本實用新型涉及一種薄膜復(fù)合系統(tǒng)，屬于薄膜加工領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

目前，在薄膜加工時，為增加防偽效果及包裝美觀，常常會在薄膜上預(yù)留一個異形鏤空區(qū)域，而后在該鏤空區(qū)域定位復(fù)合鍍鋁膜等薄膜結(jié)構(gòu)，但目前在定位復(fù)合時，由于薄膜是有彈性的，實際的薄膜上的鏤空區(qū)域與鍍鋁膜可能會存在一定的錯位或誤差，這樣復(fù)合幾件薄膜還沒有太大影響，但像工業(yè)生產(chǎn)中同一卷膜上動輒幾百上千的印刷量，會產(chǎn)生極大的累計誤差，同一卷薄膜上后面復(fù)合的圖案與鏤空區(qū)域位置偏差極大，存在極大的技術(shù)缺陷。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的在于：提供一種兩基材薄膜上圖案的定位復(fù)合系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有薄膜上鏤空區(qū)定位復(fù)合鍍鋁膜時累計誤差極大，復(fù)合位置準確性極差的問題。

為解決上述問題，擬采用這樣一種兩基材薄膜上圖案的定位復(fù)合系統(tǒng)，包括第一檢測探頭、第二檢測探頭、薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)、控制單元以及薄膜復(fù)合系統(tǒng)，薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)包括張力輥和驅(qū)動張力輥轉(zhuǎn)動的電機，薄膜復(fù)合系統(tǒng)包括匹配設(shè)置的兩個復(fù)合輥，第一檢測探頭和第二檢測探頭均設(shè)置于復(fù)合輥的進膜側(cè)，用于分別檢測兩基材薄膜上的版距，張力輥設(shè)置于第二檢測探頭和復(fù)合輥之間，第一檢測探頭、第二檢測探頭和電機均與控制單元相連。

所述第一檢測探頭和第二檢測探頭與復(fù)合輥之間的距離均在30-50cm之間；

兩基材薄膜上圖案的定位復(fù)合方法，包括：

第一檢測探頭、第二檢測探頭、薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)、控制單元以及薄膜復(fù)合系統(tǒng)；

第一檢測探頭和第二檢測探頭分別用于檢測兩基材薄膜上的檢測標記，并將信號輸送至控制單元；

薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)用于根據(jù)控制單元的輸送信號調(diào)節(jié)第二檢測探頭所檢測的基材薄膜在復(fù)合前的張力，以實現(xiàn)調(diào)節(jié)該基材薄膜進入復(fù)合時的版距；

控制單元根據(jù)第一檢測探頭和第二檢測探頭檢測到相鄰兩個檢測標記的時間差及薄膜傳輸速度算出此時經(jīng)過兩個檢測探頭的兩基材薄膜上的版距，并將兩基材薄膜上的版距進行比較或?qū)Ρ?，根?jù)對比結(jié)果控制薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)以調(diào)節(jié)第二檢測探頭所檢測的基材薄膜進入印刷時的版距；

薄膜復(fù)合系統(tǒng)用于對兩基材薄膜進行圖案的定位復(fù)合。

兩基材薄膜進入復(fù)合時的版距差值小于等于1-3mm；

薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)包括張力輥和驅(qū)動張力輥轉(zhuǎn)動的電機，電機與控制單元相連，薄膜復(fù)合系統(tǒng)包括匹配設(shè)置的兩個復(fù)合輥，第一檢測探頭和第二檢測探頭均設(shè)置于復(fù)合輥的進膜側(cè)，張力輥設(shè)置于第二檢測探頭和復(fù)合輥之間。

本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，主要優(yōu)點是兩基材薄膜上每版在復(fù)合前都會通過該系統(tǒng)進行版距的檢測和長度調(diào)整，以使其中一基材薄膜的版距與另一基材薄膜的版距差在技術(shù)要求范圍內(nèi)，使二者復(fù)合時圖案位置貼合的更為準確，從而避免薄膜復(fù)合時產(chǎn)生較大的累計誤差，使二者間的誤差在一個極小值內(nèi)震蕩性調(diào)整，尤其適用于鍍鋁膜與具有鏤空圖案薄膜的定位復(fù)合，消除了現(xiàn)有圖案定位復(fù)合的技術(shù)缺陷，保障了復(fù)合質(zhì)量，具有極大的應(yīng)用價值。

附圖說明

圖1是本實用新型的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實用新型的系統(tǒng)原理圖；

其中，附圖標記6表示基材薄膜，7表示導向輥，箭頭表示薄膜走向。

具體實施方式

為使本實用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將參照附圖對本實用新型作進一步地詳細描述，

實施例：

參照圖1和圖2，本實施例提供一種兩基材薄膜上圖案的定位復(fù)合系統(tǒng)，包括第一檢測探頭1、第二檢測探頭2、薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)3、控制單元4以及薄膜復(fù)合系統(tǒng)5，薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)3包括張力輥31和驅(qū)動張力輥31轉(zhuǎn)動的電機32，薄膜復(fù)合系統(tǒng)5包括匹配設(shè)置的兩個復(fù)合輥51，第一檢測探頭1和第二檢測探頭2均設(shè)置于復(fù)合輥51的進膜側(cè)，用于分別檢測兩基材薄膜上的版距，張力輥21設(shè)置于第二檢測探頭2和復(fù)合輥51之間，第一檢測探頭1、第二檢測探頭2和電機32均與控制單元4相連，第一檢測探頭1和第二檢測探頭2與復(fù)合輥51之間的距離均在30-50cm之間。

利用上述復(fù)合系統(tǒng)對兩基材薄膜上圖案進行定位復(fù)合的方法，包括：

第一檢測探頭1和第二檢測探頭2分別用于檢測兩基材薄膜上的檢測標記，并將信號輸送至控制單元4；

薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)3用于根據(jù)控制單元4的輸送信號調(diào)節(jié)第二檢測探頭2所檢測的基材薄膜在復(fù)合前的張力，以實現(xiàn)調(diào)節(jié)該基材薄膜進入復(fù)合時的版距；

控制單元4根據(jù)第一檢測探頭1和第二檢測探頭2檢測到相鄰兩個檢測標記的時間差及薄膜傳輸速度算出此時經(jīng)過兩個檢測探頭的兩基材薄膜上的版距，并將兩基材薄膜上的版距進行比較或?qū)Ρ?，根?jù)對比結(jié)果控制薄膜張力調(diào)節(jié)系統(tǒng)3以調(diào)節(jié)第二檢測探頭2所檢測的基材薄膜進入印刷時的版距，使得兩基材薄膜進入復(fù)合時的版距差值小于等于1-3mm；

薄膜復(fù)合系統(tǒng)4用于對兩基材薄膜進行圖案的定位復(fù)合。