Ssd固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及固態(tài)硬盤存儲(chǔ)的技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備是用于數(shù)據(jù)資料存儲(chǔ)設(shè)備，SSD固態(tài)硬盤的穩(wěn)定性決定了寫入和讀取數(shù)據(jù)資料的安全性?，F(xiàn)有的SSD固態(tài)硬盤測(cè)試設(shè)備包括高低溫測(cè)試設(shè)備，疲勞測(cè)試設(shè)備，異常斷電設(shè)備等等，但上述設(shè)備都是獨(dú)立分開的，需要單獨(dú)購(gòu)買，而且在測(cè)試每個(gè)項(xiàng)目時(shí)，需要單獨(dú)的測(cè)試設(shè)定和需要多個(gè)人員去操作，其測(cè)試成本較高，操作繁瑣，工作效率較低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備，其能節(jié)約生產(chǎn)成本，提高測(cè)試效率，保證SSD固態(tài)硬盤的工作穩(wěn)定性。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述實(shí)用新型目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
[0005]—種SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備，包括:用于放置待測(cè)試的SSD固態(tài)硬盤的測(cè)試倉(cāng)、連接于所述SSD固態(tài)硬盤的電路板及顯示器，所述顯示器連接于所述電路板，所述電路板上設(shè)有主控芯片、連接于所述主控芯片的調(diào)溫單元及疲勞測(cè)試單元、異常斷電測(cè)試單元。
[0006]進(jìn)一步，在上述SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備中，所述調(diào)溫單元包括設(shè)于所述測(cè)試倉(cāng)I中的加熱元件或冷凝元件以及溫控電路。
[0007]進(jìn)一步，在上述SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備中，所述加熱元件為發(fā)熱盤或發(fā)熱絲，所述冷凝元件為冷凝劑。
[0008]進(jìn)一步，在上述SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備中，所述疲勞測(cè)試單元包括:第一設(shè)定子單元、讀寫子單元及校驗(yàn)子單元，所述第一設(shè)定子單元用于設(shè)定所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行疲勞測(cè)試的時(shí)間；所述讀寫子單元用于對(duì)所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行連續(xù)大文件的讀寫及隨機(jī)小文件的讀寫;所述校驗(yàn)子單元用于對(duì)疲勞測(cè)試時(shí)SSD固態(tài)硬盤的傳輸數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)。
[0009]進(jìn)一步，在上述SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備中，所述異常斷電測(cè)試單元包括:第二設(shè)定子單元、電源開斷子單元及檢測(cè)子單元，所述第二設(shè)定子單元用于設(shè)定所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行異常斷電的次數(shù);所述電源開斷子單元用于對(duì)所述SSD固態(tài)硬盤的電源進(jìn)行連續(xù)開啟及關(guān)斷;所述檢測(cè)子單元用于檢測(cè)異常斷電測(cè)試時(shí)SSD固態(tài)硬盤是否損壞或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否丟失。
[0010]本實(shí)用新型SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備節(jié)約了生產(chǎn)成本，提高了測(cè)試效率，保證了 SSD固態(tài)硬盤的工作穩(wěn)定性。
【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1為本實(shí)用新型SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]為了便于理解本實(shí)用新型，下面將參照相關(guān)附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例。但是，本實(shí)用新型可以以許多不同的形式來(lái)實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施例。相反地，提供這些實(shí)施例的目的是使對(duì)本實(shí)用新型的公開內(nèi)容的理解更加透徹全面。
[0013]請(qǐng)參閱圖1，本實(shí)用新型一種SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備包括:用于放置待測(cè)試的SSD固態(tài)硬盤(圖未示)的測(cè)試倉(cāng)1、連接于所述SSD固態(tài)硬盤的電路板2及顯示器3，所述顯示器3連接于所述電路板2，所述電路板2上設(shè)有主控芯片4、連接于所述主控芯片4的調(diào)溫單元5及疲勞測(cè)試單元6、異常斷電測(cè)試單元7。
[0014]其中，所述調(diào)溫單元5包括設(shè)于所述測(cè)試倉(cāng)I中的加熱元件或冷凝元件以及溫控電路，所述主控芯片4通過(guò)溫控電路驅(qū)動(dòng)加熱元件或冷凝元件工作，從而可設(shè)定調(diào)節(jié)測(cè)試倉(cāng)I內(nèi)的溫度。本實(shí)施例中，所述加熱元件為發(fā)熱盤或發(fā)熱絲，所述冷凝元件為冷凝劑。本實(shí)用新型可以把SSD固態(tài)硬盤環(huán)境溫度設(shè)定在高溫或低溫的環(huán)境下(-40攝氏度到85攝氏度區(qū)域)。
[0015]所述疲勞測(cè)試單元6由一組芯片電路組成，此芯片電路有三個(gè)功能部分組成，第一個(gè)功能部分是寫入，第二個(gè)功能部分是讀取，第三個(gè)功能部分是將寫入和讀取的數(shù)據(jù)做比較。所述疲勞測(cè)試單元6包括:第一設(shè)定子單元61、讀寫子單元62及校驗(yàn)子單元63，所述第一設(shè)定子單元61用于設(shè)定所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行疲勞測(cè)試的時(shí)間；所述讀寫子單元62用于對(duì)所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行連續(xù)大文件的讀寫及隨機(jī)小文件的讀寫;所述校驗(yàn)子單元63用于對(duì)疲勞測(cè)試時(shí)SSD固態(tài)硬盤的傳輸數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)。
[0016]需要說(shuō)明的是，所述疲勞測(cè)試單元6在對(duì)所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行疲勞測(cè)試時(shí)，還可以以SSD固態(tài)硬盤時(shí)行一次大文件的讀寫和隨機(jī)小文件的讀寫為一圈，通過(guò)設(shè)定第一設(shè)定子單元61來(lái)設(shè)定測(cè)試圈數(shù)。
[0017]所述異常斷電測(cè)試單元7由一組計(jì)時(shí)器和繼電器組成，可以通過(guò)計(jì)時(shí)器設(shè)定繼電器開和關(guān)的時(shí)間。
[0018]所述異常斷電測(cè)試單元7包括:第二設(shè)定子單元71、電源開斷子單元72及檢測(cè)子單元73，所述第二設(shè)定子單元71用于設(shè)定所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行異常斷電的次數(shù);所述電源開斷子單元72用于對(duì)所述SSD固態(tài)硬盤的電源進(jìn)行連續(xù)開啟及關(guān)斷；所述檢測(cè)子單元73用于檢測(cè)異常斷電測(cè)試時(shí)SSD固態(tài)硬盤是否損壞或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否丟失。
[0019]本實(shí)用新型一種SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備的具體工作過(guò)程如下:
[0020]首先，打開測(cè)試倉(cāng)I的門，將待測(cè)試的SSD固態(tài)硬盤放置于測(cè)試倉(cāng)I中并且將SSD固態(tài)硬盤連接于電路板2，關(guān)上測(cè)試倉(cāng)I的門，啟動(dòng)本測(cè)試設(shè)備，所述顯示器3上設(shè)有連接于第一設(shè)定子單元61及第二設(shè)定子單元71的實(shí)體或虛擬按鍵，即通過(guò)顯示器3設(shè)定需要測(cè)試的參數(shù)，如需要工作在85攝氏度，疲勞測(cè)試時(shí)間為12小時(shí)，異常斷電為200次，則在顯示器3通過(guò)相對(duì)應(yīng)的參數(shù)選項(xiàng)中，選擇溫度85攝氏度，疲勞測(cè)試為12小時(shí)，異常斷電的次數(shù)為200次。[0021 ]接著，設(shè)定完畢后，點(diǎn)擊開始測(cè)試，本測(cè)試設(shè)備開始運(yùn)行;測(cè)試倉(cāng)I內(nèi)的溫度開始上升，當(dāng)達(dá)到85攝氏度的時(shí)候停止，開始對(duì)SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行疲勞測(cè)試，通過(guò)讀寫子單元62不停的對(duì)SSD固態(tài)硬盤對(duì)行連續(xù)大文件的讀寫和隨機(jī)小文件的讀寫，通過(guò)校驗(yàn)子單元63在測(cè)試時(shí)校驗(yàn)在SSD固態(tài)硬盤的數(shù)據(jù)是否錯(cuò)誤，若有，則判定SSD固態(tài)硬盤有問(wèn)題；
[0022]接著，當(dāng)疲勞測(cè)試完成后，本測(cè)試設(shè)備會(huì)自動(dòng)進(jìn)入到異常斷電測(cè)試項(xiàng)目，通過(guò)電源開斷子單元71對(duì)所述SSD固態(tài)硬盤的電源進(jìn)行連續(xù)開啟及關(guān)斷，通過(guò)所述檢測(cè)子單元72用于檢測(cè)異常斷電測(cè)試時(shí)SSD固態(tài)硬盤是否損壞或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否丟失。當(dāng)發(fā)現(xiàn)SSD固態(tài)硬盤損壞或數(shù)據(jù)丟失的情況下，則判定此SSD固態(tài)硬盤不合格。這樣，就實(shí)現(xiàn)了測(cè)試SSD固態(tài)硬盤在不同的溫度環(huán)境下，電腦主機(jī)由于停電或不小心斷電，是否會(huì)引起SSD固態(tài)硬盤造成損壞，以及已存儲(chǔ)進(jìn)去的資料是否會(huì)丟失。
[0023]最后，當(dāng)測(cè)試完成后，會(huì)將測(cè)試完的結(jié)果通過(guò)數(shù)據(jù)表格的方式呈現(xiàn)于顯示器3中，以直觀形象的告知測(cè)試人員，待測(cè)試的SSD固態(tài)硬盤在哪個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)出現(xiàn)了異常。
[0024]相比于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備采用測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試集成化的方式，通過(guò)一組測(cè)試參數(shù)設(shè)定，就可以將所有的測(cè)試項(xiàng)目完成，并將每個(gè)測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果以圖表的方式顯示出來(lái)。
[0025]相對(duì)于現(xiàn)在的測(cè)試方法，本實(shí)用新型SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備避免了用戶購(gòu)買多種測(cè)試設(shè)備，不需要更多的人員去操作和設(shè)定測(cè)試項(xiàng)目的參數(shù)，節(jié)約了生產(chǎn)成本，提高了測(cè)試效率，保證了 SSD固態(tài)硬盤的工作穩(wěn)定性。
[0026]綜上，本實(shí)用新型SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備節(jié)約了生產(chǎn)成本，提高了測(cè)試效率，保證了 SSD固態(tài)硬盤的工作穩(wěn)定性。
[0027]這里本實(shí)用新型的描述和應(yīng)用是說(shuō)明性的，并非想將本實(shí)用新型的范圍限制在上述實(shí)施例中。這里所披露的實(shí)施例的變形和改變是可能的，對(duì)于那些本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)實(shí)施例的替換和等效的各種部件是公知的。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該清楚的是，在不脫離本實(shí)用新型的精神或本質(zhì)特征的情況下，本實(shí)用新型可以以其它形式、結(jié)構(gòu)、布置、比例，以及用其它組件、材料和部件來(lái)實(shí)現(xiàn)。在不脫離本實(shí)用新型范圍和精神的情況下，可以對(duì)這里所披露的實(shí)施例進(jìn)行其它變形和改變。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備，其特征在于，包括:用于放置待測(cè)試的SSD固態(tài)硬盤的測(cè)試倉(cāng)、連接于所述SSD固態(tài)硬盤的電路板及顯示器，所述顯示器連接于所述電路板，所述電路板上設(shè)有主控芯片、連接于所述主控芯片的調(diào)溫單元及疲勞測(cè)試單元、異常斷電測(cè)試單元。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述調(diào)溫單元包括設(shè)于所述測(cè)試倉(cāng)I中的加熱元件或冷凝元件以及溫控電路。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述加熱元件為發(fā)熱盤或發(fā)熱絲，所述冷凝元件為冷凝劑。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述疲勞測(cè)試單元包括:第一設(shè)定子單元、讀寫子單元及校驗(yàn)子單元，所述第一設(shè)定子單元用于設(shè)定所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行疲勞測(cè)試的時(shí)間；所述讀寫子單元用于對(duì)所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行連續(xù)大文件的讀寫及隨機(jī)小文件的讀寫;所述校驗(yàn)子單元用于對(duì)疲勞測(cè)試時(shí)SSD固態(tài)硬盤的傳輸數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述異常斷電測(cè)試單元包括:第二設(shè)定子單元、電源開斷子單元及檢測(cè)子單元，所述第二設(shè)定子單元用于設(shè)定所述SSD固態(tài)硬盤進(jìn)行異常斷電的次數(shù);所述電源開斷子單元用于對(duì)所述SSD固態(tài)硬盤的電源進(jìn)行連續(xù)開啟及關(guān)斷;所述檢測(cè)子單元用于檢測(cè)異常斷電測(cè)試時(shí)SSD固態(tài)硬盤是否損壞或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否丟失。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種SSD固態(tài)硬盤穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)備，包括：用于放置待測(cè)試的SSD固態(tài)硬盤的測(cè)試倉(cāng)、連接于所述SSD固態(tài)硬盤的電路板及顯示器，所述顯示器連接于所述電路板，所述電路板上設(shè)有主控芯片、連接于所述主控芯片的調(diào)溫單元及疲勞測(cè)試單元、異常斷電測(cè)試單元。本實(shí)用新型節(jié)約了生產(chǎn)成本，提高了測(cè)試效率，保證了SSD固態(tài)硬盤的工作穩(wěn)定性。
【IPC分類】G06F11/22
【公開號(hào)】CN205302267
【申請(qǐng)?zhí)枴?br>【發(fā)明人】沈金良
【申請(qǐng)人】深圳市金勝電子科技有限公司
【公開日】2016年6月8日
【申請(qǐng)日】2015年12月31日