本發(fā)明涉及設(shè)備測試，特別涉及一種測試設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、在手機(jī)通信、wifi信號、無線能量傳輸?shù)入姶挪ㄏ嚓P(guān)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)過程中，電磁兼容(emc)是一個(gè)必須要考慮的問題。因?yàn)椴煌碾姶挪芰恐g可能會(huì)產(chǎn)生噪音信號進(jìn)行相互干擾，如何避免干擾而維持正常工作是電磁研究工作中必不可少的內(nèi)容。因此，需要對設(shè)備進(jìn)行抗電磁輻射干擾測試。在測試過程中，如何保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性成為待解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施方式提供一種測試設(shè)備。

2、本發(fā)明實(shí)施方式的一種測試設(shè)備用于對待測設(shè)備的抗電磁干擾能力進(jìn)行測試，所述測試設(shè)備包括：

3、測試腔體，所述測試腔體內(nèi)設(shè)有測試腔，所述測試腔用于容置所述待測設(shè)備；

4、天線組件；

5、射頻模塊，所述射頻模塊電連接所述天線組件，所述射頻模塊用于輸出射頻信號，所述天線組件用于將所述射頻信號饋入至所述測試腔內(nèi)；

6、旋轉(zhuǎn)組件，所述旋轉(zhuǎn)組件包括位于所述測試腔內(nèi)的固定盤，所述固定盤用于固定所述待測設(shè)備，所述旋轉(zhuǎn)組件用于驅(qū)動(dòng)所述固定盤帶動(dòng)所述待測設(shè)備在所述測試腔內(nèi)旋轉(zhuǎn)。

7、上述測試設(shè)備具有旋轉(zhuǎn)組件，在測試過程中，射頻信號可以模擬為電磁輻射，由于電磁輻射具有一定的方向性，可以利用旋轉(zhuǎn)組件驅(qū)動(dòng)固定盤帶動(dòng)待測設(shè)備旋轉(zhuǎn)，使得待測設(shè)備的不同部位能夠受到期望中的電磁輻射干擾，保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

8、在某些實(shí)施方式中，所述旋轉(zhuǎn)組件包括第一旋轉(zhuǎn)組件，所述固定盤包括第一固定盤，所述第一旋轉(zhuǎn)組件包括第一電機(jī)和第一連接軸，所述第一電機(jī)位于所述測試腔外，所述第一連接軸連接所述第一固定盤和所述第一電機(jī)，所述第一固定盤沿水平方向設(shè)置，所述第一電機(jī)用于驅(qū)動(dòng)所述第一連接軸旋轉(zhuǎn)以帶動(dòng)所述第一固定盤和所述待測設(shè)備旋轉(zhuǎn)。

9、在某些實(shí)施方式中，所述旋轉(zhuǎn)組件包括第二旋轉(zhuǎn)組件，所述固定盤包括第二固定盤，所述第二旋轉(zhuǎn)組件包括第二電機(jī)和第二連接軸，所述第二電機(jī)位于所述測試腔外，所述第二連接軸連接所述第二固定盤和所述第二電機(jī)，所述第二固定盤沿豎直方向設(shè)置，所述第二電機(jī)用于驅(qū)動(dòng)所述第二連接軸旋轉(zhuǎn)以帶動(dòng)所述第二固定盤和所述待測設(shè)備旋轉(zhuǎn)。

10、在某些實(shí)施方式中，兩個(gè)所述第二固定盤用于夾持固定所述待測設(shè)備，每個(gè)所述第二固定盤連接有一個(gè)所述第二連接軸。

11、在某些實(shí)施方式中，所述固定盤包括介質(zhì)固定盤和/或?qū)щ姽潭ūP。

12、在某些實(shí)施方式中，所述測試設(shè)備包括控制器和操作組件，所述控制器電連接所述操作組件和所述射頻模塊，所述操作組件用于設(shè)定所述射頻信號的參數(shù)，所述控制器用于獲取所述射頻信號的參數(shù)并根據(jù)所述射頻信號的參數(shù)控制所述射頻模塊輸出所述射頻信號，所述射頻信號的參數(shù)包括頻率、相位和功率中的至少一個(gè)。

13、在某些實(shí)施方式中，所述測試設(shè)備包括控制器和通信模塊，所述控制器電連接所述通信模塊和所述射頻模塊，所述通信模塊用于接收預(yù)設(shè)終端發(fā)送的所述射頻信號的參數(shù)，所述控制器用于獲取所述射頻信號的參數(shù)并根據(jù)所述射頻信號的參數(shù)控制所述射頻模塊輸出所述射頻信號，所述射頻信號的參數(shù)包括頻率、相位和功率中的至少一個(gè)。

14、在某些實(shí)施方式中，述測試設(shè)備包括電氣室和散熱組件，所述電氣室位于所述測試腔外，所述散熱組件和所述射頻模塊位于所述電氣室內(nèi)，所述散熱組件用于對所述射頻模塊進(jìn)行散熱。

15、在某些實(shí)施方式中，所述散熱組件包括導(dǎo)風(fēng)件和散熱風(fēng)機(jī)，所述導(dǎo)風(fēng)件罩設(shè)所述射頻模塊，所述導(dǎo)風(fēng)件設(shè)有進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口，所述進(jìn)風(fēng)口與所述散熱風(fēng)機(jī)對應(yīng)設(shè)置。

16、在某些實(shí)施方式中，所述測試設(shè)備還包括供電模塊，所述供電模塊電連接所述射頻模塊、所述散熱風(fēng)機(jī)和所述旋轉(zhuǎn)組件，所述供電模塊位于所述導(dǎo)風(fēng)件上方并與所述導(dǎo)風(fēng)件導(dǎo)熱地連接。

17、本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實(shí)踐了解到。

技術(shù)特征：

1.一種測試設(shè)備，用于對待測設(shè)備的抗電磁干擾能力進(jìn)行測試，其特征在于，所述測試設(shè)備包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述旋轉(zhuǎn)組件包括第一旋轉(zhuǎn)組件，所述固定盤包括第一固定盤，所述第一旋轉(zhuǎn)組件包括第一電機(jī)和第一連接軸，所述第一電機(jī)位于所述測試腔外，所述第一連接軸連接所述第一固定盤和所述第一電機(jī)，所述第一固定盤沿水平方向設(shè)置，所述第一電機(jī)用于驅(qū)動(dòng)所述第一連接軸旋轉(zhuǎn)以帶動(dòng)所述第一固定盤和所述待測設(shè)備旋轉(zhuǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述旋轉(zhuǎn)組件包括第二旋轉(zhuǎn)組件，所述固定盤包括第二固定盤，所述第二旋轉(zhuǎn)組件包括第二電機(jī)和第二連接軸，所述第二電機(jī)位于所述測試腔外，所述第二連接軸連接所述第二固定盤和所述第二電機(jī)，所述第二固定盤沿豎直方向設(shè)置，所述第二電機(jī)用于驅(qū)動(dòng)所述第二連接軸旋轉(zhuǎn)以帶動(dòng)所述第二固定盤和所述待測設(shè)備旋轉(zhuǎn)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試設(shè)備，其特征在于，兩個(gè)所述第二固定盤用于夾持固定所述待測設(shè)備，每個(gè)所述第二固定盤連接有一個(gè)所述第二連接軸。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述固定盤包括介質(zhì)固定盤和/或?qū)щ姽潭ūP。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述測試設(shè)備包括控制器和操作組件，所述控制器電連接所述操作組件和所述射頻模塊，所述操作組件用于設(shè)定所述射頻信號的參數(shù)，所述控制器用于獲取所述射頻信號的參數(shù)并根據(jù)所述射頻信號的參數(shù)控制所述射頻模塊輸出所述射頻信號，所述射頻信號的參數(shù)包括頻率、相位和功率中的至少一個(gè)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述測試設(shè)備包括控制器和通信模塊，所述控制器電連接所述通信模塊和所述射頻模塊，所述通信模塊用于接收預(yù)設(shè)終端發(fā)送的所述射頻信號的參數(shù)，所述控制器用于獲取所述射頻信號的參數(shù)并根據(jù)所述射頻信號的參數(shù)控制所述射頻模塊輸出所述射頻信號，所述射頻信號的參數(shù)包括頻率、相位和功率中的至少一個(gè)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述測試設(shè)備包括電氣室和散熱組件，所述電氣室位于所述測試腔外，所述散熱組件和所述射頻模塊位于所述電氣室內(nèi)，所述散熱組件用于對所述射頻模塊進(jìn)行散熱。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述散熱組件包括導(dǎo)風(fēng)件和散熱風(fēng)機(jī)，所述導(dǎo)風(fēng)件罩設(shè)所述射頻模塊，所述導(dǎo)風(fēng)件設(shè)有進(jìn)風(fēng)口和出風(fēng)口，所述進(jìn)風(fēng)口與所述散熱風(fēng)機(jī)對應(yīng)設(shè)置。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試設(shè)備，其特征在于，所述測試設(shè)備還包括供電模塊，所述供電模塊電連接所述射頻模塊、所述散熱風(fēng)機(jī)和所述旋轉(zhuǎn)組件，所述供電模塊位于所述導(dǎo)風(fēng)件上方并與所述導(dǎo)風(fēng)件導(dǎo)熱地連接。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開一種測試設(shè)備。測試設(shè)備用于對待測設(shè)備的抗電磁干擾能力進(jìn)行測試，測試設(shè)備包括：測試腔體，測試腔體內(nèi)設(shè)有測試腔，測試腔用于容置待測設(shè)備；天線組件；射頻模塊，射頻模塊電連接天線組件，射頻模塊用于輸出射頻信號，天線組件用于將射頻信號饋入至測試腔內(nèi)；旋轉(zhuǎn)組件，旋轉(zhuǎn)組件包括位于測試腔內(nèi)的固定盤，固定盤用于固定待測設(shè)備，旋轉(zhuǎn)組件用于驅(qū)動(dòng)固定盤帶動(dòng)待測設(shè)備在測試腔內(nèi)旋轉(zhuǎn)。上述測試設(shè)備具有旋轉(zhuǎn)組件，在測試過程中，射頻信號可以模擬為電磁輻射，由于電磁輻射具有一定的方向性，可以利用旋轉(zhuǎn)組件驅(qū)動(dòng)固定盤帶動(dòng)待測設(shè)備旋轉(zhuǎn)，使得待測設(shè)備的不同部位能夠受到期望中的電磁輻射干擾，保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：易倩玉,鄭弘佑,方友平,唐相偉,陳宗龍,陳禮康,梁家榮,史龍
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東美的廚房電器制造有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2