專利名稱：X 射線控制裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種控制照射X射線的X射線照射單元的X射線控制裝置。
背景技術(shù)：
X射線控制裝置用于X射線非破壞檢查等的X射線檢查裝置等。采用X射線檢查裝置，通過對(duì)于對(duì)象物從X射線管照射X射線，進(jìn)行X射線檢查(例如，參照專利文獻(xiàn)I)。在近些年，采用單元化X射線管、中央運(yùn)算處理裝置(CPU)的X射線產(chǎn)生裝置，用電纜電氣連接X射線產(chǎn)生裝置和控制該X射線產(chǎn)生裝置的上位控制器。如圖3所示，用作為輸入輸出專用的1/0(輸入/輸出)總線專用的開關(guān)量I/O的電纜Cl、為了防止誤操作等而在不滿足一定的條件時(shí)禁止動(dòng)作的聯(lián)鎖控制用的電纜c2、向X射線產(chǎn)生裝置供給電源用的電纜c3來電氣連接X射線產(chǎn)生裝置G和上位控制器C。采用RS-232C規(guī)格的電纜等作為這些電纜。而且，采用X射線檢查裝置，通過電源供給、聯(lián)鎖控 制、RS-232C通信、開關(guān)量I/O等，從上位控制器C對(duì)X射線產(chǎn)生裝置G進(jìn)行X射線照射的0N/0FF以及X射線管的管電壓/管電流的控制，根據(jù)來自X射線產(chǎn)生裝置G的RS-232C通信、開關(guān)量I/O等的響應(yīng)在上位控制器C側(cè)監(jiān)測(cè)X射線產(chǎn)生裝置C的狀態(tài)?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)I :日本專利特開2007-114058號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的課題但是，在產(chǎn)生了 X射線產(chǎn)生裝置的單一故障的情況下，存在RS-232C通信、開關(guān)量I/O的響應(yīng)相對(duì)于實(shí)際的狀態(tài)不一致，通過上位控制器無法正常地檢測(cè)X射線照射的ON/OFF狀態(tài)這樣的問題。其結(jié)果是存在無法檢測(cè)X射線產(chǎn)生裝置的故障的情況。這里，“單一故障”是指單一部件產(chǎn)生故障的情況。實(shí)際上，由于多個(gè)部件同時(shí)產(chǎn)生故障的情況的幾率是極其低的，因此只要能檢測(cè)單一故障，就可以不延遲地進(jìn)行對(duì)X射線產(chǎn)生裝置(X射線照射單元)的控制。本發(fā)明正是鑒于這樣的情況而作出的，其目的在于提供一種能夠檢測(cè)X射線照射單元側(cè)的X射線照射的0N/0FF狀態(tài)、或能夠檢測(cè)X射線照射單元側(cè)的X射線照射的異常的X射線控制裝置。解決問題的手段為了解決上述的問題，發(fā)明者們專心研究的結(jié)果是得到以下那樣的見解。S卩，現(xiàn)有的X射線控制裝置在向X射線管或X射線產(chǎn)生裝置(X射線照射單元)控制時(shí)，從X射線控制裝置側(cè)對(duì)于X射線管或X射線產(chǎn)生裝置指示X射線照射的0N/0FF，或設(shè)定X射線照射條件。因此，在X射線管或X射線產(chǎn)生裝置等的X射線照射單元側(cè)產(chǎn)生了單一故障的情況下，即使從X射線控制裝置側(cè)向X射線照射單元側(cè)進(jìn)行了設(shè)定或指示，控制也無法正常進(jìn)行。另一方面，X射線管、X射線產(chǎn)生裝置在X射線照射為ON狀態(tài)的情況下，與在X射線照射為OFF狀態(tài)(非照射狀態(tài))的情況下相比較，消耗電流更多地流動(dòng)，消耗更多的電力。由此可得知利用監(jiān)測(cè)X射線管或X射線產(chǎn)生裝置等的X射線照射單元的消耗電流的技術(shù)的話，即使在X射線照射單元側(cè)產(chǎn)生了單一故障，也能夠基于消耗電流檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)或X射線照射的異常?；谶@樣的公知，本發(fā)明如以下那樣而構(gòu)成。S卩，本發(fā)明所涉及的X射線控制裝置(第一發(fā)明)，其控制照射X射線的X射線照射單元，其特征在于，具有照射狀態(tài)檢測(cè)單元，所述照射狀態(tài)檢測(cè)單元基于所述X射線照射單元的消耗電流，檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)。[作用 效果]根據(jù)本發(fā)明所涉及的X射線控制裝置(第一發(fā)明)，照射狀態(tài)檢測(cè) 單元基于X射線照射單元的消耗電流，檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)，由此檢查X射線照射單元的消耗電流就能夠檢測(cè)出X射線照射單元側(cè)的X射線照射的0N/0FF狀態(tài)。又，本發(fā)明所涉及的X射線控制裝置(第二發(fā)明)，其控制照射X射線的X射線照射單元，其特征在于，具有異常檢測(cè)單元，所述異常檢測(cè)單元基于X射線照射單元的消耗電流，檢測(cè)X射線照射的異常。[作用 效果]根據(jù)本發(fā)明所涉及的X射線控制裝置(第二發(fā)明)，異常檢測(cè)檢測(cè)單元基于X射線照射單元的消耗電流，檢測(cè)X射線照射的異常，由此檢查X射線照射單元的消耗電流就能夠檢測(cè)出X射線照射單元側(cè)的X射線照射的異常。也可以使上述的第一發(fā)明和第二發(fā)明組合，將基于消耗電流檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)的(第一發(fā)明的)照射狀態(tài)檢測(cè)單元兼用為(第二發(fā)明的)異常檢測(cè)單元。關(guān)于第二發(fā)明，通過異常檢測(cè)單元檢測(cè)X射線照射的異常的具體的一個(gè)實(shí)施例如下所述。即，異常檢測(cè)單元基于消耗電流和X射線照射條件的比較來檢測(cè)異常。在被設(shè)定的X射線照射條件中的電流和實(shí)際地被監(jiān)測(cè)的消耗電流間產(chǎn)生不一致的情況下，可以視為X射線照射產(chǎn)生異常。發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明所涉及的X射線檢查裝置，基于X射線照射單元的消耗電流，照射狀態(tài)檢測(cè)單元能夠檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)，異常檢測(cè)單元能夠檢測(cè)X射線照射的異常。


圖I是實(shí)施例所涉及的X射線檢查裝置的概要構(gòu)成圖以及框圖。圖2是實(shí)施例所涉及的X射線檢查裝置所采用的X射線控制裝置(上位控制器)以及X射線產(chǎn)生裝置的框圖。圖3是現(xiàn)有的X射線控制裝置(上位控制器)以及X射線產(chǎn)生裝置的框圖。符號(hào)的說明IX射線檢查裝置6高電壓產(chǎn)生部11上位控制器Ila電流檢測(cè)電路
2IX射線管3IX射線產(chǎn)生裝置。
具體實(shí)施例方式下面，參照

本發(fā)明的實(shí)施例。圖I是實(shí)施例所涉及的X射線檢查裝置的概要構(gòu)成圖以及框圖，圖2是實(shí)施例所涉及的X射線檢查裝置所采用的X射線控制裝置(上位控制器)以及X射線產(chǎn)生裝置的框圖。在本實(shí)施例中，X射線控制裝置(上位控制器)以用于X射線非破壞檢查等的X射線檢查裝置的情況為例子來進(jìn)行說明。如圖I所示，本實(shí)施例所涉及的X射線檢查裝置I具有對(duì)對(duì)象物O進(jìn)行攝像的攝像部2、載置對(duì)象物O的載物臺(tái)3、驅(qū)動(dòng)該載物臺(tái)3的載物臺(tái)驅(qū)動(dòng)部4、驅(qū)動(dòng)攝像部2的攝像驅(qū)動(dòng)部5、為了對(duì)攝像部2的X射線管21賦予管電流或管電壓而產(chǎn)生高電壓的高電壓產(chǎn)生 部6、對(duì)通過攝像部2的X射線檢測(cè)器22得到的X射線檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行各種圖像處理并輸出X射線透視圖像的圖像處理部7。攝像部2具有對(duì)對(duì)象物O照射X射線的X射線管21、和對(duì)從X射線管21照射并透過對(duì)象物O的X射線進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)器22。關(guān)于X射線檢測(cè)器22，如影象增強(qiáng)器(I. I)、平板型X射線檢測(cè)器(FPD :Flat Panel Detector)等所例示的那樣,并沒有特別限定。在本實(shí)施例中，作為X射線檢測(cè)器22，以平板型X射線檢測(cè)器(FPD)為例來進(jìn)行說明。由高電壓產(chǎn)生部6以及X射線管21構(gòu)成的(后述的)X射線產(chǎn)生裝置31相當(dāng)于本發(fā)明中的X射線照射單元。FPD由與像素對(duì)應(yīng)地縱橫排列的多個(gè)檢測(cè)元件構(gòu)成，檢測(cè)元件檢測(cè)出X射線，將被檢測(cè)的X射線的數(shù)據(jù)(電荷信號(hào))作為X射線檢測(cè)信號(hào)輸出。這樣一來，從X射線管21向?qū)ο笪颫照射X射線，由FPD構(gòu)成的X射線檢測(cè)器22檢驗(yàn)出X射線而輸出X射線檢測(cè)信號(hào)，由此由X射線管21以及X射線檢測(cè)器22構(gòu)成的攝像部2對(duì)對(duì)象物O進(jìn)行攝像。載物臺(tái)驅(qū)動(dòng)部4由省略圖示的電動(dòng)機(jī)、驅(qū)動(dòng)軸等構(gòu)成，使得載物臺(tái)3在圖中的X、Y方向上水平移動(dòng)、在Z方向上升降移動(dòng)、或者圍繞Z軸心在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)。對(duì)象物O也通過載物臺(tái)3的移動(dòng)而移動(dòng)，使對(duì)象物O移動(dòng)到攝像位置為止，并通過攝像部2進(jìn)行攝像，以進(jìn)行X射線檢查。攝像驅(qū)動(dòng)部5與載物臺(tái)驅(qū)動(dòng)部4相同地，由省略圖示的電動(dòng)機(jī)、驅(qū)動(dòng)軸等構(gòu)成，使得攝像部2在圖中的Χ、Υ方向上水平移動(dòng)、在Z方向上升降移動(dòng)、或者圍繞Z軸心在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)。以X射線管21與X射線檢測(cè)器22相對(duì)的形態(tài)分別使得兩者移動(dòng)，之后進(jìn)行X射線檢查。又，使得X射線管21或者X射線檢測(cè)器22在鉛垂方向(Ζ方向)上升降移動(dòng)，能夠變更X射線檢查的放大率、縮小率。又，也能夠使得X射線管21或者X射線檢測(cè)器22傾斜，從傾斜方向進(jìn)行攝像(參照?qǐng)D中的二點(diǎn)劃線)。高電壓產(chǎn)生部6產(chǎn)生高電壓并將管電流或管電壓賦予X射線管21，由此X射線從X射線管21產(chǎn)生，從而照射X射線。圖像處理部7通過對(duì)X射線檢測(cè)信號(hào)施行增益校正、滯后校正、或灰度校正等的圖像處理，輸出與對(duì)象物O有關(guān)的X射線透視圖像。這樣一來，圖像處理部7對(duì)被攝像部2攝像了的X射線檢測(cè)信號(hào)(即，從X射線檢測(cè)器22輸出的X射線檢測(cè)信號(hào))進(jìn)行圖像處理并輸出X射線透視圖像，由此對(duì)對(duì)象物O進(jìn)行X射線透視拍攝。而且，對(duì)對(duì)象物O進(jìn)行X射線檢查。除此之外，X射線檢查裝置I具有存儲(chǔ)部8、輸入部9、輸出部10和上位控制器11。上位控制器11在本發(fā)明中相當(dāng)于X射線控制裝置。存儲(chǔ)部8通過上位控制器11寫入并儲(chǔ)存由圖像處理部7得到的X射線透視圖像等的數(shù)據(jù)，適當(dāng)?shù)馗鶕?jù)需要進(jìn)行讀取，并通過上位控制器11將X射線透視圖像發(fā)送給輸出部10進(jìn)行輸出。存儲(chǔ)部8由 ROM(只讀存儲(chǔ)器)、RAM(隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)、硬盤等所代表的存儲(chǔ)介質(zhì)構(gòu)成。輸入部9將操作者所輸入的數(shù)據(jù)、命令輸送到上位控制器11中。輸入部9由鼠標(biāo)、鍵盤、操縱桿、跟蹤球、接觸面板等所代表的指示設(shè)備構(gòu)成。輸出部10由監(jiān)視器等所代表的顯示部、打印機(jī)等構(gòu)成。在本實(shí)施例中，將在攝像部2的攝像結(jié)果顯示在輸出部10的監(jiān)視器上。上位控制器11總括控制構(gòu)成X射線檢查裝置I的各部分。通過上位控制器11將由圖像處理部7得到的X射線透視圖像等的數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)部8中進(jìn)行儲(chǔ)存，或者將由圖像處理部7得到的X射線透視像等的數(shù)據(jù)輸送到輸出部10進(jìn)行輸出。在輸出部10為顯示部的情況下進(jìn)行輸出顯示，在輸出部10為打印機(jī)的情況下進(jìn)行輸出印刷。關(guān)于上位控制器11的具體的構(gòu)成在后面進(jìn)行描述。在本實(shí)施例中，如圖2所示，將高電壓產(chǎn)生部6、X射線管21、中央運(yùn)算處理裝置(CPU) 23單元化以構(gòu)成X射線產(chǎn)生裝置31。在本實(shí)施例中，上位控制器11由控制基板而形成。也如圖3所述的那樣，在圖2中，用作為輸入輸出專用的I/O (輸入/輸出)總線專用的開關(guān)量I/o的電纜Cl、為了防止誤操作等而在不滿足一定的條件時(shí)禁止動(dòng)作的聯(lián)鎖控制用的電纜c2、向X射線產(chǎn)生裝置供給電源用的電纜c3來電氣連接X射線產(chǎn)生裝置31和上位控制器11。采用RS-232C規(guī)格的電纜作為這些電纜。而且，在X射線檢查裝置I中，通過電源供給、聯(lián)鎖控制、RS-232C通信、開關(guān)量I/O等，從上位控制器11對(duì)X射線產(chǎn)生裝置31進(jìn)行X射線照射的0N/0FF以及X射線管21的管電壓/管電流的控制，根據(jù)來自X射線產(chǎn)生裝置31的RS-232C通信、開關(guān)量I/O等的響應(yīng)利用上位控制器11檢查X射線產(chǎn)生裝置31的狀態(tài)。具體地說，從上位控制器11通過電源供給用的電纜c3將電源電壓(例如直流(DC) 24V)供給X射線產(chǎn)生裝置31的高電壓產(chǎn)生部6。通過該電源供給，使高電壓產(chǎn)生部6產(chǎn)生高電壓，賦予X射線管21管電流或管電壓，以從X射線管21照射X射線。關(guān)于實(shí)際的X射線照射的0N，是通過從上位控制器11向X射線產(chǎn)生裝置31的中央處理器23發(fā)出設(shè)為ON的指示來進(jìn)行的，關(guān)于X射線照射的0FF，是通過從上位控制器11向中央處理器23發(fā)出設(shè)為OFF的指示而進(jìn)行的。又，從上位控制器11，通過聯(lián)鎖控制用的電纜從c2對(duì)X射線產(chǎn)生裝置31的中央處理器23進(jìn)行聯(lián)鎖控制。通過進(jìn)行該聯(lián)鎖控制，在不滿足一定的條件時(shí)，禁止中央處理器23的動(dòng)作，以防止誤操作等。又，為了確認(rèn)在X射線產(chǎn)生裝置31和上位控制器11之間是否進(jìn)行相互的通信，通過開關(guān)量I/O的電纜Cl進(jìn)行RS-232C通信。進(jìn)一步，在本實(shí)施例中，如圖2所示，上位控制器11具有電流檢測(cè)電路11a。電流檢測(cè)電路Ila監(jiān)測(cè)從上位控制器11向X射線產(chǎn)生裝置31供給的電源供給用的電纜c3的消耗電流。如公知的那樣，X射線管21、X射線產(chǎn)生裝置31在X射線照射為ON狀態(tài)的情況下，與X射線照射為OFF狀態(tài)(非照射狀態(tài))的情況相比較，消耗電流更多地流動(dòng)，消耗更多的電力。關(guān)于X射線管21，在電流檢測(cè)電路Ila監(jiān)測(cè)到X射線照射為OFF狀態(tài)(非照射狀態(tài))以上的消耗電流時(shí)，檢測(cè)出X射線照射為ON狀態(tài)。在電流檢測(cè)電路Ila監(jiān)測(cè)到比X射線照射為最小的X射線照射條件時(shí)的消耗電流小的消耗電流時(shí)，則檢測(cè)出X射線照射為OFF狀態(tài)(非照射狀態(tài))。像這樣，電流檢測(cè)電路Ila根據(jù)X射線產(chǎn)生裝置31(也包含X射線管21)的消耗電流，檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)。電流檢 測(cè)電路Ila相當(dāng)于本發(fā)明中的照射狀態(tài)檢測(cè)單元。又，在本實(shí)施例中，相當(dāng)于本發(fā)明中的照射狀態(tài)檢測(cè)單元的電流檢測(cè)電路Ila兼用作本發(fā)明中的異常檢測(cè)單元。即，電流檢測(cè)電路Ila監(jiān)測(cè)消耗電流，基于消耗電流和X射線照射條件的比較來檢測(cè)異常。像這樣，電流檢測(cè)電路Ila基于X射線產(chǎn)生裝置31 (也包含X射線管21)的消耗電流，檢測(cè)X射線照射的異常。電流檢測(cè)電路Ila相當(dāng)于本發(fā)明中的異常檢測(cè)單元。無論是否設(shè)定X射線照射條件時(shí)的電流，實(shí)際上，在利用電流檢測(cè)電路I Ia監(jiān)測(cè)出與被設(shè)定的電流不同值的消耗電流的情況下，被設(shè)定的X射線照射條件下的電流和實(shí)際地被監(jiān)測(cè)到的消耗電流間產(chǎn)生不一致，則可以視為X射線照射產(chǎn)生異常。又，例如，如上所述，無論X射線照射是否被設(shè)定為ON (X射線照射條件為0N)，在實(shí)際利用電流檢測(cè)電路Ila監(jiān)測(cè)到比X射線照射為最小的X射線照射條件時(shí)的消耗電流小的消耗電流的情況下，被設(shè)定的X射線照射條件下的電流和實(shí)際地被監(jiān)測(cè)到的消耗電流間產(chǎn)生不一致，則可以視為X射線照射產(chǎn)生異常。相反地，無論X射線照射是否被設(shè)定為0FF，在實(shí)際利用電流檢測(cè)電路IIa監(jiān)測(cè)到X射線照射為OFF狀態(tài)(非照射狀態(tài))以上的消耗電流的情況下，被設(shè)定的X射線照射條件與實(shí)際地被檢監(jiān)測(cè)到的消耗電流間產(chǎn)生不一致，則可以視為關(guān)于X射線照射異常產(chǎn)生。根據(jù)具備上述的構(gòu)成的本實(shí)施例所涉及的X射線控制裝置(上位控制器11)，基于X射線產(chǎn)生裝置31 (也包含X射線管21)的消耗電流，電流檢測(cè)電路Ila檢測(cè)出X射線照射的0N/0FF狀態(tài)，由此只要監(jiān)測(cè)消耗電流就能夠檢測(cè)出X射線產(chǎn)生裝置31側(cè)的X射線照射的0N/0FF狀態(tài)。在本實(shí)施例中，基于X射線產(chǎn)生裝置31(也包含X射線管21)的消耗電流，電流檢測(cè)電路Ila檢測(cè)X射線照射的異常，由此只要監(jiān)測(cè)消耗電流就能夠檢測(cè)出X射線產(chǎn)生裝置31側(cè)的X射線照射的異常。在本實(shí)施例中，基于消耗電流檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)的照射狀態(tài)檢測(cè)單元兼用為基于消耗電流檢測(cè)X射線照射的異常的異常檢測(cè)單元，其通過電流檢測(cè)電路Ila來實(shí)現(xiàn)。在本實(shí)施例中，電流檢測(cè)電路Ila基于消耗電流和X射線照射條件的比較來檢驗(yàn)出異常。在被設(shè)定的X射線照射條件的電流和實(shí)際地被監(jiān)測(cè)到的消耗電流間產(chǎn)生不一致的情況下，可以視為X射線照射產(chǎn)生異常。本發(fā)明并不限于上述實(shí)施形態(tài)，也可以如下文那樣變形實(shí)施。(I)作為對(duì)象物只要能夠成為X射線檢查的對(duì)象即可，沒有特別地限定。如上所述，如安裝基板、多層基板的通孔/圖案/釬焊接合部、被配置在墊板上的集成電路(IC)之類的安裝前的電子部件、金屬等的鑄件、錄像機(jī)之類的鑄模品等所例示的那樣，只要對(duì)對(duì)象物進(jìn)行X射線檢查就可以了。(2)在上述的實(shí)施例中，是通過對(duì)對(duì)象物進(jìn)行透視拍攝來進(jìn)行對(duì)于對(duì)象物的X射線檢查，但是在通過對(duì)對(duì)象物進(jìn)行CT拍攝來進(jìn)行對(duì)于對(duì)象物的X射線檢查的情況下也可以適用。又，在組合X射線透視拍攝以及CT拍攝進(jìn)行X射線檢查的情況下也可以適用。(3)在上述的實(shí)施例中，X射線控制裝置(上位控制器)是采用用于X射線非破壞檢查等的X射線檢查裝置的情況為例來進(jìn)行說明，但是也能夠適用于醫(yī)用中的醫(yī)用診斷裝置(例如X射線透視攝影裝置、X射線斷層攝影裝置、X射線CT裝置)等。(4)在上述的實(shí)施例中，基于消耗電流檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)的照射狀態(tài)檢測(cè)單元兼用為基于消耗電流檢測(cè)X射線照射的異常的異常檢測(cè)單元，其通過電流檢測(cè)電路Ila來實(shí)現(xiàn)，但是電流檢測(cè)電路Ila也可以僅具有檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)的照射狀態(tài)檢測(cè)單元的功能。 (5)在上述的實(shí)施例中，基于消耗電流檢測(cè)X射線照射的0N/0FF狀態(tài)的照射狀態(tài)檢測(cè)單元兼用為基于消耗電流檢測(cè)X射線照射的異常的異常檢測(cè)單元，其通過電流檢測(cè)電路Ila來實(shí)現(xiàn)，但是電流檢測(cè)電路Ila也可以僅具有檢測(cè)X射線照射的異常的異常檢測(cè)單元的功能。(6)在上述的實(shí)施例中，如圖2所示，將高電壓產(chǎn)生部6、X射線管21、中央處理器23單元化而構(gòu)成X射線產(chǎn)生裝置31，但是作為照射X射線的X射線照射單元，中央處理器、高電壓產(chǎn)生部不是必須具備的，也可以單獨(dú)具有X射線管。又，也可以將CPU組合在X射線控制裝置(實(shí)施例中的上位控制器)中以構(gòu)成一個(gè)控制裝置，也可以將高電壓產(chǎn)生部組合在X射線控制裝置中。(7)在上述的實(shí)施例中，X射線照射單元(實(shí)施例中的高電壓產(chǎn)生部6、X射線管21)和X射線控制裝置(實(shí)施例中的上位控制器)分別構(gòu)成，但是也可以在X射線控制裝置內(nèi)組合X射線照射單元。
權(quán)利要求
1.一種X射線控制裝置，其控制照射X射線的X射線照射單元，其特征在于，具有照射狀態(tài)檢測(cè)單元，所述照射狀態(tài)檢測(cè)單元基于所述X射線照射單元的消耗電流，檢測(cè)X射線照射的ON/OFF狀態(tài)。
2.一種X射線控制裝置，其控制照射X射線的X射線照射單元，其特征在于，具有異常檢測(cè)單元，所述異常檢測(cè)單元基于所述X射線照射單元的消耗電流，檢測(cè)X射線照射的異堂巾O
3.如權(quán)利要求2所述的X射線控制裝置，其特征在于，將基于所述消耗電流來檢測(cè)X射線照射的ΟΝ/OFF狀態(tài)的照射狀態(tài)檢測(cè)單元兼用作所述異常檢測(cè)單元。
4.如權(quán)利要求2或3所述的X射線控制裝置，其特征在于，所述異常檢測(cè)單元基于所述消耗電流和X射線照射條件的比較來檢測(cè)所述異常。
全文摘要
本發(fā)明提供一種能夠檢測(cè)X射線照射單元側(cè)的X射線照射的ON/OFF狀態(tài)，或能夠檢測(cè)X射線照射單元側(cè)的X射線照射的異常的X射線控制裝置。電流檢測(cè)電路(11a)基于X射線產(chǎn)生裝置(31)(也包括X射線管(21))的消耗電流，檢測(cè)X射線照射的ON/OFF狀態(tài)，由此只要監(jiān)測(cè)消耗電流就能夠檢測(cè)出X射線產(chǎn)生裝置(31)側(cè)的X射線照射的ON/OFF狀態(tài)。又，基于該消耗電流和X射線照射條件的比較，在被設(shè)定的X射線照射條件的電流和實(shí)際地被監(jiān)測(cè)到的消耗電流間產(chǎn)生不一致的情況下，電流檢測(cè)電路11a檢測(cè)X射線照射的異常，由此僅檢查消耗電流就能夠檢測(cè)出X射線產(chǎn)生裝置31側(cè)的X射線照射的異常。
文檔編號(hào)H05G1/26GK102781153SQ20121001626
公開日2012年11月14日 申請(qǐng)日期2012年1月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月10日
發(fā)明者巖尾快彥, 神戶悟郎 申請(qǐng)人:株式會(huì)社島津制作所