本技術(shù)涉及ufs設(shè)備測試，尤其是一種ufs設(shè)備及其自測試方法、電子設(shè)備、存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、ufs(universal?flash?storage，通用閃存存儲)協(xié)議包括：ucs（ufs?command?setlayer，ufs處理命令集層）基于scsi命令、utp（ufs?tranport?layer，ufs傳輸層）、jedec（joint?electron?device?engineering?council，電子設(shè)備工業(yè)聯(lián)盟）定義的協(xié)議、uic（ufs?intercollect?layer，ufs連接層）的mipi（mobile?industry?processor?interface，移動產(chǎn)業(yè)處理器接口）協(xié)議和物理層的mipi?m-phy協(xié)議。目前，ufs主機和ufs設(shè)備通過mipimphy及mipi?unipro實現(xiàn)物理層及數(shù)據(jù)鏈路層互聯(lián)。在現(xiàn)有的技術(shù)與協(xié)議，ufs設(shè)備的unipro與m-phy都是通過ufs主機配置與管理，ufs主機的應(yīng)用層構(gòu)建ufs協(xié)議的幀格式通過uic層的cport接口傳輸?shù)絬nipro，然后經(jīng)過unipro的各層進行數(shù)據(jù)幀的幀頭插入組合成unipro協(xié)議幀格式，然后通過rmmi接口傳輸?shù)絤-phy，最后經(jīng)過mipi?m-phy將信息傳輸?shù)絬fs設(shè)備端的m-phy；ufs設(shè)備的m-phy接收到ufs主機傳輸過來的信息后會通過rmmi接口傳輸?shù)絬nipro，unipro將數(shù)據(jù)幀的拆解成ufs的幀格式并通過cport接口上傳到utp層，utp層在接收到命令之后會構(gòu)造一個響應(yīng)給到ufs主機，數(shù)據(jù)先是通過cport接口傳到unipro，然后通過rmmi接口傳到m-phy，由m-phy將數(shù)據(jù)傳到與ufs主機連接的線上。這樣就完成了ufs主機與ufs設(shè)備的一次信息交互?？梢?，目前ufs主機與ufs設(shè)備通信的鏈路需要兩者相互配合才能實現(xiàn)測試、檢測。

2、在制造ufs設(shè)備過程中涉及的cp（chip?probing，晶圓測試）階段及ft（finaltest，最終測試）階段都需要租借ufs主機。需要將ufs設(shè)備與ufs主機對接，才能進行ufs數(shù)據(jù)鏈路層及物理層的數(shù)據(jù)通路測試，包括速度模式切換等重要功能的測試。ufs主機的啟動時間會大大地延長cp測試或者ft測試時長，導(dǎo)致測試費用增加。此外，當需要在不同功能模式（例如速度模式）下測試ufs設(shè)備的數(shù)據(jù)鏈路層與物理層時，需要ufs主機參與，才能切換ufs設(shè)備的功能模式，令ufs設(shè)備在不同速度模式下與ufs主機進行數(shù)據(jù)交互、測試；但是ufs主機與ufs設(shè)備之間的整個交互過程耗時較長、測試效率較低。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本技術(shù)旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此，本技術(shù)提出一種ufs設(shè)備及其自測試方法、電子設(shè)備、存儲介質(zhì)，ufs設(shè)備能夠在不依賴ufs主機的情況下，通過內(nèi)置的自測試控制模塊實現(xiàn)自測試，減少測試時長，提高測試效率，降低測試成本。

2、第一方面，本技術(shù)實施例提供了一種ufs設(shè)備的自測試方法，所述ufs設(shè)備包括：通信連接的mipi?unipro層和物理層；所述mipi?unipro層包括：具有t-tx模塊和t-rx模塊的自測試控制模塊；物理層包括：由依次連接的m-tx模塊、loopback模塊、m-rx模塊確定的數(shù)據(jù)通路；

3、所述方法包括：

4、所述t-tx模塊從多個待測的候選速度模式中確定第一目標速度模式，將根據(jù)所述第一目標速度模式構(gòu)建的第一速度切換請求幀通過所述數(shù)據(jù)通路發(fā)送至所述t-rx模塊；

5、當所述t-rx模塊解析所述第一速度切換請求幀成功，進行速度模式切換處理，將所述物理層的工作模式從當前速度模式切換為所述第一目標速度模式；

6、所述t-tx模塊將構(gòu)建的初始特征數(shù)據(jù)發(fā)送至所述m-tx模塊，使所述初始特征數(shù)據(jù)傳輸經(jīng)過基于所述第一目標速度模式的所述數(shù)據(jù)通路后被所述t-rx模塊接收，得到回傳特征數(shù)據(jù)；

7、所述t-rx模塊對所述初始特征數(shù)據(jù)和所述回傳特征數(shù)據(jù)進行校驗處理，得到校驗結(jié)果，并確定第一目標速度模式下的通路測試情況，完成一次數(shù)據(jù)通路測試；

8、當所述校驗結(jié)果正確，切換下一個所述候選速度模式進行數(shù)據(jù)通路測試，直至遍歷所有所述候選速度模式，結(jié)束自測試。

9、第二方面，本技術(shù)實施例提供了一種ufs設(shè)備，包括：通信連接的mipi?unipro層和物理層；所述mipi?unipro層包括：具有t-tx模塊和t-rx模塊的自測試控制模塊；物理層包括：由依次連接的m-tx模塊、loopback模塊、m-rx模塊確定的數(shù)據(jù)通路；

10、所述t-tx模塊用于：從多個待測的候選速度模式中確定第一目標速度模式，將根據(jù)所述第一目標速度模式構(gòu)建的第一速度切換請求幀通過所述數(shù)據(jù)通路發(fā)送至所述t-rx模塊；

11、所述t-rx模塊用于：當解析所述第一速度切換請求幀成功，進行速度模式切換處理，將所述物理層的工作模式從當前速度模式切換為所述第一目標速度模式；

12、所述t-tx模塊還用于：將構(gòu)建的初始特征數(shù)據(jù)發(fā)送至所述m-tx模塊，使所述初始特征數(shù)據(jù)傳輸經(jīng)過基于所述第一目標速度模式的所述數(shù)據(jù)通路后被所述t-rx模塊接收，得到回傳特征數(shù)據(jù)；

13、所述t-rx模塊還用于：對所述初始特征數(shù)據(jù)和所述回傳特征數(shù)據(jù)進行校驗處理，得到校驗結(jié)果，并確定第一目標速度模式下的通路測試情況，完成一次數(shù)據(jù)通路測試；

14、所述t-tx模塊用于：當所述校驗結(jié)果正確，切換下一個所述候選速度模式進行數(shù)據(jù)通路測試，直至遍歷所有所述候選速度模式，結(jié)束自測試。

15、第三方面，本技術(shù)實施例提供了一種電子設(shè)備，包括至少一個處理器和用于與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執(zhí)行，以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行如第一方面實施例任一項所述的ufs設(shè)備的自測試方法。

16、第四方面，本技術(shù)實施例提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，所述計算機可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機可執(zhí)行指令，所述計算機可執(zhí)行指令用于使計算機執(zhí)行如第一方面實施例任一項所述的ufs設(shè)備的自測試方法。

17、本技術(shù)實施例包括：ufs設(shè)備包括：通信連接的mipi?unipro層和物理層；mipiunipro層包括：具有t-tx模塊和t-rx模塊的自測試控制模塊；物理層包括：由依次連接的m-tx模塊、loopback模塊、m-rx模塊確定的數(shù)據(jù)通路；在ufs設(shè)備進行自測試的過程中，首先，t-tx模塊從多個待測的候選速度模式中確定第一目標速度模式，將根據(jù)第一目標速度模式構(gòu)建的第一速度切換請求幀通過數(shù)據(jù)通路發(fā)送至t-rx模塊；其次，當t-rx模塊解析第一速度切換請求幀成功，進行速度模式切換處理，將物理層的工作模式從當前速度模式切換為第一目標速度模式；從而在不依賴ufs主機的情況下，而是通過內(nèi)置的自測試控制模塊對物理層切換不同的目標速度模式，避免了與ufs主機的交互耗時，有利于減少測試時長；而后，t-tx模塊將構(gòu)建的初始特征數(shù)據(jù)發(fā)送至m-tx模塊，使初始特征數(shù)據(jù)傳輸經(jīng)過基于第一目標速度模式的數(shù)據(jù)通路后被t-rx模塊接收，得到回傳特征數(shù)據(jù)；接著，t-rx模塊對初始特征數(shù)據(jù)和回傳特征數(shù)據(jù)進行校驗處理，得到校驗結(jié)果，并確定第一目標速度模式下的通路測試情況，完成一次數(shù)據(jù)通路測試；最后，當校驗結(jié)果正確，切換下一個候選速度模式進行數(shù)據(jù)通路測試，直至遍歷所有候選速度模式，結(jié)束自測試，提高測試效率，降低測試成本。即是說，本技術(shù)實施例ufs設(shè)備能夠在不依賴ufs主機的情況下，通過內(nèi)置的自測試控制模塊實現(xiàn)自測試，減少測試時長，提高測試效率，降低測試成本。