一種雙工位wdm測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種雙工位WDM的測(cè)試系統(tǒng)，包括第一測(cè)試子系統(tǒng)和第二測(cè)試子系統(tǒng)，所述第一測(cè)試子系統(tǒng)包括并聯(lián)的第一裝配監(jiān)控模塊和第一全波掃描模塊，所述第二測(cè)試子系統(tǒng)包括并聯(lián)的第二裝配監(jiān)控模塊和第二全波掃描模塊；所述第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊都包括ASE光源和光譜分析儀，所述第一裝配監(jiān)控模塊包括依次串聯(lián)的第一點(diǎn)光源、第三光開關(guān)、第四光開關(guān)和第一光功率計(jì)，所述第二裝配監(jiān)控模塊包括第二點(diǎn)光源、第五光開關(guān)、第六光開關(guān)和第二光功率計(jì)，所述ASE電源連接第三開關(guān)、光譜分析儀連接第四光開關(guān)組成了所述第一全波掃描模塊，所述ASE電源連接第五光開關(guān)、光譜分析儀連接第六光開關(guān)組成了所述第二全波掃描模塊。
【專利說明】
一種雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本實(shí)用新型涉及WDM測(cè)試領(lǐng)域，更具體的說，是涉及一種雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]WDM(ffavelength Divis1n Multiplexing，波分復(fù)用)技術(shù)是利用單根光纖傳輸多個(gè)載波實(shí)現(xiàn)超大容量光傳輸。
[0003]近年來，隨著FTTH技術(shù)的飛速發(fā)展，WDM應(yīng)用逐步普及，在光通信行業(yè)內(nèi)，組裝WDM產(chǎn)品必須在線監(jiān)測(cè)其插損(IL)，但是也必須同時(shí)進(jìn)行全波掃描來確定中心波長(zhǎng)漂移(Center Wavelength Shift)、隔離度(Isolat1n)等參數(shù)。一些光學(xué)指標(biāo)是在組裝時(shí)必須在線監(jiān)控的，而另一些指標(biāo)必須在組裝的同時(shí)進(jìn)行監(jiān)控的。光學(xué)設(shè)備如光譜分析儀、寬帶光源成本都比較高，所以，減少設(shè)備投入和提高生產(chǎn)效率是企業(yè)降低成本的關(guān)鍵。
[0004]WDM測(cè)試是管控WDM產(chǎn)品品質(zhì)的一個(gè)及其重要的環(huán)節(jié)，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)WDM的測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行了詳細(xì)的規(guī)范和定義，這些測(cè)試項(xiàng)目中最為重要的有:插入損耗(IL)指標(biāo)的測(cè)試；中心波長(zhǎng)漂移(Center Wavelength Shift)和隔離度(IsoIat1n)的測(cè)試計(jì)算。傳統(tǒng)測(cè)試針對(duì)這些項(xiàng)目是分開進(jìn)行的，完成這三個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試至少需要兩個(gè)工位來完成，在器件的測(cè)試過程中一根光纖需要熔接兩次以上，多次熔接會(huì)增加成本，浪費(fèi)時(shí)間，不必要的熔接甚至還會(huì)影響最終數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度。
[0005]傳統(tǒng)組裝監(jiān)控技術(shù)設(shè)備使用率低，占用空間大，難以精確測(cè)量出產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)，難以實(shí)時(shí)快速地對(duì)器件實(shí)施關(guān)鍵數(shù)據(jù)的掃描測(cè)試。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006]有鑒于此，有必要針對(duì)上述問題，提供一種雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)，占用空間小，成本低，效率高，計(jì)量精度高并且可在線組裝。
[0007]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:
[0008]—種雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)，包括第一測(cè)試子系統(tǒng)和第二測(cè)試子系統(tǒng)，所述第一測(cè)試子系統(tǒng)包括并聯(lián)的第一裝配監(jiān)控模塊和第一全波掃描模塊，所述第二測(cè)試子系統(tǒng)包括并聯(lián)的第二裝配監(jiān)控模塊和第二全波掃描模塊;所述第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊都包括ASE光源和光譜分析儀，第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊通過第一光開關(guān)、第二光開關(guān)并聯(lián)。
[0009]作為優(yōu)選的，所述第一裝配監(jiān)控模塊包括依次串聯(lián)的第一點(diǎn)光源、第三光開關(guān)、第四光開關(guān)和第一光功率計(jì)，所述第二裝配監(jiān)控模塊包括第二點(diǎn)光源、第五光開關(guān)、第六光開關(guān)和第二光功率計(jì)，所述ASE電源連接第三開關(guān)、光譜分析儀連接第四光開關(guān)組成了所述第一全波掃描模塊，所述ASE電源連接第五光開關(guān)、光譜分析儀連接第六光開關(guān)組成了所述第二全波掃描模塊。
[0010]作為優(yōu)選的，所述第三光開關(guān)與第四光開關(guān)間、四五光開關(guān)與第六光開關(guān)間連接待測(cè)器件。
[0011]作為優(yōu)選的，所述ASE光源通過第一光開關(guān)分別連接所述第三光開關(guān)、第五光開關(guān)，所述光譜分析儀通過第二光開關(guān)分別連接所述第四光開關(guān)、第六光開關(guān)。
[0012]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果在于:一方面它能夠在線監(jiān)控產(chǎn)品組裝性能，減少跳線切換和熔接次數(shù)，測(cè)試效率更高，另一方面，運(yùn)用本系統(tǒng)的并聯(lián)集成方式可使一套ASE光源和光譜分析儀應(yīng)用在多個(gè)工位上，達(dá)到充分利用設(shè)備，減小占用空間，節(jié)約設(shè)備成本的目的。
【附圖說明】
[0013]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例第一測(cè)試子系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；
[0014]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例第二測(cè)試子系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；
[0015]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)的集成總圖。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型所述的一種雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)作進(jìn)一步說明。
[0017]以下是本實(shí)用新型所述的的最佳實(shí)例，并不因此限定本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
[0018]圖1至圖3示出了一種雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)，所述雙工位測(cè)試系統(tǒng)包括第一測(cè)試子系統(tǒng)(圖1所示)和第二測(cè)試子系統(tǒng)(圖2所示)，在本實(shí)施例中的雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)包括ASE光源1、第一點(diǎn)光源2、第二點(diǎn)光源8、第一光開關(guān)7、第二光開關(guān)12、第三光開關(guān)3、第四光開關(guān)
4、第五光開關(guān)9、第六光開關(guān)10、第一光功率計(jì)5、第二光功率計(jì)11和光譜分析儀6;第一點(diǎn)光源2、第三光開關(guān)3、第四光開關(guān)4、和第一光功率計(jì)5相互連接組成了第一裝配監(jiān)測(cè)模塊;第二點(diǎn)光源8、第五光開關(guān)9、第六光開關(guān)10和第二光功率計(jì)相互連接組成了第二裝配監(jiān)控模塊;所述ASE光源、第三光開關(guān)3、第四光開關(guān)4、和光譜分析儀6相互連接組成了第一全波掃描模塊;ASE光源、第五光開關(guān)9、第六光開關(guān)10和光譜分析儀6相互連接組成了第二全波掃描模塊。
[0019]從圖1和圖2中可以看出，第一測(cè)試子系統(tǒng)由第一裝配監(jiān)控模塊和第一全波掃描模塊通過第三光開關(guān)3、第四光開關(guān)4并聯(lián)集成;第二測(cè)試子系統(tǒng)由第二裝配監(jiān)控模塊和第二全波掃描模塊通過第五光開關(guān)9、第六光開關(guān)10并聯(lián)集成。
[0020]圖3是第一測(cè)試子系統(tǒng)和第二測(cè)試子系統(tǒng)通過第一光開關(guān)7、第二光開關(guān)12并聯(lián)集成后的整個(gè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖，在并聯(lián)集成中，通過所述ASE光源通過第一光開關(guān)分別連接所述第三光開關(guān)、第五光開關(guān)，所述光譜分析儀通過第二光開關(guān)分別連接所述第四光開關(guān)、第六光開關(guān)，因此，所述ASE電源連接第三開關(guān)、光譜分析儀連接第四光開關(guān)組成了所述第一全波掃描模塊，所述ASE電源連接第五光開關(guān)、光譜分析儀連接第六光開關(guān)組成了所述第二全波掃描模塊。
[0021 ]本【具體實(shí)施方式】為:將所有光開關(guān)集成到一個(gè)盒子里，設(shè)計(jì)邏輯電路來控制光開關(guān)，通過串口連接PC，使用已編寫程序控制光開關(guān)的連通狀態(tài)使系統(tǒng)形成多種所需組合來適應(yīng)不同生產(chǎn)需求。
[0022]具體實(shí)施步驟如下:
[0023]第一步:(參看圖3)工位一在線組裝待測(cè)器件I(DUTl)時(shí)，通過程序控制光開關(guān)3、4將點(diǎn)第一光源2和功率計(jì)5連通，用以在線監(jiān)控產(chǎn)品的插入損耗(IL)。
[0024]第二步:待測(cè)器件I插損(IL)合格后需要監(jiān)控產(chǎn)品的中心波長(zhǎng)漂移(CenterWavelength Shift)和隔離度(Isolat1n)，此時(shí)需對(duì)待測(cè)器件I進(jìn)行全波掃描，可立即通過已寫程序控制第一光開關(guān)7、第二光開關(guān)12、第三光開關(guān)3、第四光開關(guān)4將寬帶光源和光譜分析儀與待測(cè)器件I (DUT1)連接進(jìn)行掃描。
[0025]第三步:工位一對(duì)待測(cè)器件I(DUT1)進(jìn)行全波掃描時(shí)，工位二可開始裝配待測(cè)器件2(DUT2)，同樣的，在線組裝待測(cè)器件2時(shí)，控制第五光開關(guān)9、第六光開關(guān)10將第二點(diǎn)光源8和第二光功率計(jì)11連通。
[0026]第四步:待測(cè)器件2插損(IL)合格的同時(shí)需要對(duì)其進(jìn)行全波掃描，此時(shí)器件I掃描完成，可立即控制第一光開關(guān)7、第二光開關(guān)12、第五光開關(guān)9、第六光開關(guān)10將寬帶光源和光譜分析儀與待測(cè)器件2(DUT2)連接進(jìn)行掃描，達(dá)到對(duì)寬帶光源和光譜分析儀的時(shí)分復(fù)用，充分利用貴重設(shè)備。
[0027]第五步:工位二掃描完成后，工位一開始掃描器件三。
[0028]第六步:工位一掃描完成，工位二掃描器件四。
[0029]……
[0030]可以看出，在線組裝時(shí)，從插損(IL)的監(jiān)控到對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全波掃描，僅僅需要對(duì)光開關(guān)進(jìn)行控制，而不需要移動(dòng)產(chǎn)品和重新熔接光纖，而兩個(gè)工位交替生產(chǎn)的工作方式，達(dá)到了對(duì)寬帶光源和光譜分析儀這樣的貴重設(shè)備的充分利用。
[0031]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括第一測(cè)試子系統(tǒng)和第二測(cè)試子系統(tǒng)，所述第一測(cè)試子系統(tǒng)包括并聯(lián)的第一裝配監(jiān)控模塊和第一全波掃描模塊，所述第二測(cè)試子系統(tǒng)包括并聯(lián)的第二裝配監(jiān)控模塊和第二全波掃描模塊;所述第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊都包括ASE光源和光譜分析儀，第一全波掃描模塊和第二全波掃描模塊通過第一光開關(guān)、第二光開關(guān)并聯(lián)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一裝配監(jiān)控模塊包括依次串聯(lián)的第一點(diǎn)光源、第三光開關(guān)、第四光開關(guān)和第一光功率計(jì)，所述第二裝配監(jiān)控模塊包括第二點(diǎn)光源、第五光開關(guān)、第六光開關(guān)和第二光功率計(jì)，所述ASE電源連接第三開關(guān)、光譜分析儀連接第四光開關(guān)組成了所述第一全波掃描模塊，所述ASE電源連接第五光開關(guān)、光譜分析儀連接第六光開關(guān)組成了所述第二全波掃描模塊。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述第三光開關(guān)與第四光開關(guān)間、四五光開關(guān)與第六光開關(guān)間連接待測(cè)器件。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的雙工位WDM測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述ASE光源通過第一光開關(guān)分別連接所述第三光開關(guān)、第五光開關(guān)，所述光譜分析儀通過第二光開關(guān)分別連接所述第四光開關(guān)、第六光開關(guān)。
【文檔編號(hào)】H04B10/079GK205490550SQ201620243448
【公開日】2016年8月17日
【申請(qǐng)日】2016年3月28日
【發(fā)明人】張齊凌, 喻琴, 周加文, 朱付金
【申請(qǐng)人】武漢奧新科技有限公司