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具有減少漏光或雜散光的屏蔽的光電模塊以及用于此類模塊的制造方法_4

文檔序號(hào):9732248閱讀:來源:國(guó)知局
電模塊中的每一個(gè)包括與附接至透明蓋件的透鏡元件對(duì)準(zhǔn)的光電裝置,所述透明蓋件的外部側(cè)壁由非透明材料覆蓋或被嵌入所述非透明材料內(nèi)(參見圖8E和2B)。因此,前述技術(shù)可用于以晶片級(jí)規(guī)模制造多個(gè)模塊40。
[0066]在圖8A-8E的所例示實(shí)例中,在執(zhí)行圖8B-8D中的步驟之前,PCB襯底90(具有安裝在PCB襯底表面上的光電裝置)被附接至間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)84A。在其他實(shí)施方式中,PCB襯底可在工藝后期(例如,在執(zhí)行圖8C中的步驟之后)被附接至間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)84A。此外,在一些實(shí)施方式中,替代將PCB襯底(具有安裝在PCB襯底表面上的光電裝置)附接至間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)84A,單個(gè)單一化光電裝置可被附接至間隔物。
[0067]實(shí)質(zhì)上類似于圖8A-8E的工藝的晶片級(jí)工藝也可用于制造包括光發(fā)射元件和光檢測(cè)元件兩者的模塊。例如,如圖9A所示,間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)84A被附接至印制電路多個(gè)光電裝置(例如,光發(fā)射元件92A和光檢測(cè)元件92B)。如先前實(shí)例所討論,間隔物46可例如通過復(fù)制或真空注入技術(shù)或通過將間隔物晶片附接至形成有透鏡116、44的透明晶片72來提供。光發(fā)射元件92A和光檢測(cè)元件92B交替以使得每一光發(fā)射元件92A相鄰于光檢測(cè)元件92B。溝槽隨后可利用結(jié)合圖8B和8C所述的非透明材料來形成并填充。在移除真空注入工具之后,所得結(jié)構(gòu)可被分離(例如,通過切割分離)成多個(gè)模塊43,所述模塊中的每一個(gè)包括相鄰光學(xué)通道,光學(xué)通道中的一個(gè)包括光發(fā)射元件92A(例如,LED),并且光學(xué)通道中的一個(gè)包括光檢測(cè)元件92B(例如,光電二極管)。相鄰光學(xué)通道由非透明間隔物46彼此分離。此類模塊可例如用作接近傳感器。此外,接近傳感器模塊(和包括光發(fā)射元件和光檢測(cè)元件兩者的其他模塊)可使用類似于圖6A-6E或7A-7E的那些工藝(S卩,使用組合式復(fù)制和真空注入工具通過復(fù)制來形成光學(xué)元件并且通過真空注入來形成間隔物元件)的工藝來制造。如果需要,那么前述模塊也可形成有擋塊結(jié)構(gòu)。此種擋塊結(jié)構(gòu)可例如通過在組合式復(fù)制和真空注入工具中包括擋塊特征(參見,例如,圖7C)或通過附接擋塊晶片來提供。
[0068]—些模塊(例如,攝像機(jī)模塊)可包括兩個(gè)或更多個(gè)透明襯底的垂直堆疊,所述透明襯底中的每一個(gè)包括在一側(cè)或兩側(cè)上的光學(xué)元件(例如,透鏡)。用于制造此類模塊的晶片級(jí)工藝中的步驟例示在圖10A-10C中,并且包括形成穿過兩個(gè)或更多個(gè)透明晶片的堆疊的開口(例如,溝槽)。
[0069]如圖所示,例如,在圖10A中,提供間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)84B。結(jié)構(gòu)84B包括由第一透明晶片72A、第一間隔物結(jié)構(gòu)46A、第二透明晶片72B和第二間隔物晶片46B形成的晶片堆置。
[0070]第一間隔物結(jié)構(gòu)46A可例如提供為單獨(dú)間隔物晶片或通過真空注入來提供。透明晶片72A、72B中的每一個(gè)具有形成于透明晶片的相應(yīng)表面的一個(gè)或兩個(gè)表面上的復(fù)制光學(xué)元件44、116。晶片例如由粘合劑來彼此附接。在一些實(shí)施方式中,替代將間隔物晶片46A、46B附接至透明晶片72A、72B,間隔物元件46可通過如以上結(jié)合圖3所述的真空注入而形成于透明晶片72A、72B的相應(yīng)表面上。間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)84B被附接至安裝有圖像傳感器94的印刷電路板(PCB)或其他襯底901CB襯底90和其對(duì)間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)84B的附接的其他細(xì)節(jié)可類似于圖4A。在一些實(shí)施方式中,焦距校正(例如,法蘭焦距(flange focallength ;FFL)校正)可通過對(duì)間隔物晶片46B的厚度進(jìn)行微機(jī)械加工或通過附接另一透明FFL襯底來提供,以調(diào)整光學(xué)通道的FFL。
[0071 ]接著,如圖10B所示,形成穿過透明晶片72A、72B的開口(例如,溝槽)98。溝槽98應(yīng)完全地延伸穿過兩個(gè)透明晶片72A、72B的厚度(并且穿過第一間隔物結(jié)構(gòu)46A的厚度),并且優(yōu)選地應(yīng)部分地延伸至第二間隔物結(jié)構(gòu)46B中。如果提供用于光學(xué)通道的FFL校正的透明FFL襯底,那么溝槽也可延伸至FFL襯底中。溝槽98可例如通過切割、微機(jī)械加工或激光切割技術(shù)來形成。得到的是非平面表面,所述非平面表面包括在透明晶片的相鄰部分之間形成的溝槽98。如圖10C所示,真空注入TOMS工具114B被放置在第一透明晶片72A之上以促進(jìn)由非透明材料(例如,具有碳黑的環(huán)氧樹脂)填充溝槽98,并且真空吸盤101被提供在間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)84B下方并且圍繞所述間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu),以便在真空注入工具114B與PCB襯底90之間施加真空。非透明材料可被注入至真空吸盤101中的入口中。如以上結(jié)合圖4C所述,真空吸盤101的出口附近的真空栗促進(jìn)所注入非透明材料的流動(dòng)。在利用非透明材料(例如,具有碳黑的環(huán)氧樹脂)在真空下填充溝槽98之后,使環(huán)氧樹脂材料硬化(例如,通過UV或熱固化硬化),并且將工具114B從間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)84B移除。利用來填充溝槽98的材料可與間隔物46的材料相同或不同。在一些實(shí)施方式中,由非透明材料構(gòu)成的擋塊晶片可被附接在間隔物/光學(xué)元件結(jié)構(gòu)之上?;蛘撸谝恍?shí)施方式中,擋塊特征被提供在真空注入工具114B中,并且擋塊結(jié)構(gòu)通過如上所述的真空注入形成。
[0072 ]晶片堆疊隨后可被分離,例如沿切割線分離以形成單個(gè)光電模塊,所述光電模塊中的每一個(gè)包括與附接至透明襯底的光學(xué)元件的垂直堆疊對(duì)準(zhǔn)的圖像傳感器,所述透明襯底的外部側(cè)壁由非透明材料93覆蓋或被嵌入所述非透明材料內(nèi)(參見,例如,圖10D)。圖10D的所例示示例性模塊示出:陣列攝像機(jī)(例如,2x2或任何其他MxN陣列)包括用于FFL通道校正的透明襯底95,和將FFL校正襯底95與安裝有圖像傳感器94的襯底90分離的另一間隔物97。另外的間隔物95可提供用于模塊的另外的FFL校正。
[0073]在前述實(shí)例中,在透明晶片72中形成溝槽98從而產(chǎn)生非平面結(jié)構(gòu)之后,通過真空注入技術(shù)利用非透明材料覆蓋透明晶片72(或72A、72B)的各種區(qū)段的側(cè)壁。在一些實(shí)施方式中,不同技術(shù)可用于利用非透明材料覆蓋透明晶片72的各種區(qū)段的側(cè)壁。例如,在形成溝槽98之后,透明晶片72的各種區(qū)段的側(cè)壁可由非透明材料的一個(gè)或多個(gè)層10涂覆(參見圖11)。在特定實(shí)施方式中,一個(gè)或多個(gè)涂層被施加于透明晶片72的各種區(qū)段的側(cè)面和頂表面。層108可例如由耐聚合物類型材料、金屬材料(例如,鋁)或黑色鉻材料構(gòu)成。層可例如使用PVD、CVD、浸涂、噴涂、濺鍍或蒸發(fā)技術(shù)來施加。層108的厚度取決于實(shí)施方式,但優(yōu)選地每一涂層具有在約5-40微米(μπι)范圍內(nèi)的厚度,并且在一些實(shí)施方式中,每一涂層具有在約10-20μπι范圍內(nèi)的厚度。在沉積層108之后,可執(zhí)行烘干(S卩,在高溫下加熱)。
[0074]在沉積并烘干層108之后,使用例如光刻、化學(xué)或機(jī)械技術(shù)來移除在非透明晶片72的各種部分的頂表面之上的層。如果使用光刻技術(shù),那么可使用可光刻結(jié)構(gòu)化涂層(例如,光致抗蝕劑涂層)。如果使用化學(xué)技術(shù),那么可提供適當(dāng)?shù)娜軇﹣韽姆峭该骶?2的各種部分的頂表面蝕刻移除涂層。在一些實(shí)施方式中,通過施加具有粘合劑表面的膠帶來從非透明晶片72的各種部分的頂表面機(jī)械地移除層。在從非透明晶片72的各種部分的頂表面移除涂層之后,非透明晶片72的各種部分的側(cè)壁保持由涂層108覆蓋,如圖11所示。晶片堆疊隨后可被分離(例如,通過切割分離)以形成單個(gè)模塊,所述模塊中的每一個(gè)包括與光學(xué)元件(例如,透鏡44)對(duì)準(zhǔn)的光發(fā)射元件92。如在先前實(shí)例中,模塊的透明蓋件的側(cè)壁由非透明材料覆蓋以便減少漏光。
[0075]此外,盡管前述實(shí)例包括每一模塊中的單一光電裝置(例如,光發(fā)射元件或光檢測(cè)元件),但是類似于前述技術(shù)的技術(shù)可用于制造包括兩個(gè)或更多個(gè)光發(fā)射元件的模塊,所述光發(fā)射元件中的每一個(gè)與一個(gè)或多個(gè)相應(yīng)光學(xué)元件對(duì)準(zhǔn)。此類模塊可例如充當(dāng)雙重LED閃爍模塊,所述模塊可包括包圍兩個(gè)或更多個(gè)光發(fā)射元件的非透明側(cè)壁而無將光發(fā)射元件彼此分離的間隔物。在一些實(shí)施方式中,模塊還可包括其他光電或光學(xué)部件。
[0076]以上所述的模塊包括在透明蓋件26的一個(gè)或兩個(gè)側(cè)面上的復(fù)制透鏡。然而,在一些情況下,光學(xué)濾波器層可被提供在透明蓋件上。同樣地,在一些實(shí)施方式中,焦點(diǎn)法蘭長(zhǎng)度(FFL)校正層可被施加在透明蓋件上。FFL有時(shí)稱為法蘭焦距。包括FFL校正層可例如對(duì)圖像傳感器應(yīng)用來說為尤其有利的。因此,在一些情況下,透明蓋件26可包括僅在一側(cè)上的復(fù)制透鏡,或在一些情況下,可在任一側(cè)上不包括復(fù)制透鏡。實(shí)例例示在圖12A和12B中,圖中分別示出多通道模塊200A和200B。
[0077]圖12A和12B的模塊200A和200B包括支撐在PCB或其他襯底224上的圖像傳感器222。圖像傳感器222具有由間隔物228側(cè)向包圍的光學(xué)敏感區(qū)域223,所述間隔物也充當(dāng)用于模塊的傳感器側(cè)的側(cè)壁。透明蓋件226的側(cè)邊緣被嵌入可例如由非透明材料(例如,具有碳黑的環(huán)氧樹脂)構(gòu)成的間隔物內(nèi)。透明蓋件226可例如由玻璃、藍(lán)寶石或聚合物材料構(gòu)成,并且由間隔物228與圖像傳感器222分離。在圖12A和12B的所例示實(shí)例中,每一透明蓋件226的對(duì)象側(cè)包括光學(xué)濾波器230,所述光學(xué)濾波器可例如實(shí)施為薄的涂層。同樣地,每一透明蓋件的傳感器側(cè)可包括FFL校正層232以校正通道焦距。每一通道中的FFL校正層232的厚度可與另一通道中的FFL層232的厚度有所不同。在一些情況下,僅一些通道具有FFL校正層。
[0078]非透明材料239可在透明蓋件226的邊緣附近延伸超出所述透明蓋件的頂部。取決于實(shí)施方式,覆蓋透明蓋件226的側(cè)壁的非透明材料236可與間隔物228的材料和/或延伸超出透明蓋件226的頂部的非透明材料239相同或不同。PCB襯底224的外部側(cè)面可包括導(dǎo)電觸點(diǎn),所述導(dǎo)電觸點(diǎn)可借助于延伸穿過襯底224的導(dǎo)電通孔電耦合至圖像傳感器222。
[0079]模塊200A、200B可包括一個(gè)或多個(gè)光學(xué)元件組件250。光學(xué)元件組件可被附接至組件240,所述組件由透明蓋件226(包括FFL校正層232和濾波器層230(如果存在的話))和非透明壁/間
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