本發(fā)明涉及半導體成品測試，具體涉及一種音頻控制器的測試系統(tǒng)、方法、設備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、半導體成品測試(final?test，ft)是在芯片封裝完成后進行的最終測試，旨在確保芯片功能的正確性。對于帶有i2s(inter-ic?sound)音頻控制器的集成芯片(system?onchip，soc)，ft階段的測試方法包括內(nèi)部自回環(huán)和外部自回環(huán)模式。

2、然而，在內(nèi)部自回環(huán)模式中，控制時鐘由芯片內(nèi)部產(chǎn)生，數(shù)據(jù)不經(jīng)過引腳，因此無法驗證引腳功能。外部自回環(huán)模式允許內(nèi)部或外部提供控制時鐘，數(shù)據(jù)通過引腳輸出再返回接收端，但無法全面覆蓋模塊功能。此外，外部時鐘方式還需soc芯片控制外部芯片，增加了測試復雜性。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本發(fā)明提供了一種音頻控制器的測試系統(tǒng)、方法、設備、介質(zhì)及程序產(chǎn)品，以解決目前芯片生產(chǎn)測試中i2s音頻控制器功能測試不充分和測試效率低的問題。

2、第一方面，本發(fā)明提供了一種音頻控制器的測試系統(tǒng)，包括：第一待測芯片，第一待測芯片包括第一音頻控制接口；第二待測芯片，第二待測芯片包括第二音頻控制接口，第一音頻控制接口與第二音頻控制接口連接，以使第一待測芯片和第二待測芯片進行相互測試，生成相互測試結(jié)果，相互測試結(jié)果包括第一測試結(jié)果和第二測試結(jié)果；調(diào)試設備，包括第一接口和第二接口，第一接口與第一待測芯片連接、第二接口與第二待測芯片連接；調(diào)試設備用于通過第一接口接收第一待測芯片發(fā)送的第一測試結(jié)果，通過第二接口接收第二待測芯片發(fā)送的第二測試結(jié)果，并基于第一測試結(jié)果和第二測試結(jié)果，確定第一待測芯片和第二待測芯片的音頻測試結(jié)果。

3、本發(fā)明實施例提供的音頻控制器的測試系統(tǒng)，通過將第一待測芯片和第二待測芯片的音頻控制接口連接，可以實現(xiàn)相互測試，提高了測試的全面性和準確性。系統(tǒng)能夠自動生成相互測試結(jié)果，包括第一測試結(jié)果和第二測試結(jié)果，減少了人工干預和潛在的人為錯誤。調(diào)試設備通過第一接口和第二接口分別接收兩個待測芯片的測試結(jié)果，使得數(shù)據(jù)采集更為迅速和高效。基于兩片芯片的測試結(jié)果，系統(tǒng)能夠綜合評估其音頻控制器的功能狀態(tài)，確保覆蓋所有可能的功能點，避免遺漏。通過同時測試兩片芯片，該系統(tǒng)顯著提高了測試效率，減少了整體測試時間。

4、在一種可選的實施方式中，調(diào)試設備通過第一接口向第一待測芯片下發(fā)第一控制模式，并通過第二接口向第二待測芯片下發(fā)第二控制模式；第一控制模式和第二控制模式為主從控制模式。

5、本發(fā)明實施例提供的音頻控制器的測試系統(tǒng)，主從控制模式使得系統(tǒng)能夠靈活配置和管理多個待測芯片，提高了測試過程的可控性和協(xié)調(diào)性。通過各自的控制模式，能夠在測試過程中實時調(diào)整芯片的工作狀態(tài)，快速響應測試需求和變化。

6、在一種可選的實施方式中，第一待測芯片和第二待測芯片進行相互測試，生成相互測試結(jié)果，包括：第一待測芯片按照第一控制模式生成第一偽隨機數(shù)列，并將第一偽隨機數(shù)列發(fā)送至第二待測芯片；第二待測芯片按照第二控制模式生成第二偽隨機數(shù)列，并將第二偽隨機數(shù)列發(fā)送至第一待測芯片；第一待測芯片對第一偽隨機數(shù)列和第二偽隨機數(shù)列進行對比，生成第一測試結(jié)果，并將第一測試結(jié)果發(fā)送給調(diào)試設備；第二待測芯片對第二偽隨機數(shù)列和第一偽隨機數(shù)列進行對比，生成第二測試結(jié)果，并將第二測試結(jié)果發(fā)送給調(diào)試設備。

7、本發(fā)明實施例提供的音頻控制器的測試系統(tǒng)，通過相互生成和對比偽隨機數(shù)列，能夠全面評估兩個芯片的性能，確保它們在不同控制模式下的穩(wěn)定性和兼容性。偽隨機數(shù)列的生成和對比能夠提供更可靠的測試數(shù)據(jù)，減少了測試過程中的人為干擾和偏差，從而提高結(jié)果的準確性。相互測試的設計使得兩個待測芯片能夠即時反饋彼此的性能，及時發(fā)現(xiàn)問題并進行調(diào)整，提高了整體測試效率。第一和第二待測芯片之間的互相對比能夠有效驗證各自的功能和性能，確保每個芯片在不同工作狀態(tài)下都能正常運行。

8、在一種可選的實施方式中，第一待測芯片按照第一控制模式生成第一偽隨機數(shù)列，包括：基于第一音頻控制接口與第二音頻控制接口連接，對第一待測芯片與第二待測芯片進行握手；若第一待測芯片與第二待測芯片握手成功，則第一待測芯片按照預設的偽隨機數(shù)生成參數(shù)以及第一控制模式生成第一偽隨機數(shù)列。

9、本發(fā)明實施例提供的音頻控制器的測試系統(tǒng)，握手過程確保第一待測芯片和第二待測芯片之間的通信是可靠的，只有在成功建立連接后才進行后續(xù)操作，減少了潛在的錯誤。通過握手確認，可以確保兩個芯片在相同的工作狀態(tài)下進行測試，避免因不一致的狀態(tài)導致測試結(jié)果不準確。

10、在一種可選的實施方式中，第二待測芯片按照第二控制模式生成第二偽隨機數(shù)列，包括：基于第一音頻控制接口與第二音頻控制接口連接，對第一待測芯片與第二待測芯片進行握手；若第一待測芯片與第二待測芯片握手成功，則第二待測芯片按照預設的偽隨機數(shù)生成參數(shù)以及第二控制模式生成第二偽隨機數(shù)列。

11、本發(fā)明實施例提供的音頻控制器的測試系統(tǒng)，握手機制確保第二待測芯片與第一待測芯片之間的連接穩(wěn)定，只有在確認連接成功后才進行偽隨機數(shù)列的生成，從而減少通信錯誤。成功的握手和有效的參數(shù)設置有助于提升生成的偽隨機數(shù)列的質(zhì)量，從而增強測試結(jié)果的可靠性和準確性。

12、在一種可選的實施方式中，對第一待測芯片與第二待測芯片進行握手，包括；第一待測芯片按照預設次數(shù)向第二待測芯片發(fā)送第一預設數(shù)據(jù)；第二待測芯片按照預設次數(shù)向第一待測芯片發(fā)送第一預設數(shù)據(jù)；當確定第一待測芯片與第二待測芯片均收到第一預設數(shù)據(jù)后，第一待測芯片按照預設次數(shù)向第二待測芯片發(fā)送第二預設數(shù)據(jù)；第二待測芯片按照預設次數(shù)向第一待測芯片發(fā)送第二預設數(shù)據(jù)。

13、本發(fā)明實施例提供的音頻控制器的測試系統(tǒng)，通過雙向的數(shù)據(jù)交換和確認機制，確保第一待測芯片和第二待測芯片之間的連接穩(wěn)定，降低了通信錯誤的可能性。預設次數(shù)的發(fā)送和接收機制提供了多次確認的機會，進一步確保兩個芯片在相同的狀態(tài)下進行測試，提高了握手的可靠性。在確認雙方都收到預設數(shù)據(jù)后再進行后續(xù)的數(shù)據(jù)交換，確保了雙方的數(shù)據(jù)一致性，減少了因不同步造成的誤差。

14、在一種可選的實施方式中，調(diào)試設備通過第一接口向第一待測芯片下發(fā)第一控制模式，并通過第二接口向第二待測芯片下發(fā)第二控制模式，包括：調(diào)試設備將第一接口設置為第一電平，并將第二接口設置為第二電平，以使第一待測芯片根據(jù)第一電平配置第一控制模式，第二待測芯片根據(jù)第二電平配置第二控制模式。

15、本發(fā)明實施例提供的音頻控制器的測試系統(tǒng)，通過設置不同的電平，調(diào)試設備可以明確區(qū)分并控制每個待測芯片的行為，確保信號傳輸?shù)臏蚀_性。兩個待測芯片可以同時接收控制指令，提高了配置效率，縮短了測試準備時間。

16、在一種可選的實施方式中，基于第一測試結(jié)果和第二測試結(jié)果，確定第一待測芯片和第二待測芯片的音頻測試結(jié)果，包括：將第一待測芯片按照第一控制模式，第二待測芯片按照第二控制模式進行第一階段測試，得到第一階段測試結(jié)果；若第一階段測試結(jié)果表征第一待測芯片和第二待測芯片通過測試，則將第一待測芯片配置為第二控制模式，將第二待測芯片配置為第一控制模式；第二控制模式的第一待測芯片以及第一控制模式的第二待測芯片進行握手；若握手成功，則第一待測芯片根據(jù)預設偽隨機數(shù)生成參數(shù)生成第三偽隨機數(shù)列，并將第三偽隨機數(shù)列發(fā)送至第二待測芯片，第二待測芯片根據(jù)預設偽隨機數(shù)生成參數(shù)生成第四偽隨機數(shù)列，并將第四偽隨機數(shù)列發(fā)送至第一待測芯片；第一待測芯片根據(jù)第三偽隨機數(shù)列與第四偽隨機數(shù)列進行比較，得到第三測試結(jié)果，第二待測芯片根據(jù)第四偽隨機數(shù)列與第三偽隨機數(shù)列進行比較，得到第四測試結(jié)果；根據(jù)第三測試結(jié)果以及第四測試結(jié)果，確定第一待測芯片和第二待測芯片的第二階段測試是否通過；若第二階段測試通過，則確定第一待測芯片和第二待測芯片為正常狀態(tài)。

17、本發(fā)明實施例提供的音頻控制器的測試系統(tǒng)，通過將測試分為第一階段和第二階段，能夠有效地識別和排除潛在的問題，提高測試的系統(tǒng)性和精確性。根據(jù)第一階段測試結(jié)果動態(tài)調(diào)整待測芯片的控制模式，增強了系統(tǒng)的適應性和靈活性，使得測試過程能夠針對不同情況進行優(yōu)化。通過比較不同階段的測試結(jié)果，能夠更清晰地識別出可能存在的問題，并進行針對性的故障排查。通過多輪數(shù)據(jù)交互和比較，可以全面評估芯片的性能，確保芯片在不同場景下的功能完整性。

18、第二方面，本發(fā)明提供了一種音頻控制器的測試方法，應用于上述第一方面或其對應的任一實施方式的音頻控制器的測試系統(tǒng)，包括：控制第一待測芯片的第一音頻控制接口與第二待測芯片的第二音頻控制接口連接，以使第一待測芯片和第二待測芯片進行相互測試，生成相互測試結(jié)果；獲取第一待測芯片和第二待測芯片之間的相互測試結(jié)果，相互測試結(jié)果包括第一測試結(jié)果和第二測試結(jié)果；基于第一測試結(jié)果和第二測試結(jié)果，確定第一待測芯片和第二待測芯片的音頻測試結(jié)果。

19、本發(fā)明實施例提供的音頻控制器的測試方法，通過相互測試，能夠全面評估兩個芯片的相互兼容性和協(xié)同工作能力，確保系統(tǒng)整體性能的可靠性。獲取相互測試結(jié)果的過程可以實時進行，有助于及時識別問題并進行調(diào)整，提高測試的響應速度。包含第一測試結(jié)果和第二測試結(jié)果，提供了雙向驗證的基礎，增強了測試結(jié)果的可靠性。通過集成相互測試，可以避免重復測試和不必要的步驟，提高整體測試流程的效率。

20、第三方面，本發(fā)明提供了一種計算機設備，包括：存儲器和處理器，存儲器和處理器之間互相通信連接，存儲器中存儲有計算機指令，處理器通過執(zhí)行計算機指令，從而執(zhí)行上述第二方面的音頻控制器的測試方法。

21、第四方面，本發(fā)明提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，該計算機可讀存儲介質(zhì)上存儲有計算機指令，計算機指令用于使計算機執(zhí)行上述第二方面的音頻控制器的測試方法。

22、第五方面，本發(fā)明提供了一種計算機程序產(chǎn)品，包括計算機指令，計算機指令用于使計算機執(zhí)行上述第二方面的音頻控制器的測試方法。