本發(fā)明涉及光收發(fā)芯片測試
技術(shù)領(lǐng)域：
，具體涉及一種光收發(fā)芯片的自動(dòng)測試裝置及方法。
背景技術(shù)：
：光通信中光模塊有著不可或缺的重要地位，光收發(fā)芯片是光收發(fā)模塊中的集成電路，它是指光纖寬帶網(wǎng)絡(luò)物理層的主要基礎(chǔ)芯片，包括跨阻放大器(tia)、限幅放大器(la)、激光驅(qū)動(dòng)器(ldd)三種。它們被用于光纖傳輸?shù)那岸?，來?shí)現(xiàn)高速傳輸信號的光電、電光轉(zhuǎn)換，這些功能被集成在光纖收發(fā)模塊中。光收發(fā)芯片是光纖寬帶網(wǎng)物理層的重要芯片，關(guān)系到光信號的傳輸質(zhì)量。因此光網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、光收發(fā)模塊都對這些ic芯片提出了苛刻的要求。因此，如何快速準(zhǔn)確地測量光收發(fā)芯片的相關(guān)參數(shù)的測試并直觀顯示測試結(jié)果是非常重要的?，F(xiàn)有測試中，大部分采用手動(dòng)測試，首先需要手動(dòng)進(jìn)行輸入控制參數(shù)，并手動(dòng)導(dǎo)入測試數(shù)據(jù)配置表，然后依次對待測試項(xiàng)進(jìn)行測試并進(jìn)行人工判斷測試結(jié)果是否符合要求，測試完成手動(dòng)記錄測試結(jié)果，待測試芯片多時(shí)，需消耗大量的人力和時(shí)間資源，而且長時(shí)間測試時(shí)容易導(dǎo)致出現(xiàn)錯(cuò)誤。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種光收發(fā)芯片的自動(dòng)測試裝置及方法，主要用于測試光收發(fā)合一芯片，即限幅放大器(la)和激光驅(qū)動(dòng)器(ldd)集成一體化芯片，通過將硬件電路與上位機(jī)測試軟件進(jìn)行結(jié)合，能快速、準(zhǔn)確地對光收發(fā)芯片進(jìn)行自動(dòng)化測試，并直觀地顯示測試結(jié)果及對測試結(jié)果進(jìn)行存儲(chǔ)。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種光收發(fā)芯片的自動(dòng)測試裝置，包括：上位機(jī)測試模塊、usb轉(zhuǎn)i2c模塊、mcu控制模塊、繼電器開關(guān)、eeprom模塊、穩(wěn)壓電源模塊和信號發(fā)生器；所述mcu控制模塊與所述光收發(fā)芯片相連；所述usb轉(zhuǎn)i2c模塊連接于所述上位機(jī)測試模塊和mcu控制模塊之間用于實(shí)現(xiàn)上位機(jī)測試模塊的usb總線與mcu控制模塊的i2c總線之間的通信；所述上位機(jī)測試模塊用于進(jìn)行復(fù)位測試和光收發(fā)芯片的ram測試，并對光收發(fā)芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)初始化及導(dǎo)入測試數(shù)據(jù)配置表，通過所述mcu控制模塊控制所述繼電器開關(guān)實(shí)現(xiàn)高低電平切換，對寄存器地址進(jìn)行檢測判斷，檢測正確后進(jìn)入預(yù)設(shè)參數(shù)測試，測試完成輸出測試結(jié)果；所述eeprom模塊與所述光收發(fā)芯片相連用于在數(shù)據(jù)初始化時(shí)eeprom的數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)線和時(shí)鐘線正常導(dǎo)入所述光收發(fā)芯片；所述上位機(jī)測試模塊與所述穩(wěn)壓電源模塊相連用于監(jiān)控穩(wěn)壓電源模塊輸出的直流電壓值；所述穩(wěn)壓電源模塊與所述光收發(fā)芯片和所述繼電器開關(guān)分別相連用于提供穩(wěn)壓直流電源；所述繼電器開關(guān)用于控制所述信號發(fā)生器的輸出信號是否連接到光所述收發(fā)芯片上。優(yōu)選的，所述穩(wěn)壓電源模塊與所述光收發(fā)芯片相連用于提供+3.3v電源。優(yōu)選的，所述穩(wěn)壓電源模塊與所述繼電器開關(guān)相連用于提供+5v電源。優(yōu)選的，所述usb轉(zhuǎn)i2c模塊包括一usb接口和一ch341t芯片，所述usb接口通過usb數(shù)據(jù)線與上位機(jī)測試模塊通信，并與所述ch341t芯片電連接；所述ch341t芯片通過其sda引腳和scl引腳與所述mcu控制模塊相連。優(yōu)選的，所述mcu控制模塊包括一f330芯片，所述f330芯片的p0.4引腳與繼電器開關(guān)k1的輸入相連；其p0.1引腳與繼電器開關(guān)k2的輸入相連；其p0.2引腳與繼電器開關(guān)k3的輸入相連。優(yōu)選的，所述光收發(fā)芯片包括與所述mcu控制模塊相連的引腳reset、sda、scl、tx_disable、bias_p、tsense、md、tx_fault、irop、rref和los_sd；還包括與繼電器開關(guān)k1輸出相連的lain引腳和與繼電器開關(guān)k2輸出相連的laip引腳；所述繼電器開關(guān)k3的輸出與所述irop引腳相連。優(yōu)選的，所述上位機(jī)測試模塊包括依次相連的復(fù)位測試單元、ram測試單元、oma(光調(diào)制幅度)告警測試單元、rop告警測試單元、adc測試單元、tx_fault(發(fā)射告警)測試單元、lowpower(低電壓/斷電)測試單元、模擬量測試單元、tx_disable(發(fā)射不使能)測試單元和限幅放大器la失調(diào)測試單元；所述模擬量測試單元用于對rref、tx_fault、md、bias_p、tsense、los_sd和irop引腳的輸出電壓進(jìn)行測試，還用于對限幅放大器la和激光驅(qū)動(dòng)器ldd的輸出幅度進(jìn)行測試。優(yōu)選的，所述eeprom模塊包括一at24c08芯片，所述at24c08芯片的wa引腳用于接收高低電平切換，使得數(shù)據(jù)可以進(jìn)行讀取或保護(hù)，并使得數(shù)據(jù)初始化時(shí)eeprom的數(shù)據(jù)通過其sda引腳和scl引腳正常導(dǎo)入所述光收發(fā)芯片。優(yōu)選的，所述自動(dòng)測試裝置還包括示波器，所述示波器與所述光收發(fā)芯片相連用于輸出檢測波形。一種光收發(fā)芯片的自動(dòng)測試方法，包括：使用穩(wěn)壓電源模塊為光收發(fā)芯片提供+3.3v電源，為各繼電器開關(guān)提供+5v電源；上位機(jī)測試模塊依次進(jìn)行復(fù)位測試和光收發(fā)芯片的ram測試，并對光收發(fā)芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)初始化及導(dǎo)入測試數(shù)據(jù)配置表，通過mcu控制模塊控制繼電器開關(guān)實(shí)現(xiàn)高低電平切換，對寄存器地址進(jìn)行檢測判斷，檢測正確后進(jìn)入預(yù)設(shè)參數(shù)測試，測試完成輸出測試結(jié)果；所述預(yù)設(shè)參數(shù)測試包括oma告警測試、rop告警測試、adc測試、tx_fault測試、低電壓測試、模擬量測試、tx_disable測試和限幅放大器la失調(diào)測試；所述模擬量測試包括對光收發(fā)芯片的rref、tx_fault、md、bias_p、tsense、los_sd和irop引腳的輸出電壓進(jìn)行測試，還包括對限幅放大器la和激光驅(qū)動(dòng)器ldd的輸出幅度進(jìn)行測試。本發(fā)明提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是：本發(fā)明的一種光收發(fā)芯片的自動(dòng)測試裝置及方法，裝置包括上位機(jī)測試模塊、usb轉(zhuǎn)i2c模塊、mcu控制模塊、繼電器開關(guān)、eeprom模塊、穩(wěn)壓電源模塊和信號發(fā)生器，所述上位機(jī)測試模塊通過軟件實(shí)現(xiàn)，所述usb轉(zhuǎn)i2c模塊、mcu控制模塊、繼電器開關(guān)、eeprom模塊和穩(wěn)壓電源模塊通過硬件電路實(shí)現(xiàn)，通過上位機(jī)測試模塊對硬件電路控制與測試，實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地對光收發(fā)芯片進(jìn)行自動(dòng)化測試，并直觀地顯示測試結(jié)果及對測試結(jié)果進(jìn)行存儲(chǔ)。以下結(jié)合附圖及實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明；但本發(fā)明的一種光收發(fā)芯片的自動(dòng)測試裝置及方法不局限于實(shí)施例。附圖說明圖1為本發(fā)明光收發(fā)芯片的自動(dòng)測試裝置的整體框架圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例的穩(wěn)壓電源模塊的電路圖；圖3為本發(fā)明實(shí)施例的usb轉(zhuǎn)i2c模塊的電路圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例的mcu控制模塊的電路圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例的待測光收發(fā)芯片的電路圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施例的eeprom模塊的電路圖；圖7為本發(fā)明實(shí)施例的軟件測試流程圖；圖8為本發(fā)明實(shí)施例的上位機(jī)測試模塊的界面圖。具體實(shí)施方式參見圖1所示，一種光收發(fā)芯片的自動(dòng)測試裝置，用于測試光收發(fā)芯片7，所述光收發(fā)芯片7為限幅放大器(la)和激光驅(qū)動(dòng)器(ldd)集成一體化芯片，所述自動(dòng)化測試裝置包括：上位機(jī)測試模塊1、usb轉(zhuǎn)i2c模塊2、mcu控制模塊3、繼電器開關(guān)4、eeprom模塊5、穩(wěn)壓電源模塊6和信號發(fā)生器8；所述mcu控制模塊3與所述光收發(fā)芯片7相連；所述usb轉(zhuǎn)i2c模塊2連接于所述上位機(jī)測試模塊1和mcu控制模塊3之間用于實(shí)現(xiàn)上位機(jī)測試模塊1的usb總線與mcu控制模塊3的i2c總線之間的通信；所述上位機(jī)測試模塊1用于進(jìn)行復(fù)位測試和光收發(fā)芯片7的ram測試，并對光收發(fā)芯片7進(jìn)行數(shù)據(jù)初始化及導(dǎo)入測試數(shù)據(jù)配置表，通過所述mcu控制模塊3控制所述繼電器開關(guān)4實(shí)現(xiàn)高低電平切換，對iic的寄存器地址進(jìn)行檢測判斷，檢測正確后進(jìn)入預(yù)設(shè)參數(shù)測試，測試完成輸出測試結(jié)果；所述eeprom模塊5與所述光收發(fā)芯片7相連用于在數(shù)據(jù)初始化時(shí)eeprom的數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)線和時(shí)鐘線正常導(dǎo)入所述光收發(fā)芯片；所述上位機(jī)測試模塊1與所述穩(wěn)壓電源模塊6相連用于監(jiān)控穩(wěn)壓電源模塊6輸出的直流電壓值；所述穩(wěn)壓電源模塊6與所述光收發(fā)芯片7和所述繼電器開關(guān)4分別相連用于提供穩(wěn)壓直流電源；所述繼電器開關(guān)4用于控制所述信號發(fā)生器8的輸出信號是否連接到光所述收發(fā)芯片7上。本實(shí)施例中，所述上位機(jī)測試模塊1運(yùn)行在pc機(jī)上，通過軟件實(shí)現(xiàn)，具體的基于labview設(shè)計(jì)的軟件；所述usb轉(zhuǎn)i2c模塊2、mcu控制模塊3、繼電器開關(guān)4、eeprom模塊5和穩(wěn)壓電源模塊6通過硬件電路實(shí)現(xiàn)，本實(shí)施例中，所述usb轉(zhuǎn)i2c模塊2、mcu控制模塊3、繼電器開關(guān)4、eeprom模塊5和穩(wěn)壓電源模塊6集成在測試電路板上組成集成電路，測試時(shí)，在測試電路板上插入待測光收發(fā)芯片7。本實(shí)施例中，所述上位機(jī)測試模塊1通過gpib線使pc機(jī)連接穩(wěn)壓電源模塊6來監(jiān)控電源大小，即通過上位機(jī)填寫數(shù)值控制穩(wěn)壓電源模塊6的輸出電壓值，也可以手動(dòng)控制直接在穩(wěn)壓電源模塊6上設(shè)置電壓值。此外，還可以通過所述上位機(jī)測試模塊1直觀顯示電壓設(shè)定值是多少并進(jìn)行修改操作。進(jìn)一步的，參見圖2所示，所述穩(wěn)壓電源模塊6通過j2為所述光收發(fā)芯片提供+3.3v電源；所述穩(wěn)壓電源模塊6通過j1為所述繼電器開關(guān)4提供+5v電源。進(jìn)一步的，參見圖3所示，所述usb轉(zhuǎn)i2c模塊2包括一usb接口usb和一ch341t芯片u1，所述usb接口通過usb數(shù)據(jù)線與上位機(jī)測試模塊1通信，并與所述ch341t芯片u1電連接；所述ch341t芯片通過其sda引腳和scl引腳與所述mcu控制模塊3相連。進(jìn)一步的，參見圖4所示，所述mcu控制模塊3包括一f330芯片，主要功能是輸出高低電平來控制繼電器作為開關(guān)，采集所述光收發(fā)芯片7的引腳輸出電壓來與內(nèi)部設(shè)定值做比較判斷。具體的，所述f330芯片的p0.4引腳與繼電器開關(guān)k1的輸入相連；其p0.1引腳與繼電器開關(guān)k2的輸入相連；其p0.2引腳與繼電器開關(guān)k3的輸入相連。進(jìn)一步的，參見圖5所示，所述光收發(fā)芯片7包括與所述mcu控制模塊3相連的引腳reset、sda、scl、tx_disable、bias_p、tsense、md、tx_fault、irop、rref和los_sd；還包括與繼電器開關(guān)k1輸出相連的lain引腳和與繼電器開關(guān)k2輸出相連的laip引腳；所述繼電器開關(guān)k3的輸出與所述irop引腳相連。具體的，如下表1所示為所述光收發(fā)芯片7的引腳說明。表1引腳名稱類型功能描述1gnd地限幅放大器和esd的地2laon射頻輸出限幅放大器的輸出3laop射頻輸出限幅放大器的反向輸出4vddrx_3v3電源3.3v接收部分電源5ldip射頻輸入發(fā)射信號輸入6ldin射頻輸入發(fā)射信號反向輸入7reset數(shù)字輸入數(shù)字部分復(fù)位8sda數(shù)字雙向iic從模式的數(shù)據(jù)接口9scl數(shù)字輸入iic從模式的時(shí)鐘接口10vddesd電源3.3v數(shù)字部分電源11tx_disable數(shù)字輸入發(fā)射使能控制，內(nèi)部上拉20k電阻12bias_p模擬輸出發(fā)射偏置電流輸出13vddtx_3v3電源3.3v發(fā)射部分電源14tsense模擬輸出外接一個(gè)熱敏電阻到地用于溫度檢測15gndtx地發(fā)射部分的地16ldon射頻輸出發(fā)射信號反向輸出17ldop射頻輸出發(fā)射信號輸出18gndtxo地發(fā)射輸出通道的地19vddtx_3v3電源3.3v發(fā)射部分電源20md模擬輸入發(fā)射監(jiān)控背光電流輸入21tx_fault數(shù)字輸出發(fā)射告警，外部上拉4.7k～10k電阻22irop模擬輸入監(jiān)測rosa輸入光功率23rref模擬輸出外置基準(zhǔn)參考10k電阻到地24vddrx_3v3電源3.3v限幅放大器電源25lain射頻輸入限幅放大器信號反向輸入26laip射頻輸入限幅放大器信號輸入27gnd地限幅放大器和esd的地28los_sd數(shù)字輸出限幅放大器los告警，外部上拉4.7k～10k進(jìn)一步的，參見圖6所示，所述eeprom模塊5包括一at24c08芯片，所述at24c08芯片的wa引腳用于接收高低電平切換，使得數(shù)據(jù)可以進(jìn)行讀取或保護(hù)，并使得數(shù)據(jù)初始化時(shí)eeprom的數(shù)據(jù)通過其sda引腳和scl引腳正常導(dǎo)入所述光收發(fā)芯片。進(jìn)一步的，所述上位機(jī)測試模塊1包括依次相連的復(fù)位測試單元、ram測試單元、oma(光調(diào)制幅度)告警測試單元、rop(接收光功率)告警測試單元、adc(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)測試單元、tx_fault(發(fā)射告警)測試單元、lowpower(低電壓/斷電)測試單元、模擬量測試單元、tx_disable(發(fā)射不使能)測試單元和限幅放大器la失調(diào)測試單元；所述模擬量測試單元用于對rref、tx_fault、md、bias_p、tsense、los_sd和irop引腳的輸出電壓進(jìn)行測試，還用于對限幅放大器la和激光驅(qū)動(dòng)器ldd的輸出幅度進(jìn)行測試。具體的，參見圖7所示，本實(shí)施例的上位機(jī)軟件測試模塊的測試過程如下：軟件界面初始化；設(shè)定電源電壓；對測試電路板上電；設(shè)定繼電器開關(guān)k1和k2為高電平，其他繼電器開關(guān)為低電平；進(jìn)入下一步測試設(shè)定reset為高電平進(jìn)行軟件復(fù)位測試，讀取iic(集成電路總線)a2地址16寄存器的值，如果值不為00，則輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；否則顯示軟件復(fù)位測試合格，進(jìn)入下一步測試；設(shè)定reset為低電平進(jìn)行硬件復(fù)位測試，讀取iica2地址16寄存器的值，如果值不為ff，則輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；否則顯示硬件復(fù)位測試合格，進(jìn)入下一步測試；設(shè)定reset為高電平進(jìn)行ram測試，寫入iica2地址寄存器值為aa，讀取iica2地址寄存器值，如果值不為aa，則輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；否則寫入iica2地址寄存器值為55，讀取iica2地址寄存器值，如果值不為55，則輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；否則顯示ram測試合格，進(jìn)入下一步測試；對數(shù)據(jù)進(jìn)行初始化，導(dǎo)入測試配置表；進(jìn)入下一步測試；讀取iica2地址1b寄存器值第一位的狀態(tài)，如果不為1，則輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；否則，讀取los_sd輸出電壓；判斷l(xiāng)os_sd輸出電壓是否為高電平，如果為低電平，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；如果為高電平，設(shè)定繼電器k1為低電平，讀取iica2地址1b寄存器值第一位的狀態(tài)，如果不為0，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；如果為0，讀取los_sd輸出電壓，判斷是否為低電平，如果為高電平，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試，如果為低電平，顯示laomalos(oma告警檢測)合格；進(jìn)入下一步測試；設(shè)定iica2地址10寄存器值第7位為高，讀取iica2地址1b寄存器值第一位狀態(tài)，判斷值是否為1，如果不是，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試，如果為1，設(shè)定繼電器k2為低電平；讀取iica2地址1b寄存器值第一位狀態(tài)，判讀值是否為0，如果不為0，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；如果為0顯示laroplos(rop告警檢測)合格，進(jìn)入下一步測試；讀取iica2地址1e-27寄存器值，判斷是否符合內(nèi)部adc測試限值，如果不符合，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；如果符合，顯示內(nèi)部adc測試合格，進(jìn)入下一步測試；設(shè)定iica2地址07寄存器值為0，讀取iica2地址18寄存器值第五位狀態(tài)，判斷值是否為1，如果不為1，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；如果為1讀取tx_fault輸出電壓，判斷電壓是否為高電平，如果不為高電平，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；如果為高電平，回復(fù)iica2地址07寄存器初始值；讀取iica2地址18寄存器值第五位狀態(tài)，判斷值是否為0，如果不為0，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試，如果為0，讀取tx_fault輸出電壓，判斷電壓值是否為低電平，如果不為低電平，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試，如果為低電平，顯示tx_fault測試合格，進(jìn)入下一步測試；設(shè)定iica2地址00寄存器第八位值為高，讀取iic電流，判斷是否符合lowpower(低電壓)電流，如果不符合，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試，如果符合，設(shè)定iica2地址00寄存器第八位值為低，顯示lowpower(低電壓)測試合格，進(jìn)入下一步測試；讀取rref、tx_fault、md、bias、tsense、los_sd、irop輸出電壓；讀取限幅放大器la和激光驅(qū)動(dòng)器ldd輸出幅度，判斷各參數(shù)值是否符合限值，如果不符合，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；否則顯示模擬量測試合格，進(jìn)入下一步測試；設(shè)定iica2地址00寄存器第六位值為高，讀取ldd輸出幅度，判斷幅度是否為低電平，如果不為低電平，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試，如果為低電平，設(shè)定iica2地址00寄存器第六位值為低，讀取ldd輸出幅度，判斷幅度是否為高電平，如果不為高電平，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試，如果為高電平，設(shè)定tx_disable引腳為高電平；讀取ldd輸出幅度，判斷幅度是否為低電平，如果不為低電平，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；否則設(shè)定定tx_disable引腳為低電平；讀取ldd輸出幅度，判斷幅度是否為高電平，如果不為高電平，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；否則顯示tx_disable測試合格，進(jìn)入下一步測試；對數(shù)據(jù)進(jìn)行初始化，導(dǎo)入ladc測試配置表，設(shè)定繼電器開關(guān)k1和k2為高電平，其他繼電器開關(guān)為低電平，測試la輸出直流電平差值；判斷差值是否符合限值，如果不符合，輸出錯(cuò)誤信息，停止測試；如果符合限值，顯示la失調(diào)測試合格；進(jìn)入下一步測試；對數(shù)據(jù)進(jìn)行初始化，導(dǎo)入測試配置表；復(fù)位所有開關(guān)，測試完成，斷電，保存測試數(shù)據(jù)。進(jìn)一步的，如圖8所示為上位機(jī)測試模塊的界面圖，本實(shí)施例的測試操作步驟如下：步驟a，連接電源線及相關(guān)通訊線，打開電源開關(guān)，待電源啟動(dòng)完成后，開啟上位機(jī)軟件測試模塊；步驟b，在夾具上裝入測試所需的芯片；步驟c，單擊start開始測試，測試結(jié)果顯示在testresult中，若測試合格，則相應(yīng)的指示燈為綠色，否則為紅色且閃爍；步驟d，測試完成，取出光收發(fā)芯片，放入新的待測芯片，重復(fù)步驟c。進(jìn)一步的，所述信號發(fā)生器8與所述光收發(fā)芯片7的sam3和sam4相連。進(jìn)一步的，所述自動(dòng)測試裝置還包括示波器9，所述示波器與所述光收發(fā)芯片相連用于輸出檢測波形。具體的，所示示波器9與所述光收發(fā)芯片7的sam5和sam6相連，或與sam7和sam8相連。上述實(shí)施例僅用來進(jìn)一步說明本發(fā)明的光收發(fā)芯片的自動(dòng)測試裝置及方法，但本發(fā)明并不局限于實(shí)施例，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均落入本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍內(nèi)。當(dāng)前第1頁12