一種obu的微波性能測(cè)試裝置和方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于OBU生產(chǎn)測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域，具體涉及一種OBU的微波性能測(cè)試裝置和方法。
【背景技術(shù)】
[0002]OBU即電子收費(fèi)系統(tǒng)ETC的車載單元，OBU產(chǎn)品在出廠時(shí)都要進(jìn)行硬件和微波性能的測(cè)試，硬件測(cè)試比較的簡(jiǎn)單，主要是測(cè)試各功能模塊的功能及電流消耗，需要一臺(tái)PC+電流表(支持通訊功能)即可。而微波性能測(cè)試主要測(cè)試以下測(cè)試項(xiàng):1、發(fā)射頻率；2、發(fā)射功率；3、調(diào)制系數(shù)；4 ;喚醒靈敏度；5、接收靈敏度等，測(cè)試需要PC+信號(hào)源+頻譜儀才能完成測(cè)試，而信號(hào)源、頻譜儀設(shè)備又都是高價(jià)值設(shè)備，為滿足一定的生產(chǎn)能力，往往需要購(gòu)買數(shù)臺(tái)該高價(jià)值的設(shè)備。
[0003]目前生產(chǎn)測(cè)試都是一臺(tái)PC+信號(hào)源+頻譜儀對(duì)應(yīng)測(cè)試一臺(tái)0BU，以上測(cè)試項(xiàng)基本采用順序測(cè)試，一臺(tái)設(shè)備測(cè)試完畢后更換設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，這樣一臺(tái)設(shè)備測(cè)試微波性能，測(cè)試需要約18秒(發(fā)射頻率3S+發(fā)射功率3S+調(diào)制系數(shù)3S+喚醒6S+接收3S)的時(shí)間，這樣一套設(shè)備一小時(shí)測(cè)試200臺(tái)0BU，如果日產(chǎn)能要達(dá)到8K-10K，那么就需要5_7套測(cè)試設(shè)備，在設(shè)備達(dá)不到要求數(shù)量時(shí)，只能通過人員加班來完成任務(wù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷，本發(fā)明的目的在于提供一種OBU的微波性能測(cè)試裝置和方法，通過該裝置和裝置能夠大大提升OBU微波性能的測(cè)試效率，降低生產(chǎn)成本。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
[0006]—種OBU的微波性能測(cè)試裝置，包括信號(hào)源、第一頻譜儀、以及分別與信號(hào)源和第一頻譜儀連接的信號(hào)控制單元，信號(hào)控制單元上設(shè)有與待測(cè)試OBU連接的端口，還包括功分器和第一合路器，功分器的輸入端與信號(hào)源的信號(hào)輸出端連接，第一合路器的輸出端與第一頻譜儀的信號(hào)輸入端連接，功分器的輸出端和第一合路器的輸入端分別與第一福射天線相連接，第一輻射天線與待測(cè)試OBU通過微波輻射連接。
[0007]進(jìn)一步，如上所述的一種OBU的微波性能測(cè)試裝置，所述第一合路器的個(gè)數(shù)為η個(gè)，與一個(gè)第一合路器連接的第一輻射天線與兩個(gè)待測(cè)試OBU連接；其中，n ^ 10
[0008]進(jìn)一步，如上所述的一種OBU的微波性能測(cè)試裝置，所述信號(hào)控制單元上的與待測(cè)試OBU連接的端口為串口。
[0009]進(jìn)一步，如上所述的一種OBU的微波性能測(cè)試裝置，所述信號(hào)控制單元包括信號(hào)控制器和用于顯示測(cè)試結(jié)果的顯示器。
[0010]進(jìn)一步，如上所述的一種OBU的微波性能測(cè)試裝置，還包括用于對(duì)功分器和第一合路器進(jìn)行插損校準(zhǔn)的插損校準(zhǔn)設(shè)備。
[0011]進(jìn)一步，如上所述的一種OBU的微波性能測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置還包括第二頻譜儀，第二頻譜儀與待測(cè)試OBU連接，信號(hào)控制單元與第二頻譜儀連接。
[0012]進(jìn)一步，如上所述的一種OBU的微波性能測(cè)試裝置，所述第二頻譜儀與第二輻射天線連接，第二輻射天線與待測(cè)試OBU通過微波輻射連接，或者，所述第二頻譜儀通過第二合路器與第一福射天線連接。
[0013]進(jìn)一步，如上所述的一種OBU的微波性能測(cè)試裝置，所述第二頻譜儀與第二輻射天線連接，第二輻射天線與待測(cè)試OBU微波輻射連接，或者，所述第二頻譜儀通過第二合路器與第一福射天線連接。
[0014]本發(fā)明實(shí)施例中還提供了一種OBU的微波性能測(cè)試方法，該方法包括對(duì)待測(cè)試OBU的發(fā)射頻率和發(fā)射功率的測(cè)試、對(duì)待測(cè)試OBU的調(diào)制系數(shù)的測(cè)試、以及對(duì)待測(cè)試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測(cè)試；
[0015]所述對(duì)待測(cè)試OBU的發(fā)射頻率和發(fā)射功率的測(cè)試包括以下步驟:
[0016](I)將信號(hào)控制單元與待測(cè)試OBU連接，將每個(gè)第一合路器通過第一輻射天線與兩個(gè)待測(cè)試OBU對(duì)應(yīng)連接；
[0017](2)信號(hào)控制單元控制與同一個(gè)第一合路器連接的兩個(gè)待測(cè)試OBU發(fā)射不同頻率的載波信號(hào)；
[0018](3)每個(gè)第一合路器接收與其對(duì)應(yīng)的兩個(gè)待測(cè)試OBU的載波信號(hào)，并將接收到的兩個(gè)載波信號(hào)發(fā)送到第一頻譜儀；
[0019](4)第一頻譜儀在同一時(shí)刻完成一個(gè)第一合路器所發(fā)送的載波信號(hào)的發(fā)射頻率和發(fā)射功率的測(cè)試；
[0020]所述對(duì)待測(cè)試OBU的調(diào)制系數(shù)的測(cè)試包括以下步驟:
[0021]I)將信號(hào)控制單元與待測(cè)試OBU連接，將第一合路器通過第一輻射天線(6)與待測(cè)試OBU連接；
[0022]2)信號(hào)控制單元控制待測(cè)試OBU發(fā)射調(diào)制信號(hào)，同一時(shí)刻只有一個(gè)待測(cè)試OBU發(fā)射調(diào)制信號(hào)；
[0023]3)第一合路器接收待測(cè)試OBU的調(diào)制信號(hào)，并將接收到的調(diào)制信號(hào)發(fā)送到第一頻譜儀；
[0024]4)第一頻譜儀接收第一合路器發(fā)送的調(diào)制信號(hào)，并逐個(gè)完成調(diào)制信號(hào)的調(diào)制系數(shù)的測(cè)試；
[0025]所述對(duì)待測(cè)試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測(cè)試包括以下步驟:
[0026]①將信號(hào)控制單元與待測(cè)試OBU連接，將功分器通過第一輻射天線與待測(cè)試OBU連接；
[0027]②信號(hào)控制單元控制信號(hào)源發(fā)射OBU喚醒信號(hào)；
[0028]③功分器接收信號(hào)源發(fā)射的OBU喚醒信號(hào)，并將所述OBU喚醒信號(hào)通過第一輻射天輻射給待測(cè)試0BU，完成待測(cè)試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測(cè)試。
[0029]本發(fā)明實(shí)施例中還提供了另一種OBU的微波性能測(cè)試方法，該方法包括對(duì)待測(cè)試OBU的發(fā)射頻率和發(fā)射功率的測(cè)試、對(duì)待測(cè)試OBU的調(diào)制系數(shù)的測(cè)試、以及對(duì)待測(cè)試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測(cè)試；
[0030]所述對(duì)待測(cè)試OBU的發(fā)射頻率和發(fā)射功率的測(cè)試包括以下步驟:
[0031](I)將信號(hào)控制單元與待測(cè)試OBU連接，將每個(gè)第一合路器通過第一輻射天線與兩個(gè)待測(cè)試OBU連接；
[0032](2)信號(hào)控制單元控制與同一個(gè)第一合路器連接的兩個(gè)待測(cè)試OBU發(fā)射不同頻率的載波信號(hào)；
[0033](3)每個(gè)第一合路器接收與其對(duì)應(yīng)的兩個(gè)待測(cè)試OBU的載波信號(hào)，并將接收到的兩個(gè)載波信號(hào)發(fā)送到第一頻譜儀；
[0034](4)第一頻譜儀在同一時(shí)刻完成一個(gè)第一合路器所發(fā)送的載波信號(hào)的發(fā)射頻率和發(fā)射功率的測(cè)試；
[0035]所述對(duì)待測(cè)試OBU的調(diào)制系數(shù)的測(cè)試包括以下步驟:
[0036]I)將信號(hào)控制單元與待測(cè)試OBU連接，將第二頻譜儀與待測(cè)試OBU連接；
[0037]2)信號(hào)控制單元控制待測(cè)試OBU發(fā)射調(diào)制信號(hào)，同一時(shí)刻只有一個(gè)待測(cè)試OBU發(fā)射調(diào)制信號(hào)；
[0038]3)第二頻譜儀接收待測(cè)試OBU的調(diào)制信號(hào)，并逐個(gè)完成調(diào)制信號(hào)的調(diào)制系數(shù)的測(cè)試；
[0039]所述對(duì)待測(cè)試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測(cè)試包括以下步驟:
[0040]①將信號(hào)控制單元與待測(cè)試OBU連接，將功分器通過第一輻射天線與待測(cè)試OBU連接；
[0041]②信號(hào)控制單元控制信號(hào)源發(fā)射OBU喚醒信號(hào)；
[0042]③功分器接收信號(hào)源發(fā)射的OBU喚醒信號(hào)，并將所述OBU喚醒信號(hào)通過第一輻射天線輻射給待測(cè)試0BU，完成待測(cè)試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測(cè)試。
[0043]進(jìn)一步，如上所述的一種OBU的微波性能測(cè)試方法，步驟I)中，所述第二頻譜儀通過第二輻射天線與待測(cè)試OBU連接，或者所述第二頻譜儀通過第二合路器與第一輻射天線連接。
[0044]本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明所提供的OBU的微波性能測(cè)試裝置和方法，在進(jìn)行OBU的微波性能測(cè)試時(shí)，能夠?qū)Χ鄠€(gè)OBU同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，能夠大大提升OBU的微波測(cè)試效率，降低測(cè)試設(shè)備的成本。
【附圖說明】
[0045]圖1為本發(fā)明【具體實(shí)施方式】中提供的一種OBU的微波性能測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0046]圖2為本發(fā)明【具體實(shí)施方式】中提供了另一種OBU的微波性能測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0047]圖3為本發(fā)明【具體實(shí)施方式】中待測(cè)試OBU的發(fā)射頻率和發(fā)射功率測(cè)試的流程圖；