用于測試揚(yáng)聲器的方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于測試揚(yáng)聲器的方法及系統(tǒng)。該方法包括：利用激光位移傳感器檢測樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值，以當(dāng)在不同頻點(diǎn)樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值達(dá)到最大位移時，獲取樣品揚(yáng)聲器所需要的相應(yīng)的激勵電壓；生成樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線，所述EQ曲線是樣品揚(yáng)聲器在不同頻點(diǎn)的所述激勵電壓與校準(zhǔn)電壓的比值；以及基于所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線和所述校準(zhǔn)電壓測試待測揚(yáng)聲器并獲取測試結(jié)果。將根據(jù)本發(fā)明的方法應(yīng)用到揚(yáng)聲器實(shí)際產(chǎn)品的測試系統(tǒng)中，更容易發(fā)現(xiàn)待測揚(yáng)聲器的問題。
【專利說明】
用于測試揚(yáng)聲器的方法及系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及電子元件檢測技術(shù)，更具體地，涉及一種揚(yáng)聲器的測試方法及測試系 統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 在電子技術(shù)領(lǐng)域，揚(yáng)聲器的試音檢測是一項(xiàng)重要的工序，而其檢測方法和檢測設(shè) 備對測試結(jié)果起著重要的作用。隨著移動互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展，電子產(chǎn)品越來越受到用戶的青睞。 在電子產(chǎn)品日益輕薄化和大功率化的趨勢下，智能功率放大器在電子產(chǎn)品中的應(yīng)用成為主 流。智能功率放大器能夠?qū)崟r調(diào)整其輸出信號以使揚(yáng)聲器在可應(yīng)用的頻率范圍內(nèi)盡量達(dá)到 最大位移(本發(fā)明中，位移指揚(yáng)聲器的振膜的位移;溫度指揚(yáng)聲器音圈的溫度），并且不超過 預(yù)定的溫度閾值，例如，產(chǎn)品設(shè)計(jì)的最大溫度。
[0003] 然而，在現(xiàn)有技術(shù)中，在消音室或者產(chǎn)線的試音測試中通常采用固定的電壓來控 制測試信號，因而很難保證揚(yáng)聲器在最大位移的條件下進(jìn)行測試，這對于采用了智能功率 放大器的揚(yáng)聲器的應(yīng)用來說，不利于發(fā)現(xiàn)問題，影響了揚(yáng)聲器的實(shí)際應(yīng)用。因此，如何準(zhǔn)確 測試應(yīng)用了智能功率放大器的情況下的揚(yáng)聲器性能，成為揚(yáng)聲器測試領(lǐng)域中的挑戰(zhàn)。
[0004] 因此，需要對現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行改進(jìn)以解決上述的至少一個問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的一個目的是提供一種揚(yáng)聲器測試的新技術(shù)方案。
[0006] 根據(jù)本發(fā)明的第一方面，一種用于測試揚(yáng)聲器的方法。該方法包括:利用激光位移 傳感器檢測樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值，以當(dāng)在不同頻點(diǎn)所述樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值達(dá)到 最大位移時，獲取所述樣品揚(yáng)聲器所需要的相應(yīng)的激勵電壓;生成所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲 線，所述EQ曲線是所述樣品揚(yáng)聲器在不同頻點(diǎn)的所述激勵電壓與校準(zhǔn)電壓的比值；以及基 于所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線和所述校準(zhǔn)電壓測試待測揚(yáng)聲器并獲取測試結(jié)果。
[0007] 優(yōu)選地，當(dāng)所述樣品揚(yáng)聲器的溫度高于預(yù)定的溫度閾值的時，降低所述樣品揚(yáng)聲 器的激勵電壓。
[0008] 優(yōu)選地，當(dāng)所述樣品揚(yáng)聲器振膜的位移在某個頻點(diǎn)高于預(yù)定的位移閾值時，降低 所述樣品揚(yáng)聲器在該頻點(diǎn)的激勵電壓。
[0009] 優(yōu)選地，當(dāng)待測揚(yáng)聲器的溫度高于預(yù)定的溫度閾值時，實(shí)時調(diào)整EQ曲線。
[0010] 優(yōu)選地，將EQ曲線存儲為文件的形式以在測試待測揚(yáng)聲器的過程中讀取。
[0011] 根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供了一種用于測試揚(yáng)聲器的系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括:用于利 用激光位移傳感器檢測樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值以當(dāng)在不同頻點(diǎn)所述樣品揚(yáng)聲器振膜的 位移值達(dá)到最大位移時獲取所述樣品揚(yáng)聲器所需要的相應(yīng)的激勵電壓的模塊;用于生成所 述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線的模塊，所述EQ曲線是所述樣品揚(yáng)聲器在不同頻點(diǎn)的所述激勵電壓 與校準(zhǔn)電壓的比值；以及基于所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線和所述校準(zhǔn)電壓測試待測揚(yáng)聲器并 獲取測試結(jié)果的模塊。
[0012] 優(yōu)選地，所述系統(tǒng)還包括：用于當(dāng)所述樣品揚(yáng)聲器的溫度在高于預(yù)定的溫度閾值 的時降低所述樣品揚(yáng)聲器的激勵電壓的模塊。
[0013] 優(yōu)選地，所述系統(tǒng)還包括：用于當(dāng)所述樣品揚(yáng)聲器振膜的位移在某個頻點(diǎn)高于預(yù) 定的位移閾值時降低所述樣品揚(yáng)聲器在該頻點(diǎn)的激勵電壓的模塊。
[0014] 優(yōu)選地，所述還包括：用于當(dāng)待測揚(yáng)聲器的溫度高于預(yù)定的溫度閾值時實(shí)時調(diào)整 EQ曲線的模塊。
[0015]優(yōu)選地，所述系統(tǒng)還包括：用于EQ曲線存儲為文件的形式以在測試待測揚(yáng)聲器的 過程中讀取的模塊。
[0016] 根據(jù)本發(fā)明的用于測試揚(yáng)聲器的方法和系統(tǒng)，能夠在測試過程中，使待測揚(yáng)聲器 在其應(yīng)用頻率范圍內(nèi)位移值達(dá)到最大位移，從而有利于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的問題。此外，在測試過程 中，還可以保證揚(yáng)聲器的位移值和溫度不超過預(yù)定的閾值，從而避免損壞待測揚(yáng)聲器和/或 影響測試的準(zhǔn)確性。
[0017] 通過以下參照附圖對本發(fā)明的示例性實(shí)施例的詳細(xì)描述，本發(fā)明的其它特征及其 優(yōu)點(diǎn)將會變得清楚。
【附圖說明】
[0018] 被結(jié)合在說明書中并構(gòu)成說明書的一部分的附圖示出了本發(fā)明的實(shí)施例，并且連 同其說明一起用于解釋本發(fā)明的原理。
[0019] 圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于測試揚(yáng)聲器的方法的流程圖。
[0020] 圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于溫度保護(hù)方法的示意框圖。
[0021] 圖3是使用智能功率放大器和普通功率放大器的揚(yáng)聲器振膜的位移示意圖。
[0022] 圖4是根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試待測揚(yáng)聲器的示意性框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023] 現(xiàn)在將參照附圖來詳細(xì)描述本發(fā)明的各種示例性實(shí)施例。應(yīng)注意到：除非另外具 體說明，否則在這些實(shí)施例中闡述的部件和步驟的相對布置、數(shù)字表達(dá)式和數(shù)值不限制本 發(fā)明的范圍。
[0024] 以下對至少一個示例性實(shí)施例的描述實(shí)際上僅僅是說明性的，決不作為對本發(fā)明 及其應(yīng)用或使用的任何限制。
[0025] 對于相關(guān)領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的技術(shù)、方法和設(shè)備可能不作詳細(xì)討論，但在適 當(dāng)情況下，所述技術(shù)、方法和設(shè)備應(yīng)當(dāng)被視為說明書的一部分。
[0026] 在這里示出和討論的所有例子中，任何具體值應(yīng)被解釋為僅僅是示例性的，而不 是作為限制。因此，示例性實(shí)施例的其它例子可以具有不同的值。
[0027] 應(yīng)注意到:相似的標(biāo)號和字母在下面的附圖中表示類似項(xiàng)，因此，一旦某一項(xiàng)在一 個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進(jìn)行進(jìn)一步討論。
[0028] 圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于測試揚(yáng)聲器的方法的流程圖。
[0029] 如圖1可知，根據(jù)本發(fā)明的測試方法主要分為兩個階段。第一階段用來測試樣品揚(yáng) 聲器并獲得EQ曲線，包括步驟S110和S120。第二階段是將樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線應(yīng)用于消音 室測試或產(chǎn)線測試中，包括步驟S130。
[0030] 在步驟S110,利用激光位移傳感器檢測樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值，以當(dāng)在不同頻 點(diǎn)樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值達(dá)到最大位移時，獲取樣品揚(yáng)聲器所需要的激勵電壓。
[0031] 通常，揚(yáng)聲器的試音測試包括設(shè)置掃頻范圍，在掃頻范圍內(nèi)利用激勵電壓控制測 試音頻信號（例如，正弦波信號）的播放，以得到揚(yáng)聲器在掃頻范圍內(nèi)的測試結(jié)果。通常，所 述的掃頻范圍設(shè)置為揚(yáng)聲器的可應(yīng)用的頻率范圍，例如，在諧振頻率是1.0kHz的情況下，將 掃頻范圍設(shè)置為100Hz_1.2kHz。
[0032] 本領(lǐng)域的人員應(yīng)當(dāng)可以理解，所述揚(yáng)聲器的可應(yīng)用頻率范圍與多個因素有關(guān)，例 如，與揚(yáng)聲器所連接的功率放大器的輸出電壓或揚(yáng)聲器的溫度有關(guān)。本發(fā)明對于揚(yáng)聲器的 應(yīng)用頻率范圍不做具體限定，測試人員需要根據(jù)實(shí)際情況予以確定。
[0033] 所述激光位移傳感器發(fā)射激光脈沖信號，經(jīng)揚(yáng)聲器的振膜散射后返回該傳感器， 該傳感器根據(jù)激光脈沖發(fā)射和返回的時間，即可測定揚(yáng)聲器振膜的位移(振幅）。通過使用 激光位移傳感器可以非接觸的測試揚(yáng)聲器的位移值，其測試精度可達(dá)lum。
[0034] 在本實(shí)施例中，當(dāng)在不同頻點(diǎn)樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值達(dá)到最大位移時，獲取樣 品揚(yáng)聲器所需要的相應(yīng)的激勵電壓。此外，在測試樣品揚(yáng)聲器的過程，可能重復(fù)多次以獲得 樣品揚(yáng)聲器在不同的激勵電壓下所能達(dá)到的最大位移。
[0035]所述揚(yáng)聲器的最大位移包括揚(yáng)聲器振膜的正向最大位移或負(fù)的最大位移或直流 偏移。例如，正向最大位移是〇.27_，負(fù)的最大位移是-0.25mm等。用戶在測試樣品揚(yáng)聲器的 過程中可以根據(jù)需要分別獲取上述任一種情況或多種情況下的激勵電壓。
[0036] 此外，在對樣品揚(yáng)聲器進(jìn)行測試的過程中，可以監(jiān)測揚(yáng)聲器的溫度或位移是否高 于預(yù)定的閾值，以相應(yīng)的降低激勵電壓，從而避免樣品揚(yáng)聲器因溫度過高或位移過大而影 響測試的精確性。
[0037] 例如，當(dāng)樣品揚(yáng)聲器振膜的位移在某個頻點(diǎn)上高于預(yù)定的位移閾值時，降低樣品 揚(yáng)聲器在頻點(diǎn)的激勵電壓。
[0038] 例如，當(dāng)樣品揚(yáng)聲器的溫度高于預(yù)定的溫度閾值的時，降低樣品揚(yáng)聲器的激勵電 壓?？梢圆捎枚喾N方式來降低樣品揚(yáng)聲器的激勵電壓，例如，按照一定的步長來降低激勵電 壓。例如，當(dāng)檢測到樣品揚(yáng)聲器的溫度在某個頻點(diǎn)高于預(yù)定的閾值時，降低該頻點(diǎn)之前全部 頻點(diǎn)或部分頻點(diǎn)的激勵電壓。這主要是由于溫度變化是慢變和累積的過程，因此，降低全部 頻點(diǎn)或部分頻點(diǎn)的激勵電壓更能夠反映溫度的變化過程。
[0039] 通過上述降低激勵電壓的方式可以保證能夠獲得較準(zhǔn)確的測試結(jié)果，同時避免損 壞揚(yáng)聲器。
[0040] 在步驟S120,根據(jù)步驟S110的測試結(jié)果，生成樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線，所述EQ曲線是 樣品揚(yáng)聲器在不同頻點(diǎn)的所述激勵電壓與校準(zhǔn)電壓的比值。
[0041] 所述校準(zhǔn)電壓可以確定為，例如，最大的激勵電壓、掃頻范圍內(nèi)任一頻點(diǎn)所對應(yīng)的 激勵電壓或根據(jù)測試需要選擇某一頻點(diǎn)所對應(yīng)的激勵電壓。與校準(zhǔn)電壓對應(yīng)的頻點(diǎn)在本發(fā) 明中稱為校準(zhǔn)頻點(diǎn)。
[0042]本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，所述EQ曲線還可以增益（dB值）的形式來顯示。通過 這種方式可以直觀的顯示出激勵電壓相對于校準(zhǔn)電壓的變化值和/或提高數(shù)據(jù)記錄的精 度。
[0043]所述EQ曲線還可以存儲為文件的形式，通過這種方式，可以利用軟件或其他方法 實(shí)時顯示或調(diào)用所述EQ曲線，從而用于產(chǎn)線或消音室的測試。此外，也有利于擬合出未被測 試的頻點(diǎn)的激勵電壓值，從而獲得掃頻范圍內(nèi)的完整的EQ曲線。
[0044]在步驟S130,基于所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線和所述校準(zhǔn)電壓測試待測揚(yáng)聲器并獲 取測試結(jié)果。
[0045]在步驟S130中，根據(jù)步驟S120中確定的校準(zhǔn)電壓來設(shè)置待測揚(yáng)聲器的在校準(zhǔn)頻點(diǎn) 的激勵電壓。并根據(jù)EQ曲線恢復(fù)出掃頻范圍內(nèi)其他頻點(diǎn)的激勵電壓，用于播放音頻測試信 號以獲得待測揚(yáng)聲器的試音測試結(jié)果。
[0046] 本領(lǐng)域的人員應(yīng)當(dāng)理解，在對待測揚(yáng)聲器進(jìn)行測試的過程中，對于掃頻范圍、頻率 間隔等可以設(shè)置可以與樣品揚(yáng)聲器的一致。并且待測揚(yáng)聲器與樣品揚(yáng)聲器的設(shè)計(jì)類型相 似，從而保證有效地利用樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線和校準(zhǔn)電壓以得到待測揚(yáng)聲器的比較準(zhǔn)確的 測試結(jié)果。
[0047] 在對待測揚(yáng)聲器進(jìn)行測試的過程中，也有可能出現(xiàn)溫度過高的情況。因此，在步驟 S130中，還可以包括當(dāng)待測揚(yáng)聲器在某個頻點(diǎn)高于預(yù)定的溫度閾值時，實(shí)時調(diào)整EQ曲線的 功能。
[0048] 通過這種方式，可以避免待測揚(yáng)聲器因溫度過高而損壞。此外，在測試過程中進(jìn)行 實(shí)時調(diào)整可以及時修正EQ曲線以保證待測揚(yáng)聲器的測試準(zhǔn)確性。
[0049] 所述測試結(jié)果包括能夠反映待測揚(yáng)聲器音質(zhì)性能的參數(shù)。例如，總諧波失真、高次 諧波失真、互調(diào)失真和頻率響應(yīng)等。通常，測試人員根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)來判斷產(chǎn)品的是否合 格，例如，根據(jù)總諧波失真值或互調(diào)失真與預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，如果大于預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)，則 認(rèn)為產(chǎn)品不合格。
[0050] 圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于溫度保護(hù)的方法的示意框圖。
[0051] 如圖2所示，包括測試控制單元210、聲卡220、功率放大器230、樣品揚(yáng)聲器240以及 激光傳感器250。
[0052] 所述激光傳感器250用于檢測樣品揚(yáng)聲器的振膜的位移值。所述聲卡220用于輸出 掃頻頻率范圍內(nèi)的音頻測試信號。所述功率放大器230用于對聲卡220輸出的音頻測試信號 進(jìn)行放大，以推動樣品揚(yáng)聲器的振膜產(chǎn)生位移。所述測試控制單元210用于收集激光位移傳 感器250所反饋的樣品揚(yáng)聲器在掃頻頻率范圍內(nèi)的位移值，并且在位移值達(dá)到最大位移時 記錄樣品揚(yáng)聲器的相應(yīng)的激勵電壓。
[0053] 在本實(shí)施例中，測試控制單元210還用于產(chǎn)生播放音頻測試信號的激勵電壓。測試 控制單元210還可以將樣品揚(yáng)聲器在不同頻點(diǎn)激勵電壓與校準(zhǔn)電壓的關(guān)系生成EQ曲線。 [0054]樣品揚(yáng)聲器的溫度保護(hù)方法具體如下：
[0055] 首先，測試控制單元210除了產(chǎn)生掃頻信號之外，還可以再疊加一個低頻(例如，小 于50Hz)的平行信號，并且該平行信號的輸出幅度相對于正常的音頻測試信號很低，其對產(chǎn) 品振動位移和發(fā)熱的貢獻(xiàn)可以忽略不計(jì)。
[0056] 其次，計(jì)算樣品揚(yáng)聲器的溫度。測試控制單元210除了采集激光位移傳感器的反饋 位移之外，還可以采集電阻(Rs)260兩端的信號，并對該信號進(jìn)行濾波，僅保留平行信號頻 率，計(jì)算其幅值，可以認(rèn)為由此得到的電壓U Rs為功率放大器輸出直流信號時的電壓，測試控 制單元210根據(jù)UrJPRs的值計(jì)算回路電流I，功率放大器輸出的平行信號電壓U由測試控制 單元210來控制，認(rèn)為是已知量。
[0057] 根據(jù)以上條件，可以計(jì)算出樣品揚(yáng)聲器的直流阻R。常溫下?lián)P聲器音圈的溫阻系數(shù) a是已知量，根據(jù)溫阻系數(shù)計(jì)算公式可以得到當(dāng)前音圈溫度：
[0059] 其中，R〇為揚(yáng)聲器常溫To下的直流阻，這在測試前同To-起測量并記錄下來。
[0060] 最后，根據(jù)獲取的樣品揚(yáng)聲器的實(shí)時溫度來調(diào)整激勵電壓或EQ曲線。例如，測試控 制單元210按照當(dāng)前EQ進(jìn)行掃頻測試，將掃頻時得到的揚(yáng)聲器音圈溫度T與預(yù)定的溫度閾值 進(jìn)行比較。如果揚(yáng)聲器溫度在掃頻過程中在某個頻點(diǎn)超過預(yù)定的溫度閾值，可以整體或局 部降低該頻點(diǎn)之前部分頻點(diǎn)或全部頻點(diǎn)的激勵電壓，從而降低掃頻過程中的揚(yáng)聲器的溫 度。
[0061] 在另一個例子中，在調(diào)整完EQ后，等待一段時間，揚(yáng)聲器的溫度恢復(fù)到室溫To時， 再按照調(diào)整后的EQ進(jìn)行測試，再與預(yù)定的溫度閾值比較，如此循環(huán)往復(fù)，直到EQ調(diào)整為各頻 點(diǎn)位移值達(dá)到最大位移，但揚(yáng)聲器的溫度不超過預(yù)定的溫度閾值。
[0062] 通過這種設(shè)置溫度保護(hù)功能的方式，可以獲得揚(yáng)聲器的溫度不超過預(yù)定的溫度閾 值時的激勵電壓值，并應(yīng)用在EQ曲線的生成計(jì)算中。因此，可以降低揚(yáng)聲器在測試過程中因 過熱而損壞，并且保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0063] 本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)可以理解，圖2僅是用于溫度保護(hù)的示意性的框圖。其中， 所述的測試控制單元210可以采用軟件、硬件或軟件與硬件相結(jié)合(例如，計(jì)算機(jī)和試音測 試軟件結(jié)合)的方式來實(shí)現(xiàn)多種功能。
[0064]本領(lǐng)域的技術(shù)人員也應(yīng)當(dāng)可以理解，圖2所示的示意性框圖也可用于實(shí)現(xiàn)圖1所示 的根據(jù)本發(fā)明的方法，其中，可以包括電阻(Rs)260用于溫度保護(hù)，或者在不包括電阻（Rs) 260的情況下進(jìn)行測試。
[0065] 結(jié)合圖1和圖2,本領(lǐng)域的技術(shù)人員很容易基于上面的公開方法，產(chǎn)生一種用于測 試揚(yáng)聲器的系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括:用于利用激光位移傳感器檢測樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值，以 當(dāng)在不同頻點(diǎn)樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值達(dá)到最大位移時，獲取樣品揚(yáng)聲器所需要的相應(yīng)的 激勵電壓的模塊，例如，該模塊可以采用圖2中測試控制單元210的一部分功能結(jié)合激光位 移傳感器250來實(shí)現(xiàn)；用于生成樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線的模塊，所述EQ曲線是樣品揚(yáng)聲器在不 同頻點(diǎn)的所述激勵電壓與校準(zhǔn)電壓的比值，例如，該模塊可以在測試控制單元210中來實(shí) 現(xiàn)；以及用于基于所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線和所述校準(zhǔn)電壓測試待測揚(yáng)聲器并獲取測試結(jié) 果的模塊。
[0066] 可選地，該系統(tǒng)還包括：用于當(dāng)樣品揚(yáng)聲器的溫度在高于預(yù)定的溫度閾值的時降 低樣品揚(yáng)聲器的激勵電壓的模塊。
[0067] 可選地，該系統(tǒng)還包括：用于樣品揚(yáng)聲器振膜的位移在某個頻點(diǎn)高于預(yù)定的位移 閾值時降低樣品揚(yáng)聲器在該頻點(diǎn)的激勵電壓的模塊。
[0068] 可選地，該系統(tǒng)還包括：用于當(dāng)待測揚(yáng)聲器的溫度高于預(yù)定的溫度閾值時實(shí)時調(diào) 整EQ曲線的模塊。
[0069] 可選地，該系統(tǒng)還包括：用于EQ曲線存儲為文件的形式以在測試待測揚(yáng)聲器的過 程中讀取的模塊。
[0070] 根據(jù)本發(fā)明的用于測試揚(yáng)聲器的方法和系統(tǒng)能夠提高揚(yáng)聲器測試的準(zhǔn)確性，尤其 是對于應(yīng)用智能功率放大器的揚(yáng)聲器來說效果明顯。這主要是因?yàn)樵趹?yīng)用智能功率放大器 時，揚(yáng)聲器在可應(yīng)用的頻率范圍內(nèi)工作在最大位移。
[0071] 圖3示出了普通功率放大器和智能功率放大器的對揚(yáng)聲器的位移推動示意圖。
[0072] 如圖3所示，其中，虛線示出了應(yīng)用普通功率放大器時對揚(yáng)聲器的位移推動，實(shí)線 示出了智能功率放大器對揚(yáng)聲器的位移推動的示意圖。由圖3可知，對于智能功率放大器來 說，揚(yáng)聲器在應(yīng)用的頻率范圍內(nèi)其位移值達(dá)到最大值，所述應(yīng)用的頻率范圍可包括諧振頻 率范圍以及高于諧振頻率的一段范圍。由于在大位移下，揚(yáng)聲器較容易進(jìn)入非線性區(qū)域，產(chǎn) 生比小位移條件下更多的失真。因此，根據(jù)本發(fā)明的測試方法可以更容易發(fā)現(xiàn)揚(yáng)聲器在實(shí) 際應(yīng)用中可能出現(xiàn)的問題。
[0073]通過上述方法獲得樣品揚(yáng)聲器在不同頻點(diǎn)的EQ曲線之后，可以基于所獲得的EQ曲 線以及已確定的校準(zhǔn)電壓來測試待測揚(yáng)聲器，例如，應(yīng)用在消音室或產(chǎn)線的測試中。
[0074]圖4是根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試待測揚(yáng)聲器的示意性框圖。
[0075] 如圖4所示，包括顯示器410、測試控制單元420、聲卡430、功率放大器440、聲音處 理電路450以及待測揚(yáng)聲器460。其中，測試控制單元420包括測試控制模塊421、測試結(jié)果分 析模塊423以及存儲模塊422。
[0076]所述測試控制模塊421用于控制聲卡430發(fā)出音頻測試信號。所述聲卡430用于發(fā) 出音頻測試信號，并將收到的音頻信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。所述功率放大器440用于對聲卡發(fā) 出的音頻信號進(jìn)行放大。所述聲音處理電路450用于采集待測揚(yáng)聲器的音頻輸出信號并經(jīng) 放大處理后發(fā)送至聲卡。所述測試結(jié)果分析模塊423用于收集和分析待測揚(yáng)聲器的輸出音 頻信號。所述存儲模塊422用于存儲EQ曲線文件以及測試結(jié)果的記錄。
[0077] 在實(shí)際測試的過程中，可以在消音室或?qū)P(yáng)聲器放置在隔音罩內(nèi)以避免雜音干 擾。測試的實(shí)現(xiàn)過程包括:測試控制模塊421從存儲器422讀取所存儲的EQ曲線；測試控制模 塊421根據(jù)已確定的校準(zhǔn)電壓以及所讀取的EQ曲線計(jì)算出待測揚(yáng)聲器在不同頻點(diǎn)所需要的 激勵電壓；測試控制模塊421對待測揚(yáng)聲器460進(jìn)行掃頻測試并施加相應(yīng)的激勵電壓；最后 測試結(jié)果分析模塊423對測試結(jié)果分析并輸出測試結(jié)果。
[0078] 基于圖4的示意框圖，測試控制單元420中可以實(shí)現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的測試系統(tǒng)所包括 的模塊。例如，基于所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線和所述校準(zhǔn)電壓測試待測揚(yáng)聲器并獲取測試 結(jié)果的模塊。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)可以理解，圖4的框圖和模塊的劃分和名稱僅是示意性 的，在不違背本發(fā)明精神的前提下，本發(fā)明的功能的實(shí)現(xiàn)方式不受此限制。
[0079] 本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)可以理解，盡管在對樣品揚(yáng)聲器的測試中，采取了措施使 樣品揚(yáng)聲器工作在最大位移，然而，由于實(shí)際生產(chǎn)的產(chǎn)品通常不會完全一致，同樣的EQ曲線 應(yīng)用到不同的產(chǎn)品上時，可能會導(dǎo)致該產(chǎn)品某些頻點(diǎn)超過預(yù)定的位移閾值。因此，在實(shí)際的 消音室或產(chǎn)線的測試中，還可以借助位移傳感器等獲取實(shí)際的位移與所應(yīng)用的EQ曲線中的 期望位移是否相符，如果不符，則根據(jù)位移傳感器的反饋調(diào)整EQ曲線，再基于調(diào)整之后的EQ 曲線進(jìn)行試音測試。通過這種設(shè)置方式，可以進(jìn)一步保證測試結(jié)果更能反映待測產(chǎn)品的實(shí) 際性能。
[0080] 本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，所述測試測試控制單元420可以是單片機(jī)或計(jì)算機(jī) 結(jié)合測試軟件來實(shí)現(xiàn)，測試軟件可以提供人機(jī)接口界面以在顯示器提供操作界面并將測試 的結(jié)果在顯示器輸出，以便于用戶直觀的進(jìn)行配置和分析。
[0081]本領(lǐng)域的人員可以理解，如果將根據(jù)本發(fā)明的方法應(yīng)用在傳統(tǒng)測試的過程，應(yīng)用 獲得的EQ曲線來相應(yīng)的調(diào)整揚(yáng)聲器的功率放大器在不同頻點(diǎn)的輸出電壓，以使揚(yáng)聲器的振 膜盡量達(dá)到最大位移值，更有利于發(fā)現(xiàn)揚(yáng)聲器的問題，有利于揚(yáng)聲器的實(shí)際應(yīng)用。因?yàn)樵诖?位移下，揚(yáng)聲器很容易進(jìn)入非線性區(qū)域，從而產(chǎn)生比小位移更多的失真。
[0082]本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以通過各種方式來實(shí)現(xiàn)測試控制單元420。例如，可 以通過指令配置處理器來實(shí)現(xiàn)測試控制模塊421和/或測試結(jié)果分析模塊423。例如，可以將 指令存儲在ROM中，并且當(dāng)啟動設(shè)備時，將指令從ROM讀取到可編程器件中來實(shí)現(xiàn)測試控制 模塊421和/或測試結(jié)果分析模塊423。例如，可以將測試控制模塊421和/或測試結(jié)果分析模 塊423固化到專用器件(例如ASIC)中?？梢詫y試控制模塊421和/或測試結(jié)果分析模塊423 分成相互獨(dú)立的單元，或者可以將它們合并在一起實(shí)現(xiàn)。測試控制模塊421和/或測試結(jié)果 分析模塊423，可以通過上述各種實(shí)現(xiàn)方式中的一種來實(shí)現(xiàn)，或者可以通過上述各種實(shí)現(xiàn)方 式中的兩種或更多種方式的組合來實(shí)現(xiàn)。
[0083] 這里參照根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的方法、裝置(系統(tǒng)）的流程圖和/或框圖描述了本發(fā) 明的各個方面。應(yīng)當(dāng)理解，流程圖和/或框圖的每個方框以及流程圖和/或框圖中各方框的 組合，可以由計(jì)算機(jī)可讀程序指令實(shí)現(xiàn)。
[0084] 這些計(jì)算機(jī)可讀程序指令可以提供給通用計(jì)算機(jī)、專用計(jì)算機(jī)或其它可編程數(shù)據(jù) 處理裝置的處理器，從而生產(chǎn)出一種機(jī)器，使得這些指令在通過計(jì)算機(jī)或其它可編程數(shù)據(jù) 處理裝置的處理器執(zhí)行時，產(chǎn)生了實(shí)現(xiàn)流程圖和/或框圖中的一個或多個方框中規(guī)定的功 能/動作的裝置。也可以把這些計(jì)算機(jī)可讀程序指令存儲在計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中，這些指 令使得計(jì)算機(jī)、可編程數(shù)據(jù)處理裝置和/或其他設(shè)備以特定方式工作，從而，存儲有指令的 計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)則包括一個制造品，其包括實(shí)現(xiàn)流程圖和/或框圖中的一個或多個方框中 規(guī)定的功能/動作的各個方面的指令。
[0085] 也可以把計(jì)算機(jī)可讀程序指令加載到計(jì)算機(jī)、其它可編程數(shù)據(jù)處理裝置、或其它 設(shè)備上，使得在計(jì)算機(jī)、其它可編程數(shù)據(jù)處理裝置或其它設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟，以產(chǎn) 生計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的過程，從而使得在計(jì)算機(jī)、其它可編程數(shù)據(jù)處理裝置、或其它設(shè)備上執(zhí)行的 指令實(shí)現(xiàn)流程圖和/或框圖中的一個或多個方框中規(guī)定的功能/動作。
[0086]以上已經(jīng)描述了本發(fā)明的各實(shí)施例，上述說明是示例性的，并非窮盡性的，并且也 不限于所披露的各實(shí)施例。在不偏離所說明的各實(shí)施例的范圍和精神的情況下，對于本技 術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說許多修改和變更都是顯而易見的。本文中所用術(shù)語的選擇，旨 在最好地解釋各實(shí)施例的原理、實(shí)際應(yīng)用或?qū)κ袌鲋械募夹g(shù)改進(jìn)，或者使本技術(shù)領(lǐng)域的其 它普通技術(shù)人員能理解本文披露的各實(shí)施例。本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求來限定。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種用于測試揚(yáng)聲器的方法，包括： 利用激光位移傳感器檢測樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值，以當(dāng)在不同頻點(diǎn)所述樣品揚(yáng)聲器 振膜的位移值達(dá)到最大位移時，獲取所述樣品揚(yáng)聲器所需要的相應(yīng)的激勵電壓； 生成所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線，所述EQ曲線是所述樣品揚(yáng)聲器在不同頻點(diǎn)的所述激勵 電壓與校準(zhǔn)電壓的比值；以及 基于所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線和所述校準(zhǔn)電壓測試待測揚(yáng)聲器并獲取測試結(jié)果。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：當(dāng)所述樣品揚(yáng)聲器的溫度高于預(yù)定的溫度閾值 的時，降低所述樣品揚(yáng)聲器的激勵電壓。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：當(dāng)所述樣品揚(yáng)聲器振膜的位移在某個頻點(diǎn)高于 預(yù)定的位移閾值時，降低所述樣品揚(yáng)聲器在該頻點(diǎn)的激勵電壓。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：當(dāng)待測揚(yáng)聲器的溫度高于預(yù)定的溫度閾值時， 實(shí)時調(diào)整EQ曲線。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括將EQ曲線存儲為文件的形式以在測試待測揚(yáng)聲 器的過程中讀取。6. 一種用于測試揚(yáng)聲器的系統(tǒng)，包括： 用于利用激光位移傳感器檢測樣品揚(yáng)聲器振膜的位移值以當(dāng)在不同頻點(diǎn)所述樣品揚(yáng) 聲器振膜的位移值達(dá)到最大位移時獲取所述樣品揚(yáng)聲器所需要的相應(yīng)的激勵電壓的模塊； 用于生成所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線的模塊，所述EQ曲線是所述樣品揚(yáng)聲器在不同頻點(diǎn) 的所述激勵電壓與校準(zhǔn)電壓的比值;以及 基于所述樣品揚(yáng)聲器的EQ曲線和所述校準(zhǔn)電壓測試待測揚(yáng)聲器并獲取測試結(jié)果的模 塊。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，還包括：用于當(dāng)所述樣品揚(yáng)聲器的溫度在高于預(yù)定的溫 度閾值的時降低所述樣品揚(yáng)聲器的激勵電壓的模塊。8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，還包括：用于所述樣品揚(yáng)聲器振膜的位移在某個頻點(diǎn)高 于預(yù)定的位移閾值時降低所述樣品揚(yáng)聲器在該頻點(diǎn)的激勵電壓的模塊。9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，還包括：用于當(dāng)待測揚(yáng)聲器的溫度高于預(yù)定的溫度閾值 時實(shí)時調(diào)整EQ曲線的模塊。10. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，還包括：用于將EQ曲線存儲為文件的形式以在測試待 測揚(yáng)聲器的過程中讀取的模塊。
【文檔編號】H04R29/00GK105959892SQ201610284759
【公開日】2016年9月21日
【申請日】2016年4月29日
【發(fā)明人】王國福, 楊鑫峰, 平慷
【申請人】歌爾股份有限公司