一種故障天線定位方法、裝置及電子設備的制造方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及無線通信技術領域，尤其涉及一種故障天線定位方法、裝置及電子設 備。
【背景技術】
[0002] 隨著無線網(wǎng)絡的逐步擴大，無線設備的問題性能問題也逐步浮現(xiàn)，特別是隨著近 兩年城市基站建設的密度加大，天線性能問題也開始引起運營商越來越大的關注。特別是 由于天線設備逐步老化、集采天線的振子或饋電線路工藝不達標從而造成天線增益嚴重下 降，大大影響網(wǎng)絡覆蓋深度及客戶感知。
[0003] 針對此問題，目前一般采用以下方法排查和優(yōu)化：
[0004] 一是通過第三方權(quán)威機構(gòu)，對現(xiàn)網(wǎng)天線拆卸后送到實驗室進行分析。該方法測試 數(shù)據(jù)準確，但是投入的費用較大且周期長，最大問題是由于天線拆卸有可能對現(xiàn)網(wǎng)穩(wěn)定性 造成影響。
[0005] 二是通過定點掃頻方式進行。
[0006] 使用測試系統(tǒng)，結(jié)合通話+掃頻的模式，其中MSI采用通話與鎖頻通話模式，目的 是發(fā)現(xiàn)載波的隱性故障；MS2采用掃頻模式，目的是通過掃目標基站全部小區(qū)的BCCHN0,還 原目標的場強圖。通過同點不同方位的天線之間的信號強弱關系進行對比(相對關系)推算 增益等指標是否正常。如圖1A和圖1B所示，對應合格的天線波瓣，一個共站小區(qū)三個天線 最強輻射方向應該在自己主覆蓋方向上，沿著旁瓣輻射強度慢慢下降，直到背瓣輻射強度 最少；對應不合格的天線波瓣，上述輻射特征并不明顯。
[0007] 上述方法直觀、簡單，且由于接近基站端，采用相對場強進行判斷，準確率較高。但 是由于該方法只適用于單站測試，如果需要區(qū)域性覆蓋分析或者全網(wǎng)覆蓋分析，該方法人 力成本及時間成本將十分巨大，時效性差。
[0008] 三是采用路測的方式反向推算小區(qū)天線發(fā)射增益。如圖2所示，通過終端接收場 強，以及天線發(fā)射功率和路損，計算理論接收場強。
[0009] 假定參考值：
[0010]1、機架頂輸出功率為X，且小區(qū)配置參數(shù)中BSPWRB/BSPWRT為固定的小區(qū) 最大值；天饋線損耗取以下參考值：900M:7/8"饋線約為5dB/100m;5/4"饋線約為 3dB/100ml800M:7/8"饋線約為 6dB/100m;5/4"饋線約為 4dB/100m。
[0011] 2、到達終端信號強度為Y，且Y為經(jīng)過軟件計算的平均信號強度濾波值；如網(wǎng)絡開 啟功率控制等功能，加入權(quán)重修正值Y1 ;
[0012] 3、理想無線環(huán)境下信號損耗為Z，需要定義各種無線環(huán)境傳播模型分別代表為 Zl，Z2,Z3 等等。
[0013] 信號強度Y=輸出功率X-天饋線損耗+天線增益G-信號損耗Z。
[0014] 反推天線增益為：
[0015] 天線增益G=信號強度Y-輸出功率X+天饋線損耗+信號損耗Z。
[0016] 從而判斷天線增益是否正常。
[0017] 由于信號的空間傳播受傳播無線鏈路環(huán)境影響較大，在城區(qū)建筑樓宇密集區(qū)域， 無線環(huán)境十分復雜，對于以上公式推算出的天線增益G誤差較大，而且受上下行功控影響， 準確率較低。也就是說，通過天線增益計算判斷天線故障是不準確的。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0018] 有鑒于此，本發(fā)明實施例的目的是提供一種故障天線定位方法、裝置及電子設備， 以避免通過天線增益計算判斷天線故障的不準確問題。
[0019] 為解決上述技術問題，本發(fā)明實施例提供方案如下：
[0020] 本發(fā)明實施例提供一種故障天線定位方法，包括：
[0021] 獲取小區(qū)天線的至少一個水平輻射角度區(qū)間中每個區(qū)間對應的賦形重建參數(shù)；
[0022] 根據(jù)所述賦形重建參數(shù)，判斷所述天線在所述至少一個水平輻射角度區(qū)間內(nèi)的輻 射異常條件是否滿足，獲取一判斷結(jié)果；
[0023] 當所述判斷結(jié)果為是時，確定所述天線發(fā)生故障。
[0024] 優(yōu)選地，所述至少一個水平輻射角度區(qū)間包括所述天線正常工作時主瓣所在角度 區(qū)間的第一子集；
[0025] 所述賦形重建參數(shù)包括所述小區(qū)的多個采樣點中位于所述第一子集的采樣點數(shù) 目與所述多個采樣點數(shù)目的第一比值、位于所述第一子集的采樣點對應的場強的第一平均 值、和位于所述第一子集的采樣點對應的與所述小區(qū)的通信距離的第二平均值；
[0026] 所述根據(jù)所述賦形重建參數(shù)，判斷所述天線在所述至少一個水平輻射角度區(qū)間內(nèi) 的輻射異常條件是否滿足，獲取一判斷結(jié)果包括：
[0027] 判斷所述第一比值不小于第一門限值、所述第一平均值小于第二門限值和所述第 二平均值不大于第三門限值是否均成立，如果是，則所述判斷結(jié)果為是。
[0028] 優(yōu)選地，所述第一子集為[-30度，30度]角度區(qū)間，所述第一門限值大于或等于 20%，所述第二門限值小于或等于90dBm，所述第三門限值小于或等于500米。
[0029] 優(yōu)選地，所述故障為天線增益故障。
[0030] 優(yōu)選地，所述至少一個水平輻射角度區(qū)間包括所述天線正常工作時旁瓣所在的第 一角度區(qū)間；
[0031] 所述賦形重建參數(shù)包括所述小區(qū)的多個采樣點中位于所述第一角度區(qū)間的采樣 點數(shù)目與所述多個采樣點數(shù)目的第二比值；
[0032] 所述根據(jù)所述賦形重建參數(shù)，判斷所述天線在所述至少一個水平輻射角度區(qū)間內(nèi) 的輻射異常條件是否滿足，獲取一判斷結(jié)果包括：
[0033] 判斷所述第二比值是否不小于一第四門限值，如果是，則所述判斷結(jié)果為是。
[0034] 優(yōu)選地，所述第一角度區(qū)間為[60度，150度]和[-150度，-60度]角度區(qū)間，所 述第四門限值大于或等于80%。
[0035] 優(yōu)選地，所述至少一個水平輻射角度區(qū)間包括所述天線正常工作時旁瓣所在的第 二角度區(qū)間和所述天線正常工作時主瓣所在角度區(qū)間的第二子集；
[0036] 所述賦形重建參數(shù)包括所述小區(qū)的多個采樣點中位于所述第二角度區(qū)間的采樣 點數(shù)目與所述多個采樣點數(shù)目的第三比值、位于所述第二子集的采樣點數(shù)目與所述多個采 樣點數(shù)目的第四比值、位于所述第二角度區(qū)間的采樣點中對應場強最強的第一設定數(shù)目個 采樣點對應的場強的第三平均值、和位于所述第二子集的采樣點中對應場強最強的第一設 定數(shù)目個采樣點對應的場強的第四平均值；
[0037] 所述根據(jù)所述賦形重建參數(shù)，判斷所述天線在所述至少一個水平輻射角度區(qū)間內(nèi) 的輻射異常條件是否滿足，獲取一判斷結(jié)果包括：
[0038] 判斷所述第三比值小于第五門限值、所述第三比值不小于第六門限值、所述第四 比值不小于第七門限值和所述第三平均值大于所述第四平均值是否均成立，如果是，則所 述判斷結(jié)果為是。
[0039] 優(yōu)選地，所述第二角度區(qū)間為[60度，150度]和[-150度，-60度]角度區(qū)間，所 述第二子集為[-30度，30度]角度區(qū)間，所述第五門限值小于或等于80%，所述第六門限值 大于或等于50%，所述第七門限值大于或等于10%，所述第一設定數(shù)目為30。
[0040] 優(yōu)選地，所述故障為天線旁瓣變形或天線旁瓣過覆蓋。
[0041] 優(yōu)選地，所述至少一個水平輻射角度區(qū)間包括所述天線正常工作時后瓣所在的第 三角度區(qū)間；
[0042] 所述賦形重建參數(shù)包括所述小區(qū)的多個采樣點中位于所述第三角度區(qū)間的采樣 點數(shù)目與所述多個采樣點數(shù)目的第五比值；
[0043] 所述根據(jù)所述賦形重建參數(shù)，判斷所述天線在所述至少一個水平輻射角度區(qū)間內(nèi) 的輻射異常條件是否滿足，獲取一判斷結(jié)果包括：
[0044] 判斷所述第五比值是否不小于一第八門限值，如果是，則所述判斷結(jié)果為是。
[0045] 優(yōu)選地，所述第三角度區(qū)間為[150度，180度]和[-180度，-150度]角度區(qū)間， 所述第八門限值大于或等于30%。
[0046] 優(yōu)選地，所述至少一個水平輻射角度區(qū)間包括所述天線正常工作時后瓣所在的第 四角度區(qū)間；
[0047] 所述賦形重建參數(shù)包括所述小區(qū)的多個采樣點中位于所述第四角度區(qū)間的采樣 點數(shù)目與所述多個采樣點數(shù)目的第六比值和位于所述第四角度區(qū)間的采樣點對應的與所 述小區(qū)的通信距離的第五平均值；
[0048] 所述根據(jù)所述賦形重建參數(shù)，判斷所述天線在所述至少一個水平輻射角度區(qū)間內(nèi) 的輻射異常條件是否滿足，獲取一判斷結(jié)果包括：
[0049] 判斷所述第六比值小于一第九門限值、所述第六比值不小于一第十門限值和所述 第五平均值不小于一第十一門限值是否均成立，如果是，則所述判斷結(jié)果為是。
[0050] 優(yōu)選地，所述第四角度區(qū)間為[150度，180度]和[-180度，-150度]角度區(qū)間， 所述第九門限值小于或等于30%，所述第十門限值大于或等于3%，所述第十一門限值大于 或等于500米。
[0051] 優(yōu)選地，所述故障為天線后瓣覆蓋。
[0052] 優(yōu)選地，所述至少一個水平輻射角度區(qū)間包括所述天線正常工作時后瓣所在的第 五角度區(qū)間和所述天線正常工作時主瓣所在角度區(qū)間的第三子集；
[0053] 所述賦形重建參數(shù)包括所述小區(qū)的多個采樣點中位于所述第五角度區(qū)間的采樣 點數(shù)目與所述多個采樣點數(shù)目的第七比值、位于所述第五角度區(qū)間的采樣點對應的與所述 小區(qū)的通信距離的第六平均值、位于所述第三子集的采樣點數(shù)目與所述多個采樣點數(shù)目的 第八比值、位于所述第五角度區(qū)間的采樣點中對應場強最強的第二設定數(shù)目個采樣點對應 的場強的第七平均值、和位于所述第三子集的采樣點中對應場強最強的第二設定數(shù)目個采 樣點對應的場強的第