1.一種干擾粒子對(duì)光電跟蹤系統(tǒng)干擾效果的測(cè)試裝置，其特征在于：該裝置包括光電跟蹤系統(tǒng)、模擬目標(biāo)以及設(shè)置在所述光電跟蹤系統(tǒng)與模擬目標(biāo)之間的測(cè)試樣板，所述光電跟蹤系統(tǒng)由跟蹤探測(cè)器、用于固定所述跟蹤探測(cè)器的跟蹤轉(zhuǎn)臺(tái)以及帶有圖像采集卡并安裝有跟蹤軟件的計(jì)算機(jī)構(gòu)成，所述測(cè)試樣板由對(duì)紅外和可見光輻射均透明的粘性基底以及均勻分散在所述粘性基底一半?yún)^(qū)域上的干擾粒子構(gòu)成，所述跟蹤探測(cè)器的輸出端通過圖像采集卡與所述計(jì)算機(jī)的輸入端連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干擾粒子對(duì)光電跟蹤系統(tǒng)干擾效果的測(cè)試裝置，其特征在于：所述跟蹤探測(cè)器采用紅外熱像儀和/或電視攝像機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干擾粒子對(duì)光電跟蹤系統(tǒng)干擾效果的測(cè)試裝置，其特征在于：所述模擬目標(biāo)采用慢速運(yùn)動(dòng)的人、裝甲、汽車的實(shí)物或模型。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干擾粒子對(duì)光電跟蹤系統(tǒng)干擾效果的測(cè)試裝置，其特征在于：所述跟蹤探測(cè)器、測(cè)試樣板和模擬目標(biāo)光學(xué)同軸。
5.一種干擾粒子對(duì)光電跟蹤系統(tǒng)干擾效果的測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：
（1）將跟蹤探測(cè)器固定在跟蹤轉(zhuǎn)臺(tái)上，并將所述跟蹤探測(cè)器與帶有圖像采集卡并安裝有跟蹤軟件的計(jì)算機(jī)相連，構(gòu)成光電跟蹤系統(tǒng)；
（2）稱取一定質(zhì)量的某種干擾粒子，將其均勻分散在對(duì)紅外和可見光輻射均透明的粘性基底的一半?yún)^(qū)域上，制成一半是空白區(qū)域一半是干擾區(qū)域的測(cè)試樣板，所述干擾區(qū)域具有一定的干擾粒子分布面密度；
（3）將模擬目標(biāo)設(shè)置在距離所述跟蹤轉(zhuǎn)臺(tái)一定距離處；
（4）將所述測(cè)試樣板置于所述跟蹤轉(zhuǎn)臺(tái)與所述模擬目標(biāo)之間，使所述測(cè)試樣板完全進(jìn)入所述跟蹤探測(cè)器的視場(chǎng)內(nèi)；
（5）運(yùn)行所述計(jì)算機(jī)上的跟蹤軟件，同時(shí)使所述模擬目標(biāo)沿著平行于所述測(cè)試樣板的方向，從所述測(cè)試樣板的空白區(qū)域向干擾區(qū)域慢速運(yùn)動(dòng)，由所述計(jì)算機(jī)采集并記錄實(shí)時(shí)跟蹤視頻；
（6）分析跟蹤視頻，獲取所述模擬目標(biāo)進(jìn)入所述測(cè)試樣板的干擾區(qū)域后，所述光電跟蹤系統(tǒng)首次跟丟所述模擬目標(biāo)時(shí)對(duì)應(yīng)的幀序，用以表征該種干擾粒子在相應(yīng)分布面密度下的干擾效果；
（7）重復(fù)上述步驟（2）～（6），依次測(cè)試相同種類干擾粒子在不同分布面密度下的干擾效果；
（8）重復(fù)上述步驟（2）～（7），依次測(cè)試不同種類干擾粒子在不同分布面密度下的干擾效果。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的干擾粒子對(duì)光電跟蹤系統(tǒng)干擾效果的測(cè)試方法，其特征在于，步驟（3）中，將模擬目標(biāo)設(shè)置在距離所述跟蹤轉(zhuǎn)臺(tái)10～15米處。