專利名稱：一種晶體生長監(jiān)測裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及到一種晶體生長監(jiān)測裝置。
背景技術：
晶體在我們日常生活中的應用越來越廣泛，而且大多數(shù)晶體都是人工合成的?，F(xiàn)有晶體的制作方法大都采用提拉法，為了確保晶體的質量，需要控制晶體在生長過程中的各種條件，而調控晶體生長條件的前提就是通過檢查晶體在生長過程中重量的變化來判斷是否需要改變晶體生長條件。原有方法都是通過人工觀察晶體的直徑變化來判斷晶體的生長情況，由于提拉法中的晶體是需要旋轉并同時上下移動的，這就對檢測人員的眼力要求很高，但是在晶體上下移動并旋轉的情況下，檢測人員還是很難判斷晶體的直徑變化，很容易是檢測人員發(fā)生眩暈。這樣生產出來的晶體就很難保證其質量。

發(fā)明內容
本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種自動監(jiān)測晶體質量變化的晶體生長監(jiān)測
直ο為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的技術方案為一種晶體生長監(jiān)測裝置，包括支架和設置在支架內的提升軸、支架內頂端設置有稱重傳感器，所述稱重傳感器的下端固定設置有基座，基座內轉動設置有從動吊裝裝置，從動吊裝裝置的上端位于基座內，其下端伸出基座，提升軸的上端固定設置在從動吊裝裝置下端內，提升軸上套設有傳動套，且傳動套的上端位于從動吊裝裝置下端外側，且傳動套的上端與從動吊裝裝置的下端之間通過彈性裝置連接，傳動套的下端從支架中穿出并于位于支架外部的驅動傳動套轉動的驅動裝置相連，提升軸的下端也從支架內穿出。所述彈性裝置為環(huán)形墊片。所述環(huán)形墊片上沿其圓周方向上開設有若干個大致呈Y形的孔，該孔的三段均呈弧形，且均與環(huán)形墊片同心，遠離圓心的孔的弧形段的弧度大于靠近圓心的孔的弧形段的弧度且該兩弧形段之間半圓形過度。所述環(huán)形墊片上沿其圓周方向上開設有三個大致呈Y形的孔。所述從動吊裝裝置包括轉動設置基座內的短軸和與短軸相連的短套，短套位于基座下側。本發(fā)明的有益效果是上述結構的晶體生產控制裝置可自動監(jiān)測晶體生長時的質量變化，而且晶體的旋轉和上下移動不會影響其監(jiān)測效果。


圖1是本發(fā)明一種晶體生長監(jiān)測裝置的結構示意圖； 圖2是圖1中環(huán)形墊片的結構圖。圖中1、支架，2、提升軸，3、稱重傳感器，4、基座，5、短軸，6、短套，7、傳動套，8、環(huán)
3形墊片，9、孔。
具體實施例方式下面結合附圖，詳細描述本發(fā)明的具體實施方案。如圖1所示，本發(fā)明所述的一種晶體生長監(jiān)測裝置，包括支架1和設置在支架1內的提升軸2、支架1內頂端設置有稱重傳感器3，所述稱重傳感器3的下端固定設置有基座 4，基座4內轉動設置有從動吊裝裝置。從動吊裝裝置包括通過軸承轉動設置基座4內的短軸5和與短軸相連的短套6，短套6位于基座4下側。在實際生產時，短軸5也可跟短套6 一體成型。提升軸2的上端固定設置在短套6內。提升軸2上套設有傳動套7，且傳動套7 的上端位于短套6外側。因為本發(fā)明晶體生長監(jiān)測裝置在安裝時，傳動套7和短套6在垂直方向上有微小的偏移，且安裝尺寸固定，所以傳動套7的上端與短套6之間通過彈性裝置相連可抵消偏移帶來的影響。如圖2所示，彈性裝置可以為環(huán)形墊片8。環(huán)形墊片8的內邊緣與短套6的外壁固定連接，環(huán)形墊片8的外邊緣與傳動套7的內壁固定連接。所述環(huán)形墊片8上沿其圓周方向上開設有若干個大致呈Y形的孔9，該孔9的三段均呈弧形，且均與環(huán)形墊片8同心，遠離圓心的孔9的弧形段的弧度大于靠近圓心的孔9的弧形段的弧度且該兩弧形段之間半圓形過度。在實際生產時，孔9的數(shù)量可根據(jù)實際要求設定。傳動套7 的下端從支架1中穿出并于位于支架1外部的可驅動傳動套7轉動的驅動裝置(因現(xiàn)有技術，圖中未示出)相連，提升軸2的下端也從支架1內穿出。本發(fā)明的工作過程是因為在提拉法和旋轉法中，晶體在結晶的過程中需要旋轉并上下移動，所以利用驅動裝置驅動傳動套7轉動，傳動套7通過環(huán)形墊片8帶動短套6轉動，短套6再帶動短軸5在基座4內轉動，稱重傳感器3在測量晶體重量時不受短軸5的轉動影響。同時，短套6還帶動提升軸2轉動，隨著提升軸2的轉動，掛在提升軸2下端的晶體也開始轉動。晶體的上下移動則通過上下移動晶體生長監(jiān)測裝置和驅動裝置來實現(xiàn)。上述工作過程中，稱重傳感器3不受影響，能很好的監(jiān)測晶體的重量變化，從而給結晶條件提供一個很好的參考。
權利要求
1.一種晶體生長監(jiān)測裝置，包括支架和設置在支架內的提升軸、支架內頂端設置有稱重傳感器，其特征在于所述稱重傳感器的下端固定設置有基座，基座內轉動設置有從動吊裝裝置，從動吊裝裝置的上端位于基座內，其下端伸出基座，提升軸的上端固定設置在從動吊裝裝置下端內，提升軸上套設有傳動套，且傳動套的上端位于從動吊裝裝置下端外側，且傳動套的上端與從動吊裝裝置的下端之間通過彈性裝置連接，傳動套的下端從支架中穿出并于位于支架外部的驅動傳動套轉動的驅動裝置相連，提升軸的下端也從支架內穿出。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種晶體生長監(jiān)測裝置，其特征在于所述彈性裝置為環(huán)形墊片。
3.根據(jù)權利要求2所述的一種晶體生長監(jiān)測裝置，其特征在于所述環(huán)形墊片上沿其圓周方向上開設有若干個大致呈Y形的孔，該孔的三段均呈弧形，且均與環(huán)形墊片同心，遠離圓心的孔的弧形段的弧度大于靠近圓心的孔的弧形段的弧度且該兩弧形段之間半圓形過度。
4.根據(jù)權利要求3所述的一種晶體生長監(jiān)測裝置，其特征在于所述環(huán)形墊片上沿其圓周方向上開設有三個大致呈Y形的孔。
5.根據(jù)權利要求1或2或3或4所述的一種晶體生長監(jiān)測裝置，其特征在于所述從動吊裝裝置包括轉動設置基座內的短軸和與短軸相連的短套，短套位于基座下側。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種自動監(jiān)測晶體質量變化的晶體生長監(jiān)測裝置，包括支架和設置在支架內的提升軸、支架內頂端設置有稱重傳感器，所述稱重傳感器的下端固定設置有基座，基座內轉動設置有從動吊裝裝置，從動吊裝裝置的上端位于基座內，其下端伸出基座，提升軸的上端固定設置在從動吊裝裝置下端內，提升軸上套設有傳動套，且傳動套的上端位于從動吊裝裝置下端外側，且傳動套的上端與從動吊裝裝置的下端之間通過彈性裝置相連，傳動套的下端從支架中穿出并于位于支架外部的驅動傳動套轉動的驅動裝置相連。本發(fā)明的優(yōu)點是上述結構的晶體生產控制裝置可自動監(jiān)測晶體生長時的質量變化，而且晶體的旋轉和上下移動不會影響其監(jiān)測效果。
文檔編號C30B15/22GK102425004SQ20111044540
公開日2012年4月25日 申請日期2011年12月28日 優(yōu)先權日2011年12月28日
發(fā)明者伊戈爾庫茲涅佐夫, 伊戈爾柯爾克, 劉春艷, 畢成, 胡春霞, 馬克菲列格勒 申請人:蘇州優(yōu)晶光電科技有限公司