專利名稱：自動插入裝置的印刷電路板測試電路及其測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種自動插入裝置，尤其涉及可通過自動檢查印刷電路板(后稱“PCB”)的缺陷和變化狀態(tài)而使PCB的次品率最小的測試PCB的電路，以及采用它的測試方法。
背景技術：
由于已進行了將元件自動地插入普通電器中的PCB中的努力，自動插入處理目前正被廣泛應用。下面將描述自動插入處理。
最初草擬電路圖，然后根據(jù)所草擬出的電路圖來制作PCB圖案。根據(jù)PCB圖案來制作PCB。此外，產(chǎn)生要插入到PCB中的元件的信息數(shù)據(jù)。
采用該PCB圖案，提取有關安裝位置、安裝元件和元件的安裝方向的信息，并將提取出的信息轉(zhuǎn)換成數(shù)值控制數(shù)據(jù)。
該數(shù)值控制數(shù)據(jù)和元件信息數(shù)據(jù)及PCB所需的各元件被提供給自動插入裝置，該自動插入裝置接下來便組裝該PCB。通過使用自動釬焊裝置來焊接自動插入各元件的PCB的元件。
對上述生產(chǎn)出的PCB的缺陷測試是由生產(chǎn)者以視覺方式進行的。由于對PCB中的缺陷以視覺方式進行測試，因此，測試準確度隨著測試者的疲勞和體力狀態(tài)而有所不同。因此，視覺方式測試導致PCB的缺陷，從而是不利的。
另外，對于以PCB方式生產(chǎn)出的電器，經(jīng)過一段時間后，要增加一些功能，而出于經(jīng)濟方面的考慮卻要減少元件數(shù)量。在這種情況下，必須手動修改有關變化部分的元件信息數(shù)據(jù)。否則，需重新制作PCB。
再者，目前正采用計算機輔助設計(后稱“CAD”)的方式來設計基于電路圖的數(shù)值控制數(shù)據(jù)的檢測和PCB圖案。但是，如果將元件新添加到PCB或當要插入新元件時沒有有關現(xiàn)有PCB圖案的數(shù)值控制數(shù)據(jù)，則必須逐個地手動測量新元件的插入位置，以產(chǎn)生數(shù)值控制數(shù)據(jù)。
發(fā)明公開因此，本發(fā)明的一個目的是提供一種可使用PCB的通孔(hole)信息和記錄在CAD中的通孔信息來降低PCB的次品率的自動插入裝置及其測試方法。
本發(fā)明的另一目的是提供一種可當改變PCB的元件時采用參考PCB和修改的PCB的通孔信息容易地制造PCB的自動插入裝置的PCB測試電路及其測試方法。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的上述和其他目的，提供了一種自動插入裝置的PCB測試電路，它包括掃描器，用于在脫機狀態(tài)下將參考PCB的圖像信號轉(zhuǎn)換為圖像數(shù)據(jù)；和圖像檢測部分，用于在聯(lián)機狀態(tài)下將修改的PCB的圖像信號轉(zhuǎn)換成圖像數(shù)據(jù)。存儲部分存儲圖像數(shù)據(jù)、通孔信息數(shù)據(jù)和元件信息數(shù)據(jù)，該存儲部分由圖像數(shù)據(jù)存儲裝置、通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置和元件信息數(shù)據(jù)存儲裝置構(gòu)成，圖像數(shù)據(jù)存儲裝置用于存儲掃描器和圖像數(shù)據(jù)檢測部分的圖像數(shù)據(jù)，通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置用于存儲將各元件插入到參考和修改的PCB的通孔信息，元件信息數(shù)據(jù)存儲裝置用于存儲要插入?yún)⒖糚CB中的元件信息數(shù)據(jù)。該電路還包括監(jiān)視器，用于將參考和修改的PCB的圖像數(shù)據(jù)顯示在屏幕上；和控制部分，用于通過掃描器和圖像數(shù)據(jù)檢測部分接收參考PCB和修改的PCB的各個圖像數(shù)據(jù)，以檢測相應的參考PCB和修改的PCB的通孔信息數(shù)據(jù)，比較檢測到的各個通孔信息數(shù)據(jù)，以檢測不與參考PCB的通孔信息數(shù)據(jù)對應的修改的PCB的通孔信息數(shù)據(jù)，并將不成對的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分中。
更具體地講，將經(jīng)掃描器提供的參考PCB的圖像數(shù)據(jù)和從圖像檢測部分提供的修改的PCB的圖像數(shù)據(jù)提供給控制部分。然后，控制部分采用圖像識別算法來從各個PCB中提取通孔信息數(shù)據(jù)，比較提取的通孔信息數(shù)據(jù)，以提取唯一的通孔信息數(shù)據(jù)。將不成對的通孔信息數(shù)據(jù)提供給監(jiān)視器和通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分。因此，監(jiān)視器顯示PCB中的不成對的通孔信息數(shù)據(jù)，而通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分將不成對的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在其中。因此，由于可根據(jù)不成對的通孔信息數(shù)據(jù)來制造PCB，因此，可當元件改變或修改時，容易地制造PCB。
附圖簡述參照附圖對本發(fā)明優(yōu)選實施例的詳細描述，本發(fā)明的上述目的和其他優(yōu)點將變得更加清楚附圖中

圖1是表示根據(jù)本發(fā)明第一實施例的自動插入裝置的PCB測試電路結(jié)構(gòu)的示意圖；
圖2是表示根據(jù)本發(fā)明第一實施例的測試自動插入裝置的PCB的方法的示意圖；圖3是表示根據(jù)本發(fā)明第二實施例的自動插入裝置的PCB測試電路結(jié)構(gòu)的示意圖；和圖4是表示根據(jù)本發(fā)明第二實施例的測試自動插入裝置的PCB的方法的示意圖；實現(xiàn)本發(fā)明的最佳模式圖1是表示根據(jù)本發(fā)明第一實施例的自動插入裝置的PCB測試電路結(jié)構(gòu)的示意圖。圖1中，標號1表示掃描器，用于讀出參考PCB的圖像信號，以將其轉(zhuǎn)換成圖像數(shù)據(jù)，標號4表示圖像檢測部分，用于讀出修改的PCB的圖像信號，以將其轉(zhuǎn)換成圖像數(shù)據(jù)。標號2表示控制部分，用于接收掃描器1和圖像檢測部分4的圖像數(shù)據(jù)，以采用圖像識別算法來提取各個通孔數(shù)據(jù)，并比較所提取出的通孔信息，以提供唯一的通孔信息數(shù)據(jù)。
標號3表示存儲部分，它包括圖像數(shù)據(jù)存儲部分3A、通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分3B和元件信息數(shù)據(jù)存儲部分3C，它們分別用于存儲由控制部分2提供的圖像數(shù)據(jù)、通孔信息數(shù)據(jù)和元件信息數(shù)據(jù)。另外，標號5表示監(jiān)視器，用于從控制部分2接收控制信號，以顯示圖像數(shù)據(jù)。
圖2是表示根據(jù)本發(fā)明第一實施例的測試自動插入裝置的PCB的方法的示意圖。參照圖2，將描述測試自動插入裝置的PCB的方法。
讀出經(jīng)掃描器1提供的參考PCB的圖像數(shù)據(jù)(步驟101)，并采用圖像識別算法從讀出的圖像數(shù)據(jù)中提取參考PCB的通孔信息。然后，將所提取的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分3B中(步驟102)。
執(zhí)行步驟102后，使用參考PCB的通孔信息數(shù)據(jù)來設置參考坐標，并使用所設置的參考坐標來得到參考PCB的相對坐標(步驟103)。
與此同時，讀出經(jīng)圖像檢測部分4提供的修改的PCB的圖像數(shù)據(jù)(步驟104)，并采用圖像識別算法來提取所讀出的圖像數(shù)據(jù)的通孔信息(步驟105)。
執(zhí)行步驟105后，使用修改的PCB的通孔信息數(shù)據(jù)設置參考坐標，并且使用所設置的參考坐標來獲得修改的PCB的各通孔的相對坐標(步驟106)。
接下來，使用分別在步驟103和106得到的參考PCB和修改的PCB的通孔位置信息來比較通孔信息數(shù)據(jù)(步驟107)。然后，將在步驟107中不成對的通孔信息數(shù)據(jù)標記在參考PCB上(步驟108)。
將標記在參考PCB上的不成對的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分3B中(步驟109)。
下面將描述根據(jù)本發(fā)明第一實施例的上述PCB測試電路及其相應方法的操作和效果。
分別由掃描器1和圖像檢測部分4檢測到的參考PCB的圖像數(shù)據(jù)和修改的PCB的圖像數(shù)據(jù)被提供給控制部分2。接下來，控制部分2將參考PCB和修改的PCB的圖像數(shù)據(jù)提供給圖像數(shù)據(jù)存儲部分3A，提取各個圖像數(shù)據(jù)的通孔信息數(shù)據(jù)，并提取所提取的通孔信息數(shù)據(jù)的通孔位置信息。此外，采用所提取的通孔位置信息，將參考PCB的通孔與修改的PCB的通孔進行比較，并將唯一的通孔信息數(shù)據(jù)標記在參考PCB上。
不成對的通孔信息數(shù)據(jù)被存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分3C中。該通孔信息數(shù)據(jù)被提供給監(jiān)視器5，監(jiān)視器5顯示通孔信息數(shù)據(jù)。
換句話說，讀出經(jīng)掃描器1接收到的參考PCB的圖像數(shù)據(jù)(步驟101)，并采用圖像識別算法來提取參考PCB的通孔信息。此后，將所提取出的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分3B中(步驟102)。
執(zhí)行步驟102后，執(zhí)行步驟103。亦即，在步驟103中，采用參考PCB的通孔信息數(shù)據(jù)來設置參考坐標，并采用所設置的參考坐標來得到參考PCB的通孔的相對坐標。
另一方面，讀出經(jīng)圖像檢測部分4提供的修改的PCB的圖像數(shù)據(jù)(步驟104)，并采用圖像識別算法來提取所讀出的圖像數(shù)據(jù)的通孔信息(步驟105)。
另外，在執(zhí)行步驟105后，采用參考PCB的通孔信息數(shù)據(jù)來設置參考坐標，并采用所設置的參考坐標來得到參考PCB中通孔的相對坐標(步驟106)。
使用分別在步驟103和106得到的參考PCB和修改的PCB的通孔位置信息數(shù)據(jù)，來比較通孔信息數(shù)據(jù)(步驟107)。將在步驟107中不成對的通孔信息數(shù)據(jù)顯示在參考PCB上(步驟108)。
將在步驟108顯示在參考PCB上的不成對的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分3B中(步驟109)。
在應用本發(fā)明第一實施例的PCB測試裝置和方法時，可根據(jù)從參考PCB中檢測到的通孔信息數(shù)據(jù)和從修改的PCB中檢測到的通孔信息數(shù)據(jù)的存在，自動地檢測通過修改或附加的設計而獲得的參考PCB中的通孔信息數(shù)據(jù)。為此，在PCB的設計被修改或附加時，可減少新制作PCB圖案所需的時間。
圖3是表示根據(jù)本發(fā)明第二實施例的自動插入裝置的PCB測試電路結(jié)構(gòu)的示意圖。圖3中，標號11表示掃描器，用于在脫機狀態(tài)下讀出參考PCB的圖像信號，以將其轉(zhuǎn)換成圖像數(shù)據(jù)，標號14表示圖像檢測部分，用于在聯(lián)機狀態(tài)下讀出PCB的圖像信號，以將其轉(zhuǎn)換成圖像數(shù)據(jù)。標號12表示控制部分，用于經(jīng)掃描器1或從圖像檢測部分4接收圖像數(shù)據(jù)，以采用圖像識別算法來提取各個通孔信息數(shù)據(jù)，并將所提取出的通孔信息與經(jīng)CAD提供的通孔信息數(shù)據(jù)相比較，以提供具有不同通孔尺寸的通孔信息數(shù)據(jù)。
標號13表示存儲部分，它包括圖像數(shù)據(jù)存儲部分13A、通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分13B和元件信息數(shù)據(jù)存儲部分3C，它們分別用于存儲由控制部分12提供的圖像數(shù)據(jù)、通孔信息數(shù)據(jù)和元件信息數(shù)據(jù)。另外，標號15表示監(jiān)視器，用于從控制部分12接收控制信號，并顯示圖像數(shù)據(jù)。
圖4是表示根據(jù)本發(fā)明第二實施例的測試自動插入裝置的PCB的方法的示意圖。參照圖4，將描述測試自動插入裝置的PCB的方法。
讀出在脫機狀態(tài)下經(jīng)掃描器1接收的或在聯(lián)機狀態(tài)下由圖像檢測部分14提供的參考PCB的圖像數(shù)據(jù)(步驟201)，并采用圖像識別算法從讀出的圖像數(shù)據(jù)中提取PCB的通孔信息。然后，將所提取的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分13B中(步驟202)。
使用在步驟202提取出的通孔信息數(shù)據(jù)來計算絕對坐標(步驟203)，根據(jù)在步驟203計算出的絕對坐標來設置兩個參考通孔，并以所設置的參考通孔為中心來提取出各通孔的相對坐標(步驟204)。
與此同時，讀出存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分13B中的通孔信息數(shù)據(jù)，并計算所讀出的通孔信息數(shù)據(jù)的各通孔的相對坐標(步驟205)。另外，為了測試PCB的通孔是否包含在在步驟205計算出的通孔的中央，在由步驟204提取出的PCB的各通孔上覆蓋約束方塊(circumscribing square)。
當PCB的通孔在所覆蓋的約束方塊內(nèi)時，將PCB的通孔尺寸與由CAD提供的通孔尺寸進行比較(步驟207)。在步驟207，如果各通孔尺寸彼此相等，則被確定為是正常通孔，否則被確定為是異常通孔(步驟208)。
將與在步驟208中確定的異常通孔相應的通孔信息數(shù)據(jù)顯示在監(jiān)視器15上，并將有缺陷的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分13B中(步驟209)。
下面將描述根據(jù)本發(fā)明第二實施例的上述PCB測試電路及其相應方法的操作和效果。
在脫機狀態(tài)下經(jīng)掃描器1提供的或在聯(lián)機狀態(tài)下經(jīng)圖像檢測部分14提供的PCB的圖像數(shù)據(jù)被提供給控制部分12。接下來，控制部分12從掃描器11的圖像數(shù)據(jù)中提取PCB的通孔信息數(shù)據(jù)，并接收所提取的通孔信息數(shù)據(jù)和存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分13B中的CAD的通孔信息數(shù)據(jù)，以比較兩個通孔的尺寸，從而根據(jù)比較結(jié)果來檢測有缺陷的通孔。
被確定為有缺陷的通孔信息數(shù)據(jù)被存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分13C中。然后，將通孔信息數(shù)據(jù)提供給監(jiān)視器15，監(jiān)視器15顯示缺陷通孔信息數(shù)據(jù)。
換句話說，讀出在脫機狀態(tài)下經(jīng)掃描器11接收的或在聯(lián)機狀態(tài)下由圖像檢測部分14提供的參考PCB的圖像數(shù)據(jù)(步驟201)。此后，采用圖像識別算法從讀出的圖像數(shù)據(jù)中提取參考PCB的通孔信息，并將所提取的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分13B中(步驟202)。
使用在步驟202提取出的通孔信息數(shù)據(jù)來計算絕對坐標(步驟203)。然后，根據(jù)在步驟203計算出的絕對坐標來設置兩個參考通孔，并以所設置的參考通孔為中心來提取出各通孔的相對坐標(步驟204)。
另一方面，讀出存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分13B中的通孔信息數(shù)據(jù)，并計算所讀出的通孔信息數(shù)據(jù)的各通孔的相對坐標(步驟205)。然后，為了測試PCB的通孔是否包含在在步驟205計算出的通孔的中央，在由步驟204提取出的PCB的各通孔上覆蓋約束方塊。
如果PCB的通孔在所覆蓋的約束方塊內(nèi)，則將PCB的通孔尺寸與由CAD提供的通孔尺寸進行比較(步驟207)。當在步驟207中各通孔尺寸彼此相等時，被確定為是正常通孔，否則被確定為是異常通孔(步驟208)。
將與在步驟208中確定的異常通孔相應的通孔信息數(shù)據(jù)顯示在監(jiān)視器15上，并將有缺陷的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分13B中(步驟209)。
在應用本發(fā)明第二實施例的PCB測試裝置和方法時，將從CAD提供的通孔信息數(shù)據(jù)的存在和通孔尺寸與從PCB計算出的通孔信息數(shù)據(jù)和尺寸進行比較，以自動檢測PCB的缺陷，從而縮短PCB的測試時間，以提高生產(chǎn)效率。
盡管已參照特定實施例具體表述和描述了本發(fā)明，但本領域普通技術人員應理解的是，可在不背離由所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明宗旨和范圍的前提下進行各種形式和細節(jié)上的修改。
權(quán)利要求
1.一種用于自動插入裝置的印刷電路板測試電路，包括掃描器，用于將參考印刷電路板的圖像信號轉(zhuǎn)換成第一圖像數(shù)據(jù)；圖像檢測裝置，用于將修改的印刷電路板的圖像信號轉(zhuǎn)換成第二圖像數(shù)據(jù)存儲裝置，用于存儲所述第一和第二圖像數(shù)據(jù)、通孔信息數(shù)據(jù)和元件信息數(shù)據(jù)，所述存儲裝置由圖像數(shù)據(jù)存儲裝置、通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置和元件信息數(shù)據(jù)存儲裝置構(gòu)成，所述圖像數(shù)據(jù)存儲裝置用于存儲所述掃描器和圖像數(shù)據(jù)檢測裝置的所述第一和第二圖像數(shù)據(jù)，所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置用于存儲將各元件插入所述參考和修改的印刷電路板的通孔信息，所述元件信息數(shù)據(jù)存儲裝置用于存儲要插入所述參考印刷電路板中的元件信息數(shù)據(jù)；監(jiān)視器，用于將所述參考和修改的印刷電路板的所述第一和第二圖像數(shù)據(jù)顯示在屏幕上；和第一控制裝置，用于接收通過所述掃描器和圖像數(shù)據(jù)檢測裝置接收的所述參考印刷電路板和修改的印刷電路板的各個第一和第二圖像數(shù)據(jù)，以檢測相應的參考印刷電路板和修改的印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)，比較檢測到的各個通孔信息數(shù)據(jù)，以檢測不與所述參考印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)對應的所述修改的印刷電路板的通孔信息數(shù)據(jù)，并將不成對的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置中。
2.如權(quán)利要求1所述的用于自動插入裝置的印刷電路板測試電路，其中所述第一控制裝置執(zhí)行根據(jù)所述參考印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)和從所述修改的印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)來檢測修改設計的所述通孔信息數(shù)據(jù)的各步驟，所述各步驟包括第一步驟，用于讀出所述參考印刷電路板的所述第一圖像數(shù)據(jù)，并采用圖像識別算法，從所述讀出的第一圖像數(shù)據(jù)中提取所述參考印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)；第二步驟，用于采用所述參考印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)來設置參考坐標，并使用所設置的參考坐標來得到所述參考印刷電路板的所述通孔的相對坐標；第三步驟，用于讀出所述修改的印刷電路板的所述第二圖像數(shù)據(jù)，并采用所述圖像識別算法，從所述讀出的第二圖像數(shù)據(jù)中提取所述修改的印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)；第四步驟，用于使用在所述第三步驟提取的所述通孔信息數(shù)據(jù)來設置參考坐標，并使用所設置的參考坐標來得到所述修改的印刷電路板的通孔的相對坐標；第五步驟，用于使用在所述第二步驟和第四步驟提取的所述參考印刷電路板和修改的印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)來檢測不成對的通孔信息數(shù)據(jù)；和第六步驟，用于將在所述第五步驟中檢測到的所述不成對的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置中。
3.如權(quán)利要求1所述的用于自動插入裝置的印刷電路板測試電路，還包括第二控制裝置，用于將經(jīng)所述掃描器接收到的所述印刷電路板中所存儲的所述通孔信息數(shù)據(jù)與存儲在所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置中的所述CAD的所述通孔信息數(shù)據(jù)進行比較，并檢測所述參考印刷電路板的缺陷。
4.如權(quán)利要求1所述的用于自動插入裝置的印刷電路板測試電路，其中所述第二控制裝置執(zhí)行將經(jīng)所述掃描器接收到的所述參考印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)與所述CAD的所述通孔信息數(shù)據(jù)進行比較、以檢測所述參考印刷電路板的缺陷的各步驟，所述各步驟包括第七步驟，用于在脫機狀態(tài)下讀出經(jīng)所述掃描器接收的所述參考印刷電路板的所述第一圖像數(shù)據(jù)，并采用所述圖像識別算法來從所述讀出的第一圖像數(shù)據(jù)中提取所述參考印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)；第八步驟，用于使用在所述第七步驟中提取出的所述通孔信息數(shù)據(jù)來計算絕對坐標，根據(jù)所述計算出的絕對坐標來設置兩個參考通孔，并以所設置的通孔為中心提取各個通孔的相對坐標；第九步驟，用于讀出存儲在所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置中的所述CAD的所述通孔信息數(shù)據(jù)，并計算所述讀出的通孔信息數(shù)據(jù)的各通孔的所述相對坐標第十步驟，用于在所述參考印刷電路板的各通孔上覆蓋約束方塊，以檢查在所述第八步驟中計算出的所述參考印刷電路板的所述通孔是否包含于在所述第九步驟中計算出的所述通孔的中央，并當所述印刷電路板的通孔處于所述覆蓋的約束方塊內(nèi)時，將所述印刷電路板的通孔尺寸與由所述CAD提供的通孔尺寸進行比較；和第十一步驟，用于當在第十步驟所述各通孔尺寸彼此相等時確定為正常通孔，而當所述各通孔尺寸互不相等時確定為異常通孔，并將與所述異常通孔對應的所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲在所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置中。
5.一種用于測試自動插入裝置的印刷電路板的方法，包括第一步驟，用于讀出經(jīng)掃描器接收的參考印刷電路板的第一圖像數(shù)據(jù)，并采用圖像識別算法，從所述讀出的第一圖像數(shù)據(jù)中提取所述參考印刷電路板的通孔信息數(shù)據(jù)；第二步驟，用于采用所述參考印刷電路板的通孔信息數(shù)據(jù)，來設置參考坐標，并使用所述設置的參考坐標來得到所述參考印刷電路板的通孔的相對坐標；第三步驟，用于讀出從圖像檢測裝置中提供的修改的印刷電路板的第二圖像數(shù)據(jù)，并采用所述圖像識別算法，提取所述讀出的第二圖像數(shù)據(jù)的通孔信息數(shù)據(jù)；第四步驟，用于使用在所述第三步驟中提取的所述通孔信息數(shù)據(jù)來設置參考坐標，并使用所述設置的參考坐標來得到所述修改的印刷電路板的所述通孔的所述相對坐標；第五步驟，用于使用在所述第二步驟和第四步驟中提取的所述參考印刷電路板和修改的印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)，來檢測不成對的通孔信息數(shù)據(jù)；和第六步驟，用于將在所述第五步驟中檢測到的所述不成對的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置中。
6.如權(quán)利要求5所述的用于測試自動插入裝置的印刷電路板的方法，還包括第九步驟，用于在執(zhí)行所述第二步驟后，讀出所述CAD的所述通孔信息數(shù)據(jù)，并計算所述讀出的通孔信息數(shù)據(jù)的各個通孔的所述相對坐標；第十步驟，用于在所述參考印刷電路板的各個通孔上覆蓋約束方塊，以檢查在所述第二步驟中計算出的所述參考印刷電路板的所述通孔是否包含在在所述第九步驟中計算出的所述通孔的中央，并當所述印刷電路板的通孔位于所述覆蓋的約束方塊內(nèi)時，將所述印刷電路板的通孔尺寸與由所述CAD提供的通孔尺寸相比較；和第十一步驟，用于當在所述第十步驟中所述通孔尺寸彼此相同時，確定為正常通孔，而當所述通孔尺寸彼此不同時確定為異常通孔，并將對應于所述異常通孔的所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲在所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置中。
7.一種用于測試自動插入裝置的印刷電路板的方法，包括第七步驟，用于在脫機狀態(tài)下讀出經(jīng)掃描器接收的參考印刷電路板的第一圖像數(shù)據(jù)，并采用圖像識別算法來從所述讀出的第一圖像數(shù)據(jù)中提取所述參考印刷電路板的通孔信息數(shù)據(jù)；第八步驟，用于使用在所述第七步驟中提取出的所述通孔信息數(shù)據(jù)來計算絕對坐標，根據(jù)所述計算出的絕對坐標來設置兩個參考通孔，并以所設置的參考通孔為中心提取各個通孔的相對坐標；第九步驟，用于讀出存儲在所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置中的所述CAD的所述通孔信息數(shù)據(jù)，并計算所述讀出的通孔信息數(shù)據(jù)的各通孔的所述相對坐標；第十步驟，用于在所述參考印刷電路板的各通孔上覆蓋約束方塊，以檢查在所述第八步驟中計算出的所述參考印刷電路板的所述通孔是否包含于在所述第九步驟中計算出的所述通孔的中央，并當所述印刷電路板的通孔處于所述覆蓋的約束方塊內(nèi)時，將所述印刷電路板的通孔尺寸與由所述CAD提供的通孔尺寸進行比較；和第十一步驟，用于當在所述第十步驟中所述各通孔尺寸彼此相等時確定為正常通孔，而當所述各通孔尺寸互不相等時確定為異常通孔，并將與所述異常通孔對應的所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲在所述通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置中。
8.如權(quán)利要求7所述的用于測試自動插入裝置的印刷電路板的方法，其中通過在所述脫機狀態(tài)下讀出由所述圖像檢測裝置提供的所述參考印刷電路板的所述第一圖像數(shù)據(jù)，并使用所述圖像識別算法來從所述讀出的第一圖像數(shù)據(jù)提取所述參考印刷電路板的所述通孔信息數(shù)據(jù)，來執(zhí)行所述第七步驟。
全文摘要
一種自動插入裝置的印刷電路板測試電路及其方法,可使PCB的次品率最小化。該電路包括:掃描器,將參考PCB的圖像信號轉(zhuǎn)換成圖像數(shù)據(jù);圖像檢測部分,處于聯(lián)機和脫機狀態(tài)下;存儲部分,用于存儲圖像數(shù)據(jù)、通孔信息數(shù)據(jù)和元件信息數(shù)據(jù),它由圖像數(shù)據(jù)存儲裝置、通孔信息數(shù)據(jù)存儲裝置和元件信息數(shù)據(jù)存儲裝置構(gòu)成,該圖像數(shù)據(jù)存儲裝置用于存儲掃描器和圖像數(shù)據(jù)檢測裝置的圖像數(shù)據(jù);監(jiān)視器,用于將參考和修改的PCB的圖像數(shù)據(jù)顯示在屏幕上;和控制部分,接收經(jīng)掃描器和圖像數(shù)據(jù)檢測部分接收的參考PCB和修改的PCB的圖像數(shù)據(jù),以檢測參考PCB和修改的PCB的通孔信息數(shù)據(jù),比較檢測到的通孔信息數(shù)據(jù),以檢測不與參考PCB的通孔信息數(shù)據(jù)對應的修改的PCB的通孔信息數(shù)據(jù),并將不成對的通孔信息數(shù)據(jù)存儲在通孔信息數(shù)據(jù)存儲部分中。因此,當修改或附加PCB的設計時,可縮短新設計PCB圖案所需的時間。
文檔編號H05K13/08GK1245632SQ97181677
公開日2000年2月23日 申請日期1997年12月5日 優(yōu)先權(quán)日1997年12月4日
發(fā)明者陳商勛 申請人:大宇電子株式會社