本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試，特別涉及一種測試裝置。

背景技術(shù)：

1、當(dāng)前手機通信、wifi等眾多信號，集中在微波波段，日常環(huán)境中電磁信號強度是過去的上百倍乃至上千倍。這就使得很多電子設(shè)備在設(shè)計中，不僅需要考慮設(shè)備本身的穩(wěn)定性，還需要考慮其在存在電磁信號干擾環(huán)境下的工作穩(wěn)定度，對應(yīng)為設(shè)備的電磁抗擾度(ems，electromagnetic?susceptibility)。因此，需要對電子設(shè)備的零部件，如芯片、顯示屏、按鍵等進行ems測試。在測試過程中，被測件所處位置具體的功率或者電磁場強度的數(shù)值往往不確定，不能準(zhǔn)確的判定被測件接收到多少電磁輻射，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實施方式提供了一種測試裝置以解決上述存在的至少一個技術(shù)問題。

2、本發(fā)明實施方式提供的一種測試裝置用于對被測件的電磁抗擾度進行測試，所述測試裝置包括：

3、測試腔體，所述測試腔體內(nèi)設(shè)有測試腔，所述測試腔用于放置所述被測件；

4、天線組件；

5、射頻模塊，所述射頻模塊電連接所述天線組件，所述射頻模塊用于輸出射頻信號，所述天線組件用于將所述射頻信號饋入至所述測試腔內(nèi)；

6、射頻檢測模塊，所述射頻檢測模塊用于采集所述被測件所處位置的電磁信號并將所述電磁信號轉(zhuǎn)換為電信號參數(shù)，和；

7、控制器，所述控制器電連接所述射頻檢測模塊，所述控制器用于記錄所述電信號參數(shù)。

8、上述測試裝置中，射頻檢測模塊采集被測件所處位置的電磁信號并將電磁信號轉(zhuǎn)換為電信號參數(shù)，控制器記錄被測件所處位置的電信號參數(shù)，進而可以準(zhǔn)確地獲得被測件所處位置的電磁信息，提升測試結(jié)果準(zhǔn)確性。

9、在某些實施方式中，所述射頻檢測模塊包括檢測天線，所述檢測天線安裝在所述測試腔的底壁。如此，可以提高所述射頻信號檢測的準(zhǔn)確度。

10、在某些實施方式中，所述射頻檢測模塊包括多個所述檢測天線，多個所述檢測天線間隔圍成一個測試區(qū)域，所述被測件位于所述測試區(qū)域。如此，可以提高所述射頻信號檢測的準(zhǔn)確度。

11、在某些實施方式中，所述射頻檢測模塊包括檢波電路，所述檢波電路的輸入端連接所述檢測天線的一端，所述檢波電路的輸出端連接所述控制器。如此，可以將電磁輻射轉(zhuǎn)化為電信號參數(shù)。

12、在某些實施方式中，所述射頻檢測模塊包括信號處理電路，所述檢波電路的輸出端連接所述信號處理電路的輸入端，所述信號處理電路的輸出端連接所述控制器，所述信號處理電路用于處理所述檢波電路的輸出信號為所述控制器能夠識別的電信號參數(shù)。如此，可以提高所述射頻檢測模塊的適應(yīng)性。

13、在某些實施方式中，所述檢波電路包括隔直電容和檢波器，所述隔直電容的一端連接所述檢測天線的一端，所述隔直電容的另一端連接所述檢波器的輸入端，所述檢波器的輸出端連接所述控制器或所述信號處理電路的輸入端。如此，可以保護所述檢波電路。

14、在某些實施方式中，所述電信號參數(shù)包括電壓大小，所述射頻檢測模塊包括調(diào)節(jié)電路，所述調(diào)節(jié)電路連接所述檢波器的輸出端，所述調(diào)節(jié)電路用于調(diào)節(jié)所述檢波器輸出的電壓大小。如此，可以調(diào)節(jié)所述檢波器的輸出電壓在合適范圍。

15、在某些實施方式中，所述射頻檢測模塊包括衰減器，所述衰減器的輸入端連接所述檢測天線的一端，所述衰減器的輸出端連接所述檢波電路的輸入端。如此，可以保護所述檢波電路。

16、在某些實施方式中，所述射頻模塊包括發(fā)射機，所述控制器用于在所述電信號參數(shù)大于第一預(yù)設(shè)閾值的情況下，降低所述發(fā)射機的功率，在所述電信號參數(shù)小于第二預(yù)設(shè)閾值的情況下，提高所述發(fā)射機的功率，所述第一預(yù)設(shè)閾值大于所述第二預(yù)設(shè)閾值。如此，可以提高調(diào)整測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

17、在某些實施方式中，所述電信號參數(shù)包括電壓大小、功率大小和電場強度大小中的至少一個。如此，可以更好適配控制器。

18、本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。

技術(shù)特征：

1.一種測試裝置，用于對被測件的電磁抗擾度進行測試，其特征在于，所述測試裝置包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述射頻檢測模塊包括檢測天線，所述檢測天線安裝在所述測試腔的底壁。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述射頻檢測模塊包括多個所述檢測天線，多個所述檢測天線間隔圍成一個測試區(qū)域，所述被測件位于所述測試區(qū)域。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述射頻檢測模塊包括檢波電路，所述檢波電路的輸入端連接所述檢測天線的一端，所述檢波電路的輸出端連接所述控制器。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述射頻檢測模塊包括信號處理電路，所述檢波電路的輸出端連接所述信號處理電路的輸入端，所述信號處理電路的輸出端連接所述控制器，所述信號處理電路用于處理所述檢波電路的輸出信號為所述控制器能夠識別的電信號參數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的測試裝置，其特征在于，所述檢波電路包括隔直電容和檢波器，所述隔直電容的一端連接所述檢測天線的一端，所述隔直電容的另一端連接所述檢波器的輸入端，所述檢波器的輸出端連接所述控制器或所述信號處理電路的輸入端。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于，所述電信號參數(shù)包括電壓大小，所述射頻檢測模塊包括調(diào)節(jié)電路，所述調(diào)節(jié)電路連接所述檢波器的輸出端，所述調(diào)節(jié)電路用于調(diào)節(jié)所述檢波器輸出的電壓大小。

8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述射頻檢測模塊包括衰減器，所述衰減器的輸入端連接所述檢測天線的一端，所述衰減器的輸出端連接所述檢波電路的輸入端。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述射頻模塊包括發(fā)射機，所述控制器用于在所述電信號參數(shù)大于第一預(yù)設(shè)閾值的情況下，降低所述發(fā)射機的功率，在所述電信號參數(shù)小于第二預(yù)設(shè)閾值的情況下，提高所述發(fā)射機的功率，所述第一預(yù)設(shè)閾值大于所述第二預(yù)設(shè)閾值。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述電信號參數(shù)包括電壓大小、功率大小和電場強度大小中的至少一個。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種測試裝置用于對被測件的電磁抗擾度進行測試，測試裝置包括測試腔體、天線組件、射頻模塊、射頻檢測模塊和控制器，測試腔體內(nèi)設(shè)有測試腔，測試腔用于放置被測件，射頻模塊電連接天線組件，射頻模塊用于輸出射頻信號，天線組件用于將射頻信號饋入至測試腔內(nèi)，射頻檢測模塊用于采集被測件所處位置的電磁信號并將電磁信號轉(zhuǎn)換為電信號參數(shù)，控制器電連接射頻檢測模塊，控制器用于記錄電信號參數(shù)。上述測試裝置中，射頻檢測模塊采集被測件所處位置的電磁信號并將電磁信號轉(zhuǎn)換為電信號參數(shù)，控制器記錄被測件所處位置的電信號參數(shù)，進而可以準(zhǔn)確地獲得被測件所處位置的電磁信息，提升測試結(jié)果準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：陳宗龍,陳禮康,唐相偉,鄭弘佑,方友平,梁家榮
受保護的技術(shù)使用者：廣東美的廚房電器制造有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2