1.一種基于分體式相機(jī)陣列的缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括以下模塊:圖像轉(zhuǎn)包模塊、位置檢驗(yàn)?zāi)K、偏差限制模塊、拼接變換模塊和缺陷檢測(cè)模塊;
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于分體式相機(jī)陣列的缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述圖像轉(zhuǎn)包模塊包括:陣列定位單元和幀間組合單元;
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于分體式相機(jī)陣列的缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述圖像轉(zhuǎn)包模塊的實(shí)現(xiàn)執(zhí)行以下步驟:
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于分體式相機(jī)陣列的缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述位置檢驗(yàn)?zāi)K包括:像素量化單元、邊緣提取單元和概率檢驗(yàn)單元;
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于分體式相機(jī)陣列的缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述位置檢驗(yàn)?zāi)K的實(shí)現(xiàn)執(zhí)行以下步驟:
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于分體式相機(jī)陣列的缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述偏差限制模塊包括:樣本替換單元和特征散點(diǎn)單元;
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于分體式相機(jī)陣列的缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述偏差限制模塊的實(shí)現(xiàn)執(zhí)行以下步驟:
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于分體式相機(jī)陣列的缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述缺陷檢測(cè)模塊包括:坐標(biāo)變換單元、中心差分單元和缺陷輸出單元;
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種基于分體式相機(jī)陣列的缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述缺陷檢測(cè)模塊的實(shí)現(xiàn)執(zhí)行以下步驟: