專利名稱：可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子元件測試裝置，特別涉及一種往復(fù)移載待測電子元件的移 載裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今電子元件正積極朝向小巧輕薄的小體積微接點發(fā)展，因此小體積微接 點的電子元件置入在測試座內(nèi)的精準(zhǔn)度要求相當(dāng)高，若精準(zhǔn)度稍有偏差，即使 得電子元件與測試座無法作有效的電性接觸，而降低測試的品質(zhì)。
請參閱圖1、圖2、圖3,其是本發(fā)明人申請的中國臺灣專利申請第93110783 號IC檢測裝置(二)專利案，所述的檢測裝置包含有測試臺10、第一、二取料機 構(gòu)20、 30以及入、出料機構(gòu)40、 50，其中，所述的測試臺IO的兩側(cè)設(shè)有第一、 二取料機構(gòu)20 、 30，各取料機構(gòu)均設(shè)有相互組裝的橫移結(jié)構(gòu)以及升降結(jié)構(gòu)，各 橫移結(jié)構(gòu)是在機架上設(shè)有橫向滑軌21、 31以及橫向螺桿22、 32，而橫向螺桿 22、 32由馬達23、 33驅(qū)動， 一具有螺套241、 341以及橫向滑座242、 342的滑 動件24、 34，是滑置且螺合在橫向滑軌21、 31以及橫向螺桿22、 32上，并在 另面設(shè)有縱向滑座243、 343,而升降結(jié)構(gòu)是在一底面具吸嘴的取料器25、 35側(cè) 面設(shè)有縱向滑軌251、 351，以滑置在滑動件24、 34的縱向滑座243、 343中， 所述的橫移結(jié)構(gòu)另在取料器25、 35的頂面設(shè)有一橫向滑座252、 352,以滑置在 一支架26、 36的橫向滑軌261、 361上，而升降結(jié)構(gòu)并在所述的支架26、 36的 另面設(shè)有二縱向滑座262、 362以及一螺套263、 363,以分別組裝在機架的縱向 滑軌27、 37以及縱向螺桿28、 38上，而縱向螺桿28、 38由一馬達29、 39驅(qū) 動，進而當(dāng)各橫移結(jié)構(gòu)的馬達23、 33驅(qū)動橫向螺桿22、 32時，即帶動滑動件 24、 34的橫向滑座242、 342以及取料器25、 35的橫向滑座252、 352,在機架 的橫向滑軌21、 31以及支架26、 36的橫向滑軌261、 361上作X方向往復(fù)位移， 而當(dāng)各升降結(jié)構(gòu)的馬達29、 39驅(qū)動縱向螺桿28、 38時，即帶動支架26、 36的 縱向滑座262、 262以及取料器25、 35的縱向滑軌251、 351，在機架的縱向滑
4軌27、 37以及滑動件24、 34的縱向滑座243、 343上作Z方向往復(fù)位移，另所 述的入料機構(gòu)40以及出料機構(gòu)50是分別設(shè)在測試臺IO的前、后方，各設(shè)有一 具載臺41、 51的載臺結(jié)構(gòu)，用來載送IC,以及一具有吸嘴42、 52的取放結(jié) 構(gòu)，用來取放I C ;所述的入料機構(gòu)40的吸嘴42是將待測I C放置在載臺41 上，以載臺41載送至第一取料機構(gòu)20的取料器25下方，所述的第一取料機構(gòu) 20令取料器25的吸嘴在載臺41上吸取I C ，并置入在測試臺10中進行測試作 業(yè)，而載臺41再反向位移復(fù)位以承載下一待測I C;當(dāng)入料機構(gòu)40的載臺41 再載送另一待測I C至測試臺10的側(cè)方時，第二取料機構(gòu)30的取料器35作X 方向位移，令取料器35位于入料機構(gòu)40的載臺41上吸取待測I C ，當(dāng)?shù)谝蝗?料機構(gòu)20的I C檢測完畢后，即帶動取料器25橫向位移至出料機構(gòu)50的載臺 51上方，并令取料器25下降將I C放置在載臺51上送出，在此同時，第二取 料機構(gòu)30的取料器35作X - Z方向位移，將取料器35上另一待測I C置入在 測試臺IO中進行測試作業(yè)，當(dāng)?shù)诙×蠙C構(gòu)30的I C作測試時，所述的第一 取料機構(gòu)20的取料器25即反向位移作動，而再次在入料機構(gòu)40的載臺41上 吸附又一待測I C ,當(dāng)?shù)诙×蠙C構(gòu)30的取料器35將測試完的I C放置在出 料機構(gòu)50的載臺51上送出時，第一取料機構(gòu)20即可將待測I C置入在測試臺 IO中進行測試，而憑借第一、二取料機構(gòu)20、 30依序迅速載送I C進行測試作 業(yè)。
然而，基于小體積微接點的電子元件與測試座間的高精準(zhǔn)度對位要求，相 對地，檢測裝置也必須具備有可對電子元件作高精度調(diào)整位移的效用，但習(xí)式 第一、二取料機構(gòu)20、 30的取料器25、 35僅能以X - Z兩軸向位移將I C置 入在測試臺10中進行測試作業(yè)，并無法作高精度的位移調(diào)整，導(dǎo)致很難以高精 確的準(zhǔn)度將小體積的電子元件置入在測試臺內(nèi)，使得電子元件與測試臺無法作 有效的電性接觸，造成所述的檢測裝置無法應(yīng)用于小體積電子元件的測試作業(yè)； 此外，由于取料器25、 35在X - Y平面上僅能作X軸向的位移調(diào)整，因此IC 與測試臺10間的對位即便產(chǎn)生誤差，也無法Y軸向的補償校正，而無法提供完 整的校正功能。
有鑒于此，本發(fā)明人為因應(yīng)小體積電子元件的發(fā)展趨勢，是研創(chuàng)出一種可 使供料載具承載電子元件位移至取像機構(gòu)處取像，并對電子元件作位置以及角 度補償校正，不僅可精準(zhǔn)將電子元件置入執(zhí)行測試作業(yè)而提升檢測品質(zhì)，并可 節(jié)省設(shè)備成本的移載裝置，此即為本發(fā)明的設(shè)計宗旨。

發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種可使電子元件精準(zhǔn)對 位的移載裝置，以有效提升檢測品質(zhì)。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明釆用的技術(shù)方案包括
一種可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，是設(shè)在機臺的作業(yè)區(qū)上，其包含 有測試站、供料載具、收料載具、移載取放器以及取像機構(gòu)，供料載具是承置 有待測的電子元件，而移載取放器是將待測電子元件移載以及置入在測試站， 并將完測電子元件移載至收料載具；其特征在于所述的供料載具是設(shè)有可作 位置補償校正的承座，所述的承座是承置待測的電子元件，并使電子元件位于 取像機構(gòu)處取像，而經(jīng)由中央控制器的比對運算后，命令供料載具的承座作位 置補償校正，以供移載取放器吸取移載置電子元件。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案還包括
一種可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，是設(shè)在機臺的作業(yè)區(qū)上，其包含
有
至少一測試站是供待測的電子元件移入，以執(zhí)行電子元件的測試作業(yè)； 取像機構(gòu)是設(shè)在測試站的側(cè)方，其并可連接信號至中央控制器； 供料載具是位于測試站的一側(cè)，并設(shè)有可作二軸向位置補償校正的承座，
所述的承座是承置待測的電子元件，并使電子元件位于取像機構(gòu)處取像； 第一收料載具是位于測試站的一側(cè)，并可承置完測的電子元件； 第二收料載具是位于測試站的另一側(cè)，并可承置完測的電子元件； 第一移載取放器是架置在測試站上方的機架，以移載電子元件執(zhí)行作業(yè)； 第二移載取放器是架置在測試站上方的機架，以移載電子元件執(zhí)行作業(yè)。 與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明具有的有益效果是節(jié)省設(shè)備成本、有效提升
斗全測品質(zhì)。


圖1是臺灣專利申請第93110783號IC檢測裝置(二)專利案的配置示意圖； 圖2是臺灣專利申請第93110783號IC檢測裝置(二)專利案第一取料機構(gòu)的 示意圖3是臺灣專利申請第93110783號IC檢測裝置(二)專利案第二取料機構(gòu)的 示意6圖4本發(fā)明配置在測試分類機的配置示意圖5本發(fā)明的架構(gòu)圖6本發(fā)明移載的動作示意圖(一)；
圖7本發(fā)明移載的動作示意圖(二)；
圖8本發(fā)明圖7的使用側(cè)視圖9本發(fā)明移載的動作示意圖(三)；
圖10本發(fā)明圖9的使用側(cè)^L圖11本發(fā)明移載的動作示意圖(四)；
圖12本發(fā)明移載的動作示意圖(五)；
圖13本發(fā)明移載的動作示意圖(六)；
圖14本發(fā)明移載的動作示意圖(七)；
圖15本發(fā)明另一供料載具的結(jié)構(gòu)示意圖16本發(fā)明另一供料載具的使用動作示意圖(一)；
圖17本發(fā)明另一供料載具的使用動作示意圖(二)；
圖18本發(fā)明另一供料載具的使用動作示意圖(三)；
圖19本發(fā)明另一供料載具的使用動作示意圖(四)。
附圖標(biāo)記說明10-測試臺；20-第一取料機構(gòu)；21-橫向滑軌；22-橫向螺桿； 23-馬達；24-滑動件；241-螺套；242-橫向滑座；243-縱向滑座；25-取料器；251-縱向滑軌；252-橫向滑座；253-下壓取置頭；26-支架；261-橫向滑軌；262-縱向 滑座；263-螺套；27-縱向滑軌；28-縱向螺桿；29-馬達；30-第二取料機構(gòu)；31-橫向滑軌；32-橫向螺桿；33-馬達；34-滑動件；341-螺套；342-橫向滑座；343-縱向滑座；35-取料器；351-縱向滑軌；352-橫向滑座；353-下壓取置頭；36-支 架；361-橫向滑軌；362-縱向滑座；363-螺套；37-縱向滑軌；38-縱向螺桿；39-馬達；40-入料機構(gòu)；41-載臺；42-取置頭；50-出料機構(gòu)；51-載臺；52-取置頭； 60-供料裝置；70-輸入端輸送裝置；80-作業(yè)區(qū)；81-供料載具；811-承座；812-調(diào)整件；813-調(diào)整件；814-調(diào)整件；815-滑軌組；82-第一收料載具；83-第二收 料載具；84-測試站；85-取像機構(gòu)；86-第一移載取放器；861-滑軌組；862-取置 頭；87-第二移載取放器；871-滑軌組；872-取置頭；90-輸出端輸送裝置；100-收料裝置；110-電子元件；lll-電子元件；112-電子元件；113-電子元件。
具體實施例方式
7為使貴審查委員對本發(fā)明有進一步的深入了解，茲例舉一較佳實施例，并 配合圖式說明如后
請參閱圖4，本發(fā)明配置在測試分類機使用時，所述的測試分類機的機臺上
是包括有供料裝置60、輸入端輸送裝置70、作業(yè)區(qū)80、輸出端輸送裝置90以 及收料裝置100;輸入端輸送裝置70是將供料裝置60上待測的電子元件分別輸 送至作業(yè)區(qū)80內(nèi)的供料載具81，作業(yè)區(qū)80內(nèi)的第一、第二收料載具82、 83上 完測的電子元件，則依據(jù)檢測結(jié)果由輸出端輸送裝置90輸送至收料裝置IOO分 類》文置。
請參閱圖5，本發(fā)明的作業(yè)區(qū)80包括有測試站84、取像機構(gòu)85、位于測試 站84 —側(cè)的第一收料載具82、位于測試站84另一側(cè)的供料載具81以及第二收 料載具83、第一移載取放器86以及第二移載取放器87;其中，所述的供料載 具81的上方是設(shè)有數(shù)個底面具鏤空孔且用來承置待測電子元件的承座811,各 承座811是配置有數(shù)個可為伺服馬達且呈不同軸向設(shè)置的調(diào)整件812、 813、 814, 而可利用調(diào)整件812、 813、 814驅(qū)動 K座811作X-Y兩軸向以及0角的位移， 而供料載具81的下方則設(shè)有滑軌組815,而可在作業(yè)區(qū)80的供料處供輸入端輸 送裝置將待測電子元件置入在各承座811上后，利用滑軌組815將待測電子元 件移載至取像機構(gòu)85處取像，并以各調(diào)整件812、 813、 814驅(qū)動承座811作 X-Y兩軸向以及0角的補償校正，而可精確調(diào)整待測電子元件的擺置，另所述 的第一、二收料載具82、 83則供承置完測的電子元件，所述的第一、二收料載 具82、 83是以固定的方式定位于相對測試站84的相關(guān)位置，以供第一、二移 載取放器86、 87以及輸出端輸送裝置進行收料作業(yè)，或以各自獨立左右往復(fù)滑 動的方式，定位于相對測試站84的相關(guān)位置，以供第一、二移載取放器86、 87 以及輸出端輸送裝置進行收料作業(yè)，又所述的平行位于供料載具81側(cè)方的取像 機構(gòu)85,是可為CCD取像器，并設(shè)置在機臺的透明臺板下方，且以線路連接信 號至中央控制器，以提供供料載具81移載電子元件至取像機構(gòu)85處取像，再 者，第一、二移載取j改器86、 87是分別以滑軌組861、 871架置在測試站84上 方的機架，而可分別作二軸向(X-Y)的滑移作動，并設(shè)有可升降作動的取置頭 862、 872,進而第一、二移載取放器86、 87可利用滑軌組861、 871以及取置 頭862、 872移載待測電子元件至取像機構(gòu)85取像，并將待測電子元件準(zhǔn)確移 載置入在測試站84進行測試作業(yè)。
請參閱圖6，本發(fā)明的電子元件在作業(yè)區(qū)80執(zhí)行測試作業(yè)時，其第二移載取放器87的取置頭872是位于測試站84上方壓抵電子元件110執(zhí)行測試作業(yè)， 同時，所述的供料載具81的各承座811則位于作業(yè)區(qū)80的供料處以承置待測 的電子元件111;請參閱圖7、圖8,所述的供料載具81各承座811承載待測的 電子元件111后，是以滑軌組815載送待測的電子元件111至取像機構(gòu)85的上 方，所述的取像機構(gòu)85是由機臺下方向上對供料載具81各承座811上待測的 電子元件lll取像，并將取像信號傳輸至中央控制器，且經(jīng)由中央控制器的比 對，而運算出其偏差量，進而命令供料載具81的各承座811作位置或角度的補 償校正，所述的供料載具81的各承座811即利用配置的調(diào)整件812、 813、 814 驅(qū)動作X-Y兩軸向以及P角的補償校正，使電子元件111精準(zhǔn)正確擺置，以供 第一移載取放器86取出；請參閱圖9、圖10,當(dāng)供料載具81的各承座811調(diào) 整電子元件111位置完畢后，第一移載取放器86是利用滑軌組861帶動取置頭 862位移至供料載具81的上方，并使取置頭862下降吸附貼置在待測的電子元 件111上，又為確認取置頭862貼置在待測的電子元件111時，其待測的電子 元件111是否產(chǎn)生位置偏移，是以取像機構(gòu)85再次對承座811上待測的電子元 件111取像，并將取像信號傳輸至中央控制器，經(jīng)由中央控制器進行比對，若 岸義座811上^f寺測的電子元件111仍有位置偏差時，其處理方式有二種，第一種 方式是可控制第一移載取放器86釋放電子元件111,并控制承座811作X-Y兩 軸向以及0角的補償校正，使電子元件111精準(zhǔn)正確擺置，第二種方式則為發(fā) 出警報，而通知工作人員處理；請參閱圖ll，當(dāng)電子元件IIO完成測試后，第 二移載取放器87的取置頭872將完測的電子元件IIO移載至第二收料載具83 放置，以供輸出端輸送裝置依據(jù)測試結(jié)果輸送至收料裝置分類放置，同時，第 一移載取放器86的取置頭862是可準(zhǔn)確將電子元件111移載置入在測試站84 上，并以取置頭862下壓壓抵電子元件111執(zhí)行4企測作業(yè)，此時供料載具81是 反向復(fù)位至作業(yè)區(qū)80的供料處，以供輸入端輸送裝置置入下一組待測的電子元 件112;請參閱圖12,當(dāng)供料載具81各承座811承載待測的電子元件112后， 也將電子元件112載送至取像機構(gòu)85的上方，所述的取像機構(gòu)85即對供料載 具81各承座811上的電子元件112取像，并將取像信號傳輸至中央控制器，經(jīng) 由中央控制器的比對，而運算出其偏差量，進而命令供料載具81的各承座811 作位置或角度的補償校正；請參閱圖13，當(dāng)供料載具81的各承座811完成位置 或角度的補償校正后，所述的第二移載取放器87是位移至供料載具81的上方， 并在取置頭872吸附貼置在承座811上的電子元件112時，所述的取像機構(gòu)85即再次對承座811的電子元件112取像，并將取像信號傳輸至中央控制器進行
比對，若承座811上待測的電子元件112仍有位置偏差時，是可控制第一移載 取放器87釋放電子元件112,并控制承座811作X-Y兩軸向以及0角的補償才i 正，使電子元件112精準(zhǔn)正確擺置，也或發(fā)出警報而通知工作人員處理；請參 閱圖14,當(dāng)電子元件111完成測試后，第一移載取^L器86的取置頭862將完測 的電子元件111移載至第一收料載具82放置，以供輸出端輸送裝置依據(jù)測試結(jié) 果輸送至收料裝置分類放置，同時，第二移載取放器87是準(zhǔn)確將電子元件112 移載置入在測試站84上，并以取置頭872下壓壓抵電子元件112執(zhí)行4全測作業(yè)， 此時供料載具81是反向復(fù)位至作業(yè)區(qū)80的供料處，以供輸入端輸送裝置置入 下一組待測的電子元件113，因此，所述的供料載具81可往復(fù)在供料處承置待 測的電子元件，并將電子元件移載至取像機構(gòu)85取像，且在調(diào)整電子元件位置 完畢后，可供第一移載取放器86以及第二移載取放器87依序取出以及移載電 子元件至測試站85執(zhí)行4全測作業(yè)。
請參閱圖15,是本發(fā)明供料載具81的另一實施例，所述的作業(yè)區(qū)80的供 料處也可設(shè)置數(shù)個具單一承座811的供料載具81,各承座811是配置有數(shù)個可 為伺服馬達且呈不同軸向設(shè)置的調(diào)整件812、 813、 814，用來驅(qū)動承座811作 X-Y兩軸向以及6角的位移，而各供料載具81的下方則設(shè)有滑軌組815，而可 利用各滑軌組815同步帶動各供料載具81以及承座811在作業(yè)區(qū)80的供料處 以及取像機構(gòu)85間往復(fù)位移；請參閱圖16,當(dāng)?shù)诙戚d耳又放器87的取置頭872 是位于測試站84上方壓抵電子元件110執(zhí)行測試作業(yè)，同時，各供料載具81 的承座811是可利用滑軌組815載送待測的電子元件111至取像機構(gòu)85處取像， 所述的取像機構(gòu)85是將取像信號傳輸至中央控制器，且經(jīng)由中央控制器的比對， 而運算出其偏差量，進而命令各供料載具81的承座811作位置或角度的補償校 正，各供料載具81的承座811即作X-Y兩軸向以及0角的補償校正，使電子元 件lll精準(zhǔn)擺置正確，以供第一移載取放器86取出；請參閱圖17，當(dāng)各供料載 具81的承座811調(diào)整電子元件111位置完畢后，第一移載取放器86是利用滑 軌組861帶動取置頭862位移至供料載具81的上方，并使取置頭862下降吸附 貼置在待測的電子元件111上，又為確iUf又置頭862貼置在待測的電子元件111 時，其待測的電子元件111是否產(chǎn)生位置偏移，是以取像才幾構(gòu)85再次對承座811 上待測的電子元件111取像，并將取像信號傳輸至中央控制器，經(jīng)由中央控制 器進行比對，若承座811上待測的電子元件111仍有位置偏差時，其處理方式
10有二種，第一種方式是可控制第一移載取放器86釋放電子元件111，并控制承
座811作X-Y兩軸向以及0角的補償校正，使電子元件111精準(zhǔn)正確擺置，第 二種方式則為發(fā)出警報，而通知工作人員處理；請參閱圖18,當(dāng)電子元件110 完成測試后，第二移載取放器87是將完測的電子元件110移載至第二收料載具 83放置，以供輸出端輸送裝置依據(jù)測試結(jié)果輸送至收料裝置分類放置，同時， 第一移載取放器86是準(zhǔn)確將電子元件111移載置入在測試站84上，并以取置 頭862下壓壓抵電子元件111執(zhí)行檢測作業(yè)，此時各供料載具81的承座811是 承載待測的電子元件112至取像機構(gòu)85處取像，并4吏各供料載具81的承座811 作位置或角度的補償校正；請參閱圖19，當(dāng)電子元件111完成測試后，第一移 載取放器86是將完測的電子元件111移載至第一收料載具82放置，以供輸出 端輸送裝置依據(jù)測試結(jié)果輸送至收料裝置分類放置，同時，各供料載具81的承 座811在完成位置或角度的補償校正后，所述的第二移載取放器87是位移至供 料載具81的上方以取出承座811上的電子元件112，并準(zhǔn)確將電子元件112移 載置入在測試站84上，且以取置頭872下壓壓抵電子元件112執(zhí)行檢測作業(yè)， 此時供料載具81是反向復(fù)位至作業(yè)區(qū)80的供料處，以供輸入端輸送裝置置入 下一組待測的電子元件113，因此，各供料載具81可往復(fù)在供料處承置待測的 電子元件，并將電子元件移載至取像機構(gòu)85取像，且在調(diào)整電子元件位置完畢 后，可供第一移載取放器86以及第二移載取放器87依序取出以及移載電子元 件至測試站85執(zhí)行4企測作業(yè)。
以上說明對本發(fā)明而言只是說明性的，而非限制性的，本領(lǐng)域普通技術(shù)人 員理解，在不脫離權(quán)利要求所限定的精神和范圍的情況下，可作出許多修改、 變化或等效，但都將落入本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
1權(quán)利要求
1. 一種可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，是設(shè)在機臺的作業(yè)區(qū)上，其包含有測試站、供料載具、收料載具、移載取放器以及取像機構(gòu)，供料載具是承置有待測的電子元件，而移載取放器是將待測電子元件移載以及置入在測試站，并將完測電子元件移載至收料載具；其特征在于所述的供料載具是設(shè)有可作位置補償校正的承座，所述的承座是承置待測的電子元件，并使電子元件位于取像機構(gòu)處取像，而經(jīng)由中央控制器的比對運算后，命令供料載具的承座作位置補償校正，以供移載取放器吸取移載置電子元件。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，其特征在于 所述的供料載具是移動式供料載具，收料載具是固定式收料載具，所述的移載 取放器是設(shè)有取置頭，而可將供料載具上的電子元件移載在測試站以及收料載 具間，并下壓電子元件執(zhí)行測試作業(yè)，而取像機構(gòu)則為CCD取像器。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，其特征在于 所述的取像機構(gòu)的側(cè)方是設(shè)有 一具數(shù)個承座的供料載具，并在供料載具的下方 設(shè)有一滑軌組，用來載送供料載具至取像機構(gòu)處。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，其特征在于 所述的取像機構(gòu)的側(cè)方是設(shè)有數(shù)個具一承座的供料載具，并在各供料載具的下 方設(shè)有 一 滑軌組，用來分別載送各供料載具至取像機構(gòu)處。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，其特征在于 所述的供料載具是在承座上配置有二軸向且可為伺服馬達的調(diào)整件，以驅(qū)動承 座在X-Y平面上作X-Y兩軸向的補償校正，并在承座上配置有另一可為伺服馬 達的調(diào)整件，以驅(qū)動承座可作^角的補償校正。
6. —種可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，是設(shè)在機臺的作業(yè)區(qū)上，其包 含有至少一測試站是供待測的電子元件移入，以執(zhí)行電子元件的測試作業(yè)； 取像機構(gòu)是設(shè)在測試站的側(cè)方，其并可連接信號至中央控制器； 供料載具是位于測試站的一側(cè)，并設(shè)有可作二軸向位置補償校正的承座， 所述的承座是承置待測的電子元件，并使電子元件位于取像機構(gòu)處取像； 第一收料載具是位于測試站的一側(cè)，并可承置完測的電子元件； 第二收料載具是位于測試站的另一側(cè)，并可承置完測的電子元件；第一移載取放器是架置在測試站上方的機架，以移載電子元件執(zhí)行作業(yè); 第二移載取放器是架置在測試站上方的機架，以移載電子元件執(zhí)行作業(yè)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，其特征在于: 所述的供料載具是移動式供料載具，第一、二收料載具是固定式收料載具，所 述的第一、二移載取放器是設(shè)有取置頭，而可將供料載具上的電子元件分別移 載在測試站以及第一、二收料載具間，并下壓電子元件執(zhí)行測試作業(yè)，而取像 機構(gòu)則為CCD取像器。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，其特征在于: 所述的取像機構(gòu)的側(cè)方是設(shè)有一具數(shù)個承座的供料載具，并在供料載具的下方 設(shè)有一滑軌組，用來載送供料載具至取像機構(gòu)處。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，其特征在于: 所述的取像機構(gòu)的側(cè)方是設(shè)有數(shù)個具一承座的供料載具，并在各供料載具的下 方設(shè)有一滑軌組，用來分別載送各供料載具至取像機構(gòu)處。
10. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，其特征在 于所述的供料載具是在承座上配置有二軸向且可為伺服馬達的調(diào)整件，以驅(qū) 動承座在X-Y平面上作X-Y兩軸向的補償校正，并在承座上配置有另一可為伺 服馬達的調(diào)整件，以驅(qū)動承座可作0角的補償沖交正。
全文摘要
本發(fā)明是一種可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置，是設(shè)在機臺的作業(yè)區(qū)上，其包含有測試站、可連接信號至中央控制器的取像機構(gòu)、可位移在取像機構(gòu)上方的供料載具、位于測試站兩側(cè)的第一、二收料載具以及第一、二移載取放器；所述的供料載具是承置待測電子元件，而第一、二移載取放器是用來移載以及置入作業(yè)；所述的供料載具是設(shè)有可作位置以及角度調(diào)整的承座，并以承座在供料處承置待測電子元件，且載送至取像機構(gòu)處取像，而經(jīng)由中央控制器的比對運算后，命令供料載具的承座作位置以及角度的補償校正，而可供第一、二移載取放器精準(zhǔn)地在供料載具的承座上取出以及移載待測電子元件至測試站執(zhí)行測試作業(yè)，可節(jié)省設(shè)備成本以及有效提升檢測品質(zhì)。
文檔編號H05K13/02GK101472459SQ20071016062
公開日2009年7月1日 申請日期2007年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月26日
發(fā)明者張簡榮力, 謝旼達 申請人:鴻勁科技股份有限公司