一種藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及通信業(yè)生產(chǎn)測(cè)試自動(dòng)化的技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]一般來(lái)說(shuō)，藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試包括兩部分:一部分為射頻性能測(cè)試，另一部分為通訊功能(如基本的數(shù)據(jù)傳輸功能)測(cè)試；其中，通訊功能的測(cè)試往往是在主板生產(chǎn)時(shí)，通過(guò)人工手動(dòng)的形式進(jìn)行的，這種做法不僅需加耗費(fèi)一定的勞動(dòng)成本，效率低下，而且測(cè)試質(zhì)量的控制與員工素質(zhì)息息相關(guān)，不能確保測(cè)試的一致性。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，節(jié)約人工成本，提高測(cè)試效率，降低生產(chǎn)成本。
[0004]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的實(shí)施方式提供了一種藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，包含:處理設(shè)備及測(cè)試儀表；
[0005]所述測(cè)試儀表分別與處理設(shè)備及至少一個(gè)待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路相連接，并將采集到的所述藍(lán)牙射頻電路的射頻測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述處理設(shè)備；
[0006]所述處理設(shè)備與所述至少一個(gè)待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路相連接，并通過(guò)與所述藍(lán)牙射頻電路的連接，獲取所述藍(lán)牙射頻電路的通訊測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0007]本實(shí)用新型實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言，將測(cè)試儀表分別與處理設(shè)備及待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路相連接，從而使得測(cè)試儀表可以將采集到的射頻測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給處理設(shè)備，供處理設(shè)備對(duì)藍(lán)牙射頻電路的射頻性能進(jìn)行解析；同時(shí)，本實(shí)用新型實(shí)施方式將待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路與處理設(shè)備相連接，使得處理設(shè)備可以直接對(duì)藍(lán)牙射頻電路的通訊功能進(jìn)行測(cè)試，這種測(cè)試方式，不僅節(jié)約了人工成本，減少了因人為因素而帶來(lái)的測(cè)試質(zhì)量的隱患；而且提高了測(cè)試效率，對(duì)質(zhì)量的控制也起到了重要作用；同時(shí)，本實(shí)用實(shí)際實(shí)施方式結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作較易，適用范圍廣泛。
[0008]進(jìn)一步地，所述藍(lán)牙射頻電路設(shè)置在終端的主板上；
[0009]所述測(cè)試儀表通過(guò)射頻線與所述主板相連接。有利于保證測(cè)試儀表對(duì)藍(lán)牙射頻電路的射頻性能進(jìn)行測(cè)試。
[0010]進(jìn)一步地，所述測(cè)試裝置還包括測(cè)試夾具；
[0011]所述主板固定在所述測(cè)試夾具上，所述測(cè)試夾具用于對(duì)所述主板進(jìn)行供電；
[0012]且所述測(cè)試夾具上對(duì)應(yīng)每個(gè)所述主板，均設(shè)有通用串行總線USB接口 ；
[0013]所述處理設(shè)備通過(guò)所述USB接口與相應(yīng)的主板相連接。測(cè)試夾具的設(shè)置有利于主板的固定，及主板的供電。
[0014]進(jìn)一步地，所述處理設(shè)備通過(guò)通用接口總線GPIB與所述測(cè)試儀表相連接。有利于測(cè)試儀表與處理設(shè)備之間數(shù)據(jù)的傳輸。
[0015]進(jìn)一步地，所述處理設(shè)備為工控機(jī)或PC機(jī)。
[0016]進(jìn)一步地，所述測(cè)試儀表為IQ2010測(cè)試儀表。
[0017]進(jìn)一步地，所述測(cè)試裝置還包括數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)器；
[0018]所述數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)器通過(guò)USB接口與所述處理設(shè)備相連接；并用于存儲(chǔ)所述射頻測(cè)試數(shù)據(jù)及通訊測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0019]進(jìn)一步地，所述測(cè)試裝置還包括打印輸出裝置；所述打印輸出裝置通過(guò)LPT接口與所述處理設(shè)備相連接。
【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1是根據(jù)本實(shí)用新型第一實(shí)施方式的藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖2是根據(jù)本實(shí)用新型第二實(shí)施方式的藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0022]為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的各實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，在本實(shí)用新型各實(shí)施方式中，為了使讀者更好地理解本申請(qǐng)而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是，即使沒(méi)有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改，也可以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)各權(quán)利要求所要求保護(hù)的技術(shù)方案。
[0023]本實(shí)用新型的第一實(shí)施方式涉及一種藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置。如圖1所示，該藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，包含:處理設(shè)備、測(cè)試儀表及測(cè)試夾具；其中，測(cè)試夾具用于固定待測(cè)終端的主板，并在測(cè)試時(shí)對(duì)主板進(jìn)行供電，待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路(圖中未示出)即設(shè)置在該主板上。
[0024]具體地說(shuō)，在實(shí)際應(yīng)用中，處理設(shè)備可以為工控機(jī)或PC機(jī)，下面將以PC機(jī)為例對(duì)本實(shí)施方式作具體說(shuō)明。
[0025]一方面，該P(yáng)C機(jī)通過(guò)測(cè)試儀表與至少一個(gè)待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路相連接；其中，測(cè)試儀表通過(guò)通用接口總線(General-Purpose Interface Bus，簡(jiǎn)稱“GPIB”)及GPIB接口與PC機(jī)相連，通過(guò)射頻線與每個(gè)主板(藍(lán)牙射頻電路設(shè)置在主板上)相連接。
[0026]另一方面，測(cè)試夾具上對(duì)應(yīng)每個(gè)主板，均設(shè)有通用串行總線USB接口 ；PC機(jī)通過(guò)該USB接口與相應(yīng)的主板相連接。
[0027]在對(duì)藍(lán)牙射頻電路的進(jìn)行測(cè)試時(shí)，PC機(jī)先分別通過(guò)USB接口，及GPIB接口，控制待測(cè)的主板及測(cè)試儀表進(jìn)入測(cè)試模式。在對(duì)藍(lán)牙射頻電路的射頻性能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，PC機(jī)根據(jù)藍(lán)牙射頻指標(biāo)測(cè)試項(xiàng)，控制測(cè)試儀表對(duì)藍(lán)牙射頻電路進(jìn)行測(cè)試，并將采集到的藍(lán)牙射頻電路的射頻測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給PC機(jī)，PC機(jī)對(duì)收到的射頻測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理后，再實(shí)時(shí)反饋給用戶。
[0028]其中，藍(lán)牙射頻電路的射頻性能包括:射頻發(fā)射性能(如最大發(fā)射功率)、及射頻接收性能(如接受誤碼率、靈敏度)，由于在本實(shí)施方式中，測(cè)試儀表需同時(shí)對(duì)這兩部性能進(jìn)行測(cè)試，因此，本實(shí)施方式所選的測(cè)試儀表需具備發(fā)射藍(lán)牙信號(hào)的功能，及接收藍(lán)牙信號(hào)的功能，可選用IQ2010測(cè)試儀表或A4010測(cè)試儀表。
[0029]在對(duì)藍(lán)牙射頻電路的通訊性能(即發(fā)送和接收數(shù)據(jù)的功能)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，PC機(jī)控制藍(lán)牙射頻電路進(jìn)入模擬發(fā)送數(shù)據(jù)和接收數(shù)據(jù)的測(cè)試，并對(duì)獲取到的藍(lán)牙射頻電路的通訊測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理，再實(shí)時(shí)反饋給用戶。
[0030]不難發(fā)現(xiàn)，本實(shí)施方式在主板生產(chǎn)階段對(duì)藍(lán)牙射頻電路的射頻性能及通訊性能進(jìn)行測(cè)試，不僅能節(jié)約人工成本(現(xiàn)有技術(shù)中，通過(guò)人工對(duì)藍(lán)牙射頻電路的通訊性能進(jìn)行測(cè)試)，提高生產(chǎn)效率，而且還能保證因射頻電路本身或電路焊接等問(wèn)題(如斷路、虛焊等)導(dǎo)致的射頻性能問(wèn)題，在主板生產(chǎn)過(guò)程中被發(fā)現(xiàn)(現(xiàn)有技術(shù)中，藍(lán)牙射頻電路的射頻性能的測(cè)試在主板裝機(jī)成功后進(jìn)行)，從而保證后期組裝的主板的質(zhì)量。
[0031]同時(shí)，在本實(shí)施方式中，采用一個(gè)測(cè)試夾具即可對(duì)多個(gè)待測(cè)的主板進(jìn)行固定與供電，不需要像現(xiàn)有技術(shù)對(duì)藍(lán)牙射頻電路進(jìn)行手動(dòng)測(cè)試時(shí)，制作專門的整機(jī)夾具，對(duì)待測(cè)的主板一一進(jìn)行人工測(cè)試，從而提高了測(cè)試效率。
[0032]本實(shí)用新型的第二實(shí)施方式涉及一種藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置。第二實(shí)施方式與第一實(shí)施方式大致相同，主要區(qū)別之處在于:在第一實(shí)施方式中，PC機(jī)對(duì)射頻測(cè)試數(shù)據(jù)及通訊測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理后，會(huì)實(shí)時(shí)反饋給用戶。而在本實(shí)用新型第二實(shí)施方式中，如圖2所示，該測(cè)試裝置還設(shè)有數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)器，PC機(jī)對(duì)射頻測(cè)試數(shù)據(jù)及通訊測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理后，可以將其存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)器中，供相關(guān)研宄人員進(jìn)行查看。其中，該數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)器通過(guò)USB接口與PC機(jī)相連接；另外，在本實(shí)施方式中，該測(cè)試裝置還包括打印輸出裝置；該打印輸出裝置通過(guò)LPT接口與PC機(jī)相連接。PC機(jī)可通過(guò)該打印輸出裝置打印出處理的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0033]本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，上述各實(shí)施方式是實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的具體實(shí)施例，而在實(shí)際應(yīng)用中，可以在形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作各種改變，而不偏離本實(shí)用新型的精神和范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，其特征在于，包含:處理設(shè)備及測(cè)試儀表； 所述測(cè)試儀表分別與處理設(shè)備及至少一個(gè)待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路相連接，并將采集到的所述藍(lán)牙射頻電路的射頻測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給所述處理設(shè)備； 所述處理設(shè)備與所述至少一個(gè)待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路相連接，并通過(guò)與所述藍(lán)牙射頻電路的連接，獲取所述藍(lán)牙射頻電路的通訊測(cè)試數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，其特征在于，所述藍(lán)牙射頻電路設(shè)置在終端的主板上； 所述測(cè)試儀表通過(guò)射頻線與所述主板相連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括測(cè)試夾具； 所述主板固定在所述測(cè)試夾具上，所述測(cè)試夾具用于對(duì)所述主板進(jìn)行供電； 且所述測(cè)試夾具上對(duì)應(yīng)每個(gè)所述主板，均設(shè)有通用串行總線USB接口 ； 所述處理設(shè)備通過(guò)所述USB接口與相應(yīng)的主板相連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，其特征在于，所述處理設(shè)備通過(guò)通用接口總線GPIB與所述測(cè)試儀表相連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，其特征在于，所述處理設(shè)備為工控機(jī)或PC機(jī)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試儀表為IQ2010測(cè)試儀表。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)器； 所述數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)器通過(guò)USB接口與所述處理設(shè)備相連接；并用于存儲(chǔ)所述射頻測(cè)試數(shù)據(jù)及通訊測(cè)試數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括打印輸出裝置；所述打印輸出裝置通過(guò)LPT接口與所述處理設(shè)備相連接。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及通信業(yè)生產(chǎn)測(cè)試自動(dòng)化的技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種藍(lán)牙射頻電路的測(cè)試裝置，其包含：處理設(shè)備及測(cè)試儀表；測(cè)試儀表分別與處理設(shè)備及至少一個(gè)待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路相連接，并將采集到的藍(lán)牙射頻電路的射頻測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給處理設(shè)備；處理設(shè)備與所述至少一個(gè)待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路相連接，并通過(guò)與所述藍(lán)牙射頻電路的連接，獲取所述藍(lán)牙射頻電路的通訊測(cè)試數(shù)據(jù)。本實(shí)用新型實(shí)施方式中，測(cè)試儀表將采集到的射頻測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給處理設(shè)備，供處理設(shè)備對(duì)藍(lán)牙射頻電路的射頻性能進(jìn)行解析；同時(shí)，將待測(cè)的藍(lán)牙射頻電路與處理設(shè)備相連接，使得處理設(shè)備可直接對(duì)藍(lán)牙射頻電路的通訊功能進(jìn)行測(cè)試，這種測(cè)試方式，不僅節(jié)約了人工成本，而且提高了測(cè)試效率。
【IPC分類】H04B17-00
【公開號(hào)】CN204539155
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520190691
【發(fā)明人】朱志堅(jiān)
【申請(qǐng)人】上海與德通訊技術(shù)有限公司
【公開日】2015年8月5日
【申請(qǐng)日】2015年3月31日