專利名稱：測試amoled驅(qū)動(dòng)電路的方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明提供一種測試方法及系統(tǒng)，是在鍍上有機(jī)發(fā)光二極管前，測試一主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器的驅(qū)動(dòng)電路。
背景技術(shù)：
隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，屏幕顯示技術(shù)也跟著日新月異。繼發(fā)光二極管(LED)顯示技術(shù)之后，市面上出現(xiàn)了一種全新的平面顯示技術(shù)，這種新技術(shù)稱為有機(jī)發(fā)光二極管(organic lightemitting diode)顯示技術(shù)，簡稱為OLED。有機(jī)發(fā)光二極管需要一個(gè)驅(qū)動(dòng)電路來驅(qū)動(dòng)。以主動(dòng)式發(fā)光顯示技術(shù)(active matrixorganic light emitting display，簡稱AMOLED)為例，驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生一電流以驅(qū)動(dòng)有機(jī)發(fā)光二極管發(fā)光，發(fā)的光可為紅、綠、藍(lán)等單色，甚至可以達(dá)到全彩的效果。有機(jī)發(fā)光二極管不僅可以卷起來帶著走，還完全沒有視角問題。同時(shí)壽命長達(dá)數(shù)千小時(shí)，而且耗電量非常低。由于有機(jī)發(fā)光二極管有上述的優(yōu)點(diǎn)，因此極有可能取代傳統(tǒng)的發(fā)光二極管，成為下一代顯示技術(shù)的主流。
利用有機(jī)發(fā)光二極管制作一顯示器時(shí)，每一個(gè)畫素(pixel)需要一個(gè)有機(jī)發(fā)光二極管，也就是每一個(gè)畫素需要一個(gè)驅(qū)動(dòng)電路。因此一個(gè)顯示器會(huì)有數(shù)以萬計(jì)甚至百萬計(jì)的驅(qū)動(dòng)電路。如何有效地測試這些驅(qū)動(dòng)電路便是一個(gè)很大的工程。圖1、圖2和圖3為目前較常使用的驅(qū)動(dòng)電路。已知的測試驅(qū)動(dòng)電路的方法是在鍍上有機(jī)發(fā)光二極管OLED后，由寫入掃描線(writescan line)WSL各別致能單一驅(qū)動(dòng)電路，再由數(shù)據(jù)線(dataline)DL輸入一電壓準(zhǔn)位。此電壓準(zhǔn)位經(jīng)由此一驅(qū)動(dòng)電路轉(zhuǎn)換為一電流信號(hào)I，此電流信號(hào)I驅(qū)動(dòng)有機(jī)發(fā)光二極管OLED而使OLED發(fā)光。測試人員便依據(jù)輸入的電壓準(zhǔn)位，目測有機(jī)發(fā)光二極管OLED的發(fā)光亮度是否正常，來判斷此驅(qū)動(dòng)電路可否正常工作。此已知的方法會(huì)因測試人員主觀認(rèn)定的差異，而造成測試結(jié)果不精確。更嚴(yán)重的問題是，若某一個(gè)驅(qū)動(dòng)電路無法正常工作，連帶鍍在該驅(qū)動(dòng)電路上的有機(jī)發(fā)光二極管OLED亦跟著報(bào)廢，無法回收，而導(dǎo)致成本的提高。因此，便需要一種測試方法，可以在鍍上有機(jī)發(fā)光二極管OLED之前，有效并準(zhǔn)確地測試每一個(gè)驅(qū)動(dòng)電路。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是提供一種方法及系統(tǒng)，是在鍍上有機(jī)發(fā)光二極管前，測試一主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器的驅(qū)動(dòng)電路。
一主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器包含一輸入襯墊(input pad)、一寫入掃描線及一數(shù)據(jù)線。
本發(fā)明所提供的測試方法如下重復(fù)以下步驟，直到所有的驅(qū)動(dòng)電路皆測試完畢。經(jīng)由輸入襯墊，設(shè)定資料線上的一資料信號(hào)值。經(jīng)由輸入襯墊，輸入一電壓準(zhǔn)位至寫入掃描線，以選擇下一個(gè)欲測試的一驅(qū)動(dòng)電路。于驅(qū)動(dòng)電路的測試輸出端擷取一電流信號(hào)。分析此一電流信號(hào)，以判斷此一驅(qū)動(dòng)電路可否正常工作。
本發(fā)明所提供的測試系統(tǒng)包含一資料輸入器(data inputdevice)、一像素選擇器(pixel selection device)、一信號(hào)擷取器(signal extractor)及一信號(hào)分析器(signal analyzer)。資料輸入器與輸入襯墊相連接，用來設(shè)定并輸入資料信號(hào)值。像素選擇器亦與輸入襯墊相連接，用來輸入一選擇信號(hào)，以選擇欲測試的驅(qū)動(dòng)電路。信號(hào)擷取器與欲測試的驅(qū)動(dòng)電路的測試輸出端相連接，用來擷取一電流信號(hào)。信號(hào)分析器與信號(hào)擷取器相連接，用來分析電流信號(hào)，以判斷此驅(qū)動(dòng)電路可否正常工作。


圖1為已鍍上有機(jī)發(fā)光二極管的第一驅(qū)動(dòng)電路圖；圖2為已鍍上有機(jī)發(fā)光二極管的第二驅(qū)動(dòng)電路圖；圖3為已鍍上有機(jī)發(fā)光二極管的第三驅(qū)動(dòng)電路圖；圖4為未鍍上有機(jī)發(fā)光二極管的第一驅(qū)動(dòng)電路圖；圖5為本發(fā)明測試方法的流程圖；圖6為未鍍上有機(jī)發(fā)光二極管的第二驅(qū)動(dòng)電路圖；圖7為未鍍上有機(jī)發(fā)光二極管的第三驅(qū)動(dòng)電路圖；圖8為本發(fā)明測試系統(tǒng)第一實(shí)施例的示意圖；圖9為本發(fā)明測試系統(tǒng)第二實(shí)施例的示意圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明提供一種在鍍上有機(jī)發(fā)光二極管之前，測試一主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器的驅(qū)動(dòng)電路的方法。假設(shè)此主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器具有N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路，用來驅(qū)動(dòng)N個(gè)有機(jī)發(fā)光二極管。此主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器還包含一輸入襯墊、一寫入掃描線及一數(shù)據(jù)線。輸入襯墊用來輸入一選擇信號(hào)，以選擇欲測試的一驅(qū)動(dòng)電路，及用來輸入一數(shù)據(jù)信號(hào)，使有機(jī)發(fā)光二極管發(fā)光。寫入掃描線接收來自輸入襯墊的選擇信號(hào)，用來致能(enable)或失能(disable)欲測試的驅(qū)動(dòng)電路。資料線接收來自輸入襯墊的資料信號(hào)，將此數(shù)據(jù)信號(hào)值傳送至欲測試的驅(qū)動(dòng)電路。圖4為一常用的驅(qū)動(dòng)電路(尚未鍍上有機(jī)發(fā)光二極管)。如圖4所示，驅(qū)動(dòng)電路包含一第一晶體管M41及一第二晶體管M43。第一晶體管M41及第二晶體管M43各包含一源極(source)S、一閘極(gate)G及一汲極(drain)D。其中，第一晶體管M41的源極S(或汲極)連接至主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器的資料線DL，第一晶體管M41的閘極G連接至主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器的寫入掃描線WSL。第二晶體管M43的汲極D(或源極)作為一測試輸出端，此測試輸出端在鍍上有機(jī)發(fā)光二極管的后，連接至有機(jī)發(fā)光二極管。
本發(fā)明所提供的測試方法如圖5所示。在步驟501時(shí)，檢查是否所有驅(qū)動(dòng)電路都已測試完畢。若否，則執(zhí)行步驟503，經(jīng)由輸入襯墊，設(shè)定資料線DL上的資料信號(hào)的數(shù)值。在步驟505時(shí)，經(jīng)由輸入襯墊，輸入一電壓準(zhǔn)位至寫入掃描線WSL，以選擇下一個(gè)欲測試的一驅(qū)動(dòng)電路。以圖4的驅(qū)動(dòng)電路為例，由于第一晶體管M41為一P信道場效晶體管(PMOS)。因此在步驟505時(shí)，寫入掃描線WSL會(huì)傳送一低準(zhǔn)位電壓至第一晶體管M41的閘極G，以驅(qū)動(dòng)第一晶體管M41導(dǎo)通，使得在步驟503中已設(shè)定的數(shù)據(jù)信號(hào)能輸入此驅(qū)動(dòng)電路。在步驟507時(shí)，于測試輸出端擷取一電流信號(hào)，即圖4第二晶體管M43的汲極D(或源極)。在步驟509時(shí)，分析此一電流信號(hào)，以判斷此一驅(qū)動(dòng)電路可否正常工作。之后再回到步驟501，檢查是否所有的驅(qū)動(dòng)電路都已測試完畢。若否，則繼續(xù)執(zhí)行步驟503、505、507及509。若是，則執(zhí)行步驟511，結(jié)束整個(gè)測試流程。
以圖4的驅(qū)動(dòng)電路為例。電源VDD為12V，寫入掃描線WSL為0V時(shí)，第一晶體管M41導(dǎo)通，整個(gè)驅(qū)動(dòng)電路被致能，數(shù)據(jù)信號(hào)可輸入此驅(qū)動(dòng)電路。資料信號(hào)系為一電壓值，其范圍介于7V～10V。此一范圍共分為64個(gè)灰階，可使有機(jī)發(fā)光二極管產(chǎn)生64種不同的亮度。若驅(qū)動(dòng)電路可正常工作，則擷取的電流信號(hào)的范圍應(yīng)介于20μA～0.002μA。此一范圍對(duì)應(yīng)資料信號(hào)的范圍，同樣可分為64個(gè)灰階。在執(zhí)行步驟503時(shí)，資料信號(hào)于7V至10V的范圍中，選擇64個(gè)灰階的任一灰階。在執(zhí)行步驟509時(shí)，分析所擷取的電流信號(hào)。若此一驅(qū)動(dòng)電路正常工作，則此電流信號(hào)的數(shù)值應(yīng)落在相對(duì)應(yīng)的灰階內(nèi)。
以本發(fā)明的測試方法來測試AMOLED的驅(qū)動(dòng)電路，可精確并有效地完成整個(gè)測試流程。不會(huì)因?yàn)闇y試人員主觀的不同，而產(chǎn)生測試結(jié)果因人而異的缺點(diǎn)。
圖6、圖7中的電路亦為目前常用的驅(qū)動(dòng)電路。與圖4中的驅(qū)動(dòng)電路不同的是，第一晶體管M61、M71為n信道場效晶體管(NMOS)。因此欲致能圖6、圖7所示的驅(qū)動(dòng)電路，寫入掃描線WSL上的數(shù)據(jù)信號(hào)應(yīng)為高電壓準(zhǔn)位。此外，使用圖7中的驅(qū)動(dòng)電路的顯示器還包含一消除掃描線(erase scanline)ESL，用來在寫入一資料信號(hào)前，消除儲(chǔ)存于電容C71中的電壓。
本發(fā)明的測試方法不僅適用于圖4、圖6、圖7所示的驅(qū)動(dòng)電路，亦可適用于其它類似的驅(qū)動(dòng)電路。
本發(fā)明同時(shí)揭露一種系統(tǒng)，用來執(zhí)行上述的測試方法。如圖8所示，此系統(tǒng)包含一資料輸入器21、一像素選擇器23、一信號(hào)擷取器25及一信號(hào)分析器27。資料輸入器21透過一連接器(connector)31，與輸入襯墊13相連接，用來設(shè)定并輸入資料信號(hào)15的數(shù)值。像素選擇器23亦透過連接器31，與輸入襯墊13相連接，用來輸入一選擇信號(hào)17，以選擇欲測試的驅(qū)動(dòng)電路11。信號(hào)擷取器25與欲測試的驅(qū)動(dòng)電路11的測試輸出端相連接，用來擷取一電流信號(hào)19。信號(hào)分析器27與信號(hào)擷取25相連接，用來分析電流信號(hào)19，以判斷此特定驅(qū)動(dòng)電路11可否正常工作。
如圖8的實(shí)施例所示，信號(hào)擷取器25為一單一測試腳，欲測試某一特定的驅(qū)動(dòng)電路11，便移動(dòng)至該特定驅(qū)動(dòng)電路11的測試輸出端。圖9為另一實(shí)施例，如圖9所示，信號(hào)擷取器25具有數(shù)個(gè)測試腳，可用來測試一整列的驅(qū)動(dòng)電路11。此外，信號(hào)擷取器25亦可設(shè)計(jì)為一測試腳矩陣，測試時(shí)所有驅(qū)動(dòng)電路的測試輸出端皆有一測試腳與之連接，因此不需移動(dòng)信號(hào)擷取器25，便能測試所有的驅(qū)動(dòng)電路，以節(jié)省測試的時(shí)間。
以上的敘述僅為說明本發(fā)明的精神，不應(yīng)以此做為限制。熟此技藝者可在不超越申請(qǐng)專利范圍所涵蓋的范疇下，作適當(dāng)?shù)淖兓?br> 權(quán)利要求
1.一種測試AMOLED驅(qū)動(dòng)電路的方法，是在鍍上一有機(jī)發(fā)光二極管之前測試一主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器的N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路的方法，其特征在于，該主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器包含一輸入襯墊，用以輸入一選擇信號(hào)及一資料信號(hào)；一寫入掃描線，根據(jù)該選擇信號(hào)，致能欲測試的一驅(qū)動(dòng)電路；以及一數(shù)據(jù)線，用以將該數(shù)據(jù)信號(hào)值傳送至欲測試的該驅(qū)動(dòng)電路；該驅(qū)動(dòng)電路包含一第一晶體管以及一第二晶體管，各包含一源極、一閘極以及一汲極；其中，該第一晶體管的源極或汲極連接至該資料線，該第一晶體管的閘極連接至該寫入掃描線，該第二晶體管的源極或汲極作為一測試輸出端，在鍍上該有機(jī)發(fā)光二極管的后，該汲極連接至該有機(jī)發(fā)光二極管；此方法包含下列步驟重復(fù)以下步驟，直到該N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路都測試完畢為止；經(jīng)由該輸入襯墊，設(shè)定該資料信號(hào)的一數(shù)值；經(jīng)由該輸入襯墊，設(shè)定該選擇信號(hào)的一數(shù)值；于該測試輸出端擷取一電流信號(hào)；以及分析該電流信號(hào)，以判斷欲測試的該驅(qū)動(dòng)電路可否正常工作。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該設(shè)定該資料信號(hào)的一數(shù)值的步驟中，該數(shù)值系為一電壓值，且范圍介于7V～10V。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中該判斷欲測試的該驅(qū)動(dòng)電路可否正常工作的步驟中，當(dāng)該電流信號(hào)的范圍介于20μA～0.002μA時(shí)，即表示該特定驅(qū)動(dòng)電路可正常工作。
4.一種測試AMOLED驅(qū)動(dòng)電路的系統(tǒng)，是在鍍上一有機(jī)發(fā)光二極管之前測試一主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器的N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路的系統(tǒng)，其特征在于，該主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器包含一輸入襯墊，用以輸入一選擇信號(hào)及一資料信號(hào)；一寫入掃描線，根據(jù)該選擇信號(hào)，致能欲測試的一驅(qū)動(dòng)電路；以及一數(shù)據(jù)線，用以將該數(shù)據(jù)信號(hào)值傳送至欲測試的該驅(qū)動(dòng)電路；該驅(qū)動(dòng)電路包含一第一晶體管以及一第二晶體管，各包含一源極、一閘極以及一汲極；其中，該第一晶體管的源極或汲極連接至該資料線，該第一晶體管的閘極連接至該寫入掃描線，該第二晶體管的源極或汲極作為一測試輸出端，在鍍上該有機(jī)發(fā)光二極管的后，該汲極連接至該有機(jī)發(fā)光二極管；此系統(tǒng)包含一資料輸入器，連接至該輸入襯墊，用以設(shè)定該資料信號(hào)的一數(shù)值；一像素選擇器，連接至該輸入襯墊，用以設(shè)定該選擇信號(hào)的一數(shù)值；一信號(hào)擷取器，連接至該測試輸出端，用以擷取一電流信號(hào)；以及一信號(hào)分析器，連接至該信號(hào)擷取器，用以分析該電流信號(hào)，以判斷欲測試的該驅(qū)動(dòng)電路可否正常工作。
全文摘要
本發(fā)明提供一種方法及系統(tǒng)，是在鍍上有機(jī)發(fā)光二極管前，測試一主動(dòng)式有機(jī)發(fā)光顯示器的N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路。驅(qū)動(dòng)電路原本連接至有機(jī)發(fā)光二極管的一端做為測試輸出端。本發(fā)明的方法及系統(tǒng)是先選擇欲測試的一驅(qū)動(dòng)電路，由此驅(qū)動(dòng)電路的測試輸出端擷取并分析一電流信號(hào)，以判斷此驅(qū)動(dòng)電路可否正常工作。依照此方式將所有驅(qū)動(dòng)電路測試完畢。
文檔編號(hào)H05B33/02GK1494358SQ02150320
公開日2004年5月5日 申請(qǐng)日期2002年11月1日 優(yōu)先權(quán)日2002年11月1日
發(fā)明者石安, 石 安 申請(qǐng)人:統(tǒng)寶光電股份有限公司