本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試，特別涉及一種測試方法和測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、微波加熱設(shè)備在產(chǎn)生微波對腔體中的負(fù)載進(jìn)行加熱時(shí)，由于微波加熱腔體不是完全封閉的(如門體與腔體之間有縫隙)，會有很小的微波泄露(此微波泄露是滿足國家安全標(biāo)準(zhǔn)的)，這些泄露的微波也會對微波加熱設(shè)備的零件，如控制板、控制器等產(chǎn)生干擾，影響相關(guān)部件的正常工作，例如導(dǎo)致控制板上的顯示裝置閃爍或控制板復(fù)位不工作等。因此，有必要對相關(guān)零部件進(jìn)行抗電磁干擾特性的測試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供了一種測試方法和測試系統(tǒng)。

2、本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種測試方法，對待測設(shè)備進(jìn)行抗電磁干擾特性測試，包括：

3、確定待測設(shè)備的測試范圍，所述測試范圍包括頻率范圍、相位范圍和功率范圍的至少一個(gè)，控制測試裝置和待測設(shè)備上電，所述待測設(shè)備置于所述測試裝置的測試腔內(nèi)；

4、根據(jù)所述測試范圍設(shè)置射頻信號的參數(shù)，并根據(jù)所述射頻信號的參數(shù)控制所述測試裝置的射頻組件產(chǎn)生射頻信號，對所述測試腔內(nèi)的待測設(shè)備進(jìn)行干擾；

5、采集所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)，在所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)為異常狀態(tài)的情況下，記錄所述射頻信號的當(dāng)前參數(shù)，之后調(diào)整所述射頻信號的參數(shù)直至完成所述測試范圍的測試；

6、在完成所述測試范圍的測試的情況下，輸出測試報(bào)告，所述測試報(bào)告包括所述待測設(shè)備的異常狀態(tài)及異常狀態(tài)對應(yīng)的射頻信號的參數(shù)。

7、上述測試方法，可以在測試范圍內(nèi)對待測設(shè)備進(jìn)行抗電磁干擾特性的測試，并輸出異常狀態(tài)對應(yīng)的測試報(bào)告，有利于后續(xù)改善待測設(shè)備的抗電磁干擾特性，提高待測設(shè)備在電磁干擾環(huán)境下工作的可靠性。

8、在某些實(shí)施方式中，所述頻率范圍為30mhz～18ghz，所述相位范圍為0°～360°，所述功率范圍為0w～50w。

9、在某些實(shí)施方式中，所述測試方法由所述測試裝置執(zhí)行，或；

10、所述測試方法由上位機(jī)和所述測試裝置協(xié)同執(zhí)行，所述上位機(jī)與所述測試裝置通信連接。

11、在某些實(shí)施方式中，所述測試方法還包括：

12、控制所述測試裝置上傳所述射頻組件的狀態(tài)信息至所述上位機(jī)，所述射頻組件的狀態(tài)信息包括射頻信號的頻率、相位和功率中的至少一個(gè)，以及所述射頻組件的開關(guān)狀態(tài)。

13、在某些實(shí)施方式中，所述測試方法還包括：

14、控制所述測試裝置和/或所述上位機(jī)顯示所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)為異常狀態(tài)時(shí)對應(yīng)的射頻信號的當(dāng)前參數(shù)。

15、在某些實(shí)施方式中，采集所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)包括以下至少一種：

16、通過攝像頭確定所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)；

17、通過溫度檢測裝置確定所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)；

18、通過聲音傳感器確定所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)。

19、本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種測試系統(tǒng)，對待測設(shè)備進(jìn)行抗電磁干擾特性測試，包括：

20、確定模塊，所述確定模塊用于確定待測設(shè)備的測試范圍，所述測試范圍包括頻率范圍、相位范圍和功率范圍的至少一個(gè)，控制所述測試裝置和待測設(shè)備上電，所述待測設(shè)備置于所述測試裝置的測試腔內(nèi)；

21、處理模塊，所述處理模塊用于根據(jù)所述測試范圍設(shè)置射頻信號的參數(shù)，并根據(jù)所述射頻信號的參數(shù)控制所述測試裝置的射頻組件產(chǎn)生射頻信號，對所述測試腔內(nèi)的待測設(shè)備進(jìn)行干擾；

22、采集模塊，所述采集模塊用于采集所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)，在所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)為異常狀態(tài)的情況下，記錄所述射頻信號的當(dāng)前參數(shù)，之后所述確定模塊用于調(diào)整所述射頻信號的參數(shù)直至完成所述測試范圍的測試；

23、輸出模塊，所述輸出模塊用于在完成所述測試范圍的測試的情況下，輸出測試報(bào)告，所述測試報(bào)告包括所述待測設(shè)備的異常狀態(tài)及異常狀態(tài)對應(yīng)的射頻信號的參數(shù)。

24、上述測試系統(tǒng)，可以在測試范圍內(nèi)對待測設(shè)備進(jìn)行抗電磁干擾特性的測試，并輸出異常狀態(tài)對應(yīng)的測試報(bào)告，有利于后續(xù)改善待測設(shè)備的抗電磁干擾特性，提高待測設(shè)備在電磁干擾環(huán)境下工作的可靠性。

25、本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實(shí)踐了解到。

技術(shù)特征：

1.一種測試方法，對待測設(shè)備進(jìn)行抗電磁干擾特性測試，其特征在于，所述測試方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述頻率范圍為30mhz～18ghz，所述相位范圍為0°～360°，所述功率范圍為0w～50w。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述測試方法由所述測試裝置執(zhí)行，或；

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試方法，其特征在于，所述測試方法還包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試方法，其特征在于，所述測試方法還包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，采集所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)包括以下至少一種：

7.一種測試系統(tǒng)，對待測設(shè)備進(jìn)行抗電磁干擾特性測試，其特征在于，所述測試系統(tǒng)包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述頻率范圍為30mhz～18ghz，所述相位范圍為0°～360°，所述功率范圍為0w～50w。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)包括顯示模塊，所述顯示模塊用于顯示所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)為異常狀態(tài)時(shí)對應(yīng)的射頻信號的當(dāng)前參數(shù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述采集模塊采集所述待測設(shè)備的工作狀態(tài)的方式包括以下至少一種：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種測試方法和測試系統(tǒng)。對待測設(shè)備進(jìn)行抗電磁干擾特性測試，測試方法包括確定待測設(shè)備的測試范圍，控制測試裝置和待測設(shè)備上電；根據(jù)測試范圍設(shè)置射頻參數(shù)，并根據(jù)射頻參數(shù)控制測試裝置的射頻組件產(chǎn)生射頻信號，對測試腔內(nèi)的待測設(shè)備進(jìn)行干擾；采集待測設(shè)備的工作狀態(tài)，在待測設(shè)備的工作狀態(tài)為異常狀態(tài)的情況下，記錄射頻信號的當(dāng)前射頻參數(shù)，之后調(diào)整射頻參數(shù)直至完成測試范圍的測試；在完成測試范圍的測試的情況下，輸出測試報(bào)告。上述測試方法，可以在測試范圍內(nèi)對待測設(shè)備進(jìn)行抗電磁干擾特性的測試，并輸出異常狀態(tài)對應(yīng)的測試報(bào)告，有利于后續(xù)改善待測設(shè)備的抗電磁干擾特性，提高待測設(shè)備在電磁干擾環(huán)境下工作的可靠性。

技術(shù)研發(fā)人員：史龍,方友平,梁家榮,陳宗龍,易倩玉,陳禮康,鄭弘佑,孫炎軍,唐相偉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東美的廚房電器制造有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2