本發(fā)明涉及一種熱真空環(huán)境下無(wú)源互調(diào)的無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)，屬于測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，適用于在熱真空環(huán)境下，對(duì)收發(fā)共用設(shè)備或系統(tǒng)的無(wú)線無(wú)源互調(diào)測(cè)試。

背景技術(shù)：

無(wú)源互調(diào)(passiveintermodulation,以下簡(jiǎn)稱pim)測(cè)試由于測(cè)試量級(jí)小和其不確定性，其測(cè)量非常困難?！盁o(wú)源互調(diào)測(cè)量及解決方案”(電信技術(shù)2007年第9期)提到的對(duì)于普通的微波無(wú)源二端口器件，可以在兩個(gè)大功率信號(hào)的同時(shí)作用下產(chǎn)生互調(diào)產(chǎn)物，通常的測(cè)量方法可以通過正向和反射互調(diào)產(chǎn)物的測(cè)量方法進(jìn)行測(cè)試。

華為公司公布的“移動(dòng)通信基站系統(tǒng)無(wú)源互調(diào)性能測(cè)試方法”(cn1870473)公開了一種移動(dòng)通信基站系統(tǒng)無(wú)源互調(diào)性能測(cè)試方法，通過控制發(fā)射機(jī)按預(yù)設(shè)模式發(fā)射測(cè)試信號(hào)，同時(shí)控制接收機(jī)在測(cè)試頻段內(nèi)掃描接收，并對(duì)接收信號(hào)進(jìn)行頻譜分析來(lái)評(píng)價(jià)基站系統(tǒng)整體的無(wú)源互調(diào)性能；通過已知載波頻率范圍、互調(diào)階數(shù)及接收頻率范圍等參數(shù)來(lái)精確計(jì)算所接收的測(cè)試頻段，并采用掃描發(fā)射和接收連續(xù)波的方式提高測(cè)試信號(hào)接收質(zhì)量。

西安空間無(wú)線電技術(shù)研究所公布的“一種單臺(tái)功率放大器測(cè)試無(wú)源互調(diào)系統(tǒng)”一種單臺(tái)功率放大器測(cè)試無(wú)源互調(diào)系統(tǒng)，第一信號(hào)源和第二信號(hào)源產(chǎn)生的兩路不同頻率的信號(hào)經(jīng)合成器合成后，經(jīng)過功率放大器放大后的大功率信號(hào)經(jīng)定向耦合器后送至功率計(jì)檢測(cè)，被低無(wú)源互調(diào)大功率負(fù)載吸收測(cè)試件產(chǎn)生的無(wú)源互調(diào)信號(hào)反射至雙工器，并經(jīng)過第三濾波器濾除鏈路中其他干擾信號(hào)，再經(jīng)低噪聲放大器放大后，由頻譜分析儀獲取測(cè)試件的無(wú)源互調(diào)信號(hào)量值大小。

該三種測(cè)試方法的局限性是：

提到的pim測(cè)試方法均針對(duì)單個(gè)器件或者系統(tǒng)進(jìn)行無(wú)源互調(diào)測(cè)試，且主要是通過有線電纜進(jìn)行測(cè)試的方法。均未提及對(duì)于無(wú)線測(cè)試環(huán)境下，且在熱真空狀態(tài)下，如何對(duì)pim進(jìn)行測(cè)試。

在進(jìn)行無(wú)源互調(diào)測(cè)試時(shí)，測(cè)試環(huán)境和測(cè)試系統(tǒng)的無(wú)源互調(diào)是否滿足無(wú)源互調(diào)測(cè)試的要求是該測(cè)試是否能夠進(jìn)行的前提條件。測(cè)試場(chǎng)地本身必需滿足非常嚴(yán)格的無(wú)源互調(diào)指標(biāo)。由于被測(cè)件在熱真空環(huán)境下，尤其是測(cè)試環(huán)境高低溫變化條件下，無(wú)源互調(diào)的測(cè)試條件更為苛刻。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明解決的技術(shù)問題為：克服現(xiàn)有據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的局限性，提供一種熱真空環(huán)境下無(wú)源互調(diào)無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)，解決熱真空條件下的吸波屏蔽問題，建立收發(fā)共用系統(tǒng)的無(wú)線無(wú)源互調(diào)進(jìn)行測(cè)試的系統(tǒng)，以滿足被測(cè)件自身在溫度變化情況下的對(duì)無(wú)源互調(diào)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試的要求。

本發(fā)明解決的技術(shù)方案為：一種熱真空環(huán)境下無(wú)源互調(diào)無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)，包括：吸波屏蔽罩、固定支架、屏蔽薄膜、多載波信號(hào)源、頻譜儀、計(jì)算機(jī)、水冷負(fù)載、熱真空罐、第一穿墻法蘭、穿墻法蘭2、穿墻法蘭3、加熱片、第一熱電耦、熱電耦2、熱電耦監(jiān)視設(shè)備、低頻電纜、高頻電纜。

被測(cè)件安裝至熱真空罐中，并將吸波屏蔽罩安裝于收發(fā)共用系統(tǒng)的收發(fā)共用天線輻射區(qū)，并使用屏蔽薄膜對(duì)吸波屏蔽罩無(wú)法覆蓋的被測(cè)件進(jìn)行了補(bǔ)充屏蔽，使被測(cè)件完全被屏蔽；(被測(cè)件包括：殼體、收發(fā)共用天線、雙工器、發(fā)射通道、接收通道，雙工器、發(fā)射通道、接收通道均安裝與殼體內(nèi)，收發(fā)共用天線安裝于殼體外，發(fā)射通道的輸入端收到射頻信號(hào)，經(jīng)過發(fā)射通道放大后送至雙工器后通過收發(fā)共用天線發(fā)射至空間；收發(fā)共用天線接收空間中的射頻信號(hào)后送至雙工器，再由雙工器送至接收通道，接收通道送來(lái)的該射頻信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大后，從接收通道輸出；)

熱真空罐的壁上設(shè)有第一穿墻法蘭、穿墻法蘭2、穿墻法蘭3，第一穿墻法蘭、穿墻法蘭2、穿墻法蘭3與熱真空罐做了密封處理；

多載波信號(hào)源、頻譜儀、計(jì)算機(jī)位于熱真空罐外；

多載波信號(hào)源產(chǎn)生射頻信號(hào)，利用高頻電纜發(fā)送至熱真空罐的第一穿墻法蘭的一端，第一穿墻法蘭另一端通過電纜發(fā)送至被測(cè)件的發(fā)射通道的輸入端，射頻信號(hào)經(jīng)過被測(cè)件的發(fā)射通道放大后，經(jīng)雙工器從收發(fā)共用天線發(fā)射，收發(fā)共用天線和/或雙工器產(chǎn)生無(wú)源互調(diào)信號(hào)，送至接收通道的輸入端，接收通道對(duì)該無(wú)源互調(diào)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大后，接收通道的輸出端的直通端口將一部分無(wú)源互調(diào)信號(hào)送至水冷負(fù)載；接收通道輸出端的耦合端口將另一部分無(wú)源互調(diào)信號(hào)通過穿墻法蘭2送至頻譜儀，頻譜儀通過gpib接口與計(jì)算機(jī)連接，頻譜儀能夠按時(shí)間記錄無(wú)源互調(diào)信號(hào)的功率和頻率送至計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)。

同時(shí)，頻譜儀的外頻率參考輸入端與多載波信號(hào)源的參考源輸出端相連接，使頻譜儀和多載波信號(hào)源同源；被測(cè)件未被屏蔽部分的殼體表面和吸波屏蔽罩外表面分別安裝了第一熱電耦和熱電耦2，兩個(gè)熱電耦測(cè)得的數(shù)據(jù)通過低頻電纜送至熱真空罐外的熱電耦監(jiān)視設(shè)備，利用熱電耦監(jiān)視設(shè)備監(jiān)視被測(cè)件和吸波屏蔽罩的溫度；

還包括校準(zhǔn)pim源，在被測(cè)件(即收發(fā)共用系統(tǒng))的天線正前方放置校準(zhǔn)pim源，用膠帶粘至天線正前方的吸波屏蔽罩內(nèi)壁，用于測(cè)試系統(tǒng)自校準(zhǔn)，將被測(cè)件的接收通道的接收頻段進(jìn)行掃描，記錄掃描頻段內(nèi)的雜波和系統(tǒng)噪聲功率，即完成背景環(huán)境掃描，背景環(huán)境掃描和系統(tǒng)自校準(zhǔn)完成后，即開始進(jìn)行熱真空下無(wú)源互調(diào)測(cè)試，利用計(jì)算機(jī)對(duì)無(wú)源互調(diào)信號(hào)功率進(jìn)行連續(xù)監(jiān)測(cè)，同時(shí)利用熱電耦監(jiān)視設(shè)備監(jiān)視被測(cè)件殼體的溫度。

校準(zhǔn)pim源使用鋼絲球，圓形，直徑在10～12cm。

所述的測(cè)試系統(tǒng)自校準(zhǔn)過程包括：測(cè)試系統(tǒng)搭建完成后的，在常溫條件下，對(duì)產(chǎn)生的無(wú)源互調(diào)信號(hào)功率的標(biāo)定和測(cè)試系統(tǒng)射頻信號(hào)的連通性的檢查，同時(shí)，利用校準(zhǔn)pim源驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的頻譜儀接收到的pim信號(hào)的相對(duì)于理論頻點(diǎn)的頻率準(zhǔn)確度。

吸波屏蔽罩為長(zhǎng)方體，一端開口，尺寸根據(jù)被測(cè)件外包絡(luò)進(jìn)行設(shè)計(jì)，保證屏蔽罩內(nèi)壁距被測(cè)件的天線不小于被測(cè)件接收頻率的波長(zhǎng)的10倍即可，材料選用碳化硅。

固定支架為剛質(zhì)結(jié)構(gòu)，由底板和支撐腿組成，主要用于將吸波屏蔽罩和被測(cè)件支撐放置于熱真空罐內(nèi)部并保持穩(wěn)定。

高頻電纜用于傳輸300mhz以上的射頻信號(hào)，形式為同軸電纜和接頭組成，低頻電纜傳輸50mhz以下的低頻信號(hào)，形式為雙絞屏蔽線和接頭組成。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于：

(1)本發(fā)明的系統(tǒng)可推廣應(yīng)用于其他各種熱真空無(wú)線測(cè)試環(huán)境的無(wú)源互調(diào)測(cè)試。

(2)本發(fā)明借鑒了有線的二端口器件的無(wú)源互調(diào)測(cè)試方法，建立了合適的無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)，并且利用已知的pim源對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了校準(zhǔn)。

(3)本發(fā)明根據(jù)實(shí)際測(cè)試所需要的無(wú)線環(huán)境，利用吸波材料的熱真空特性的搭建了適應(yīng)于pim無(wú)線測(cè)試的環(huán)境，并利用屏蔽薄膜對(duì)無(wú)線環(huán)境進(jìn)行了補(bǔ)充屏蔽，保證了環(huán)境能夠適應(yīng)熱真空條件下的高低溫變化，該測(cè)試方法可以保證被測(cè)件測(cè)試環(huán)境的無(wú)源互調(diào)指標(biāo)達(dá)到測(cè)試的要求。

(4)本發(fā)明采用了多載波源產(chǎn)生的小信號(hào)作為發(fā)射信號(hào)源，利用收發(fā)共用系統(tǒng)本身的放大器、低噪聲放大器和雙工器進(jìn)行測(cè)試，簡(jiǎn)化了設(shè)備數(shù)量，降低了測(cè)試系統(tǒng)的復(fù)雜程度。

(5)本發(fā)明根據(jù)無(wú)源互調(diào)測(cè)試的特點(diǎn)，通過記錄軟件對(duì)系統(tǒng)測(cè)試的無(wú)源互調(diào)值進(jìn)行了高低溫下的連續(xù)監(jiān)測(cè)，并結(jié)合背景環(huán)境掃描的結(jié)果，確保了測(cè)試結(jié)果的完整性，減小了測(cè)試誤差的影響。

附圖說(shuō)明

圖1為熱真空環(huán)境下無(wú)源互調(diào)無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)框圖；

圖2為熱真空環(huán)境下無(wú)源互調(diào)測(cè)試的工作流程圖；

圖3為本發(fā)明的系統(tǒng)測(cè)試某個(gè)收發(fā)共用系統(tǒng)近一天(1個(gè)循環(huán))的實(shí)際測(cè)試結(jié)果。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明涉及一種熱真空環(huán)境下無(wú)源互調(diào)(簡(jiǎn)稱pim)的無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)，屬于測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，適用于在熱真空環(huán)境下，對(duì)收發(fā)共用設(shè)備或系統(tǒng)的無(wú)線無(wú)源互調(diào)測(cè)試。

目前已有的pim測(cè)試方法均針對(duì)單個(gè)器件或者系統(tǒng)進(jìn)行無(wú)源互調(diào)測(cè)試，且主要是通過有線電纜進(jìn)行測(cè)試的方法。均未提及對(duì)于無(wú)線測(cè)試環(huán)境下，且在熱真空狀態(tài)下，如何對(duì)pim進(jìn)行測(cè)試。

在進(jìn)行無(wú)源互調(diào)測(cè)試時(shí)，測(cè)試環(huán)境和測(cè)試系統(tǒng)的無(wú)源互調(diào)是否滿足無(wú)源互調(diào)測(cè)試的要求是該測(cè)試是否能夠進(jìn)行的前提條件。測(cè)試場(chǎng)地本身必需滿足非常嚴(yán)格的無(wú)源互調(diào)指標(biāo)。由于被測(cè)件在熱真空環(huán)境下，尤其是測(cè)試環(huán)境高低溫變化條件下，無(wú)源互調(diào)的測(cè)試條件更為苛刻。通過采用碳化硅吸波屏蔽罩和屏蔽薄膜對(duì)被測(cè)件屏蔽的方式，較好的解決了在熱真空環(huán)境下搭建低無(wú)源互調(diào)測(cè)試環(huán)境的問題，可以實(shí)現(xiàn)被測(cè)件在熱真空環(huán)境下實(shí)現(xiàn)pim測(cè)試。

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)描述。

如圖1所示，一種熱真空環(huán)境下無(wú)源互調(diào)無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)，包括：吸波屏蔽罩、固定支架、屏蔽薄膜、多載波信號(hào)源、頻譜儀、計(jì)算機(jī)、水冷負(fù)載、熱真空罐、第一穿墻法蘭、穿墻法蘭2、穿墻法蘭3、加熱片、第一熱電耦、熱電耦2、熱電耦監(jiān)視設(shè)備、低頻電纜、高頻電纜。

被測(cè)件安裝至熱真空罐中，并將吸波屏蔽罩安裝于收發(fā)共用系統(tǒng)的收發(fā)共用天線輻射區(qū)，并使用屏蔽薄膜對(duì)吸波屏蔽罩無(wú)法覆蓋的被測(cè)件進(jìn)行了補(bǔ)充屏蔽，使被測(cè)件完全被屏蔽；(被測(cè)件包括：殼體、收發(fā)共用天線、雙工器、發(fā)射通道、接收通道，雙工器、發(fā)射通道、接收通道均安裝與殼體內(nèi)，收發(fā)共用天線安裝于殼體外，發(fā)射通道的輸入端收到射頻信號(hào)，經(jīng)過發(fā)射通道放大后送至雙工器后通過收發(fā)共用天線發(fā)射至空間；收發(fā)共用天線接收空間中的射頻信號(hào)后送至雙工器，再由雙工器送至接收通道，接收通道送來(lái)的該射頻信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大后，從接收通道輸出；)

熱真空罐的壁上設(shè)有第一穿墻法蘭、穿墻法蘭2、穿墻法蘭3，第一穿墻法蘭、穿墻法蘭2、穿墻法蘭3與熱真空罐做了密封處理；

多載波信號(hào)源、頻譜儀、計(jì)算機(jī)位于熱真空罐外；

多載波信號(hào)源產(chǎn)生射頻信號(hào)，利用高頻電纜發(fā)送至熱真空罐的第一穿墻法蘭的一端，第一穿墻法蘭另一端通過電纜發(fā)送至被測(cè)件的發(fā)射通道的輸入端，射頻信號(hào)經(jīng)過被測(cè)件的發(fā)射通道放大后，經(jīng)雙工器從收發(fā)共用天線發(fā)射，收發(fā)共用天線和/或雙工器產(chǎn)生無(wú)源互調(diào)信號(hào)，送至接收通道的輸入端，接收通道對(duì)該無(wú)源互調(diào)信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大后，接收通道的輸出端的直通端口將一部分無(wú)源互調(diào)信號(hào)送至水冷負(fù)載；接收通道輸出端的耦合端口將另一部分無(wú)源互調(diào)信號(hào)通過穿墻法蘭2送至頻譜儀，頻譜儀通過gpib接口與計(jì)算機(jī)連接，頻譜儀能夠按時(shí)間記錄無(wú)源互調(diào)信號(hào)的功率和頻率送至計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)。

同時(shí)，頻譜儀的外頻率參考輸入端與多載波信號(hào)源的參考源輸出端相連接，使頻譜儀和多載波信號(hào)源同源；被測(cè)件未被屏蔽部分的殼體表面和吸波屏蔽罩外表面分別安裝了第一熱電耦和熱電耦2，兩個(gè)熱電耦測(cè)得的數(shù)據(jù)通過低頻電纜送至熱真空罐外的熱電耦監(jiān)視設(shè)備，利用熱電耦監(jiān)視設(shè)備監(jiān)視被測(cè)件和吸波屏蔽罩的溫度；

所述的一種熱真空環(huán)境下無(wú)源互調(diào)無(wú)線測(cè)試方法如圖2所示。

(一)所述測(cè)試系統(tǒng)搭建的實(shí)施方式：

(1)被測(cè)件收發(fā)共用系統(tǒng)工作于l頻段，被安裝至熱真空罐中，并用將吸波屏蔽罩安裝間距設(shè)定為500mm(大于l頻段波長(zhǎng)的10倍)，并對(duì)屏蔽罩無(wú)法覆蓋的部分利用屏蔽薄膜進(jìn)行了補(bǔ)充屏蔽，并檢查整個(gè)屏蔽后是否有縫隙。被測(cè)件未被屏蔽部分的殼體表面和吸波屏蔽罩表面分別粘貼了第一熱電耦和熱電耦2。

(2)多載波信號(hào)源通過高頻電纜通過第一穿墻法蘭送至收發(fā)共用系統(tǒng)的發(fā)射輸入端。

(3)接收通道射頻直通端口將一部分無(wú)源互調(diào)信號(hào)送至水冷負(fù)載，輸出端耦合口通過罐內(nèi)罐電纜連接穿墻法蘭2罐內(nèi)接頭，法蘭2的罐外接頭連接下行測(cè)量的頻譜儀1，頻譜儀通過gpib接口與計(jì)算機(jī)連接。同時(shí)，頻譜儀的與多載波信號(hào)源的同源。

(二)所述背景環(huán)境掃描方式

(1)首先，地面設(shè)備已加電、工裝全部安裝到位的狀態(tài)下，被測(cè)件開機(jī)，此時(shí)多載波信號(hào)源不加信號(hào)。

(2)進(jìn)行背景環(huán)境掃描，通過熱真空罐外的頻譜儀測(cè)量需要測(cè)試的無(wú)源互調(diào)頻點(diǎn)理論值fpim+/-1mhz內(nèi)、發(fā)射頻點(diǎn)ft1+/-1mhz、ft2+/-1mhz的頻譜進(jìn)行掃描，同時(shí)記錄雜波頻點(diǎn)fi1、fi2、、、fij和功率pi1、pi2、、、pij。同時(shí)記錄系統(tǒng)噪聲功率pndbm，該系統(tǒng)噪聲功率pn應(yīng)小于無(wú)源互調(diào)指標(biāo)prdbm。

(三)所述測(cè)試系統(tǒng)校準(zhǔn)方式

(1)首先應(yīng)在被測(cè)件的天線輻射區(qū)內(nèi)放置校準(zhǔn)pim源，距離天線為直線距離約0.5米的吸波屏蔽罩內(nèi)壁。所有設(shè)備加電測(cè)試，多載波信號(hào)源發(fā)射信號(hào)頻率為ft1、ft2，功率分別為pt1、pt2。用頻譜儀測(cè)試接收pim頻點(diǎn)的功率，記錄為fp1，pp1，若測(cè)試到的無(wú)源互調(diào)值功率pp1值高于系統(tǒng)噪聲5db以上，且pim頻點(diǎn)與計(jì)算的理論頻點(diǎn)偏差|fpim-fp1|<100hz，則測(cè)試系統(tǒng)的滿足校準(zhǔn)要求。若不滿足以上條件，則應(yīng)檢查測(cè)試系統(tǒng)是否正常工作。

(2)然后，所有設(shè)備斷電，撤出校準(zhǔn)pim源，并所有設(shè)備加電測(cè)試。多載波信號(hào)源發(fā)射信號(hào)頻率為ft1、ft2，功率分別為pt1、pt2。用頻譜儀測(cè)試接收pim頻點(diǎn)的功率，記錄為fp2，pp2、，若測(cè)試到的無(wú)源互調(diào)功率值信號(hào)淹沒于系統(tǒng)噪聲pn之下或者pp2-pr≥5db，則記錄當(dāng)前的功率。若不滿足該條件，應(yīng)該重新檢查屏蔽環(huán)境和地面測(cè)試設(shè)備，使得最終測(cè)試到的無(wú)源互調(diào)值滿足該條件。

(四)所述熱真空無(wú)源互調(diào)無(wú)線測(cè)試的實(shí)施方式

(1)熱真空罐抽真空以后，開始進(jìn)行常溫真空下測(cè)試，記錄測(cè)試的無(wú)源互調(diào)頻率和功率ft，pt，將測(cè)試值ft，pt與背景掃描和系統(tǒng)校準(zhǔn)的結(jié)果對(duì)比，若沒有新的雜波，則繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。

(2)進(jìn)行溫度循環(huán)，從室溫25℃左右開始，優(yōu)選溫度范圍為-60℃～+100℃，一般溫度循環(huán)次數(shù)為3.5次，通過熱電耦監(jiān)視設(shè)備監(jiān)視被測(cè)件的殼體溫度，連續(xù)監(jiān)測(cè)的時(shí)間間隔設(shè)置為3秒。同時(shí)通過熱電耦監(jiān)測(cè)設(shè)備監(jiān)視吸波屏蔽罩的溫度。

(五)所述數(shù)據(jù)判讀的實(shí)施方式

(1)由于無(wú)源互調(diào)測(cè)試的不穩(wěn)定性，且對(duì)測(cè)試系統(tǒng)要求較高，必須定時(shí)判讀測(cè)試數(shù)據(jù)的有效性，當(dāng)溫度循環(huán)到達(dá)預(yù)計(jì)的低溫-60℃和高溫+100℃時(shí)判讀頻譜儀在計(jì)算機(jī)中的連續(xù)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，看是否滿足優(yōu)選條件|fpim-fp1|<100hz。

(2)根據(jù)背景環(huán)境掃描的結(jié)果，剔除野值。排除以上情況后，且測(cè)試到的功率仍然大于指標(biāo)pn的要求，記錄無(wú)源互調(diào)穩(wěn)定度測(cè)量的最終結(jié)果。

目前，本發(fā)明熱真空無(wú)源互調(diào)無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)成功的應(yīng)用到多個(gè)收發(fā)共用系統(tǒng)的測(cè)試中，測(cè)試某個(gè)收發(fā)共用系統(tǒng)近一天(1個(gè)循環(huán))的實(shí)際測(cè)試結(jié)果如圖3所示。該系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了在-60℃～+100℃范圍內(nèi)高低溫變化環(huán)境下，對(duì)被測(cè)件的無(wú)源互調(diào)進(jìn)行連續(xù)監(jiān)視，并且測(cè)試靈敏度小于-145dbm。

本發(fā)明說(shuō)明書中未作詳細(xì)描述的內(nèi)容屬本領(lǐng)域技術(shù)人員的公知技術(shù)。