一種閥門用密封環(huán)以及使用該密封環(huán)的檢測裝置及檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及閥門的技術(shù)領(lǐng)域，具體的是一種閥門用密封環(huán)以及使用該密封環(huán)的檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在普通的閥門中，由于閥門經(jīng)常開閉，閘板與閥門的護板內(nèi)壁摩擦極易產(chǎn)生磨損，一旦閘板和/或閥門的護板磨損，就會影響閥門的密封性能。
[0003]尤其是在目前的粉體氣力輸送行業(yè)中使用的閥門，氣力輸送要求閥門密封性良好，經(jīng)久耐用。閥門想要密封性好就必須縮小閘板與殼體的內(nèi)壁之間的間隙，縮小閘板與殼體的內(nèi)壁之間的間隙就會使得閘板與殼體的內(nèi)壁之間的磨損性大大增加，再加上輸送粉體的作用使得閘板與殼體的內(nèi)壁之間的磨損更加嚴重，因此，閥門在粉體氣力輸送系統(tǒng)中的壽命不長。
[0004]如在專利“一種新型閥門”，其申請?zhí)枮?201420533743.0，為了增加整個閥門的壽命，在護板上安裝了一個可方便更換的密封環(huán)，當閘板與密封環(huán)的密封面磨損后，不需要更換整個閥門護板。在專利“一種新型雙閘板閥門”，其申請?zhí)枮?201420533582.5，為了增加整個閥門的壽命，在閥門的殼體上安裝了密封環(huán)I和密封環(huán)II，當閘板I與密封環(huán)1、閘板II與密封環(huán)II之間發(fā)生磨損后，不需要更換整個閥門的殼體。
[0005]但是當閘板與密封環(huán)之間因磨損產(chǎn)生間隙后，高壓氣體極易將密封環(huán)吹損，而且密封環(huán)的損壞程度逐步增強，而密封環(huán)的損壞情況不方便檢測出來。這就是現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足之處。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題，就是針對現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足，而提供一種閥門用密封環(huán)，其與氣源連通后可用于檢測密封環(huán)的損壞程度。
[0007]本方案是通過如下技術(shù)措施來實現(xiàn)的:一種閥門用密封環(huán)，所述密封環(huán)的內(nèi)部設(shè)置有用于檢測密封環(huán)損壞程度的氣道，所述氣道可與氣源連通。
[0008]本方案的技術(shù)特征還包括:上述氣道為環(huán)形氣道。采用本技術(shù)方案，采用氣道為環(huán)形氣道，只要檢測出環(huán)形氣道漏氣，就檢測出密封環(huán)已經(jīng)損壞至氣道處，因此無論密封環(huán)在氣道處的任何位置被損壞，均能被檢測出來。
[0009]本方案的技術(shù)特征還包括:上述氣道為環(huán)形分布的一組儲氣孔。采用本技術(shù)方案，設(shè)置的一組儲氣孔環(huán)形分布，當一個儲氣孔漏氣，就能檢測出密封環(huán)已經(jīng)損壞至氣道處，所述氣道為環(huán)形分布的一組儲氣孔，一方面，便于加工，另一方面，相對于氣道為環(huán)形氣道，密封環(huán)的強度較高。
[0010]本方案的技術(shù)特征還包括:上述氣道包括設(shè)置在密封環(huán)上的儲氣槽I，以及用于密封儲氣槽I的密封件。采用本技術(shù)方案，可直接在密封環(huán)上切割出儲氣槽I，方便加工制造。
[0011]優(yōu)選的，所述密封件包括密封圈I以及用于固定密封圈I的卡簧或固定擋圈。采用本技術(shù)方案，設(shè)置有卡簧或固定擋圈是用于定位密封圈I。
[0012]優(yōu)選的，所述卡簧或固定擋圈設(shè)置在密封環(huán)上的卡槽內(nèi)。
[0013]本方案的技術(shù)特征還包括:上述密封環(huán)上還設(shè)置有用于連接氣源和氣道的儲氣槽
II，所述儲氣槽II設(shè)置在密封環(huán)的表面或密封環(huán)的內(nèi)部；優(yōu)選的，所述儲氣槽II設(shè)置在密封環(huán)的表面時，所述密封環(huán)上在儲氣槽II的兩側(cè)均設(shè)置有用于安裝密封圈II的密封槽。采用本技術(shù)方案，設(shè)置有儲氣槽II方便氣源與氣道連通，當儲氣槽II設(shè)置在密封環(huán)的上表面，使用時，與密封環(huán)連接的法蘭盤與密封環(huán)配合，在密封圈II的配合下，儲氣槽II被密封，其只可與氣源連通，在氣道與氣源連通時，進氣口可設(shè)置在密封環(huán)上，也可設(shè)置在法蘭盤上，可根據(jù)不同閥門結(jié)構(gòu)進行選擇；當儲氣槽II設(shè)置在密封環(huán)的內(nèi)部時，所述儲氣槽II只與氣源和氣道連通。
[0014]本方案的技術(shù)特征還包括:上述密封環(huán)為一體鑄造成型。采用本技術(shù)方案，方便在密封環(huán)上直接加工出氣道等結(jié)構(gòu)。
[0015]本方案的技術(shù)特征還包括:上述密封環(huán)與閥門的護板或閥門的殼體為一體結(jié)構(gòu)。此情況指的是，當閥門的護板與密封環(huán)或者閥門的殼體與密封環(huán)為一體結(jié)構(gòu)時，在閥門的護板與密封環(huán)、閥門的殼體與密封環(huán)的一體結(jié)構(gòu)的指定位置設(shè)置有氣道。
[0016]本方案的技術(shù)特征還包括:上述氣道的底端與密封環(huán)的底端之間的距離為2mm~10mmo采用本技術(shù)方案，如果氣道的底端與密封環(huán)的底端之間的距離過大，密封環(huán)的底部損壞部分較小，并沒有將密封環(huán)內(nèi)的氣道損壞時，則檢測不出來密封環(huán)是否損壞，檢測不靈敏，如果氣道的底端與密封環(huán)的底端之間的距離過小，檢測靈敏，但是會較大程度的影響密封環(huán)本身的強度，氣道的底端與密封環(huán)的底端選擇合適的距離，是對檢測靈敏度以及密封環(huán)使用壽命的一種綜合性考慮。
[0017]優(yōu)選的，所述氣道的底端與密封環(huán)的底端之間的距離為3_~7_。采用本技術(shù)方案，氣道的底端與密封環(huán)的底端之間的距離選用3mm~7mm，是在保證密封環(huán)強度的基礎(chǔ)上，提尚檢測的靈敏度。
[0018]一種使用上述密封環(huán)的檢測裝置，包括上述密封環(huán)，所述密封環(huán)上的氣道與氣源連通，在氣道與氣源之間設(shè)置有通氣閥門以及用于檢測氣道內(nèi)部壓力的壓力檢測儀。采用本技術(shù)方案，在檢測時，將氣道與氣源連通，打開通氣閥門向氣道內(nèi)通氣，如果壓力檢測儀檢測出的壓力越來越大，則說明密封環(huán)沒有被損壞至氣道處，否則，密封環(huán)被損壞至氣道處。
[0019]一種用于檢測閥門用密封環(huán)的方法，將氣源與氣道連通，打開設(shè)置在氣道與氣源之間的通氣閥門，向氣道內(nèi)持續(xù)充氣，觀察壓力檢測儀，如果氣道內(nèi)的壓力逐步增大，則證明密封環(huán)沒有損壞至氣道處，否則密封環(huán)已經(jīng)損壞至氣道處。
[0020]本發(fā)明的有益效果從上述的技術(shù)方案可以得知:一種閥門用密封環(huán)，所述密封環(huán)的內(nèi)部設(shè)置有用于檢測密封環(huán)損壞程度的氣道，所述氣道可與氣源連通。本密封環(huán)上設(shè)置有用于檢測自身損壞程度的氣道，方便用于對閥門的檢修，保證閥門的正常工作。
[0021]由此可見，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有實質(zhì)性特點和進步，其實施的有益效果也是顯而易見的。
【附圖說明】
[0022]圖1為實施例1中密封環(huán)的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為實施例2中密封環(huán)的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖3為圖2中的A-A剖視結(jié)構(gòu)示意圖；
圖4為使用實施例1中密封環(huán)的檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023]圖中:1_連接氣孔，2-儲氣槽I，3_密封圈I，4-卡簧，5-儲氣槽II，6-密封槽，
7-密封圈II，8-卡槽，9-法蘭盤，10-閥門的護板，11-閘板，12-氣源，13-通氣閥門，14-壓力檢測儀，15-儲氣孔。
【具體實施方式】
[0024]為能清楚說明本方案的技術(shù)特點，下面通過【具體實施方式】，并結(jié)合其附圖，對本方案進行闡述。<