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一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法與流程

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一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法與流程

【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明涉及電聲測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法。



背景技術(shù):

目前,在一般的電聲測(cè)試方法中,測(cè)試流程是:接入被測(cè)試器件,再手動(dòng)點(diǎn)擊測(cè)試軟件界面的按鍵開(kāi)始測(cè)試或者使用腳踏開(kāi)關(guān)開(kāi)始測(cè)試,這樣的測(cè)試方法導(dǎo)致每次測(cè)試都需要人工確定被測(cè)器件是否接好,并要通過(guò)操作軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試,自動(dòng)化程度較低,測(cè)試操作繁瑣,導(dǎo)致測(cè)試效率不高。為了解決目前電聲測(cè)試方法操作繁瑣,導(dǎo)致測(cè)試效率不高的問(wèn)題,有必要提出一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法,節(jié)省測(cè)試時(shí)間,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化操作,提高產(chǎn)品的生產(chǎn)效率。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法,其旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中電聲測(cè)試方法操作繁瑣,導(dǎo)致測(cè)試效率不高的技術(shù)問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出了一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法,其基于利用測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試電路,并在計(jì)算機(jī)的測(cè)試軟件中內(nèi)置自動(dòng)檢測(cè)程序,通過(guò)自動(dòng)檢測(cè)程序自動(dòng)判斷被測(cè)器件是否接入測(cè)試設(shè)備,來(lái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試的目的,包括以下步驟:

s1、啟動(dòng)測(cè)試軟件;

s2、在測(cè)試軟件操作界面上設(shè)置測(cè)試電路的交流電壓vs和電路輸出阻抗res以及阻抗判斷設(shè)定值;

s3、自動(dòng)檢測(cè)程序檢測(cè)并讀取電阻res兩端的電壓vab,并通過(guò)計(jì)算公式計(jì)算出被測(cè)器件兩端的阻抗rdut1;

s4、自動(dòng)檢測(cè)程序定時(shí)檢測(cè)并讀取電阻res兩端的電壓vab,并通過(guò)計(jì)算公式計(jì)算出被測(cè)器件兩端的阻抗rdut2;

s5、自動(dòng)檢測(cè)程序依據(jù)計(jì)算得到的rdut值進(jìn)行判斷,若rdut1值大于阻抗判斷設(shè)定值且rdut2值小于等于阻抗判斷設(shè)定值,則啟動(dòng)測(cè)試設(shè)備,并跳轉(zhuǎn)至步驟s7,反之跳轉(zhuǎn)至步驟s6;

s6、完成賦值操作,rdut1=rdut2;并轉(zhuǎn)至步驟s4;

s7、自動(dòng)檢測(cè)程序控制測(cè)試設(shè)備對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試,當(dāng)前被測(cè)器件測(cè)試完成后,自動(dòng)檢測(cè)程序自動(dòng)記錄測(cè)試結(jié)果,并進(jìn)入步驟s8;

s8、檢測(cè)軟件是否按下停止按鈕,若是則關(guān)閉軟件,結(jié)束測(cè)試;若否,則跳轉(zhuǎn)至步驟s6。

作為優(yōu)選,所述的測(cè)試電路由交流電源、電阻和被測(cè)器件的接入端口串聯(lián)而成,所述的被測(cè)器件在測(cè)試過(guò)程中與被測(cè)器件的接入端口連接,且被測(cè)器件與電阻串聯(lián)。

作為優(yōu)選,所述的測(cè)試電路與測(cè)試軟件通信連接。

作為優(yōu)選,所述的步驟s3、s4中的計(jì)算公式為:其中當(dāng)被測(cè)器件未準(zhǔn)確接入測(cè)試設(shè)備時(shí),i=0,rdut=∞;當(dāng)被測(cè)器件準(zhǔn)確接入測(cè)試設(shè)備時(shí),rdut值為被測(cè)器件的實(shí)際阻抗。

作為優(yōu)選,所述的步驟s4中自動(dòng)檢測(cè)程序定時(shí)檢測(cè)的周期為100ms-2s。

本發(fā)明的有益效果:與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明提供的一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法,利用測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試電路,并在計(jì)算機(jī)的測(cè)試軟件中內(nèi)置自動(dòng)檢測(cè)程序,通過(guò)自動(dòng)檢測(cè)程序和測(cè)試電路自動(dòng)判斷被測(cè)器件是否接入測(cè)試設(shè)備,來(lái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試的目的,測(cè)試準(zhǔn)確;同時(shí)測(cè)試了被測(cè)器件的阻抗,通過(guò)被測(cè)器件的阻抗就可判斷被測(cè)器件是否良好;測(cè)試速度快,不需要人工干預(yù),僅在被測(cè)器件未準(zhǔn)確接入的情況下需要人工干預(yù),自動(dòng)化啟動(dòng)測(cè)試軟件,大大節(jié)省了測(cè)試時(shí)間,提高了測(cè)試效率,節(jié)省了測(cè)試成本。

本發(fā)明的特征及優(yōu)點(diǎn)將通過(guò)實(shí)施例結(jié)合附圖進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。

【附圖說(shuō)明】

圖1是本發(fā)明實(shí)施例一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法的流程圖;

圖2是本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試電路的原理示意圖。

【具體實(shí)施方式】

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明了,下面通過(guò)附圖及實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。但是應(yīng)該理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限制本發(fā)明的范圍。此外,在以下說(shuō)明中,省略了對(duì)公知結(jié)構(gòu)和技術(shù)的描述,以避免不必要地混淆本發(fā)明的概念。

參閱圖1,本發(fā)明實(shí)施例提供一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法,其基于利用測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試電路,并在計(jì)算機(jī)的測(cè)試軟件中內(nèi)置自動(dòng)檢測(cè)程序,通過(guò)自動(dòng)檢測(cè)程序自動(dòng)判斷被測(cè)器件是否接入測(cè)試設(shè)備,來(lái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試的目的,基本原理為:若沒(méi)有接入被測(cè)器件,阻抗測(cè)試值將是無(wú)窮大,若正確接入則測(cè)得一定值,軟件中可由用戶設(shè)定某值作為判斷依據(jù),則將一次阻抗由大到小且經(jīng)過(guò)設(shè)定值作為一次有效接入,所述的測(cè)試電路與測(cè)試軟件通信連接,所述的測(cè)試電路由交流電源、電阻和被測(cè)器件的接入端口串聯(lián)而成,所述的被測(cè)器件在測(cè)試過(guò)程中與被測(cè)器件的接入端口連接,且被測(cè)器件與電阻串聯(lián),包括以下步驟:

s1、啟動(dòng)測(cè)試軟件。

s2、在測(cè)試軟件操作界面上設(shè)置測(cè)試電路的交流電壓vs和電路輸出阻抗res以及阻抗判斷設(shè)定值。

s3、自動(dòng)檢測(cè)程序檢測(cè)并讀取電阻res兩端的電壓vab,并通過(guò)計(jì)算公式計(jì)算出被測(cè)器件兩端的阻抗rdut1。

s4、自動(dòng)檢測(cè)程序定時(shí)檢測(cè)并讀取電阻res兩端的電壓vab,并通過(guò)計(jì)算公式計(jì)算出被測(cè)器件兩端的阻抗rdut2,自動(dòng)檢測(cè)程序定時(shí)檢測(cè)的周期為100ms-2s。

其中,計(jì)算公式為:其中當(dāng)被測(cè)器件未準(zhǔn)確接入測(cè)試設(shè)備時(shí),i=0,rdut=∞;當(dāng)被測(cè)器件準(zhǔn)確接入測(cè)試設(shè)備時(shí),rdut值為被測(cè)器件的實(shí)際阻抗。

結(jié)合圖2,已知交流電壓vs、電阻的輸出阻抗res,自動(dòng)檢測(cè)程序以一定的周期采集一次ab兩端(即電阻兩端)的電壓vab,根據(jù)歐姆定律,通過(guò)vs、res、vab計(jì)算出被測(cè)器件兩端的阻抗rdut:

電流

如果被測(cè)器件沒(méi)有接入時(shí),電流i=0,rdut=∞;

如果被測(cè)器件接入,可以計(jì)算出實(shí)際rdut,開(kāi)始測(cè)試。

s5、自動(dòng)檢測(cè)程序依據(jù)計(jì)算得到的rdut值進(jìn)行判斷,若rdut1值大于阻抗判斷設(shè)定值且rdut2值小于等于阻抗判斷設(shè)定值,則啟動(dòng)測(cè)試設(shè)備,并跳轉(zhuǎn)至步驟s7,反之跳轉(zhuǎn)至步驟s6。

在本發(fā)明實(shí)施例中,自動(dòng)檢測(cè)程序定時(shí)檢測(cè)的周期為200ms,當(dāng)rdut=∞時(shí),表示被測(cè)器件未準(zhǔn)確接入測(cè)試設(shè)備;當(dāng)rdut值為被測(cè)器件的實(shí)際阻抗時(shí),表示被測(cè)器件準(zhǔn)確接入測(cè)試設(shè)備,通過(guò)計(jì)算rdut值就可判斷被測(cè)器件是否準(zhǔn)確接入測(cè)試設(shè)備來(lái)啟動(dòng)測(cè)試設(shè)備,不需要每次手動(dòng)操作,極大的縮短了生產(chǎn)時(shí)間,提高了生產(chǎn)效率。

s6、完成賦值操作,rdut1=rdut2;并轉(zhuǎn)至步驟s4。

s7、自動(dòng)檢測(cè)程序控制測(cè)試設(shè)備對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試,當(dāng)前被測(cè)器件測(cè)試完成后,自動(dòng)檢測(cè)程序自動(dòng)記錄測(cè)試結(jié)果,并進(jìn)入步驟s8。

s8、檢測(cè)軟件是否按下停止按鈕,若是則關(guān)閉軟件,結(jié)束測(cè)試;若否,則跳轉(zhuǎn)至步驟s6。

本發(fā)明一種阻抗觸發(fā)自動(dòng)化測(cè)試方法,利用測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試電路,并在計(jì)算機(jī)的測(cè)試軟件中內(nèi)置自動(dòng)檢測(cè)程序,通過(guò)自動(dòng)檢測(cè)程序和測(cè)試電路自動(dòng)判斷被測(cè)器件是否接入測(cè)試設(shè)備,來(lái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試的目的,測(cè)試準(zhǔn)確;同時(shí)測(cè)試了被測(cè)器件的阻抗,通過(guò)被測(cè)器件的阻抗就可判斷被測(cè)器件是否良好;測(cè)試速度快,不需要人工干預(yù),僅在被測(cè)器件未準(zhǔn)確接入的情況下需要人工干預(yù),自動(dòng)化啟動(dòng)測(cè)試軟件,大大節(jié)省了測(cè)試時(shí)間,提高了測(cè)試效率,節(jié)省了測(cè)試成本。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換或改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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