在該技術(shù)方案中,通過(guò)調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置,可以改變第二待測(cè)試設(shè)備接收到的干擾信號(hào)的方向和信號(hào)強(qiáng)度,這樣,如果無(wú)論如何調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置,即無(wú)論干擾信號(hào)的方向和信號(hào)強(qiáng)度怎樣變化,第二待測(cè)試設(shè)備的性能均無(wú)異常,則說(shuō)明第二待測(cè)試設(shè)備本身無(wú)干擾問(wèn)題。
而如果在調(diào)整相對(duì)位置的過(guò)程中,干擾信號(hào)在某一方向上的信號(hào)強(qiáng)度大于或等于預(yù)定強(qiáng)度閾值時(shí),使得第二待測(cè)試設(shè)備的性能發(fā)生異常,則說(shuō)明第二待測(cè)試設(shè)備具有干擾問(wèn)題,需要對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行抗干擾處理,其中,抗干擾處理包括但不限于屏蔽處理、接地處理和/或?yàn)V波處理。在進(jìn)行抗干擾處理后,需要繼續(xù)通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行射頻檢測(cè),直至干擾問(wèn)題不復(fù)現(xiàn)為止。
本發(fā)明的另一方面提出了一種干擾檢測(cè)系統(tǒng),包括:發(fā)射狀態(tài)開(kāi)啟單元,用于根據(jù)接收到的干擾檢測(cè)命令,將第一待測(cè)試設(shè)備的工作狀態(tài)設(shè)置為發(fā)射狀態(tài);干擾信號(hào)發(fā)射單元,用于通過(guò)所述第一待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),以供第二待測(cè)試設(shè)備根據(jù)接收到的所述干擾信號(hào)確定自身的工作性能是否發(fā)生異常。
在該技術(shù)方案中,第一待測(cè)試設(shè)備本身具有射頻發(fā)射功能,即具有射頻模塊,故可以將其射頻模塊接通,使其工作狀態(tài)調(diào)整為具有預(yù)定發(fā)射屬性的發(fā)射狀態(tài),這樣,即可使用第一待測(cè)試設(shè)備作為射頻綜測(cè)儀來(lái)發(fā)射干擾信號(hào),以對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備等其他待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行設(shè)備性能的檢測(cè)。通過(guò)該技術(shù)方案,用待測(cè)試設(shè)備本身取代了相關(guān)技術(shù)中的射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,使得測(cè)試人員無(wú)需額外使用射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,而是通過(guò)待測(cè)試設(shè)備之間互相進(jìn)行測(cè)試,降低了測(cè)試成本,另外,第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
其中,第一待測(cè)試設(shè)備可以與第二待測(cè)試設(shè)備的型號(hào)相同,從而能夠使得發(fā)出的干擾信號(hào)更加貼近第二待測(cè)試設(shè)備的自身信號(hào),使對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備的抗干擾監(jiān)測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確。
在上述技術(shù)方案中,優(yōu)選地,還包括:發(fā)射屬性設(shè)置單元,用于在所述干擾信號(hào)發(fā)射單元通過(guò)所述第一待測(cè)試設(shè)備發(fā)射所述干擾信號(hào)之前,根據(jù)接收到的設(shè)置命令,為所述第一待測(cè)試設(shè)備設(shè)置所述預(yù)定發(fā)射屬性。
在該技術(shù)方案中,可以為第一待測(cè)試設(shè)備設(shè)置預(yù)定發(fā)射屬性,這里的設(shè)置,可以是在第一待測(cè)試設(shè)備出廠時(shí)即為其設(shè)置多套預(yù)定發(fā)射屬性,在充當(dāng)發(fā)射方進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中,可以根據(jù)實(shí)際工作狀態(tài)自行在多套預(yù)定發(fā)射屬性中選擇適用于實(shí)際場(chǎng)景的一套預(yù)定發(fā)射屬性,或根據(jù)用戶的選擇命令在多套預(yù)定發(fā)射屬性中選擇一套。另外,這里的設(shè)置也可以由用戶直接設(shè)置各種預(yù)定發(fā)射屬性的參數(shù),以適應(yīng)用戶的實(shí)際需求。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述預(yù)定發(fā)射屬性包括:發(fā)射頻率和/或信號(hào)強(qiáng)度。
在該技術(shù)方案中,預(yù)定發(fā)射屬性包括但不限于發(fā)射頻率和/或信號(hào)強(qiáng)度,還可以是根據(jù)需要除此之外的其他屬性,通過(guò)該技術(shù)方案,使得第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述干擾信號(hào)發(fā)射單元具體用于:通過(guò)所述第一待測(cè)試設(shè)備按照所述預(yù)定發(fā)射屬性和預(yù)定周期,循環(huán)發(fā)射所述干擾信號(hào)。
在該技術(shù)方案中,為了保證測(cè)試的成功率和有效性,第一待測(cè)試設(shè)備需要按照預(yù)定發(fā)射屬性循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào),以避免第二待測(cè)試設(shè)備因未接收到單次發(fā)射的干擾信號(hào)而無(wú)法順利完成測(cè)試。
而對(duì)于循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào)的步驟,則需要遵循合適的預(yù)定周期,以避免發(fā)射干擾信號(hào)的間隔過(guò)長(zhǎng)造成測(cè)試效率低下或發(fā)射干擾信號(hào)的間隔過(guò)短而造成發(fā)射方的第一待測(cè)試設(shè)備能耗過(guò)多。其中,預(yù)定周期可以用戶根據(jù)實(shí)際需要自行設(shè)置或選擇,也可以由第一待測(cè)試設(shè)備本身出廠自帶或根據(jù)實(shí)際情況設(shè)定。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,還包括:相對(duì)位置調(diào)整單元,用于在所述干擾信號(hào)發(fā)射單元任一次發(fā)射所述干擾信號(hào)后,根據(jù)接收到的位置調(diào)整命令,調(diào)整所述第一待測(cè)試設(shè)備與所述第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置。
在該技術(shù)方案中,通過(guò)調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置,可以改變第二待測(cè)試設(shè)備接收到的干擾信號(hào)的方向和信號(hào)強(qiáng)度,這樣,如果無(wú)論如何調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置,即無(wú)論干擾信號(hào)的方向和信號(hào)強(qiáng)度怎樣變化,第二待測(cè)試設(shè)備的性能均無(wú)異常,則說(shuō)明第二待測(cè)試設(shè)備本身無(wú)干擾問(wèn)題。
而如果在調(diào)整相對(duì)位置的過(guò)程中,干擾信號(hào)在某一方向上的信號(hào)強(qiáng)度大于或等于預(yù)定強(qiáng)度閾值時(shí),使得第二待測(cè)試設(shè)備的性能發(fā)生異常,則說(shuō)明第二待測(cè)試設(shè)備具有干擾問(wèn)題,需要對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行抗干擾處理,其中,抗干擾處理包括但不限于屏蔽處理、接地處理和/或?yàn)V波處理。在進(jìn)行抗干擾處理后,需要繼續(xù)通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行射頻檢測(cè),直至干擾問(wèn)題不復(fù)現(xiàn)為止。
本發(fā)明的再一方面提出了一種終端,可以作為第一待測(cè)試設(shè)備,包括上述技術(shù)方案中任一項(xiàng)所述的干擾檢測(cè)系統(tǒng),因此,該終端具有和上述技術(shù)方案中任一項(xiàng)所述的干擾檢測(cè)系統(tǒng)相同的技術(shù)效果,在此不再贅述。
通過(guò)以上技術(shù)方案,用待測(cè)試設(shè)備本身取代了相關(guān)技術(shù)中的射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,使得測(cè)試人員無(wú)需額外使用射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,而是通過(guò)待測(cè)試設(shè)備之間互相進(jìn)行測(cè)試,降低了測(cè)試成本,另外,第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
【附圖說(shuō)明】
為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)方法的流程圖;
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)系統(tǒng)的框圖;
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的終端的框圖;
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
為了更好的理解本發(fā)明的技術(shù)方案,下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述。
應(yīng)當(dāng)明確,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
在本發(fā)明實(shí)施例中使用的術(shù)語(yǔ)是僅僅出于描述特定實(shí)施例的目的,而非旨在限制本發(fā)明。在本發(fā)明實(shí)施例和所附權(quán)利要求書(shū)中所使用的單數(shù)形式的“一種”、“所述”和“該”也旨在包括多數(shù)形式,除非上下文清楚地表示其他含義。
應(yīng)當(dāng)理解,本文中使用的術(shù)語(yǔ)“和/或”僅僅是一種描述關(guān)聯(lián)對(duì)象的關(guān)聯(lián)關(guān)系,表示可以存在三種關(guān)系,例如,A和/或B,可以表示:?jiǎn)为?dú)存在A,同時(shí)存在A和B,單獨(dú)存在B這三種情況。另外,本文中字符“/”,一般表示前后關(guān)聯(lián)對(duì)象是一種“或”的關(guān)系。
應(yīng)當(dāng)理解,盡管在本發(fā)明實(shí)施例中可能采用術(shù)語(yǔ)第一、第二等來(lái)描述待測(cè)試設(shè)備,但這些待測(cè)試設(shè)備不應(yīng)限于這些術(shù)語(yǔ)。這些術(shù)語(yǔ)僅用來(lái)將待測(cè)試設(shè)備彼此區(qū)分開(kāi)。例如,在不脫離本發(fā)明實(shí)施例范圍的情況下,第一待測(cè)試設(shè)備也可以被稱(chēng)為第二待測(cè)試設(shè)備,類(lèi)似地,第二待測(cè)試設(shè)備也可以被稱(chēng)為第一待測(cè)試設(shè)備。
取決于語(yǔ)境,如在此所使用的詞語(yǔ)“如果”可以被解釋成為“在……時(shí)”或“當(dāng)……時(shí)”或“響應(yīng)于確定”或“響應(yīng)于檢測(cè)”。類(lèi)似地,取決于語(yǔ)境,短語(yǔ)“如果確定”或“如果檢測(cè)(陳述的條件或事件)”可以被解釋成為“當(dāng)確定時(shí)”或“響應(yīng)于確定”或“當(dāng)檢測(cè)(陳述的條件或事件)時(shí)”或“響應(yīng)于檢測(cè)(陳述的條件或事件)”。
實(shí)施例一
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)方法的流程圖。
如圖1所示,根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)方法,包括:
步驟102,根據(jù)接收到的干擾檢測(cè)命令,將第一待測(cè)試設(shè)備的工作狀態(tài)設(shè)置為發(fā)射狀態(tài);
步驟104,通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),以供第二待測(cè)試設(shè)備根據(jù)接收到的干擾信號(hào)確定自身的工作性能是否發(fā)生異常。
在該技術(shù)方案中,第一待測(cè)試設(shè)備本身具有射頻發(fā)射功能,即具有射頻模塊,故可以將其射頻模塊接通,使其工作狀態(tài)調(diào)整為具有預(yù)定發(fā)射屬性的發(fā)射狀態(tài),這樣,即可使用第一待測(cè)試設(shè)備作為射頻綜測(cè)儀來(lái)發(fā)射干擾信號(hào),以對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備等其他待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行設(shè)備性能的檢測(cè)。通過(guò)該技術(shù)方案,用待測(cè)試設(shè)備本身取代了相關(guān)技術(shù)中的射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,使得測(cè)試人員無(wú)需額外使用射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,而是通過(guò)待測(cè)試設(shè)備之間互相進(jìn)行測(cè)試,降低了測(cè)試成本,另外,第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
其中,第一待測(cè)試設(shè)備可以與第二待測(cè)試設(shè)備的型號(hào)相同,從而能夠使得發(fā)出的干擾信號(hào)更加貼近第二待測(cè)試設(shè)備的自身信號(hào),使對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備的抗干擾監(jiān)測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確。
在上述技術(shù)方案中,優(yōu)選地,在步驟104之前,還包括:根據(jù)接收到的設(shè)置命令,為第一待測(cè)試設(shè)備設(shè)置預(yù)定發(fā)射屬性。
在該技術(shù)方案中,可以為第一待測(cè)試設(shè)備設(shè)置預(yù)定發(fā)射屬性,這里的設(shè)置,可以是在第一待測(cè)試設(shè)備出廠時(shí)即為其設(shè)置多套預(yù)定發(fā)射屬性,在充當(dāng)發(fā)射方進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中,可以根據(jù)實(shí)際工作狀態(tài)自行在多套預(yù)定發(fā)射屬性中選擇適用于實(shí)際場(chǎng)景的一套預(yù)定發(fā)射屬性,或根據(jù)用戶的選擇命令在多套預(yù)定發(fā)射屬性中選擇一套。另外,這里的設(shè)置也可以由用戶直接設(shè)置各種預(yù)定發(fā)射屬性的參數(shù),以適應(yīng)用戶的實(shí)際需求。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,預(yù)定發(fā)射屬性包括:發(fā)射頻率和/或信號(hào)強(qiáng)度。
在該技術(shù)方案中,預(yù)定發(fā)射屬性包括但不限于發(fā)射頻率和/或信號(hào)強(qiáng)度,還可以是根據(jù)需要除此之外的其他屬性,通過(guò)該技術(shù)方案,使得第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,步驟104具體包括:通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定發(fā)射屬性和預(yù)定周期,循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào)。
在該技術(shù)方案中,為了保證測(cè)試的成功率和有效性,第一待測(cè)試設(shè)備需要按照預(yù)定發(fā)射屬性循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào),以避免第二待測(cè)試設(shè)備因未接收到單次發(fā)射的干擾信號(hào)而無(wú)法順利完成測(cè)試。
而對(duì)于循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào)的步驟,則需要遵循合適的預(yù)定周期,以避免發(fā)射干擾信號(hào)的間隔過(guò)長(zhǎng)造成測(cè)試效率低下或發(fā)射干擾信號(hào)的間隔過(guò)短而造成發(fā)射方的第一待測(cè)試設(shè)備能耗過(guò)多。其中,預(yù)定周期可以用戶根據(jù)實(shí)際需要自行設(shè)置或選擇,也可以由第一待測(cè)試設(shè)備本身出廠自帶或根據(jù)實(shí)際情況設(shè)定。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,在循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào)中的任一次發(fā)射后,還包括:根據(jù)接收到的位置調(diào)整命令,調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置。
在該技術(shù)方案中,通過(guò)調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置,可以改變第二待測(cè)試設(shè)備接收到的干擾信號(hào)的方向和信號(hào)強(qiáng)度,這樣,如果無(wú)論如何調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置,即無(wú)論干擾信號(hào)的方向和信號(hào)強(qiáng)度怎樣變化,第二待測(cè)試設(shè)備的性能均無(wú)異常,則說(shuō)明第二待測(cè)試設(shè)備本身無(wú)干擾問(wèn)題。
而如果在調(diào)整相對(duì)位置的過(guò)程中,干擾信號(hào)在某一方向上的信號(hào)強(qiáng)度大于或等于預(yù)定強(qiáng)度閾值時(shí),使得第二待測(cè)試設(shè)備的性能發(fā)生異常,則說(shuō)明第二待測(cè)試設(shè)備具有干擾問(wèn)題,需要對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行抗干擾處理,其中,抗干擾處理包括但不限于屏蔽處理、接地處理和/或?yàn)V波處理。在進(jìn)行抗干擾處理后,需要繼續(xù)通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行射頻檢測(cè),直至干擾問(wèn)題不復(fù)現(xiàn)為止。
實(shí)施例二
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)系統(tǒng)的框圖。
如圖2所示,根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)系統(tǒng)200,包括:發(fā)射狀態(tài)開(kāi)啟單元202和干擾信號(hào)發(fā)射單元204。
其中,發(fā)射狀態(tài)開(kāi)啟單元202用于根據(jù)接收到的干擾檢測(cè)命令,將第一待測(cè)試設(shè)備的工作狀態(tài)設(shè)置為發(fā)射狀態(tài);干擾信號(hào)發(fā)射單元204用于通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),以供第二待測(cè)試設(shè)備根據(jù)接收到的干擾信號(hào)確定自身的工作性能是否發(fā)生異常。
在該技術(shù)方案中,第一待測(cè)試設(shè)備本身具有射頻發(fā)射功能,即具有射頻模塊,故可以將其射頻模塊接通,使其工作狀態(tài)調(diào)整為具有預(yù)定發(fā)射屬性的發(fā)射狀態(tài),這樣,即可使用第一待測(cè)試設(shè)備作為射頻綜測(cè)儀來(lái)發(fā)射干擾信號(hào),以對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備等其他待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行設(shè)備性能的檢測(cè)。通過(guò)該技術(shù)方案,用待測(cè)試設(shè)備本身取代了相關(guān)技術(shù)中的射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,使得測(cè)試人員無(wú)需額外使用射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,而是通過(guò)待測(cè)試設(shè)備之間互相進(jìn)行測(cè)試,降低了測(cè)試成本,另外,第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
其中,第一待測(cè)試設(shè)備可以與第二待測(cè)試設(shè)備的型號(hào)相同,從而能夠使得發(fā)出的干擾信號(hào)更加貼近第二待測(cè)試設(shè)備的自身信號(hào),使對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備的抗干擾監(jiān)測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確。
在上述技術(shù)方案中,優(yōu)選地,還包括:發(fā)射屬性設(shè)置單元206,用于在干擾信號(hào)發(fā)射單元204通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備發(fā)射干擾信號(hào)之前,根據(jù)接收到的設(shè)置命令,為第一待測(cè)試設(shè)備設(shè)置預(yù)定發(fā)射屬性。
在該技術(shù)方案中,可以為第一待測(cè)試設(shè)備設(shè)置預(yù)定發(fā)射屬性,這里的設(shè)置,可以是在第一待測(cè)試設(shè)備出廠時(shí)即為其設(shè)置多套預(yù)定發(fā)射屬性,在充當(dāng)發(fā)射方進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中,可以根據(jù)實(shí)際工作狀態(tài)自行在多套預(yù)定發(fā)射屬性中選擇適用于實(shí)際場(chǎng)景的一套預(yù)定發(fā)射屬性,或根據(jù)用戶的選擇命令在多套預(yù)定發(fā)射屬性中選擇一套。另外,這里的設(shè)置也可以由用戶直接設(shè)置各種預(yù)定發(fā)射屬性的參數(shù),以適應(yīng)用戶的實(shí)際需求。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,預(yù)定發(fā)射屬性包括:發(fā)射頻率和/或信號(hào)強(qiáng)度。
在該技術(shù)方案中,預(yù)定發(fā)射屬性包括但不限于發(fā)射頻率和/或信號(hào)強(qiáng)度,還可以是根據(jù)需要除此之外的其他屬性,通過(guò)該技術(shù)方案,使得第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,干擾信號(hào)發(fā)射單元204具體用于:通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定發(fā)射屬性和預(yù)定周期,循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào)。
在該技術(shù)方案中,為了保證測(cè)試的成功率和有效性,第一待測(cè)試設(shè)備需要按照預(yù)定發(fā)射屬性循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào),以避免第二待測(cè)試設(shè)備因未接收到單次發(fā)射的干擾信號(hào)而無(wú)法順利完成測(cè)試。
而對(duì)于循環(huán)發(fā)射干擾信號(hào)的步驟,則需要遵循合適的預(yù)定周期,以避免發(fā)射干擾信號(hào)的間隔過(guò)長(zhǎng)造成測(cè)試效率低下或發(fā)射干擾信號(hào)的間隔過(guò)短而造成發(fā)射方的第一待測(cè)試設(shè)備能耗過(guò)多。其中,預(yù)定周期可以用戶根據(jù)實(shí)際需要自行設(shè)置或選擇,也可以由第一待測(cè)試設(shè)備本身出廠自帶或根據(jù)實(shí)際情況設(shè)定。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,還包括:相對(duì)位置調(diào)整單元208,用于在干擾信號(hào)發(fā)射單元204任一次發(fā)射干擾信號(hào)后,根據(jù)接收到的位置調(diào)整命令,調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置。
在該技術(shù)方案中,通過(guò)調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置,可以改變第二待測(cè)試設(shè)備接收到的干擾信號(hào)的方向和信號(hào)強(qiáng)度,這樣,如果無(wú)論如何調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備與第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置,即無(wú)論干擾信號(hào)的方向和信號(hào)強(qiáng)度怎樣變化,第二待測(cè)試設(shè)備的性能均無(wú)異常,則說(shuō)明第二待測(cè)試設(shè)備本身無(wú)干擾問(wèn)題。
而如果在調(diào)整相對(duì)位置的過(guò)程中,干擾信號(hào)在某一方向上的信號(hào)強(qiáng)度大于或等于預(yù)定強(qiáng)度閾值時(shí),使得第二待測(cè)試設(shè)備的性能發(fā)生異常,則說(shuō)明第二待測(cè)試設(shè)備具有干擾問(wèn)題,需要對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行抗干擾處理,其中,抗干擾處理包括但不限于屏蔽處理、接地處理和/或?yàn)V波處理。在進(jìn)行抗干擾處理后,需要繼續(xù)通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行射頻檢測(cè),直至干擾問(wèn)題不復(fù)現(xiàn)為止。
實(shí)施例三
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的終端的框圖。
如圖3所示,根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的終端300,包括圖2示出的干擾檢測(cè)系統(tǒng)200,因此,該終端300具有和圖2示出的干擾檢測(cè)系統(tǒng)200相同的技術(shù)效果,在此不再贅述。
實(shí)施例四
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)方法的流程圖。
如圖4所示,根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)方法,包括:
步驟402,通過(guò)使用端口命令或者軟件控制,控制第一待測(cè)試設(shè)備的射頻模塊按照預(yù)定信號(hào)頻率和預(yù)定信號(hào)強(qiáng)度發(fā)射干擾信號(hào)。其中,通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備的射頻模塊發(fā)射預(yù)定信號(hào)頻率和預(yù)定信號(hào)強(qiáng)度的干擾信號(hào),可以避免使用額外的射頻綜測(cè)儀和射頻天線進(jìn)行測(cè)試信號(hào)的產(chǎn)生和發(fā)送,降低了測(cè)試成本,有效消除測(cè)試儀器的限制。
步驟404,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)第二待測(cè)試設(shè)備接收到干擾信號(hào)后的工作狀態(tài)。
步驟406,調(diào)整第一待測(cè)試設(shè)備和第二待測(cè)試設(shè)備的相對(duì)位置。通過(guò)相對(duì)位置的變化,可以使第二待測(cè)試設(shè)備接收到的干擾信號(hào)的信號(hào)方向和信號(hào)強(qiáng)度發(fā)生變化,從而便于監(jiān)測(cè)接收到不同程度的干擾信號(hào)的第二待測(cè)試設(shè)備的工作狀態(tài),使得測(cè)試調(diào)試更加靈活便捷,有效消除測(cè)試儀器的限制。
步驟408,判斷第二待測(cè)試設(shè)備的工作狀態(tài)是否發(fā)生異常,當(dāng)判斷結(jié)果為是時(shí),進(jìn)入步驟410,否則,進(jìn)入步驟412。
步驟410,對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行抗干擾處理,并返回步驟404。在進(jìn)行抗干擾處理后,需要繼續(xù)通過(guò)第一待測(cè)試設(shè)備對(duì)第二待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行射頻檢測(cè),直至干擾問(wèn)題不復(fù)現(xiàn)為止。
步驟412,確定無(wú)干擾問(wèn)題產(chǎn)生。
實(shí)施例五
根據(jù)本發(fā)明的再一個(gè)實(shí)施例的干擾檢測(cè)方法,可以使用兩臺(tái)同型號(hào)的待測(cè)試設(shè)備,分別記做EUT0和EUT1,其中,EUT0作為干擾接收設(shè)備,通過(guò)監(jiān)測(cè)功能、性能的異常,來(lái)確定EUT0是否有被干擾,EUT1作為干擾發(fā)射設(shè)備,通過(guò)端口命令或者軟件控制等方法使EUT1處于發(fā)射狀態(tài),以產(chǎn)生干擾信號(hào)供EUT0接收。
當(dāng)EUT1處于特定頻率和特定強(qiáng)度發(fā)射狀態(tài)時(shí),通過(guò)調(diào)整EUT1與EUT0的相對(duì)位置,使得EUT0接收到的來(lái)自EUT1的干擾信號(hào)強(qiáng)度和干擾方向也隨之發(fā)生變化,如果干擾信號(hào)在某一方向上的強(qiáng)度大小超過(guò)預(yù)定閾值,使得EUT0的功能、性能發(fā)生異常,則說(shuō)明待測(cè)試設(shè)備也就是EUT0本身存在干擾問(wèn)題,反之,若無(wú)論怎么調(diào)整EUT1與EUT0的相對(duì)位置,即無(wú)論EUT0接收到的來(lái)自EUT1的干擾信號(hào)方向和強(qiáng)度如何變化,EUT0的功能、性能均無(wú)異常,則說(shuō)明待測(cè)試設(shè)備也就是EUT0本身無(wú)干擾問(wèn)題或干擾問(wèn)題得到解決。
其中,端口命令或者軟件控制的方法可以為發(fā)射機(jī)平臺(tái)廠商提供的控制軟件或者控制命令,將EUT1的射頻模塊設(shè)置為通路,使EUT1處于某一特定信號(hào)頻率和信號(hào)強(qiáng)度的發(fā)射狀態(tài),這里的信號(hào)強(qiáng)度通常是最大發(fā)射強(qiáng)度,調(diào)整其與待測(cè)試設(shè)備EUT0的相對(duì)位置,同時(shí)監(jiān)測(cè)EUT0的功能、性能是否發(fā)生異常,以便檢測(cè)EUT1是否會(huì)對(duì)待測(cè)試設(shè)備EUT0的造成干擾影響。
如果監(jiān)測(cè)到EUT0的工作狀態(tài)無(wú)異常,則說(shuō)明不存在干擾問(wèn)題,如果監(jiān)測(cè)到EUT0的異?,F(xiàn)象未復(fù)現(xiàn),則說(shuō)明干擾問(wèn)題已得到解決。而如果異常復(fù)現(xiàn),則需要對(duì)EUT0的異常模塊做抗干擾處理的措施,例如屏蔽處理,接地處理等,在進(jìn)行抗干擾處理后,需要繼續(xù)對(duì)EUT0進(jìn)行射頻檢測(cè),直至干擾問(wèn)題不復(fù)現(xiàn)為止。
通過(guò)上述技術(shù)方案,避免了專(zhuān)門(mén)測(cè)試儀器的限制,節(jié)約了測(cè)試成本,并且,通過(guò)端口命令、軟件控制等方法靈活設(shè)置EUT1的射頻模塊的工作狀態(tài),使得測(cè)試人員可進(jìn)行任意待測(cè)通信頻率和任意待測(cè)信號(hào)強(qiáng)度的發(fā)射干擾測(cè)試,而靈活調(diào)整EUT1與EUT0的相對(duì)位置,即調(diào)整EUT0接收到的來(lái)自EUT1的干擾信號(hào)的方向和強(qiáng)度,使得干擾測(cè)試更加方便靈活,便于快速發(fā)現(xiàn)和定位問(wèn)題。
以上結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明了本發(fā)明的技術(shù)方案,通過(guò)本發(fā)明的技術(shù)方案,用待測(cè)試設(shè)備本身取代了相關(guān)技術(shù)中的射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,使得測(cè)試人員無(wú)需額外使用射頻綜測(cè)儀與發(fā)射天線,而是通過(guò)待測(cè)試設(shè)備之間互相進(jìn)行測(cè)試,降低了測(cè)試成本,另外,第一待測(cè)試設(shè)備可以按照預(yù)定發(fā)射屬性發(fā)射干擾信號(hào),也大大提升了射頻測(cè)試的靈活性。
以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō),本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
需要說(shuō)明的是,本發(fā)明實(shí)施例中所涉及的終端可以包括但不限于個(gè)人計(jì)算機(jī)(Personal Computer,PC)、個(gè)人數(shù)字助理(Personal Digital Assistant,PDA)、無(wú)線手持設(shè)備、平板電腦(Tablet Computer)、手機(jī)、MP3播放器、MP4播放器等。
在本發(fā)明所提供的幾個(gè)實(shí)施例中,應(yīng)該理解到,所揭露的系統(tǒng)、裝置和方法,可以通過(guò)其它的方式實(shí)現(xiàn)。例如,以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的,例如,所述單元的劃分,僅僅為一種邏輯功能劃分,實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí)可以有另外的劃分方式,例如,多個(gè)單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個(gè)系統(tǒng),或一些特征可以忽略,或不執(zhí)行。另一點(diǎn),所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過(guò)一些接口,裝置或單元的間接耦合或通信連接,可以是電性,機(jī)械或其它的形式。
另外,在本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理單元中,也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在,也可以?xún)蓚€(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn),也可以采用硬件加軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)。
上述以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)的集成的單元,可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中。上述軟件功能單元存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中,包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)裝置(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī),服務(wù)器,或者網(wǎng)絡(luò)裝置等)或處理器(Processor)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述方法的部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括:U盤(pán)、移動(dòng)硬盤(pán)、只讀存儲(chǔ)器(Read-Only Memory,ROM)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盤(pán)等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明保護(hù)的范圍之內(nèi)。