專利名稱：防止電子元件受電磁波干擾的遮蔽結(jié)構(gòu)及電子裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型是提供一種遮蔽結(jié)構(gòu)及其相關(guān)電子裝置，尤指一種用來防止設(shè) 置于電路板上的電子元件受電磁波干擾的遮蔽結(jié)構(gòu)及其相關(guān)電子裝置。
背景技術(shù)：
一般電子裝置包含許多安裝在電路板上的電子元件與電路，其對于電磁干
擾(Electromagnetic Interference, EMI)相當(dāng)敏感。電磁干擾可能來自于內(nèi)部或外 部元件，此干擾會造成信號品質(zhì)降低或信號全部衰減，而造成電子裝置無法正 常運作。因此電磁干擾遮蔽結(jié)構(gòu)便設(shè)計來遮蔽內(nèi)部或外部元件所造成的電磁干 擾。
舉例來說，手持式電子裝置如全球衛(wèi)星定位裝置、移動電話、個人數(shù)字助 理裝置，或移動電腦等，在系統(tǒng)內(nèi)部通常存在用來遮蔽電磁干擾的遮蔽結(jié)構(gòu)。 請參閱圖l，圖1為現(xiàn)有技術(shù)一遮蔽結(jié)構(gòu)10的示意圖，遮蔽結(jié)構(gòu)10為一件式 結(jié)構(gòu)且其可為一金屬蓋板，用來包覆遮蓋一電路板12上的電子元件14，以達 到防止電磁波干擾的效果。然而遮蔽結(jié)構(gòu)IO是焊接固定在電路板12上，所以 當(dāng)受到遮蔽結(jié)構(gòu)IO遮蓋包覆于內(nèi)的電子元件14需進行更換或調(diào)整時，必須將 遮蔽結(jié)構(gòu)10與電路板12間的焊料加熱融化，方能取下遮蔽結(jié)構(gòu)10以進行電 子元件14的更換或調(diào)整，之后再重新將遮蓋結(jié)構(gòu)IO焊接在電路板12上。如 此一來，不僅會浪費工時與焊料，且在再度熱熔焊料的過程中有可能會對電路 板12上鄰近的電子元件造成損壞。
為了改善上述的缺點，兩件式遮蔽結(jié)構(gòu)的設(shè)計便應(yīng)運而生。請參閱圖2， 圖2為現(xiàn)有技術(shù)另一遮蔽結(jié)構(gòu)30的外觀示意圖，遮蔽結(jié)構(gòu)30包含有一底座32， 以及一上蓋34，底座32與上蓋34皆可由金屬材質(zhì)所組成。底座32固定在一 電路板36上，且上蓋34是以可分離的方式結(jié)合于底座32，其是用來包覆遮蓋 電路板36上的電子元件38，以達到防止電磁波干擾的效果。請參閱圖3，圖3
為現(xiàn)有技術(shù)遮蔽結(jié)構(gòu)30的底座32的側(cè)視圖，此兩件式結(jié)構(gòu)的做法雖然可改善 一件式結(jié)構(gòu)的拆裝問題，但因為現(xiàn)今金屬件加工技術(shù)的限制，使得底座32除 了底部與電路板36焊接的部份外(垂直部)，還多出了水平的延展部份，其水平 延展的部份會遮蔽其下方的電子元件38，這種遮蔽雖然對電子元件38或系統(tǒng) 本身不會造成任何影響，但在產(chǎn)品在半成品階段進行測試時，如自動光學(xué)檢測 (Auto Optical Inspection, AOI)或電路內(nèi)測試時((In-Circuit Testing, ICT)，便會影 響測試設(shè)備檢測的結(jié)果，造成可測率低落。舉例來說，由于自動光學(xué)檢測設(shè)備 是利用LED光源將光投射在電路板36上的電子元件38(如RLC元件或IC等)， 再以攝影機進行拍攝，以達到檢查缺件及元件位移等情形，但底座32的水平 延展部分會將LED的光線遮住，且攝影機也無法對其下方的元件進行拍攝，所 以降低自動光學(xué)檢測的可測率；或是對于電路內(nèi)測試而言，由于電路內(nèi)測試設(shè) 備是利用探針與電路板36上的零件腳作接觸，因此在零件的上方也需要有足 夠的空間來進行測試，但底座32的水平延展部分也同樣的阻礙了探針的測試， 因此會導(dǎo)致電路內(nèi)測試的可測率下降。所以如何設(shè)計出一工藝簡易且不會妨礙 元件測試的遮蔽結(jié)構(gòu)，便為現(xiàn)今防電磁波干擾機構(gòu)設(shè)計所需努力的課題。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型是提供一種用來防止設(shè)置于電路板上的電子元件受電磁波干 擾的遮蔽結(jié)構(gòu)及其相關(guān)電子裝置，以解決上述的問題。
本實用新型的申請專利范圍是揭示一種遮蔽結(jié)構(gòu)，用來防止設(shè)置于一電路 板上的一電子元件受電磁波干擾，該遮蔽結(jié)構(gòu)包含有一框座，設(shè)置于該電路板 上且框圍于該電子元件，該框座上設(shè)有至少一定位件。該遮蔽結(jié)構(gòu)還包含有一 遮蓋，用來蓋設(shè)于該框座上以遮蔽該電子元件，該蓋體上設(shè)有至少一孔洞，用 來卡合該框座的該定位件。
本實用新型的申請專利范圍是還揭示一種遮蔽結(jié)構(gòu)，用來防止設(shè)置于一電 路板上的一電子元件受電磁波干擾，該遮蔽結(jié)構(gòu)包含有一框座，設(shè)置于該電路 板上且框圍于該電子元件，該框座上設(shè)有至少一孔洞。該遮蔽結(jié)構(gòu)還包含有一 遮蓋，用來蓋設(shè)于該框座上以遮蔽該電子元件，該蓋體上設(shè)有至少一定位件， 用來卡合于該框座的該孔洞內(nèi)。
本實用新型的申請專利范圍還揭示一種可防電磁波干擾的電子裝置，其包 含有一電路板，其可供設(shè)置一電子元件，以及一遮蔽結(jié)構(gòu)，用來遮蔽該電路板 上的該電子元件，以防止該電子元件受電磁波干擾，該遮蔽結(jié)構(gòu)包含有一框座， 設(shè)置于該電路板上且框圍于該電子元件，該框座上設(shè)有至少一定位件。該遮蔽 結(jié)構(gòu)還包含有一遮蓋，用來蓋設(shè)于該框座上以遮蔽該電子元件，該蓋體上設(shè)有 至少一孔洞，用來卡合該框座的該定位件。
本實用新型的申請專利范圍是還揭示一種可防電磁波干擾的電子裝置，其 包含有一電路板，其可供設(shè)置一電子元件，以及一遮蔽結(jié)構(gòu)，用來遮蔽該電路 板上的該電子元件，以防止該電子元件受電磁波干擾，該遮蔽結(jié)構(gòu)包含有一框 座，設(shè)置于該電路板上且框圍于該電子元件，該框座上設(shè)有至少一孔洞。該遮 蔽結(jié)構(gòu)還包含有一遮蓋，用來蓋設(shè)于該框座上以遮蔽該電子元件，該蓋體上設(shè) 有至少一定位件，用來卡合于該框座的該孔洞內(nèi)。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)遮蔽結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖2為現(xiàn)有技術(shù)另一遮蔽結(jié)構(gòu)的外觀示意圖。
圖3為現(xiàn)有技術(shù)遮蔽結(jié)構(gòu)的底座的側(cè)視圖。
圖4為本實用新型第一實施例電子裝置的元件爆炸圖。 圖5為本實用新型對電子元件進行檢測的示意圖。 圖6為本實用新型電子裝置的組裝圖。 圖7為本實用新型第二實施例電子裝置的元件爆炸圖。
主要元件符號說明:
10 遮蔽結(jié)構(gòu)
14 電子元件
30 遮蔽結(jié)構(gòu)
34 上蓋
38 電子元件
12 電路板
32 底座 36 電路板50電子裝置52電路板
54電子元件56遮蔽結(jié)構(gòu)
58框座60定位件
62蓋64蓋體
66外緣68孑L洞
100電子裝置102遮蔽結(jié)構(gòu)
104框座106孔洞
108蓋..110蓋體
112外緣114定位件
說明書第4/6頁
具體實施方式
請參閱圖4，圖4為本實用新型第一實施例一種可防電磁波干擾的電子裝 置50的元件爆炸圖，電子裝置50包含有一電路板52，其可為一印刷電路板， 且其上是設(shè)有多個電子元件54(如RLC元件或IC等)，電子裝置50還包含有一 遮蔽結(jié)構(gòu)56，用來遮蔽電路板52上的電子元件54，以防止電子元件54受電 磁波干擾。遮蔽結(jié)構(gòu)56包含有一框座58，設(shè)置于電路板52上且框圍于電子元 件54，框座58可為一中空水平金屬片，框座58上設(shè)有至少一定位件60，定 位件60可為一凸出件，如卡榫或銷(pin)等。遮蔽結(jié)構(gòu)56還包含有一遮蓋62， 用來蓋設(shè)于框座58上以遮蔽電子元件54，遮蓋62可由金屬材質(zhì)所組成，遮蓋 62包含有一蓋體64，其內(nèi)形成有一中空容室，且遮蓋62還包含有一外緣66， 其延伸于蓋體64，外緣66上形成有至少一孔洞68，其是分別設(shè)置于相對應(yīng)框 座58的定位件60的位置，當(dāng)遮蓋62組裝于框座58上時，框座58的定位件 60是分別卡合于遮蓋62的孔洞68內(nèi)。
請參閱圖5，圖5為本實用新型對電子元件54進行檢測的示意圖，框座 58可以焊接或其他方式平貼固定于電路板52上，由于框座58為一水平金屬片， 意即沒有90度的彎折，所以不會有遮蔽電子元件54的疑慮。當(dāng)電子裝置50 在半成品階段進行測試(如自動光學(xué)檢測或電路內(nèi)測試)時，可先不將遮蓋62組 裝結(jié)合于框座58，待檢測完畢后再將遮蓋62卡合于框座58。由于自動光學(xué)檢 測設(shè)備是利用LED光源將光投射在電路板52上的電子元件54(如RLC元件或
IC等)，再以攝影機進行拍攝，以達到檢查缺件及元件位移等情形，此時框座
58便不會將LED的光線遮住，且攝影機也可以對其下方的元件進行拍攝，所 以有效地提升自動光學(xué)檢測的可測率；或是對于電路內(nèi)測試而言，由于電路內(nèi) 測試設(shè)備是利用探針與電路板52上電子元件54的零件腳作接觸，因此在零件 的上方也需要有足夠的空間來進行測試，由于框座58并無水平延伸部分，所 以不會阻礙探針的測試，因而有效地提升電路內(nèi)測試的可測率。
請參閱圖6，圖6為本實用新型電子裝置50的組裝圖，當(dāng)電子裝置50進 行測試完畢后，可將框座58的定位件60分別卡合于遮蓋62的孔洞68內(nèi)，以 將遮蓋62固定組裝于框座58上，如此一來遮蓋62便可用來遮蔽電路板52上 的電子元件54，以防止電子元件54受電磁波干擾。而當(dāng)受到遮蓋62遮蓋包覆 于內(nèi)的電子元件54需進行更換或調(diào)整時，則可直接將定位件60由孔洞68中 拔出，以取下遮蓋62以進行電子元件54的更換或調(diào)整，之后再重新將遮蓋62 組裝于框座58上。所以本實用新型遮蔽結(jié)構(gòu)56的設(shè)計可大大降低組裝工時與 復(fù)雜度，且不會浪費焊料以及避免焊接對電路板52上鄰近的電子元件造成損 壞。
此外，上述遮蔽結(jié)構(gòu)56中框座58的定位件60(公件)與遮蓋62的孔洞68(母 件)的設(shè)置位置也可調(diào)換，請參閱圖7，圖7為本實用新型第二實施例一種可防 電磁波干擾的電子裝置IOO的元件爆炸圖，與前述實施例不同之處為電子裝置 IOO還包含一遮蔽結(jié)構(gòu)102，其包含有一框座104，設(shè)置于電路板52上且框圍 于電子元件54，框座104可為一中空水平金屬片，框座104上設(shè)有至少一孔洞 106。遮蔽結(jié)構(gòu)102還包含有一遮蓋108，用來蓋設(shè)于框座104上以遮蔽電子元 件54，遮蓋108可由金屬材質(zhì)所組成，遮蓋108包含有一蓋體110，其內(nèi)形成 有一中空容室，且遮蓋IIO還包含有一外緣112，其延伸于蓋體IIO，外緣112 上形成有至少一定位件114，其可為一凸出件，如卡榫或銷(pin)等，且分別設(shè) 置于相對應(yīng)框座104的孔洞106的位置，當(dāng)遮蓋IIO組裝于框座104上時，遮 蓋110的定位件114分別卡合于框座104的孔洞106內(nèi)。而第二實施例的作用 原理相同于第一實施例，所以于此不再詳述。
相較于現(xiàn)有技術(shù)，本實用新型用來防止電磁波干擾的遮蔽結(jié)構(gòu)及電子裝置 可改善現(xiàn)有技術(shù)一件式遮蔽結(jié)構(gòu)的焊接拆裝問題，且也可改善現(xiàn)有技術(shù)兩件式
遮蔽結(jié)構(gòu)因為水平延展部分遮蔽電子元件而妨礙元件測試的問題，所以本實用 新型是提供一種工藝與組裝簡易且可增加元件測試可測率的遮蔽結(jié)構(gòu)。
以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，凡依本實用新型權(quán)利要求范圍所 做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本實用新型專利的涵蓋范圍。
權(quán)利要求1.一種遮蔽結(jié)構(gòu)，用來防止設(shè)置于一電路板上的一電子元件受電磁波干擾，其特征在于，所述遮蔽結(jié)構(gòu)包含有一框座，設(shè)置于所述電路板上且框圍于所述電子元件，所述框座上設(shè)有至少一定位件；以及一遮蓋，用來蓋設(shè)于所述框座上以遮蔽所述電子元件，所述蓋體上設(shè)有至少一孔洞，用來卡合所述框座的所述定位件。
2. 如權(quán)利要求1所述的遮蔽結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述框座為一水平金屬片。
3. 如權(quán)利要求l所述的遮蔽結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述框座的所述定位件為一卡榫。
4. 如權(quán)利要求1所述的遮蔽結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述遮蓋包含有； 一蓋體，所述蓋體內(nèi)形成有一中空容室；以及一外緣，所述外緣延伸于所述蓋體，所述孔洞設(shè)置于所述外緣上。
5. 如權(quán)利要求l所述的遮蔽結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述遮蓋是由金屬材質(zhì)所 組成。
6. —種遮蔽結(jié)構(gòu)，用來防止設(shè)置于一電路板上的一電子元件受電磁波干 擾，其特征在于，所述遮蔽結(jié)構(gòu)包含有一框座，設(shè)置于所述電路板上且框圍于所述電子元件，所述框座上設(shè) 有至少一孔洞；以及一遮蓋，用來蓋設(shè)于所述框座上以遮蔽所述電子元件，所述蓋體上設(shè) 有至少一定位件，用來卡合于所述框座的所述孔洞內(nèi)。
7. 如權(quán)利要求6所述的遮蔽結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述框座為一水平金屬片。
8. 如權(quán)利要求6所述的遮蔽結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述遮蓋的所述定位件為一卡榫。
9. 如權(quán)利要求6所述的遮蔽結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述遮蓋包含有； 一蓋體，所述蓋體內(nèi)形成有一中空容室；以及一外緣，所述外緣延伸于所述蓋體，所述定位件設(shè)置于所述外緣上。
10. 如權(quán)利要求6所述的遮蔽結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述遮蓋是由金屬材質(zhì) 所組成。
11. 一種可防電磁波干擾的電子裝置，其特征在于，包含有 一電路板，所述電路板可供設(shè)置一電子元件；以及一遮蔽結(jié)構(gòu)，用來遮蔽所述電路板上的所述電子元件，以防止所述電子元 件受電磁波干擾，所述遮蔽結(jié)構(gòu)包含有一框座，設(shè)置于所述電路板上且框圍于所述電子元件，所述框座上設(shè) 有至少一定位件；以及一遮蓋，用來蓋設(shè)于所述框座上以遮蔽所述電子元件，所述蓋體上設(shè) 有至少一孔洞，用來卡合所述框座的所述定位件。
12. 如權(quán)利要求ll所述的電子裝置，其特征在于，所述框座為一水平金屬片。
13. 如權(quán)利要求ll所述的電子裝置，其特征在于，所述框座的所述定位件 為一卡榫。
14. 如權(quán)利要求11所述的電子裝置，其特征在于，所述遮蓋包含有； 一蓋體，所述蓋體內(nèi)形成有一中空容室；以及一外緣，所述外緣延伸于所述蓋體，所述孔洞設(shè)置于所述外緣上。
15. 如權(quán)利要求11所述的電子裝置，其特征在于，所述遮蓋是由金屬材質(zhì) 所組成。
16. —種可防電磁波干擾的電子裝置，其特征在于，包含有 一電路板，所述電路板可供設(shè)置一電子元件；以及一遮蔽結(jié)構(gòu)，用來遮蔽所述電路板上的所述電子元件，以防止所述電子元 件受電磁波干擾，所述遮蔽結(jié)構(gòu)包含有一框座，設(shè)置于所述電路板上且框圍于所述電子元件，所述框座上設(shè) 有至少一孔洞；以及一遮蓋，用來蓋設(shè)于所述框座上以遮蔽所述電子元件，所述蓋體上設(shè) 有至少一定位件，用來卡合于所述框座的所述孔洞內(nèi)。
17. 如權(quán)利要求16所述的電子裝置，其特征在于，所述框座為一水平金屬片。
18. 如權(quán)利要求16所述的電子裝置，其特征在于，所述遮蓋的所述定位件為一卡榫。
19. 如權(quán)利要求16所述的電子裝置，其特征在于，所述遮蓋包含有； 一蓋體，所述蓋體內(nèi)形成有一中空容室；以及一外緣，所述外緣延伸于所述蓋體，所述定位件設(shè)置于所述外緣上。
20. 如權(quán)利要求16所述的電子裝置，其特征在于，所述遮蓋是由金屬材 質(zhì)所組成。
專利摘要本實用新型是揭示一種遮蔽結(jié)構(gòu)及其相關(guān)電子裝置，其可用來防止設(shè)置于一電路板上的一電子元件受電磁波干擾，該遮蔽結(jié)構(gòu)包含有一框座，設(shè)置于該電路板上且框圍于該電子元件，該框座上設(shè)有至少一定位件。該遮蔽結(jié)構(gòu)還包含有一遮蓋，用來蓋設(shè)于該框座上以遮蔽該電子元件，該蓋體上設(shè)有至少一孔洞，用來卡合該框座的該定位件。
文檔編號H05K1/02GK201178553SQ200820104899
公開日2009年1月7日 申請日期2008年4月15日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月15日
發(fā)明者趙健智, 鄭貴永 申請人:緯創(chuàng)資通股份有限公司